本發(fā)明涉及一種輸入離散量上電bit測試電路，屬于電子測控專業(yè)技術(shù)。

背景技術(shù)：

bit測試作為系統(tǒng)測試和故障診斷與隔離的新技術(shù)，是一種重要的系統(tǒng)故障測試方法，是提高系統(tǒng)的可測試性和診斷能力的重要途徑，在電子測控專業(yè)技術(shù)可靠性與可維護(hù)性設(shè)計中日益受到重視。經(jīng)過技術(shù)查新，目前專用于輸入離散量上電bit測試電路的專利未查到，該發(fā)明填補(bǔ)了此領(lǐng)域的空白。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的輸入離散量上電bit測試電路，包括依次連接的光耦隔離模塊、電平轉(zhuǎn)換模塊、fpga和電子開關(guān)，所述fpga可控制所述電子開關(guān)向所述光耦隔離模塊發(fā)送“高端”離散信號或“低端”離散信號，并通過所述電平轉(zhuǎn)換模塊發(fā)送至fpga，并在fpga中判斷信號是否正常，若正常則電路正常，若異常則電路故障。

所述電子開關(guān)外接+15v電源和模擬地。

本發(fā)明解決了輸入離散量上電bit的技術(shù)問題。本發(fā)明的測試電路在進(jìn)行輸入離散量上電bit時，通過fpga控制電子開關(guān)先選+15v激勵源，通過回采進(jìn)行判斷是否正常；若正常，再通過fpga控制電子開關(guān)選通模擬地，通過回采進(jìn)行判斷，若也正常，則該離散量輸入正常，bit通過。

有益效果：該電路填補(bǔ)了輸入離散量上電bit電路的技術(shù)空白，具有可靠性高、穩(wěn)定性好、設(shè)計成本低的優(yōu)勢，可廣泛應(yīng)用于使用于有輸入離散量上電bit的控制系統(tǒng)中。

附圖說明

圖1是本發(fā)明輸入離散量上電bit測試電路的邏輯圖；

圖2是本發(fā)明輸入離散量上電bit測試電路的工作流程圖；

圖3是本發(fā)明電子開關(guān)的控制電路圖。

具體實施方式

如圖1所示，輸入離散量上電bit時，通過fpga控制電子開關(guān)先選+15v激勵源，通過回采進(jìn)行判斷是否正常；若正常，再通過fpga控制電子開關(guān)選通模擬地，通過回采進(jìn)行判斷，若也正常，則該離散量輸入正常，bit通過。

輸入離散量上電bit電路流程圖如圖2所示，軟件控制過程應(yīng)按照流程圖進(jìn)行控制。輸入離散量上電bit具體實現(xiàn)電路如圖3所示，圖3中的1d11和1d69用來產(chǎn)生bit信號，1d11和1d69均采用電子開關(guān)adg1408bru，因為該電子開關(guān)阻抗小，不會存在阻抗匹配的問題。通過電子開關(guān)1d11選出bit激勵源(cbitout)+15cv(+15v)或cagnd(模擬地)，再通過反用電子開關(guān)1d69選出對應(yīng)的bit信號(cdbit1～cdbit7)。

以圖3中的輸入離散量nscss-1為例，在對該離散量做上電bit時，通過控制電子開關(guān)在cdbit1處加高端信號15v激勵源，使得光耦后級離散信號cwaio7為高，通過fpga讀取進(jìn)行判斷是否正常；若正常，再在cdbit1加低端信號模擬地，使得光耦后級離散信號cwaio7為低，通過fpga讀取進(jìn)行判斷，若也正常，則離散量nscss-1輸入通路正常，bit監(jiān)控通過。做完bit監(jiān)控后，使電路恢復(fù)正常工作狀態(tài)，即通過fpga控制電子開關(guān)使cdbit1信號處于高阻狀態(tài)，由輸入離散量nscss-1控制光耦的輸出信號cwaio7。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種輸入離散量上電BIT測試電路，屬于電子測控專業(yè)技術(shù)。BIT測試作為系統(tǒng)測試和故障診斷與隔離的新技術(shù)，是一種重要的系統(tǒng)故障測試方法。本發(fā)明的輸入離散量上電BIT測試電路，包括依次連接的光耦隔離模塊、電平轉(zhuǎn)換模塊、FPGA和電子開關(guān)，所述FPGA可控制所述電子開關(guān)向所述光耦隔離模塊發(fā)送“高端”離散信號或“低端”離散信號，并通過所述電平轉(zhuǎn)換模塊發(fā)送至FPGA，并在FPGA中判斷信號是否正常，若正常則電路正常，若異常則電路故障。具有可靠性高、穩(wěn)定性好、設(shè)計成本低的優(yōu)勢，可廣泛應(yīng)用于使用于有輸入離散量上電BIT的控制系統(tǒng)中。

技術(shù)研發(fā)人員：張亞軍;張雯麗;郭宏選
受保護(hù)的技術(shù)使用者：慶安集團(tuán)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.22
技術(shù)公布日：2017.07.14