本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種芯片驗證方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

邏輯驗證是數(shù)字芯片前端設(shè)計過程中的一個關(guān)鍵步驟，驗證平臺模擬芯片實際運行環(huán)境，并通過測試用例檢驗芯片功能的正確性。隨著數(shù)字集成電路在規(guī)模和復雜性上的快速增長，以及大量功能類似芯片的快速發(fā)布需求，對驗證平臺和測試方法在時間和成本上提出了更高的要求。

傳統(tǒng)的驗證平臺是信號級的驗證，通過直接編寫測試激勵，對待測芯片進行驗證。傳統(tǒng)的驗證平臺，缺乏對平臺功能的抽象分工，沒有統(tǒng)一的編寫標準和應用接口，造成驗證平臺復用性差，測試效率低下。

目前，采用驗證方法學是芯片驗證的趨勢之一，統(tǒng)一驗證方法學(universalverificationmethodology，簡稱為uvm)是其中的典型代表。uvm系統(tǒng)架構(gòu)圖如圖1所示。uvm架構(gòu)中最主要的復用單元是總線代理(agent)，驗證人員通過編寫序列器(sequencer)中的序列(sequence)生成事務(wù)級的包(transaction)，并通過驅(qū)動器(driver)轉(zhuǎn)換為接口激勵信號作用于總線接口，同時監(jiān)視器(monitor)收集總線信號，轉(zhuǎn)換回事務(wù)級的包，并發(fā)送至計分板(scoreboard)進行自動化比對。

uvm提供了一套基礎(chǔ)的驗證架構(gòu)，實現(xiàn)了基本的復用和自動化驗證。但對于目前大量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)類型芯片的快速驗證需求，uvm架構(gòu)上也有不足的地方，首先uvm中agent的定義比較寬泛，缺乏層次的概念，目前高速總線的發(fā)展，使得總線結(jié)構(gòu)本身就比較復雜，自身就有多個層次，同時對于總線流量的建模也存在多個層次。越來越多的接口類型與復雜的流量模型會產(chǎn)生眾多的組合，如果將這些功能都放在agent中實現(xiàn)，需要多層次序列器配合實現(xiàn)，agent會變得非常復雜，也不利于平臺的復用，同時也會影響仿真工具軟件的工作效率。寄存器驗證也存在同樣的問題。其次，針對驗證平臺、測試用例的編寫及測試，僅僅使用uvm架構(gòu)也是不足的。

針對uvm的驗證架構(gòu)缺乏層次性導致平臺的復用性低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種芯片驗證方法、裝置及系統(tǒng)，以至少解決uvm的驗證架構(gòu)缺乏層次性導致平臺的復用性低的問題。

根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種芯片驗證方法，包括：生成驗證平臺，其中，所述驗證平臺包括：模型層和接口層，所述模型層包括流量模型和寄存器模型，所述接口層包括數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理；通過所述驗證平臺，對所述待測芯片進行驗證。

可選地，生成所述驗證平臺包括：接收平臺配置文件，所述平臺配置文件攜帶有所述模型層的模型參數(shù)、所述接口層的接口參數(shù)和所述驗證平臺的平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)；從平臺組件庫中選取與所述平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)相應的組件，生成所述驗證平臺的基本框架；根據(jù)所述模型參數(shù)，生成所述流量模型和所述寄存器模型；根據(jù)所述接口參數(shù)，生成所述數(shù)據(jù)總線接口代理和所述cpu總線接口代理。

可選地，對所述待測芯片進行驗證包括：接收用于驗證待測芯片的測試配置，其中，所述測試配置中攜帶有平臺配置、接口測試配置、流量測試配置和寄存器測試配置；從測試套件中選取分別與所述接口測試配置、所述流量測試配置和所述寄存器測試配置相應的測試用例；根據(jù)所述平臺配置，對所述測試用例進行調(diào)整；運行調(diào)整后的測試用例，生成驗證報告。

