斷料檢知器的制造方法
【專利摘要】本實用新型關(guān)于一種斷料檢知器，供設(shè)于一產(chǎn)品成型機具，該產(chǎn)品成型機具包括至少一供成型產(chǎn)品的模具及一供自該至少一模具中取出產(chǎn)品的機械手臂，該斷料檢知器包括至少一非接觸式偵測模組，各該非接觸式偵測模組包括一發(fā)射部、一接收部及一電性連接該接收部的判斷單元，該發(fā)射部可控制地朝位于該機械手臂上的該產(chǎn)品或該模具內(nèi)用于成型該產(chǎn)品的模穴面發(fā)射一偵測源，該判斷單元根據(jù)該接收部接收該偵測源的狀態(tài)判斷成型該產(chǎn)品的模具內(nèi)是否有殘料。
【專利說明】斷料檢知器

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型與檢知器有關(guān)，特別是有關(guān)于一種斷料檢知器。

【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展，成型機多已朝向自動化發(fā)展，所有程序皆由電腦獨立控制，成型作業(yè)中，若成型品從模穴取出時未順利脫模，而機具仍持續(xù)作動，將導(dǎo)致模具壓傷，造成無法修復(fù)的損失；現(xiàn)今產(chǎn)品成型機上通常會裝設(shè)一種檢知器，該檢知器是透過監(jiān)視攝影機擷取模穴內(nèi)影像來判斷是否有殘料留于模穴中，進而控制驅(qū)動裝置進行下一動作。中國臺灣專利1389791及中國專利CN201717996U所揭露的斷料檢知器即屬此類。
[0003]然而，在此類已知斷料檢知器中，該監(jiān)視攝影機易受外在環(huán)境的光線變化、人員走動的陰影或機具震動等因素影響而造成誤判；再者，利用CCD鏡頭為主的該監(jiān)視攝影機，對于透明物件的辨識率極差，且使實用性大大降低，存在亟待改善的缺弊。
[0004]因此，有必要提供一種新穎且具有進步性的斷料檢知器，以解決上述的問題。
實用新型內(nèi)容
[0005]本實用新型的目的是提供一種斷料檢知器，可通過不易受環(huán)境干擾的訊號作為偵測源，并利用偵測源的直線前進、反射或耗時的特性來直接或間接判斷模穴中是否留有殘料，藉此達到降低檢知器因外在環(huán)境因素而誤判的風(fēng)險；再者，該斷料檢知器在偵測產(chǎn)品時，完全不會受產(chǎn)品的材質(zhì)或顏色影響。
[0006]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采取以下技術(shù)方案:
[0007]本實用新型提供一種斷料檢知器，供設(shè)于一產(chǎn)品成型機具，該產(chǎn)品成型機具包括至少一供成型產(chǎn)品的模具及一供自該至少一模具中取出產(chǎn)品的機械手臂，該斷料檢知器包括至少一非接觸式偵測模組，各該非接觸式偵測模組包括一發(fā)射部、一接收部及一電性連接該接收部的判斷單元，該發(fā)射部可控制地朝位于該機械手臂上的該產(chǎn)品發(fā)射一偵測源，該判斷單元根據(jù)該接收部接收該偵測源的狀態(tài)判斷成型該產(chǎn)品的模具內(nèi)是否有殘料。
[0008]所述非接觸式偵測模組為光電感測器，所述發(fā)射部為一投光器，所述接收部為一受光器。
[0009]所述投光器及所述受光器分別設(shè)于所述產(chǎn)品的相對兩側(cè)。
[0010]所述投光器及所述受光器設(shè)于所述產(chǎn)品的同側(cè)。
[0011]所述光電感測器另包括一反射片，該反射片與所述投光器及所述受光器設(shè)于所述產(chǎn)品的相對兩側(cè)。
[0012]所述非接觸式偵測模組為超音波感測器，所述發(fā)射部為一發(fā)射電路，所述接收部為一接收電路。
[0013]所述發(fā)射電路及所述接收電路設(shè)于所述產(chǎn)品的同側(cè)。
[0014]所述發(fā)射電路及所述接收電路分別設(shè)于所述產(chǎn)品的相對兩側(cè)。
