本發(fā)明涉及一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

在pos機(jī)生產(chǎn)中，需要對(duì)pos機(jī)進(jìn)行磁卡測(cè)試或檢驗(yàn)，一般的做法是測(cè)試者手動(dòng)使用磁卡對(duì)著磁頭進(jìn)行多次刷卡操作，這種人工刷卡成功率受刷卡速度和方向等影響，造成生產(chǎn)測(cè)試效率低下?，F(xiàn)有還存在這樣的自動(dòng)磁卡測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)傳送帶運(yùn)輸磁卡，利用磁頭上攝像頭自動(dòng)調(diào)試位置以便磁卡跟磁頭更好的接觸進(jìn)行刷卡操作，這種方式裝置復(fù)雜，提高成本。為了降低生產(chǎn)成本，提高測(cè)試效率和產(chǎn)能?，F(xiàn)有的申請(qǐng)?zhí)枮?01410448764.7的中國(guó)專利一種磁卡解碼芯片的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)和方法以及申請(qǐng)?zhí)枮?01110006030.x的中國(guó)專利一種磁卡解碼電路自動(dòng)化測(cè)試方法，分別提供了一套帶有不同測(cè)試設(shè)備的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，根據(jù)不同的信號(hào)處理方式得到不同的模擬信號(hào)，由于模擬信號(hào)的處理直接影響最終測(cè)試結(jié)果，而上述兩種信號(hào)處理方式均與實(shí)際刷卡信號(hào)有較大差別，影響測(cè)試準(zhǔn)確性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題之一，在于提供一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)模擬磁卡信號(hào)的自動(dòng)化測(cè)試，確保測(cè)試結(jié)果的可靠性，提高測(cè)試效率和產(chǎn)能。

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題之一是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括一pc機(jī)、一磁卡測(cè)試主板和一待測(cè)主板，所述磁卡測(cè)試主板和待測(cè)主板安裝于一工裝主板上，通過(guò)所述工裝主板進(jìn)行物理連接，所述pc機(jī)與磁卡測(cè)試主板連接，將用于產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)的程序固化到所述磁卡測(cè)試主板；

所述磁卡測(cè)試主板包括一單片機(jī)和三個(gè)磁道調(diào)理電路，每一磁道調(diào)理電路包括依次連接的一積分電路、一放大電路和一單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路；

所述待測(cè)主板在工裝主板上電后發(fā)送一觸發(fā)信號(hào)給所述單片機(jī)，所述單片機(jī)產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)，所述數(shù)字磁卡信號(hào)經(jīng)由積分電路得到模擬磁卡信號(hào)，經(jīng)放大電路得到一定幅度的模擬磁卡信號(hào)，再經(jīng)過(guò)單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路將所述一定幅度的模擬磁卡信號(hào)從單信號(hào)變?yōu)殡p信號(hào)，從而產(chǎn)生差模信號(hào)給待測(cè)主板進(jìn)行測(cè)試。

進(jìn)一步的，所述單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路包括一耦合電容和一變壓器，所述耦合電容一端部與放大電路輸出端連接，另一端與所述變壓器連接，所述變壓器一側(cè)的兩端口分別與所述耦合電容以及地網(wǎng)絡(luò)連接，另一次側(cè)的兩端口分別連接待測(cè)主板，以傳輸該磁道的雙信號(hào)。

進(jìn)一步的，所述磁卡測(cè)試主板上設(shè)有一swd接口，所述pc機(jī)通過(guò)usb轉(zhuǎn)swd接口線與單片機(jī)連接。

進(jìn)一步的，所述磁卡測(cè)試主板設(shè)有與所述待測(cè)主板連接的電源引腳、觸發(fā)引腳和磁卡信號(hào)輸出引腳。

進(jìn)一步的，所述單片機(jī)為stm32單片機(jī)。

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題之二，在于提供一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試方法，實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)模擬磁卡信號(hào)的自動(dòng)化測(cè)試，確保測(cè)試結(jié)果的可靠性，提高測(cè)試效率和產(chǎn)能。