可選地，對所述待測芯片進行驗證包括：通過所述流量模型，生成待測芯片所需的轉(zhuǎn)發(fā)面流量的事務(wù)級報文；通過所述寄存器模型，生成所述待測芯片所需的控制面寄存器的事務(wù)級報文；通過所述數(shù)據(jù)總線接口代理，將從所述流量模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給所述待測芯片的總線信號級激勵，將從所述待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的事務(wù)級報文；通過所述cpu總線接口代理，將從所述寄存器模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給所述待測芯片的總線信號級激勵，將從所述待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的事務(wù)級報文。

根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，還提供了一種芯片驗證裝置，包括：生成模塊，用于生成驗證平臺，其中，所述驗證平臺包括：模型層和接口層，所述模型層包括流量模型和寄存器模型，所述接口層包括數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理；驗證模塊，用于通過所述驗證平臺，對所述待測芯片進行驗證。

可選地，所述生成模塊包括：第一接收單元，用于接收平臺配置文件，所述平臺配置文件攜帶有所述模型層的模型參數(shù)、所述接口層的接口參數(shù)和所述驗證平臺的平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)；第一選取單元，用于從平臺組件庫中選取與所述平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)相應的組件，生成所述驗證平臺的基本框架；第一生成單元，用于根據(jù)所述模型參數(shù)，生成所述流量模型和所述寄存器模型；第二生成單元，用于根據(jù)所述接口參數(shù)，生成所述數(shù)據(jù)總線接口代理和所述cpu總線接口代理。

可選地，所述驗證模塊包括：第二接收單元，用于接收用于驗證待測芯片的測試配置，其中，所述測試配置中攜帶有平臺配置、接口測試配置、流量測試配置和寄存器測試配置；第二選取單元，用于從測試套件中選取分別與所述接口測試配置、所述流量測 試配置和所述寄存器測試配置相應的測試用例；調(diào)整單元，用于根據(jù)所述平臺配置，對所述測試用例進行調(diào)整；驗證單元，用于運行調(diào)整后的測試用例，生成驗證報告。

可選地，所述驗證模塊包括：第三生成單元，用于通過所述流量模型，生成待測芯片所需的轉(zhuǎn)發(fā)面流量的事務(wù)級報文；第四生成單元，用于通過所述寄存器模型，生成所述待測芯片所需的控制面寄存器的事務(wù)級報文；第一接口單元，用于通過所述數(shù)據(jù)總線接口代理，將從所述流量模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給所述待測芯片的總線信號級激勵，將從所述待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的事務(wù)級報文；第二接口單元，用于通過所述cpu總線接口代理，將從所述寄存器模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給所述待測芯片的總線信號級激勵，將從所述待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的事務(wù)級報文。

根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種芯片驗證系統(tǒng)，包括：上述的芯片驗證裝置、平臺組件庫、測試套件庫、腳本庫，其中，所述平臺組件庫，用于提供構(gòu)建驗證平臺基本框架的組件；所述測試套件庫，用于提供測試用例；所述腳本庫，用于提供所述芯片驗證裝置的自動化運行需要的腳本。

通過本發(fā)明，采用生成驗證平臺，其中，驗證平臺包括：模型層和接口層，模型層包括流量模型和寄存器模型，接口層包括數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理；通過驗證平臺，對待測芯片進行驗證的方式，解決了uvm的驗證架構(gòu)缺乏層次性導致平臺的復用性低的問題，提高了驗證架構(gòu)的復用性，提升了驗證效率。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中：

圖1是根據(jù)相關(guān)技術(shù)的芯片驗證系統(tǒng)的構(gòu)架示意圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證方法的流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的結(jié)構(gòu)框圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的可選結(jié)構(gòu)框圖一；

圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的可選結(jié)構(gòu)框圖二；

圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的可選結(jié)構(gòu)框圖三；

圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖8是根據(jù)本發(fā)明可選實施例的芯片驗證系統(tǒng)的構(gòu)架示意圖；

