磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，包括磁場發(fā)生裝置，位于磁場發(fā)生裝置磁場區(qū)域的測試平臺，被測芯片放置在測試平臺上，磁場發(fā)生裝置連接電源和調壓器，磁場發(fā)生裝置通過控制電路模塊連接處理器裝置；被測芯片通過數據采集模塊連接處理器裝置。本實用新型一種磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，可對芯片的磁性能進行批量的、快速的、無損的檢測。
【專利說明】磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)
【技術領域】
[0001]本實用新型一種磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，涉及磁參數無損檢測領域。
【背景技術】
[0002]磁傳感器在磁場傳感、接近傳感、轉動速率傳感、線性傳感、電流傳感以及角度、導航、磁異態(tài)檢測、位移或位置等許多傳感領域有廣泛的應用。磁傳感器的核心部件為磁性芯片，現有的磁性芯片主要基于霍爾效應、巨磁電阻效應和磁隧道結效應三種類型，磁性芯片的磁性能直接決定磁傳感器的應用領域及范圍，因此在磁性芯片出廠前必須對芯片的磁性能做出檢測，以判斷是否達到其技術要求?，F有的芯片檢測設備是把芯片與設備連接起來，進行逐個檢測，效率極低，操作復雜，且在連接過程中容易損壞芯片，不能實現芯片的批量化、無損檢測。

【發(fā)明內容】

[0003]為解決上述技術問題，本實用新型提供一種磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，可對芯片的磁性能進行批量的、快速的、無損的檢測。
[0004]本實用新型采取的技術方案為:磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，包括磁場發(fā)生裝置，位于磁場發(fā)生裝置磁場區(qū)域的測試平臺，被測芯片放置在測試平臺上，磁場發(fā)生裝置連接電源和調壓器，磁場發(fā)生裝置通過控制電路模塊連接處理器裝置；被測芯片通過數據采集模塊連接處理器裝置。
[0005]所述測試平臺內壁設有多層刻槽，每層刻槽內設有電路板，每一個電路板上放置有多個被測芯片。
[0006]所述磁場發(fā)生裝置為亥姆霍茲線圈。
[0007]所述處理器裝置連接圖像顯示終端、打印終端。
[0008]所述處理器裝置為計算機。
[0009]本實用新型磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，技術效果如下:
[0010]由計算機自動控制勵磁電流的大小，進而調節(jié)磁場的值，無需手動操作。磁場由亥姆霍茲線圈產生，均勻區(qū)大，在磁場的均勻區(qū)安放測試平臺，測試平臺的內壁設有多層刻槽，每層電路板可在刻槽內自由抽拉，刻槽起固定和導通電路板的作用，每層電路板上可同時放置多個芯片。在磁場的作用下各個芯片的磁性能經數據采集模塊采集和計算機處理后可顯示在圖像顯示終端上，并給出每個磁性芯片是否達到技術指標，操作簡單，可對磁性芯片的磁性能進行批量的、快速的、無損的檢測。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本實用新型的測試平臺及放置位置示意圖；
[0012]圖2是本實用新型模塊連接示意圖?！揪唧w實施方式】
[0013]如圖1、圖2所示，磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，包括磁場發(fā)生裝置，位于磁場發(fā)生裝置磁場區(qū)域的測試平臺2，被測芯片放置在測試平臺2上，磁場發(fā)生裝置連接電源4和調壓器3，磁場發(fā)生裝置通過控制電路模塊5連接處理器裝置I ;被測芯片通過數據采集模塊6連接處理器裝置I。所述測試平臺2內壁設有多層刻槽，每層刻槽內設有電路板2.1，每層電路板2.1可在刻槽內自由抽拉，刻槽起固定和導通電路板2.1的作用。每一個電路板2.1上放置有多個被測芯片。所述磁場發(fā)生裝置為亥姆霍茲線圈7。所述處理器裝置I連接圖像顯示終端8、打印終端9。所述處理器裝置I為計算機。
[0014]亥姆霍茲線圈7外接220V的交流電，經調壓器3和控制電路模塊5的處理后，交流電轉化成可線性輸出的直流電，直流電接到亥姆霍茲線圈7上，在直流電的作用下，亥姆霍茲線圈7產生線性變化的磁場。通過調節(jié)激勵源電流的大小進而調節(jié)磁場的大小，亥姆霍茲線圈7的磁場的均勻區(qū)大，穩(wěn)定性強且靈敏度高。
[0015]在磁場的均勻區(qū)放置測試平臺2，用戶可在測試平臺2上安放多個被測芯片?？刂齐娐纺K5主要包括磁場控制部分、信號采集處理部分?？刂齐娐纺K5調節(jié)磁場的大小，測出每個被測芯片的磁性能。在磁場的作用下，各個芯片的電壓輸出和參數發(fā)生改變，數據采集模塊6采集每個芯片的信號，計算機對所采集到的信號進行處理，判斷并顯示計算機上各個被測芯片的磁性能及是否達到技術指標，對合格和不合格的芯片均在對應位置標示出來。另外被測芯片的磁性數據還可以由打印終端9打印出來；或者把其電子文檔拷貝出來。
【權利要求】
1.磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，包括磁場發(fā)生裝置，位于磁場發(fā)生裝置磁場區(qū)域的測試平臺(2)，被測芯片放置在測試平臺(2)上，其特征在于，磁場發(fā)生裝置連接電源(4)和調壓器(3)，磁場發(fā)生裝置通過控制電路模塊(5)連接處理器裝置(I);被測芯片通過數據采集模塊(6 )連接處理器裝置(I); 所述測試平臺(2)內壁設有多層刻槽，每層刻槽內設有電路板(2.1)，每一個電路板(2.1)上放置有多個被測芯片； 所述磁場發(fā)生裝置為亥姆霍茲線圈(7)； 所述處理器裝置(I)為計算機。
2.根據權利要求1所述磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述處理器裝置(I)連接圖像顯示終端(8 )、打印終端(9 )。
【文檔編號】G01R33/12GK203811788SQ201420042144
【公開日】2014年9月3日 申請日期:2014年1月17日 優(yōu)先權日:2014年1月17日
【發(fā)明者】于曉東 申請人:宜昌東方微磁科技有限責任公司