[0015]所述非接觸式偵測模組為雷射感測器，所述發(fā)射部為一雷射發(fā)射器，所述接收部為一雷射接收器。
[0016]所述雷射發(fā)射器及所述雷射接收器設(shè)于所述產(chǎn)品的同側(cè)。
[0017]本實用新型另提供一種斷料檢知器，供設(shè)于一產(chǎn)品成型機具，該產(chǎn)品成型機具包括至少一供成型產(chǎn)品的模具，該斷料檢知器包括:至少一非接觸式偵測模組。各該非接觸式偵測模組包括一發(fā)射部、一接收部及一電性連接該接收部的判斷單元，該發(fā)射部可控制地發(fā)射一偵測源，該偵測源發(fā)射至該模具內(nèi)用于成型該產(chǎn)品的模穴面后反射至該接收部接收，該判斷單元根據(jù)該接收部接收該偵測源的狀態(tài)判斷該模穴面上是否有殘料。
[0018]所述非接觸式偵測模組為光電感測器，所述發(fā)射部為一投光器，所述接收部為一受光器，所述投光器及所述受光器設(shè)于該模穴面的同側(cè)。
[0019]所述非接觸式偵測模組為超音波感測器，所述發(fā)射部為一發(fā)射電路，所述接收部為一接收電路，所述發(fā)射電路及所述接收電路設(shè)于該產(chǎn)品的同側(cè)。
[0020]所述非接觸式偵測模組為雷射感測器，所述發(fā)射部為一雷射發(fā)射器，所述接收部為一雷射接收器，所述雷射發(fā)射器及所述雷射接收器設(shè)于該產(chǎn)品的同側(cè)。
[0021]本實用新型的有益效果是:本實用新型斷料檢知器可通過不易受環(huán)境干擾的訊號作為偵測源，并利用偵測源的直線前進、反射或耗時的特性來直接或間接判斷模穴中是否留有殘料，藉此達到降低檢知器因外在環(huán)境因素而誤判的風(fēng)險；再者，該斷料檢知器在偵測產(chǎn)品時，完全不會受產(chǎn)品的材質(zhì)或顏色影響。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1為本實用新型一較佳實施例的產(chǎn)品示意圖。
[0023]圖2為本實用新型一較佳實施例的示意圖。
[0024]圖3為本實用新型一較佳實施例的局部示意圖。
[0025]圖4為本實用新型一較佳實施例的非接觸式偵測模組示意圖。
[0026]圖4a為本實用新型一較佳實施例的發(fā)射部示意圖。
[0027]圖4b為本實用新型一較佳實施例的接收部示意圖。
[0028]圖5為本實用新型另一較佳實施例的示意圖。
[0029]圖6為本實用新型另一較佳實施例的一非接觸式偵測模組示意圖。
[0030]圖7為本實用新型又一較佳實施例的局部示意圖。
[0031]圖8為本實用新型又一較佳實施例的非接觸式偵測模組示意圖。
[0032]圖9為本實用新型一較佳實施例的一超音波感測器示意圖。
[0033]圖10為本實用新型一較佳實施例的另一超音波感測器示意圖。
[0034]圖11為本實用新型一較佳實施例的一雷射感測器示意圖。
[0035]圖12為本實用新型再一較佳實施例的示意圖。
[0036]圖13為本實用新型再一較佳實施例的一非接觸式偵測模組示意圖。
[0037]圖14為本實用新型一較佳實施例的時間差法示意圖。
[0038]圖15為本實用新型一較佳實施例的三角測距法示意圖。
[0039]附圖標(biāo)號:1:斷料檢知器；10:廣品成型機具；11 旲具；110 旲穴面；12:廣品；13:機械手臂；20:發(fā)射部；21:接收部；22:判斷單元；23:偵測源；24:反射片；25:計時器。

【具體實施方式】
[0040]以下將通過較佳實施例說明本實用新型的結(jié)構(gòu)特征及其預(yù)期達成的功效，但非用以限制本實用新型所欲保護的范疇，合先敘明。
