真空斷路器調(diào)試接線裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種真空斷路器調(diào)試接線裝置，包括二次回路模擬電路、A端口、B端口、C端口、用于和斷路器二次插頭連接的控制端和電源模塊，所述電源模塊為橋式整流電路，所述橋式整流電路輸出端分別與控制端的兩個(gè)端子連接，所述控制端的兩個(gè)端子分別與二次回路模擬電路兩側(cè)的接線端連接，所述二次回路模擬電路一端設(shè)有相互并聯(lián)的第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA、第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA、第一指示燈HD和第二指示燈LD，所述A端口和C端口與第一測(cè)試開(kāi)關(guān)串聯(lián)，所述B端口與第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA串聯(lián)；采取斷路器與柜體分離進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，只需把斷路器二次回路插頭插入測(cè)試裝置即可完成測(cè)試任務(wù)，該裝置設(shè)有單相整流電路，增加了操作的靈活性。
【專利說(shuō)明】真空斷路器調(diào)試接線裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本實(shí)用新型涉及一種真空斷路器調(diào)試接線裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]工礦企業(yè)高壓電動(dòng)機(jī)直接由變配電站(所)真空斷路器控制，由于高壓電動(dòng)機(jī)啟動(dòng)頻繁，為了確保高壓電動(dòng)機(jī)能夠正常運(yùn)轉(zhuǎn)，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的使用需要對(duì)控制高壓電動(dòng)機(jī)啟動(dòng)和停止的斷路器進(jìn)行測(cè)試和調(diào)整，在對(duì)斷路器做機(jī)械特性測(cè)試時(shí)需要在開(kāi)關(guān)柜上進(jìn)行，由于測(cè)試時(shí)需要在斷路器控制回路引入部分接入點(diǎn)，并且需要一個(gè)固定直流電源，因此，現(xiàn)有的測(cè)試裝置基本上采用自帶電源的方式進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試過(guò)程中需要將測(cè)試裝置的多個(gè)接線端與斷路器的一次回路和二次回路接線端連接，而且在測(cè)試的過(guò)程中需要人工更換接線端子，以便對(duì)斷路器的機(jī)械性能進(jìn)行全面檢測(cè)，此項(xiàng)工作費(fèi)時(shí)費(fèi)力，往往需要2-3人配合工作，效率低，且存在誤接的可能性，容易造成人身傷害。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種真空斷路器調(diào)試接線裝置，采取斷路器與柜體分離進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試過(guò)程中，只需把斷路器二次回路插頭插入測(cè)試裝置，由本接線裝置模擬斷路器的二次回路進(jìn)行測(cè)試，一次連線即可完成測(cè)試任務(wù)，效率高，而且該裝置有單相整流電路，既能用交流電也能用直流電操作，增加了操作的靈活性。
[0004]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型所采取的技術(shù)方案是:一種真空斷路器調(diào)試接線裝置，包括二次回路模擬電路、A端口、B端口、C端口、用于和斷路器二次插頭連接的控制端和電源模塊，所述電源模塊為橋式整流電路，所述橋式整流電路輸出端分別與控制端的兩個(gè)端子連接，所述控制端的兩個(gè)端子分別與二次回路模擬電路兩側(cè)的接線端連接。
[0005]所述二次回路模擬電路一端設(shè)有相互并聯(lián)的第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA、第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA、第一指示燈HD和第二指示燈LD，所述A端口和C端口與第一測(cè)試開(kāi)關(guān)串聯(lián)，所述B端口與第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA串聯(lián)。
[0006]所述二次回路模擬電路包括并聯(lián)設(shè)置的第一勵(lì)磁線圈KM1、第二勵(lì)磁線圈KM2、與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CLl以及與第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL3，所述常閉觸點(diǎn)CLl受控于第二勵(lì)磁線圈KM2，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL3受控于第一勵(lì)磁線圈KM1，所述二次回路模擬電路還包括與常閉觸點(diǎn)CLl和常開(kāi)觸點(diǎn)CL3并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL2 ;所述第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)，所述常閉觸點(diǎn)CLl位于第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA和第一勵(lì)磁線圈KMl之間，所述第二指示燈LD與第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA并聯(lián)后與常閉觸點(diǎn)CLl以及第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)，所述第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL3以及第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)，所述第一指示燈HD與常開(kāi)觸點(diǎn)CL2串聯(lián)，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL2受控于第一勵(lì)磁線圈KM1。