圖9是根據(jù)本發(fā)明可選實施例的測試用例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖10是根據(jù)本發(fā)明可選實施例的芯片驗證方法的流程圖；

圖11是根據(jù)本發(fā)明可選實施例的芯片驗證系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下文中將參考附圖并結(jié)合實施例來詳細說明本發(fā)明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。

需要說明的是，本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。

在本實施例中提供了一種芯片驗證方法，圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證方法的流程圖，如圖2所示，該流程包括如下步驟：

步驟s202，生成驗證平臺，其中，驗證平臺包括：模型層和接口層，模型層包括流量模型和寄存器模型，接口層包括數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理；

步驟s204，通過驗證平臺，對待測芯片進行驗證。

通過上述步驟，生成了層次化的驗證平臺，并采用層次化的驗證平臺對待測芯片進行那驗證，解決了uvm的驗證架構(gòu)缺乏層次性導致平臺的復用性低的問題，提高了驗證架構(gòu)的復用性，提升了驗證效率。

可選地，生成驗證平臺包括：接收平臺配置文件，平臺配置文件攜帶有模型層的模型參數(shù)、接口層的接口參數(shù)和驗證平臺的平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)；從平臺組件庫中選取與平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)相應的組件，生成驗證平臺的基本框架；根據(jù)模型參數(shù)，生成流量模型和寄存器模型；根據(jù)接口參數(shù)，生成數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理。通過上述方式，在平臺組件庫中可以預置用于生成驗證平臺的基本框架的組件，實現(xiàn)了驗證平臺的快速搭建。

可選地，對待測芯片進行驗證時，可以編寫測試配置后發(fā)送給驗證平臺，驗證平臺接收用于驗證待測芯片的測試配置，其中，測試配置中攜帶有平臺配置、接口測試配置、流量測試配置和寄存器測試配置；驗證平臺從測試套件中選取分別與接口測試配置、流量測試配置和寄存器測試配置相應的測試用例；驗證平臺根據(jù)平臺配置，對測試用例進行調(diào)整；驗證平臺運行調(diào)整后的測試用例，生成驗證報告。

可選地，對待測芯片進行驗證時，在驗證平臺中，流量模型生成待測芯片所需的轉(zhuǎn)發(fā)面流量的事務(wù)級報文；寄存器模型生成待測芯片所需的控制面寄存器的事務(wù)級報文；數(shù)據(jù)總線接口代理將從流量模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給待測芯片的總線信號級激勵，將從待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的事務(wù)級報文；cpu總線接口代理將從寄存器模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給待測芯片的總線信號級激勵，將從待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的 事務(wù)級報文。

通過以上的實施方式的描述，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到根據(jù)上述實施例的方法可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現(xiàn)，當然也可以通過硬件，但很多情況下前者是更佳的實施方式?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)(如rom/ram、磁碟、光盤)中，包括若干指令用以使得一臺終端設(shè)備(可以是手機，計算機，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述的方法。

在本實施例中還提供了一種芯片驗證裝置，該裝置用于實現(xiàn)上述實施例及優(yōu)選實施方式，已經(jīng)進行過說明的不再贅述。如以下所使用的，術(shù)語“模塊”可以實現(xiàn)預定功能的軟件和/或硬件的組合。盡管以下實施例所描述的裝置較佳地以軟件來實現(xiàn)，但是硬件，或者軟件和硬件的組合的實現(xiàn)也是可能并被構(gòu)想的。

圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的結(jié)構(gòu)框圖，如圖3所示，該裝置包括：生成模塊32和驗證模塊34，其中，

生成模塊32，用于生成驗證平臺，其中，驗證平臺包括：模型層和接口層，模型層包括流量模型和寄存器模型，接口層包括數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理；驗證模塊34，耦合至生成模塊32，用于通過驗證平臺，對待測芯片進行驗證。

圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的可選結(jié)構(gòu)框圖一，如圖4所示，可選地，生成模塊32包括：第一接收單元322，用于接收平臺配置文件，平臺配置文件攜帶有模型層的模型參數(shù)、接口層的接口參數(shù)和驗證平臺的平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)；第一選取單元324，耦合至第一接收單元322，用于從平臺組件庫中選取與平臺結(jié)構(gòu)參數(shù)相應的組件，生成驗證平臺的基本框架；第一生成單元326，耦合至第一接收單元322，用于根據(jù)模型參數(shù)，生成流量模型和寄存器模型；第二生成單元328，耦合至第一接收單元322，用于根據(jù)接口參數(shù)，生成數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理。

圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的可選結(jié)構(gòu)框圖二，如圖5所示，可選地，驗證模塊34包括：第二接收單元340，用于接收用于驗證待測芯片的測試配置，其中，測試配置中攜帶有平臺配置、接口測試配置、流量測試配置和寄存器測試配置；第二選取單元341，耦合至第二接收單元340，用于從測試套件中選取分別與接口測試配置、流量測試配置和寄存器測試配置相應的測試用例；調(diào)整單元342，耦合至第二選取單元341，用于根據(jù)平臺配置，對測試用例進行調(diào)整；驗證單元343，耦合至調(diào)整單元342，用于運行調(diào)整后的測試用例，生成驗證報告。

圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證裝置的可選結(jié)構(gòu)框圖三，如圖6所示，可選地，驗證模塊34包括：第三生成單元344，用于通過流量模型，生成待測芯片所需的轉(zhuǎn)發(fā)面流量的事務(wù)級報文；第四生成單元345，用于通過寄存器模型，生成待測芯片所需的控制面寄存器的事務(wù)級報文；第一接口單元346，耦合至第三生成單元344，用于通過數(shù) 據(jù)總線接口代理，將從流量模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給待測芯片的總線信號級激勵，將從待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的事務(wù)級報文；第二接口單元347，耦合至第四生成單元345，用于通過cpu總線接口代理，將從寄存器模型接收的事務(wù)級報文轉(zhuǎn)換為發(fā)送給待測芯片的總線信號級激勵，將從待測芯片接收的總線信號級激勵轉(zhuǎn)換為發(fā)送給參考模型或計分板的事務(wù)級報文。

需要說明的是，上述各個模塊是可以通過軟件或硬件來實現(xiàn)的，對于后者，可以通過以下方式實現(xiàn)，但不限于此：上述模塊均位于同一處理器中；或者，上述模塊分別位于多個處理器中。

本發(fā)明的實施例還提供了一種芯片驗證系統(tǒng)，圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片驗證系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖，如圖7所示，該系統(tǒng)包括：上述的芯片驗證裝置72、平臺組件庫74、測試套件庫76、腳本庫78，其中，平臺組件庫74，耦合至芯片驗證裝置72，用于提供構(gòu)建驗證平臺基本框架的組件；測試套件庫76，耦合至芯片驗證裝置72，用于提供測試用例；腳本庫78，耦合至芯片驗證裝置72，用于提供芯片驗證裝置的自動化運行需要的腳本。

本發(fā)明的實施例還提供了一種軟件，該軟件用于執(zhí)行上述實施例及優(yōu)選實施方式中描述的技術(shù)方案。

本發(fā)明的實施例還提供了一種存儲介質(zhì)。在本實施例中，上述存儲介質(zhì)可以被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：

步驟s202，生成驗證平臺，其中，驗證平臺包括：模型層和接口層，模型層包括流量模型和寄存器模型，接口層包括數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理；

步驟s204，通過驗證平臺，對待測芯片進行驗證。

可選地，在本實施例中，上述存儲介質(zhì)可以包括但不限于：u盤、只讀存儲器(read-onlymemory，簡稱為rom)、隨機存取存儲器(randomaccessmemory，簡稱為ram)、移動硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