[0041]請參考圖1至4，其顯示本實用新型的一較佳實施例，本實用新型的斷料檢知器I供設(shè)于一產(chǎn)品成型機具10，該產(chǎn)品成型機具10包括至少一供成型產(chǎn)品12的模具11及一供自該至少一模具11中取出產(chǎn)品12的機械手臂13，該斷料檢知器I包括至少一非接觸式偵測模組，各該非接觸式偵測模組包括一發(fā)射部20、一接收部21及一電性連接該接收部的判斷單元22，該發(fā)射部20可控制地朝位于該機械手臂13上的該產(chǎn)品12發(fā)射一偵測源23，該判斷單元22根據(jù)該接收部21接收該偵測源23的狀態(tài)判斷成型該產(chǎn)品12的模具11內(nèi)是否有殘料，更詳細地說，該偵測源23朝該產(chǎn)品12發(fā)射，若該產(chǎn)品12有破損，則該偵測源23可穿過；若該產(chǎn)品12為完整狀態(tài)，該偵測源23則會被該產(chǎn)品12阻擋。
[0042]在本實施例中，該非接觸式偵測模組為光電感測器，該發(fā)射部20為一投光器，該接收部21為一受光器，進一步說，該投光器投出的光源為可見光，再更進一步說，該光源也可為不可見光，以避免該光電感測器受外在環(huán)境的光線干擾；可理解的是，在另一實施例中，該非接觸式偵測模組可為超音波感測器，該發(fā)射部20為一發(fā)射電路，該接收部21為一接收電路，該發(fā)射電路可發(fā)射一超音波，并由該接收電路接收該超音波，進一步說，若以超音波作為偵測源，可避免周遭的溫度以及環(huán)境中的紫外光和紅外光影響判讀結(jié)果；在另一實施例中，該非接觸式偵測模組可為雷射感測器，該發(fā)射部20為一雷射發(fā)射器，該接收部21為一雷射接收器，可理解的是，若以雷射源作為偵測源，可讓偵測源在行進過程中，不易散失能量，偵測更為精準。
[0043]請參考圖3至4，該投光器(發(fā)射部20)及該受光器(接收部21)分別設(shè)于該產(chǎn)品12的相對兩側(cè)，更詳細地說，在此實施例中，該投光器(發(fā)射部20)設(shè)于該模具11上，該產(chǎn)品12由該機械手臂13夾取，該受光器(接收部21)設(shè)于機械手臂13上，且該投光器(發(fā)射部20)、該受光器(接收部21)及該產(chǎn)品12為直線排列，該投光器(發(fā)射部20)向該產(chǎn)品12發(fā)射一光源(偵測源23)，該光源(偵測源23)通過該產(chǎn)品12后，由該受光器(接收部21)接收該光源(偵測源23)，可理解的是，若該受光器(接收部21)接收到該光源(偵測源23)，則該產(chǎn)品12為破損的，可判斷該模具11內(nèi)留有殘料，該判斷單元22會發(fā)出訊號停止該產(chǎn)品成型機具10合模；若該受光器(接收部21)接收到該光源(偵測源23)，則該產(chǎn)品12為完整的，可判斷出該模具11中無殘留模料，該判斷單元22會發(fā)出訊號控制機具進行下一次合模；更進一步說，該投光器(發(fā)射部20)與該受光器(接收部21)也可復(fù)數(shù)個設(shè)置并依欲偵測的位置排列(如圖4a與圖4b)，并且，該投光器(發(fā)射部20)與該受光器(接收部21)可對應(yīng)各別數(shù)量的產(chǎn)品需求，進而選擇性的各別控制開啟或關(guān)閉，以滿足各種態(tài)樣模具內(nèi)的殘料檢知目的。
[0044]請參考圖5至6，在另一實施例中，該投光器(發(fā)射部20)及該受光器(接收部21)設(shè)于該產(chǎn)品12的同側(cè)，更詳細地說，該投光器(發(fā)射部20)與該受光器(接收部21)位于同側(cè)但不同位置，若該產(chǎn)品12為破損的，該光源(偵測源23)會通過該產(chǎn)品12，則該受光器(接收部21)不會收到光源(偵測源23);若該產(chǎn)品12為完整的，該產(chǎn)品12會反射該光源(偵測源23)由該受光器(接收部21)接收。
