一種電阻測量裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種電阻測量裝置包括：計算機、電流源、納伏表；所述計算機與電流源和納伏表分別連接；所述納伏表與被測件組成回路；所述電流源與被測件組成回路。
【專利說明】一種電阻測量裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及電阻測量領(lǐng)域，特別涉及一種低電阻精密測量裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]在電學領(lǐng)域，直流電阻的測量應(yīng)用極其廣泛，電阻測量范圍在10_6?112歐姆，甚至更大；測量對象可以是額定值為十進制的電阻，也可以是非十進制的電阻；此外，測量可以在大電流被測電阻消耗上百瓦的功率下進行，也可以在小電流微功耗下進行，也可以在高壓下進行。這些不同的狀態(tài)決定了直流電阻測量方法和測量線路的多樣化。
[0003]當前，電阻精密測量主要采用經(jīng)典的開爾文四線電阻測量原理。這個原理大規(guī)模應(yīng)用于各類數(shù)字微歐計，直流低電阻測試儀，數(shù)字電橋以及線纜測試儀中。雖然都采用了開爾文四線電阻測量原理，但是針對不同的測量方法，其測量準確度也會存在很大的差異。采用不同的測量方法，其測量中的熱電勢、接觸電阻以及噪聲對測量結(jié)果的影響是不相同的。在低電阻的測量中，熱電勢、接觸電阻和噪聲對阻值測量的精度的影響是很大的。
實用新型內(nèi)容
[0004]本實用新型解決的問題是現(xiàn)有電阻測量裝置測量精度受熱電勢、接觸電阻和噪聲影響大；為解決所述問題，本實用新型提供一種電阻測量裝置。
[0005]本實用新型提供的電阻測試裝置包括:計算機、電流源、納伏表；所述計算機與電流源和納伏表分別連接；所述納伏表與被測件組成回路；所述電流源與被測件組成回路。
[0006]進一步,所述計算機與電流源通過GPIB接口卡和LAN總線連接。
[0007]進一步，所述計算機與納伏表通過GPIB接口卡和RS232總線連接。
[0008]進一步，所述電流源和納伏表由2600-TLINK連接。
[0009]進一步，所述電流源采用265IA型精密電流源。
[0010]進一步，所述納伏表采用2182A型納伏表。
[0011]本實用新型所提供的低電阻精密測量裝置，能夠有效消除低電阻測量中熱電勢、接觸電阻和噪聲對精密測量結(jié)果的影響，最大程度地減少了測試時間，降低了產(chǎn)生誤差的幾率，具有測量準確度高，測試速度快以及噪聲低等優(yōu)點。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是本實用新型所提供的電阻測量裝置的結(jié)果示意圖。

【具體實施方式】
[0013]下文中，結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步闡述。
[0014] 申請人:研究了低電阻測試中引線電阻、非歐姆接觸以及器件加熱問題，分析低電阻測量過程中主要存在的誤差來源及特性，并針對不同的誤差源的形成原因和特性，研究誤差消除的技術(shù)方法案。
[0015] 申請人:認為典型引線電阻的大小在1(Γ?00πιΩ的范圍內(nèi)，當待測電阻低于10^100 Ω時，采用四線(即開氏)連接方法更適合于低電阻測量，并使得探測引線上的電壓降也可以忽略，因此用這種方法測得的電阻值更為精確。然而當電路不同部分處于不同的溫度，以及當由不同材料組成的導(dǎo)體連接在一起時，就會產(chǎn)生熱電電壓即EMF。
[0016]如圖1所示，本實用新型提供的電阻測試裝置包括:計算機01、電流源02、納伏表03 ;所述計算機01與電流源02和納伏表03分別連接；所述納伏表03與被測件04組成回路；所述電流源02與被測件04組成回路。
[0017]繼續(xù)參考圖1，在本實用新型的實用新型中，所述計算機01與電流源02通過GPIB接口卡和LAN總線05連接；所述計算機01與納伏表03通過GPIB接口卡和RS232總線03連接。所述電流源02和納伏表03由2600-TLINK連接。所述電流源02采用265IA型精密電流源；所述納伏表03采用2182Α型納伏表。
[0018]本實用新型雖然已以較佳實施例公開如上，但其并不是用來限定本實用新型，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本實用新型的精神和范圍內(nèi)，都可以利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對本實用新型技術(shù)方案做出可能的變動和修改，因此，凡是未脫離本實用新型技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本實用新型的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化及修飾，均屬于本實用新型技術(shù)方案的保護范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種電阻測量裝置，其特征在于，包括:計算機、電流源、納伏表；所述計算機與電流源和納伏表分別連接；所述納伏表與被測件組成回路；所述電流源與被測件組成回路。
2.依據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻測量裝置，其特征在于，所述計算機與電流源通過GPIB接口卡和LAN總線連接。
3.依據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻測量裝置，其特征在于，所述計算機與納伏表通過GPIB接口卡和RS232總線連接。
4.依據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻測量裝置，其特征在于，所述電流源和納伏表由2600-TLINK 連接。
5.依據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻測量裝置，其特征在于，所述電流源采用2651A型精密電流源。
6.依據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻測量裝置，其特征在于，所述納伏表采用2182A型納伏表。
【文檔編號】G01R27/14GK204203363SQ201420534284
【公開日】2015年3月11日 申請日期:2014年9月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月17日
【發(fā)明者】王銳, 聶萍, 羅曉平 申請人:上海精密計量測試研究所