可選地，本實施例中的具體示例可以參考上述實施例及可選實施方式中所描述的示例，本實施例在此不再贅述。

為了使本發(fā)明實施例的描述更加清楚，下面結(jié)合可選實施例進行描述和說明。

在數(shù)字芯片的rtl前端驗證中，傳統(tǒng)的驗證方法存在很多不足，使用uvm驗證方法學，在層次化、復用性、以及自動化方面也存在不足。因此本發(fā)明實施例旨在提出一種新的驗證平臺架構(gòu)和測試方法，來解決現(xiàn)有驗證架構(gòu)中存在的這些問題。

本發(fā)明可選實施例提供了一種芯片驗證架構(gòu)、測試方法和系統(tǒng)，用于數(shù)字芯片的前端寄存器傳輸級(registertransferlevel，簡稱為rtl)邏輯驗證。

為了提供一種層次化的、復用性更強的驗證平臺結(jié)構(gòu)和標準化的測試用例結(jié)構(gòu)，同時在該驗證架構(gòu)的基礎(chǔ)上結(jié)合腳本語言，構(gòu)建完整的自動化驗證流程，從而提升整體驗證效率，本發(fā)明可選實施例提供的芯片驗證架構(gòu)采用下列方案：

如圖8所示，將驗證平臺劃分成模型層和接口層兩個層次：

模型層包含流量模型、寄存器模型，其中：

流量模型對整個待測芯片所需轉(zhuǎn)發(fā)面流量進行建模，產(chǎn)生數(shù)據(jù)流量的事物級報文，該報文與具體數(shù)據(jù)總線接口無關(guān)。

寄存器模型對待測芯片所需控制面寄存器進行建模，產(chǎn)生寄存器的事物級報文，該報文與具體cpu總線接口無關(guān)。

接口層包含數(shù)據(jù)總線接口代理和cpu總線接口代理：

上述的接口代理實現(xiàn)具體的數(shù)據(jù)總線協(xié)議(包含不同的數(shù)據(jù)總線和cpu總線)，將事物級報文轉(zhuǎn)換為總線信號級激勵，并監(jiān)控總線，將總線接口信號轉(zhuǎn)換回事物級報文，發(fā)送給參考模型或計分板。接口代理只與具體的總線協(xié)議類型相關(guān)，而與總線上承載的報文類型無關(guān)。

結(jié)合上述層次化驗證架構(gòu)，本發(fā)明提供了一種測試用例結(jié)構(gòu)方案，如圖9所示，該測試用例的結(jié)構(gòu)包括：

接口配置，用于描述平臺中接口代理所對應的接口測試用例的配置；

平臺配置，用于描述平臺內(nèi)各組件的工作配置參數(shù)；

報文配置，用于描述流量模型的工作配置；

寄存器配置，用于描述寄存器模型的讀寫配置。

本發(fā)明可選實施例還提供了一種芯片前端rtl邏輯的測試方法，如圖10所示，包括下列步驟：

步驟s1001：編寫平臺配置文件，包括平臺結(jié)構(gòu)配置，流量模型配置，寄存器模型配置，配置文件可以使用可擴展標記語言(extensiblemarkuplanguage，簡稱為xml)格式存儲；

步驟s1002：生成驗證平臺，首先，調(diào)用環(huán)境搭建腳本(envbuilder)，讀取平臺配置文件中的平臺結(jié)構(gòu)配置，從軟件系統(tǒng)的組件庫中選取相應的接口組件和其它組件，生成驗證平臺基本框架。