[0045]又一實施例中，請參考圖7至8，如上述該斷料檢知器可增設(shè)一反射片24，更詳細地說，該投光器(發(fā)射部20)及該受光器(接收部21)設(shè)于該產(chǎn)品12的同側(cè)，該反射片24與該投光器(發(fā)射部20)及該受光器(接收部21)設(shè)于該產(chǎn)品12的相對兩側(cè)。若該產(chǎn)品12為破損的，該反射片24會反射該光源(偵測源23)給該受光器(接收部21)接收，若該產(chǎn)品12為完整的，則該受光器(接收部21)不會收到該光源(偵測源23);可理解的是，在此實施例中，該投光器(發(fā)射部20)與該受光器(接收部21)可位于該產(chǎn)品12同側(cè)但不同位置，更詳細地說，該投光器(發(fā)射部20)、該受光器(接收部21)以及該產(chǎn)品12非排列于一直線上，該受光器(接收部21)可位于反射光的路徑上的任一位置，以接收該反射后的光源(偵測源23)。
[0046]請參考圖9至10，在超音波感測器實施例中，該發(fā)射電路(發(fā)射部20)及該接收電路(接收部21)可設(shè)于該產(chǎn)品12的同側(cè)，以超音波的反射特性來偵測該產(chǎn)品12的狀態(tài)，可理解的是，該發(fā)射電路(發(fā)射部20)及該接收電路(接收部21)也可分別設(shè)于該產(chǎn)品12的相對兩側(cè)，利用超音波直線前進的特性來判斷該產(chǎn)品12的狀態(tài)。請參考圖11，在雷射感測器的實施例中，該雷射發(fā)射器(發(fā)射部20)及該雷射接收器(接收部21)可設(shè)于該產(chǎn)品12的同側(cè)，可理解的是，該雷射發(fā)射器(發(fā)射部20)及該雷射接收器(接收部21)也可設(shè)于該產(chǎn)品12的相對兩側(cè)。
[0047]請參考圖12至13，再一較佳實施例中，一種斷料檢知器1，供設(shè)于一產(chǎn)品成型機具10，該產(chǎn)品成型機具10包括至少一供成型產(chǎn)品12的模具11，該斷料檢知器I包括至少一非接觸式偵測模組，各該非接觸式偵測模組包括一發(fā)射部20、一接收部21及一電性連接該接收部的判斷單元22，該發(fā)射部可控制地發(fā)射一偵測源23至該模具11內(nèi)用于成型該產(chǎn)品12的模穴面110后反射至該接收部21接收，該判斷單元22根據(jù)該接收部21接收該偵測源23的狀態(tài)判斷該模穴面110上是否有殘料，進一步說，該發(fā)射部會向該模穴面110上易有殘料的位置發(fā)射該偵測源23，若該模穴面110無殘料，該偵測源23會經(jīng)該模穴面110反射，由該接收部21接收；若該模穴面110有殘料，則該偵測源23的反射位置會偏離，該接收部21不會接收到該偵測源23。
[0048]請參考圖14，在光電感測器、超音波感測器或雷射感測器的任一實施例中，該判斷單元22電性連接該發(fā)射部20、該接收部21及一計時器25，可利用該計時器25計算該發(fā)射部20發(fā)射該偵測源23與該接收部21接收到的時間差，得知前方目標(biāo)物的距離，藉以判斷成型該產(chǎn)品的完整性或該模穴面上的殘料狀態(tài)，其中，該目標(biāo)物可為該產(chǎn)品、該模穴面或該反射片?？衫斫獾氖牵诹硪粚嵤├?，該斷料檢知器也可利用三角測距法得知前方目標(biāo)物的距離，如圖15，該發(fā)射部20與該接收部21位于該目標(biāo)物的同側(cè)但不同位置，可利用該發(fā)射部20、該接收部21及該目標(biāo)物的三角關(guān)系而計算出目標(biāo)物的距離，藉以判斷該模具內(nèi)是否有殘料。
[0049]綜上，本實用新型的斷料檢知器，可根據(jù)工作現(xiàn)場狀況，采用不同偵測源的非接觸式偵測模組，有效降低因外在環(huán)境因素或產(chǎn)品本身材質(zhì)及顏色而誤判的風(fēng)險，使該斷料檢知器更具靈敏性。
[0050]并且，該斷料檢知器的偵測模組，成本較傳統(tǒng)監(jiān)視攝影裝置低廉，可降低維修時的耗費。
[0051]綜上所述，本實用新型的整體結(jié)構(gòu)設(shè)計、實用性及效益上，確實是完全符合產(chǎn)業(yè)上發(fā)展所需，且所揭露的結(jié)構(gòu)實用新型也是具有前所未有的創(chuàng)新構(gòu)造，所以其具有新穎性應(yīng)無疑慮，又本實用新型可較之已知結(jié)構(gòu)更具功效的增進，因此也具有進步性。