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題之二是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試方法，需提供一pc機(jī)、一磁卡測(cè)試主板和一待測(cè)主板，所述磁卡測(cè)試主板和待測(cè)主板安裝于一工裝主板上，通過(guò)所述工裝主板進(jìn)行物理連接，所述pc機(jī)與磁卡測(cè)試主板連接，所述磁卡測(cè)試主板包括一單片機(jī)和三個(gè)磁道調(diào)理電路，每一磁道調(diào)理電路包括依次連接的一積分電路、一放大電路和一單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路；

所述方法包括如下步驟：

步驟1、通過(guò)pc機(jī)將用于產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)的程序固化到所述磁卡測(cè)試主板的單片機(jī)上；

步驟2、對(duì)工裝主板上電；

步驟3、所述待測(cè)主板發(fā)送一觸發(fā)信號(hào)給磁卡測(cè)試主板；

步驟4、所述單片機(jī)產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)給三個(gè)磁道調(diào)理電路；

步驟5、三個(gè)所述磁道調(diào)理電路對(duì)所述數(shù)字磁卡信號(hào)進(jìn)行調(diào)理得到三個(gè)差模信號(hào)傳輸給待測(cè)主板進(jìn)行測(cè)試：

每一所述積分電路將所述數(shù)字磁卡信號(hào)的一個(gè)磁道信號(hào)轉(zhuǎn)成一模擬磁卡信號(hào)；

每一所述模擬磁卡信號(hào)經(jīng)對(duì)應(yīng)的放大電路處理得到一定幅度的模擬磁卡信號(hào)；

每一所述一定幅度的模擬磁卡信號(hào)經(jīng)對(duì)應(yīng)的單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路轉(zhuǎn)換成雙信號(hào)，從而產(chǎn)生差模信號(hào)輸出給所述待測(cè)主板進(jìn)行測(cè)試；

步驟6、所述待測(cè)主板根據(jù)所述差模信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，并返回測(cè)試結(jié)果給pc機(jī)。

本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn)：通過(guò)調(diào)理電路將模擬信號(hào)變換成標(biāo)準(zhǔn)的模擬磁卡信號(hào)，獲得準(zhǔn)確可靠的磁卡信號(hào)，將該信號(hào)傳輸?shù)酱郎y(cè)主板上，以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試，提升測(cè)試的效率和產(chǎn)能。

附圖說(shuō)明

下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。

圖1為本發(fā)明一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明磁卡測(cè)試主板的原理示意圖。

圖3為本發(fā)明調(diào)理電路的原理示意圖。

圖4為本發(fā)明單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路的電路原理圖。

圖5為本發(fā)明一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試的流程圖。

具體實(shí)施方式

如圖1至圖3所示，一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括一pc機(jī)1、一磁卡測(cè)試主板2和一待測(cè)主板3，所述磁卡測(cè)試主板2和待測(cè)主板3安裝于一工裝主板4上，通過(guò)所述工裝主板4進(jìn)行物理連接，所述pc機(jī)1與磁卡測(cè)試主板2連接，將用于產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)的程序固化到所述磁卡測(cè)試主板2；

所述磁卡測(cè)試主板2包括一單片機(jī)5和三個(gè)磁道調(diào)理電路6，每一磁道調(diào)理電路6包括依次連接的一積分電路7、一放大電路8和一單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路9；

所述待測(cè)主板3在工裝主板4上電后發(fā)送一觸發(fā)信號(hào)給所述單片機(jī)5，所述單片機(jī)5產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)，所述數(shù)字磁卡信號(hào)經(jīng)由積分電路7得到模擬磁卡信號(hào)，經(jīng)放大電路8得到一定幅度的模擬磁卡信號(hào)，再經(jīng)過(guò)單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路9將所述一定幅度的模擬磁卡信號(hào)從單信號(hào)變?yōu)殡p信號(hào)，從而產(chǎn)生差模信號(hào)給待測(cè)主板進(jìn)行測(cè)試。

如圖4所示，所述單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路9包括一耦合電容c1和一變壓器t1，所述耦合電容c1一端部與放大電路8輸出端連接，另一端與所述變壓器t1連接，將放大電路8處理后的信號(hào)傳輸給變壓器t1，所述變壓器t1一側(cè)的兩端口分別與所述耦合電容c1以及地網(wǎng)絡(luò)連接，另一次側(cè)的兩端口分別連接待測(cè)主板3，以傳輸該磁道的雙信號(hào)，即每個(gè)磁道輸出差模信號(hào)，如圖4中的hdp1和hdn1分別表示第一磁道的一對(duì)信號(hào)，輸出到待測(cè)主板對(duì)應(yīng)接口。