[0007]所述二次回路模擬電路包括并聯(lián)設(shè)置的第一勵(lì)磁線圈KM1、第二勵(lì)磁線圈KM2、第三勵(lì)磁線圈KM3、與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CL1、與第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CL2以及與第三勵(lì)磁線圈串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL5，還包括相互并聯(lián)后與常閉觸點(diǎn)CLl串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL6和常閉觸點(diǎn)CL7，所述常閉觸點(diǎn)CL2與第二勵(lì)磁線圈KM2之間串聯(lián)有常開(kāi)觸點(diǎn)CL3，所述常閉觸點(diǎn)CL2前端還串聯(lián)有相互并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL8和常閉觸點(diǎn)CL9，所述二次回路模擬電路還包括與常閉觸點(diǎn)CLl、常閉觸點(diǎn)CL2以及常開(kāi)觸點(diǎn)CL5并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL4，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL4和常開(kāi)觸點(diǎn)CL4受控于第二勵(lì)磁線圈KM2，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL3和常開(kāi)觸點(diǎn)CL8受控與第三勵(lì)磁線圈KM3 ;所述第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL8串聯(lián)，所述第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL5串聯(lián)，所述第一指示燈HD與常開(kāi)觸點(diǎn)CL4串聯(lián)。
[0008]采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于:采取斷路器與柜體分離進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，只需把斷路器二次回路插頭插入測(cè)試裝置即可完成測(cè)試任務(wù)，該裝置有單相整流，既能用交流電也能用直流電操作，增加了操作的靈活性。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是本實(shí)用新型使用狀態(tài)原理框圖；
[0010]圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例1 (35KV)電路結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011]圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例2 (10KV)電路結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0013]隨著社會(huì)的發(fā)展，人們對(duì)用電的安全可靠性要求越來(lái)越高，高壓斷路器在電力系統(tǒng)中擔(dān)負(fù)著控制和保護(hù)的雙重任務(wù)，其性能的優(yōu)劣直接關(guān)系到電力系統(tǒng)的安全運(yùn)行，機(jī)械特性參數(shù)是判斷斷路器性能的重要參數(shù)之一，現(xiàn)有的斷路器測(cè)試儀在使用過(guò)程中接線繁瑣，而且需要多人配合進(jìn)行試驗(yàn)，效率低下，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，為此，本實(shí)用新型提供了一種真空斷路器調(diào)試接線裝置(參見(jiàn)附圖1)，通過(guò)采取斷路器與柜體分離進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，只需把斷路器二次回路插頭插入測(cè)試裝置即可完成測(cè)試任務(wù)，該裝置有單相整流，既能用交流電也能用直流電操作，增加了操作的靈活性，以下通過(guò)用35KV和1KV兩種規(guī)格真空斷路器為例進(jìn)行說(shuō)明:
[0014]實(shí)施例1、本實(shí)施例(35KV)所公開(kāi)的接線裝置包括二次回路模擬電路(參見(jiàn)附圖2)、A端口、B端口、C端口、用于和斷路器二次插頭連接的控制端和電源模塊，所述電源模塊為橋式整流電路，所述橋式整流電路輸出端分別與控制端的兩個(gè)端子連接，所述控制端的兩個(gè)端子分別與二次回路模擬電路兩側(cè)的接線端連接，所述二次回路模擬電路一端設(shè)有相互并聯(lián)的第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA、第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA、第一指示燈HD和第二指示燈LD，所述A端口和C端口與第一測(cè)試開(kāi)關(guān)串聯(lián)，所述B端口與第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA串聯(lián)。
[0015]所述二次回路模擬電路包括并聯(lián)設(shè)置的第一勵(lì)磁線圈KM1、第二勵(lì)磁線圈KM2、與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CLl以及與第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL3，所述常閉觸點(diǎn)CLl受控于第二勵(lì)磁線圈KM2，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL3受控于第一勵(lì)磁線圈KM1，所述二次回路模擬電路還包括與常閉觸點(diǎn)CLl和常開(kāi)觸點(diǎn)CL3并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL2 ;所述第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)，所述常閉觸點(diǎn)CLl位于第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA和第一勵(lì)磁線圈KMl之間，所述第二指示燈LD與第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA并聯(lián)后與常閉觸點(diǎn)CLl以及第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)，所述第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL3以及第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)，所述第一指示燈HD與常開(kāi)觸點(diǎn)CL2串聯(lián)，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL2受控于第一勵(lì)磁線圈KM1。
