1.一種顆粒形態(tài)的光學(xué)檢測裝置，包括：
一顆粒的分散裝置，用于將單個顆粒分散到空間中；
低相干干涉測量和顯微成像相結(jié)合的成像測量裝置，用于采集分散到空間中的顆粒圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種顆粒形態(tài)的光學(xué)檢測裝置，其特征在于：
所述的成像測量裝置包括低相干干涉測量裝置和顯微成像裝置，低相干干涉測量裝置和顯微成像裝置的照明光源采用同一個。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種顆粒形態(tài)的光學(xué)檢測裝置，其特征在于：所述的成像測量裝置包括低相干光源、干涉儀、顯微裝置和探測器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種顆粒形態(tài)的光學(xué)檢測裝置，其特征在于：所述的成像測量裝置包括低相干光源、干涉儀、顯微裝置和光譜儀。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種顆粒形態(tài)的光學(xué)檢測裝置，其特征在于：所述的成像測量裝置包括掃頻寬光譜光源、干涉儀、顯微裝置和探測器。