本發(fā)明涉及一種測(cè)量方法及其測(cè)量裝置，尤其是涉及一種用于管狀電子陶瓷的缺陷進(jìn)行電弧檢測(cè)的方法和裝置，屬于檢測(cè)裝置技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

管狀電子陶瓷管可用于燃?xì)饩唿c(diǎn)火等裝置中；其用于點(diǎn)火裝置中時(shí)，需要將其套在一根點(diǎn)火針上，在電子陶瓷管與點(diǎn)火針之間施加高壓時(shí)，在點(diǎn)火針頂部就會(huì)產(chǎn)生電弧，激起火花，則點(diǎn)火成功。此時(shí)，電子陶瓷管的作用是隔離套在其中的點(diǎn)火針，使之只有外露的尖端在放電，為此電子陶瓷管的絕緣性必須非?？煽?，所以在生產(chǎn)電子陶瓷管或使用電子陶瓷管的企業(yè)里需要投入人工模擬使用環(huán)境靠人眼去檢測(cè)電子陶瓷管。人工檢測(cè)需要在暗房或特種燈光環(huán)境中，雙手拿著探針，人眼觀察電弧狀態(tài)。這種傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方式對(duì)檢測(cè)工人的視力和身體都有損害，并且人工檢測(cè)的效率低、誤檢率高。

在研制設(shè)備時(shí)，我們研究比較了多種檢測(cè)方法，如：智能視覺(jué)檢測(cè)法（利用攝像和圖像識(shí)別系統(tǒng)取代人眼判斷），電學(xué)檢測(cè)方法（通過(guò)直接測(cè)量電子陶瓷的重量、電阻、電流等方式）等。對(duì)于視覺(jué)檢測(cè)法，誤判率高，漏檢率高，容易受到高壓干擾，壽命短，且成本高昂。對(duì)于電學(xué)測(cè)量方式，由于電子陶瓷管在電學(xué)特性上差異細(xì)微，無(wú)法可靠區(qū)分良品和不良品，因此這類檢查方法，非常不可靠。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于克服上述不足，提供一種可靠性高的管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量方法及其測(cè)量裝置。

本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的：

一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量方法，所述方法為：給管狀電子陶瓷內(nèi)部通入一定量的脈沖高壓，在管狀電子陶瓷的外部套裝金屬感應(yīng)圈，金屬感應(yīng)圈與電弧檢測(cè)電路連接檢測(cè)是否有電弧產(chǎn)生。

本發(fā)明一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量方法，在上述方法中將管狀電子陶瓷的兩端用軟性的絕緣材料密封??；當(dāng)管狀電子陶瓷有缺陷時(shí)，管狀電子陶瓷和金屬感應(yīng)圈之間就會(huì)出現(xiàn)放電產(chǎn)生電弧，該電弧可由電弧檢測(cè)電路檢測(cè)到并給出缺陷報(bào)警信號(hào)，從而達(dá)到對(duì)管狀電子陶瓷進(jìn)行缺陷檢測(cè)的目的。

本發(fā)明一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量裝置，所述裝置包含有用于插入待檢測(cè)電子陶瓷管的插針，所述插針安裝于插針夾具上，且插針夾具上包裹有下絕緣材料，所述插針夾具連接于夾具固定件上，該夾具固定件的下部安裝有金屬插口，該金屬插口通過(guò)導(dǎo)線與高壓探棒相連接，且高壓探棒通過(guò)金屬插口與插針導(dǎo)電相通，所述待檢測(cè)電子陶瓷管的頂部壓合有上絕緣材料，且待檢測(cè)電子陶瓷管上套裝有金屬感應(yīng)圈通過(guò)導(dǎo)線與電弧檢測(cè)電路相連接。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

本發(fā)明通過(guò)電弧檢測(cè)方式對(duì)管狀電子陶瓷的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，只有當(dāng)其存在缺陷時(shí)才會(huì)發(fā)生電弧，因此可靠性高，不容易發(fā)生誤檢的情況。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量裝置的裝配效果示意圖。

其中：

上絕緣材料1、金屬感應(yīng)圈2、待檢測(cè)電子陶瓷管3、插針4、下絕緣材料5、插針夾具6、夾具固定件7、金屬插口8、高壓探棒9、電弧檢測(cè)電路10。

具體實(shí)施方式

參見(jiàn)圖1和圖2，本發(fā)明涉及的一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量方法，所述方法為：給管狀電子陶瓷內(nèi)部通入一定量的脈沖高壓，在管狀電子陶瓷的外部套裝金屬感應(yīng)圈，金屬感應(yīng)圈與電弧檢測(cè)電路連接檢測(cè)是否有電弧產(chǎn)生；

進(jìn)一步的，在上述方法中將管狀電子陶瓷的兩端用軟性的絕緣材料密封住；如果管狀電子陶瓷有裂隙、沙孔、破損等缺陷，就會(huì)出現(xiàn)放電產(chǎn)生電弧，該電弧可被特制的檢測(cè)電路檢測(cè)到并給出缺陷報(bào)警信號(hào)，從而達(dá)到對(duì)管狀電子陶瓷進(jìn)行缺陷檢測(cè)的目的。

一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量裝置，所述裝置包含有用于插入待檢測(cè)電子陶瓷管3的插針4，所述插針4安裝于插針夾具6上，且插針夾具6上包裹有下絕緣材料5，所述插針夾具6連接于夾具固定件7上，該夾具固定件7的下部安裝有金屬插口8，該金屬插口8通過(guò)導(dǎo)線與高壓探棒9相連接，且高壓探棒9通過(guò)金屬插口8與插針4導(dǎo)電相通，所述待檢測(cè)電子陶瓷管3的頂部壓合有上絕緣材料1，且待檢測(cè)電子陶瓷管3上套裝有金屬感應(yīng)圈2通過(guò)導(dǎo)線與電弧檢測(cè)電路10相連接；

另外：需要注意的是，上述具體實(shí)施方式僅為本專利的一個(gè)優(yōu)化方案，本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)上述構(gòu)思所做的任何改動(dòng)或改進(jìn)，均在本專利的保護(hù)范圍之內(nèi)。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量方法及其測(cè)量裝置，所述方法為：給管狀電子陶瓷內(nèi)部通入一定量的脈沖高壓，在管狀電子陶瓷的外部套裝金屬感應(yīng)圈，金屬感應(yīng)圈與電弧檢測(cè)電路連接檢測(cè)是否有電弧產(chǎn)生；在上述方法中將管狀電子陶瓷的兩端用軟性的絕緣材料密封住；當(dāng)管狀電子陶瓷有缺陷時(shí)，管狀電子陶瓷和金屬感應(yīng)圈之間就會(huì)出現(xiàn)放電產(chǎn)生電弧，該電弧可由電弧檢測(cè)電路檢測(cè)到并給出缺陷報(bào)警信號(hào)，從而達(dá)到對(duì)管狀電子陶瓷進(jìn)行缺陷檢測(cè)的目的。本發(fā)明一種管狀電子陶瓷缺陷測(cè)量方法及其測(cè)量裝置，可靠性高。

技術(shù)研發(fā)人員：周明寶;蔣彪;石曉青;王棟
受保護(hù)的技術(shù)使用者：無(wú)錫恒康寶光電科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.27
技術(shù)公布日：2017.10.20