其次，調(diào)用寄存器模型生成腳本(spec2reg)，讀取平臺配置文件中的寄存器模型配置，生成寄存器模型代碼；

再次；調(diào)用流量模型生成腳本(spec2packet)，讀取平臺配置文件中的流量模型配置，生成流量模型代碼；

步驟s1003：編寫驗證平臺中的參考模型和計分板；根據(jù)待測芯片，在已生成的驗證平臺框架中補充參考模型和計分板模塊代碼；

步驟s1004：編寫用例配置文件，包括平臺配置，接口測試配置，流量測試配置，寄存器測試配置

步驟s1005：生成測試用例，調(diào)用用例生成腳本(testgen)，選擇從測試套件中生成用例：

首先，根據(jù)接口測試配置，從測試套件中選取相應接口測試用例；

其次，依據(jù)流量測試配置，從測試套件中選取相應流量測試用例；

再次，依據(jù)寄存器測試配置，從測試套件中選取相應寄存器測試用例；

最后，根據(jù)平臺配置的不同，對上述標準用例進行修改，使其能在驗證平臺中正常運行。

步驟s1006：編寫新測試用例，調(diào)用用例生成腳本(testgen)，選擇編寫新用例，生成新測試用例框架，如圖3所示。在該用例框架內(nèi)，對平臺配置，接口配置，報文配置，寄存器配置，分別進行編寫。

步驟s1007：運行測試用例進行驗證，調(diào)用運行與回歸腳本(run&regression)，選擇需要的測試用例進行運行，同時收集覆蓋率相關(guān)信息，生成驗證報告；

結(jié)合上述的驗證平臺架構(gòu)，測試用例結(jié)構(gòu)，測試方法，本發(fā)明可選還提供了一套驗證平臺軟件系統(tǒng)，如圖11所示，包括：平臺組件庫，測試套件庫，和腳本庫。

平臺組件庫，包括：

基礎(chǔ)組件，用于存放驗證平臺搭建的基本模塊，如配置模塊，計分板等；

數(shù)據(jù)接口組件，用于存放驗證平臺搭建所需要的數(shù)據(jù)總線代理模塊；

cpu接口組件，用于存放驗證平臺搭建所需要的cpu總線代理模塊；

報文組件，用于存放驗證平臺中流量模型搭建所需要的模塊；

寄存器組件，用于存放驗證平臺中寄存器模型搭建所需要的模塊；

參考模型組件，用存放驗證平臺中參考模型搭建所需要的模塊；

宏組件，用于存放驗證平臺搭建和測試用例編寫中需要的宏代碼；

虛接口組件，用于存放驗證平臺搭建中需要的虛接口。

測試套件庫，包括：

報文用例，用于存放典型的報文流量模型和模型配置信息；

寄存器用例，用于存放典型的寄存器模型和模型配置信息；

接口協(xié)議用例，用于存放針對接口協(xié)議本身測試的用例。

腳本庫，包括：

環(huán)境搭建腳本(envbuilder)，根據(jù)平臺配置文件，生成驗證平臺的基礎(chǔ)框架和驗證平臺運行的軟件環(huán)境；

寄存器模型生成腳本(spec2reg)，根據(jù)寄存器配置文件，生成寄存器模型；

流量模型生成腳本(spec2packet)，根據(jù)流量配置文件，生成流量模型；

用例生成腳本(testgen)，根據(jù)用例配置文件，從測試套件庫中提取用例，生成驗證所需測試用例；

運行與回歸腳本(run&regression)，用于測試用例運行的控制，同時收集覆蓋率相關(guān)信息，生成驗證報告。

綜上所述，通過本發(fā)明可選實施例提供的上述方案，將驗證平臺劃分成模型層和接口層，將高層次的流量建模和寄存器建模與底層物理接口獨立開來，使得驗證平臺復用性大大提高。同時基于該架構(gòu)提供了一種測試方法和軟件系統(tǒng)，規(guī)范了測試流程和驗證模塊的功能定義，節(jié)省了驗證平臺的重復開發(fā)時間，并實現(xiàn)了芯片驗證流程的自動化，大大提升了芯片驗證的效率。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或各步驟可以用通用的計算裝置來實現(xiàn)，它們可以集中在單個的計算裝置上，或者分布在多個計算裝置所組成的網(wǎng)絡(luò)上，可選地，它們可以用計算裝置可執(zhí)行的程序代碼來實現(xiàn)，從而，可以將它們存儲在存儲裝置中由計算裝置來執(zhí)行，并且在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟，或者將它們分別制作成各個集成電路模塊，或者將它們中的多個模塊或步驟制作成單個集成電路模塊來實現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的硬件和軟件結(jié)合。

以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何 修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。