【權(quán)利要求】
1.一種斷料檢知器，供設(shè)于一產(chǎn)品成型機具，該產(chǎn)品成型機具包括至少一供成型產(chǎn)品的模具及一供自該至少一模具中取出產(chǎn)品的機械手臂，其特征在于，該斷料檢知器包括: 至少一非接觸式偵測模組，各該非接觸式偵測模組包括一發(fā)射部、一接收部及一電性連接該接收部的判斷單元，該發(fā)射部可控制地發(fā)射一偵測源，該偵測源朝位于該機械手臂上的該產(chǎn)品發(fā)射，該判斷單元根據(jù)該接收部接收該偵測源的狀態(tài)判斷成型該產(chǎn)品的模具內(nèi)是否有殘料。
2.如權(quán)利要求1所述的斷料檢知器，其特征在于，所述非接觸式偵測模組為光電感測器，所述發(fā)射部為一投光器，所述接收部為一受光器。
3.如權(quán)利要求2所述的斷料檢知器，其特征在于，所述投光器及所述受光器分別設(shè)于所述產(chǎn)品的相對兩側(cè)。
4.如權(quán)利要求2所述的斷料檢知器，其特征在于，所述投光器及所述受光器設(shè)于所述產(chǎn)品的同側(cè)。
5.如權(quán)利要求4所述的斷料檢知器，其特征在于，所述光電感測器另包括一反射片，該反射片與所述投光器及所述受光器設(shè)于所述產(chǎn)品的相對兩側(cè)。
6.如權(quán)利要求1所述的斷料檢知器，其特征在于，所述非接觸式偵測模組為超音波感測器，所述發(fā)射部為一發(fā)射電路，所述接收部為一接收電路。
7.如權(quán)利要求6所述的斷料檢知器，其特征在于，所述發(fā)射電路及所述接收電路設(shè)于所述產(chǎn)品的同側(cè)。
8.如權(quán)利要求6所述的斷料檢知器，其特征在于，所述發(fā)射電路及所述接收電路分別設(shè)于所述產(chǎn)品的相對兩側(cè)。
9.如權(quán)利要求1所述的斷料檢知器，其特征在于，所述非接觸式偵測模組為雷射感測器，所述發(fā)射部為一雷射發(fā)射器，所述接收部為一雷射接收器。
10.如權(quán)利要求9所述的斷料檢知器，其特征在于，所述雷射發(fā)射器及所述雷射接收器設(shè)于所述產(chǎn)品的同側(cè)。
11.一種斷料檢知器，供設(shè)于一產(chǎn)品成型機具，該產(chǎn)品成型機具包括至少一供成型產(chǎn)品的模具，其特征在于，該斷料檢知器包括: 至少一非接觸式偵測模組，各該非接觸式偵測模組包括一發(fā)射部、一接收部及一電性連接該接收部的判斷單元，該發(fā)射部可控制地發(fā)射一偵測源，該偵測源發(fā)射至該模具內(nèi)用于成型該產(chǎn)品的模穴面后反射至該接收部接收，該判斷單元根據(jù)該接收部接收該偵測源的狀態(tài)判斷該模穴面上是否有殘料。
12.如權(quán)利要求11所述的斷料檢知器，其特征在于，所述非接觸式偵測模組為光電感測器，所述發(fā)射部為一投光器，所述接收部為一受光器，所述投光器及所述受光器設(shè)于該模穴面的同側(cè)。
13.如權(quán)利要求11所述的斷料檢知器，其特征在于，所述非接觸式偵測模組為超音波感測器，所述發(fā)射部為一發(fā)射電路，所述接收部為一接收電路，所述發(fā)射電路及所述接收電路設(shè)于該產(chǎn)品的同側(cè)。
14.如權(quán)利要求11所述的斷料檢知器，其特征在于，所述非接觸式偵測模組為雷射感測器，所述發(fā)射部為一雷射發(fā)射器，所述接收部為一雷射接收器，所述雷射發(fā)射器及所述雷射接收器設(shè)于該產(chǎn)品的同側(cè)。
【文檔編號】G01V8/12GK204142975SQ201420562860
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年9月26日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月26日
【發(fā)明者】莊健民, 曾羣倫, 袁嘉廷 申請人:新鉅科技股份有限公司