[0016]具體操作步驟如下:
[0017]1.將端子I和端子2與整流電路的輸出端接通，從端子1、第二指示燈LD、插頭XP4、常閉觸點(diǎn)CL1、第一勵(lì)磁線圈KM1、插座XPl至端子2形成回路，此時(shí)分閘指示燈亮；
[0018]2.當(dāng)按下第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA的時(shí)候，將第二指示燈LD短路，第二指示燈LD熄滅，由端子1、第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA、插座XP3、常閉觸點(diǎn)CL1、第一勵(lì)磁線圈KM1、第一插座XPl和端子2形成回路，第一勵(lì)磁線圈通電后KMl吸合，帶動(dòng)對(duì)應(yīng)的斷路器機(jī)構(gòu)動(dòng)作，斷路器在儲(chǔ)能彈簧的作用下閉合，完成閉合動(dòng)作測(cè)試；同時(shí)端口 A、測(cè)試儀、插座XP3、常閉觸點(diǎn)CU、第一勵(lì)磁線圈KM1、第一插座XPl和端口 C形成回路，由測(cè)試儀完成記錄。
[0019]當(dāng)?shù)谝粍?lì)磁線圈KMl通電后，常開(kāi)觸點(diǎn)CL2和常開(kāi)觸點(diǎn)CL3吸合，此時(shí)端子1、第一指示燈HD、插座XP5、常開(kāi)觸點(diǎn)CL2、插座XP2和端子2形成回路，第一指示燈HD點(diǎn)亮。
[0020]3、當(dāng)按下第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA時(shí)，端子1、第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA、插座XP6、常開(kāi)觸點(diǎn)CL3、第二勵(lì)磁線圈KM2、插座XPl和端子2形成回路，第二勵(lì)磁線圈KM2吸合，常閉觸點(diǎn)CLl斷開(kāi)，開(kāi)關(guān)分閘。
[0021]同時(shí)，端口 B、插座XP6、常開(kāi)觸點(diǎn)CL3、第二勵(lì)磁線圈KM2、插座XP1、測(cè)試儀接口和端口 C形成回路，由測(cè)試儀器完成記錄,完成分閘測(cè)試。
[0022]實(shí)施例2，本實(shí)施例(10KV)所公開(kāi)的二次回路模擬電路(參見(jiàn)附圖3)包括并聯(lián)設(shè)置的第一勵(lì)磁線圈KM1、第二勵(lì)磁線圈KM2、第三勵(lì)磁線圈KM3、與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CLl、與第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CL2以及與第三勵(lì)磁線圈串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL5,還包括相互并聯(lián)后與常閉觸點(diǎn)CLl串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL6和常閉觸點(diǎn)CL7,所述常閉觸點(diǎn)CL2與第二勵(lì)磁線圈KM2之間串聯(lián)有常開(kāi)觸點(diǎn)CL3，所述常閉觸點(diǎn)CL2前端還串聯(lián)有相互并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL8和常閉觸點(diǎn)CL9，所述二次回路模擬電路還包括與常閉觸點(diǎn)CU、常閉觸點(diǎn)CL2以及常開(kāi)觸點(diǎn)CL5并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL4，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL4和常開(kāi)觸點(diǎn)CL4受控于第二勵(lì)磁線圈KM2，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL3和常開(kāi)觸點(diǎn)CL8受控與第三勵(lì)磁線圈KM3 ;所述第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL8串聯(lián)，所述第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL5串聯(lián)，所述第一指示燈HD與常開(kāi)觸點(diǎn)CL4串聯(lián)。
[0023]具體測(cè)試流程如下:
[0024]1.將端子I和端子2與整流電路的輸出端接通，從端子1、第二指示燈LD、插頭XP6、常閉觸點(diǎn)CL7、常閉觸點(diǎn)CL1、第一勵(lì)磁線圈KM1、插座XPl至端子2形成回路，打開(kāi)開(kāi)關(guān)閉鎖，在第一勵(lì)磁線圈KMl的作用下常開(kāi)觸點(diǎn)CL3和常開(kāi)觸點(diǎn)CL8吸合；并由端子1、第二指示燈LD、插座XP8、常閉觸點(diǎn)CL9、常閉觸點(diǎn)CL2、常開(kāi)觸點(diǎn)CL3、第二勵(lì)磁線圈KM2、插座XP2和端子2形成回路，第二指示燈LD亮。
[0025]2.當(dāng)按下第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA時(shí):端子1、第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA、插座XP7、常開(kāi)觸點(diǎn)CL8、常閉觸點(diǎn)CL2、常開(kāi)觸點(diǎn)CL3、第二勵(lì)磁線圈KM2、插座XP2和端子2形成回路，同時(shí)KM2線圈吸合，帶動(dòng)斷路器機(jī)械機(jī)構(gòu)動(dòng)作，斷路器在彈簧儲(chǔ)能力的作用下閉合；此時(shí)由于第二指示燈LD被短路，熄滅；同時(shí)端口 A、常開(kāi)觸點(diǎn)CL8、常閉觸點(diǎn)CL2、常開(kāi)觸點(diǎn)CL3、第二勵(lì)磁線圈KM2、測(cè)試儀接口和端口 C形成回路，由測(cè)試儀記錄。
[0026]在第二勵(lì)磁線圈KM2的作用下，常開(kāi)觸點(diǎn)CL4和常開(kāi)觸點(diǎn)CL5吸合，第一指示燈HD、插座XP9、常開(kāi)觸點(diǎn)CL4、插座XP3和端子2形成回路，第一指示燈HD亮，松開(kāi)第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA，完成閉合測(cè)試。
