1.一種高頻測量桿，包括：
桿體，具有中空的殼體和同心地設置在所述殼體內(nèi)的芯體，所述殼體和所述芯體均由導電材料形成以用于傳輸高頻信號；
測量端頭，設置在所述桿體的第一端以用于容納待測樣品；以及
連接端頭，設置在所述桿體的與所述第一端相反的第二端，以用于將所述桿體連接到測量設備主體。
2.如權(quán)利要求1所述的高頻測量桿，其中，
所述殼體由兩段材料焊接而成，在距離所述第一端1/3處的這一段所述殼體由良導體無氧銅或銀制成，焊接點到所述第二端由不銹鋼制成，
所述芯體由兩段材料焊接而成，在距離所述第一端1/5處的這一段所述殼體由良導體無氧銅或銀制成，焊接點到所述第二端由不銹鋼制成；以及
所述殼體和所述芯體通過絕緣墊片彼此間隔開，所述殼體內(nèi)徑與所述芯體外徑的比值的自然對數(shù)等于需要匹配的阻抗歐姆數(shù)除以60。
3.如權(quán)利要求1所述的高頻測量桿，其中，所述桿體還包括一個或多個隔熱板，設在所述殼體上以防止在所述殼體的延伸方向上形成氣體對流。
4.如權(quán)利要求1所述的高頻測量桿，其中，所述測量端頭包括：
連接部件，連接到所述殼體，并且所述連接部件設有樣品室用于容納待測樣品；
限位部件，與所述連接部件同軸設置，由兩個內(nèi)徑相同、外徑不同的兩端開口的圓筒構(gòu)成，兩個圓筒外部相接處形成臺階；
導電柱，設在所述限位部件的內(nèi)部，并可進入所述連接部件的樣品室內(nèi)從而與待測樣品在一定機械尺寸范圍內(nèi)實現(xiàn)良好電學接觸；以及
鎖頭部件，與所述限位部件連接，用于遮蓋所述限位部件開放的一端。
5.如權(quán)利要求4所述的高頻測量桿，其中，所述連接部件內(nèi)部中空以用于所述芯體的穿過。
6.如權(quán)利要求4所述的高頻測量桿，其中，所述限位部件與所述鎖頭部件接觸的側(cè)面還設有凹槽，所述導電柱相對所述凹槽設有凸起，以用于所述導電柱軸向運動的線程控制在凹槽的深度范圍內(nèi)。
7.如權(quán)利要求4所述的高頻測量桿，其中，所述高頻測量桿還包括：
彈性部件，設在所述導電柱和所述鎖頭部件之間，用于調(diào)節(jié)所述導電柱軸向移動的范圍；以及
緊固部件，呈兩端開口直徑不同的圓筒狀，其中，直徑大的一端開口與所述連接部件連接，直徑小的一端開口套在所述限位部件臺階處，從而限制所述限位部件的活動。
8.如權(quán)利要求1所述的高頻測量桿，其中，所述測量端頭包括：
連接部件，呈兩端開口的圓筒狀，連接到所述殼體，與所述桿體同軸設置；
限位部件，內(nèi)部中空并設有圓環(huán)平臺，所述限位部件一端與所述連接部件連接；
材料臺，設在所述限位部件的圓環(huán)平臺上，用于放置環(huán)狀待測樣品；以及
鎖頭部件，與所述連接部件同軸設置，用于將所述材料臺套封于所述限位部件內(nèi)，所述鎖頭部件設有中心柱，所述中心柱穿過所述材料臺和所述限位部件從而與所述芯體接觸。
9.如權(quán)利要求8所述的高頻測量桿，其中，所述圓環(huán)平臺表面設有用于放置所述材料臺的凹槽。
10.如權(quán)利要求8所述的高頻測量桿，其中，所述材料臺由多個無磁絕緣材料的圓柱構(gòu)成階梯狀，不同直徑的圓柱用于承載不同內(nèi)徑的環(huán)狀樣品。
11.如權(quán)利要求4或8所述的高頻測量桿，其中，所述鎖頭部件設有溫度傳感器和磁場傳感器中的至少一個，其與設在所述鎖頭部件端部的引線座連接，以用于監(jiān)控所述測量桿中的樣品的溫度和磁場中的至少一種。