所述磁卡測(cè)試主板上設(shè)有一swd接口10，所述pc機(jī)通過(guò)usb轉(zhuǎn)swd接口線與單片機(jī)連接，便于在測(cè)試前通過(guò)pc機(jī)將測(cè)試所需的程序固化到單片機(jī)上。

所述磁卡測(cè)試主板設(shè)有與所述待測(cè)主板連接的電源引腳、觸發(fā)引腳和磁卡信號(hào)輸出引腳。

所述單片機(jī)可以為stm32單片機(jī)。

如圖5所示，本發(fā)明一種pos機(jī)生產(chǎn)中的磁卡自動(dòng)測(cè)試方法，需提供一pc機(jī)、一磁卡測(cè)試主板和一待測(cè)主板，所述磁卡測(cè)試主板和待測(cè)主板安裝于一工裝主板上，通過(guò)所述工裝主板進(jìn)行物理連接，所述pc機(jī)與磁卡測(cè)試主板連接，具體的，所述磁卡測(cè)試主板上設(shè)有一swd接口，所述pc機(jī)通過(guò)usb轉(zhuǎn)swd接口線與單片機(jī)連接；

所述磁卡測(cè)試主板包括一單片機(jī)和三個(gè)磁道調(diào)理電路，每一磁道調(diào)理電路包括依次連接的一積分電路、一放大電路和一單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路；

所述方法包括如下步驟：

步驟1、通過(guò)pc機(jī)將用于產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)的程序固化到所述磁卡測(cè)試主板的單片機(jī)上；

步驟2、對(duì)工裝主板上電；

步驟3、所述待測(cè)主板發(fā)送一觸發(fā)信號(hào)給磁卡測(cè)試主板；

步驟4、所述單片機(jī)產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)給三個(gè)磁道調(diào)理電路；

步驟5、三個(gè)所述磁道調(diào)理電路對(duì)所述數(shù)字磁卡信號(hào)進(jìn)行調(diào)理得到三個(gè)差模信號(hào)傳輸給待測(cè)主板進(jìn)行測(cè)試：

每一所述積分電路將所述數(shù)字磁卡信號(hào)的一個(gè)磁道信號(hào)轉(zhuǎn)成一模擬磁卡信號(hào)；

每一所述模擬磁卡信號(hào)經(jīng)對(duì)應(yīng)的放大電路處理得到一定幅度的模擬磁卡信號(hào)；

每一所述一定幅度的模擬磁卡信號(hào)經(jīng)對(duì)應(yīng)的單端轉(zhuǎn)雙端網(wǎng)絡(luò)電路轉(zhuǎn)換成雙信號(hào)，從而產(chǎn)生差模信號(hào)輸出給所述待測(cè)主板進(jìn)行測(cè)試；

步驟6、所述待測(cè)主板根據(jù)所述差模信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，并返回測(cè)試結(jié)果給pc機(jī)。

本發(fā)明自動(dòng)測(cè)試過(guò)程中，通過(guò)一個(gè)使能信號(hào)控制mcu產(chǎn)生數(shù)字磁卡信號(hào)，經(jīng)過(guò)模擬電路調(diào)理編號(hào)成標(biāo)準(zhǔn)的模擬磁卡信號(hào)，通過(guò)頂針將信號(hào)傳輸?shù)酱郎y(cè)主板上，大大縮短測(cè)試時(shí)間，降低成本，實(shí)現(xiàn)高效、可靠的自動(dòng)化測(cè)試，提高產(chǎn)能。

雖然以上描述了本發(fā)明的具體實(shí)施方式，但是熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，我們所描述的具體的實(shí)施例只是說(shuō)明性的，而不是用于對(duì)本發(fā)明的范圍的限定，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在依照本發(fā)明的精神所作的等效的修飾以及變化，都應(yīng)當(dāng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求所保護(hù)的范圍內(nèi)。