[0027]3.當(dāng)按下第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA時(shí)，端子1，第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA、插座XP10、常開(kāi)觸點(diǎn)CL5、第三勵(lì)磁線圈KM3、插座XP4和端子2形成回路,第三勵(lì)磁線圈KM3吸合,開(kāi)關(guān)分閘，同時(shí)端口 B、插座XP10、常開(kāi)觸點(diǎn)CL5、第三勵(lì)磁線圈KM3、插座XP4、測(cè)試儀接口、和端口 C形成回路，有測(cè)試儀完成記錄，完成本次測(cè)試。
[0028]總之，本實(shí)用新型通過(guò)采取斷路器與柜體分離進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，只需把斷路器二次回路插頭插入測(cè)試裝置即可完成測(cè)試任務(wù)，該裝置有單相整流，既能用交流電也能用直流電操作，增加了操作的靈活性。
【權(quán)利要求】
1.一種真空斷路器調(diào)試接線裝置，其特征在于:包括二次回路模擬電路、A端口、B端口、C端口、用于和斷路器二次插頭連接的控制端和電源模塊，所述電源模塊為橋式整流電路，所述橋式整流電路輸出端分別與控制端的兩個(gè)端子連接，所述控制端的兩個(gè)端子分別與二次回路模擬電路兩側(cè)的接線端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的真空斷路器調(diào)試接線裝置，其特征在于:所述二次回路模擬電路一端設(shè)有相互并聯(lián)的第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA、第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA、第一指示燈HD和第二指示燈LD，所述A端口和C端口與第一測(cè)試開(kāi)關(guān)串聯(lián)，所述B端口與第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA串聯(lián)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的真空斷路器調(diào)試接線裝置，其特征在于:所述二次回路模擬電路包括并聯(lián)設(shè)置的第一勵(lì)磁線圈KM1、第二勵(lì)磁線圈KM2、與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CLl以及與第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL3，所述常閉觸點(diǎn)CLl受控于第二勵(lì)磁線圈KM2，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL3受控于第一勵(lì)磁線圈KMl，所述二次回路模擬電路還包括與常閉觸點(diǎn)CLl和常開(kāi)觸點(diǎn)CL3并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL2 ;所述第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)，所述常閉觸點(diǎn)CLl位于第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA和第一勵(lì)磁線圈KMl之間，所述第二指示燈LD與第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA并聯(lián)后與常閉觸點(diǎn)CLl以及第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)，所述第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL3以及第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)，所述第一指示燈HD與常開(kāi)觸點(diǎn)CL2串聯(lián)，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL2受控于第一勵(lì)磁線圈KMl。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的真空斷路器調(diào)試接線裝置，其特征在于:所述二次回路模擬電路包括并聯(lián)設(shè)置的第一勵(lì)磁線圈KM1、第二勵(lì)磁線圈KM2、第三勵(lì)磁線圈KM3、與第一勵(lì)磁線圈KMl串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CLl、與第二勵(lì)磁線圈KM2串聯(lián)的常閉觸點(diǎn)CL2以及與第三勵(lì)磁線圈串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL5，還包括相互并聯(lián)后與常閉觸點(diǎn)CLl串聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL6和常閉觸點(diǎn)CL7，所述常閉觸點(diǎn)CL2與第二勵(lì)磁線圈KM2之間串聯(lián)有常開(kāi)觸點(diǎn)CL3，所述常閉觸點(diǎn)CL2前端還串聯(lián)有相互并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL8和常閉觸點(diǎn)CL9，所述二次回路模擬電路還包括與常閉觸點(diǎn)CL1、常閉觸點(diǎn)CL2以及常開(kāi)觸點(diǎn)CL5并聯(lián)的常開(kāi)觸點(diǎn)CL4，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL4和常開(kāi)觸點(diǎn)CL4受控于第二勵(lì)磁線圈KM2，所述常開(kāi)觸點(diǎn)CL3和常開(kāi)觸點(diǎn)CL8受控與第三勵(lì)磁線圈KM3 ;所述第一測(cè)試開(kāi)關(guān)HA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL8串聯(lián)，所述第二測(cè)試開(kāi)關(guān)TA與常開(kāi)觸點(diǎn)CL5串聯(lián)，所述第一指示燈HD與常開(kāi)觸點(diǎn)CL4串聯(lián)。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK204008725SQ201420436775
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年8月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月5日
【發(fā)明者】崔云峰, 楊樹江, 王伯軒 申請(qǐng)人:邯鄲金隅太行水泥有限責(zé)任公司