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氣密性檢測設(shè)備的制作方法

文檔序號:6240657閱讀:256來源:國知局
氣密性檢測設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及氣密性檢測設(shè)備,包括機(jī)架、測試框、測試模、測試氣缸、測試治具、頂升機(jī)構(gòu),實(shí)際使用中,將待測試工件放在測試治具上,然后啟動(dòng)氣密性檢測設(shè)備,頂升機(jī)構(gòu)動(dòng)作,將放有工件的測試治具朝上頂入測試模內(nèi),然后由多個(gè)測試氣缸分別對工作進(jìn)行檢測,檢測完成后,測試氣缸復(fù)位,頂升機(jī)構(gòu)下降,從而帶動(dòng)測試治具下降,以便操作人員取出測試完成的工作,并根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行分類。本發(fā)明利用產(chǎn)品本身的特性,產(chǎn)品采用多測試氣缸對工件進(jìn)行多方位測試,可以一次性解決產(chǎn)品多工位檢測的問題,避免了人工重復(fù)動(dòng)作,實(shí)現(xiàn)最快化??朔巳藛T操作繁瑣的困難,速度快,效率高。
【專利說明】氣密性檢測設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及機(jī)械制造檢測領(lǐng)域,具體是氣密性檢測設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]電子技術(shù)是十九世紀(jì)末、二十世紀(jì)初開始發(fā)展起來的新興技術(shù),二十世紀(jì)發(fā)展最迅速,應(yīng)用最廣泛,成為近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要標(biāo)志。
[0003]第一代電子產(chǎn)品以電子管為核心。四十年代末世界上誕生了第一只半導(dǎo)體三極管,它以小巧、輕便、省電、壽命長等特點(diǎn),很快地被各國應(yīng)用起來,在很大范圍內(nèi)取代了電子管。五十年代末期,世界上出現(xiàn)了第一塊集成電路,它把許多晶體管等電子元件集成在一塊硅芯片上,使電子產(chǎn)品向更小型化發(fā)展。集成電路從小規(guī)模集成電路迅速發(fā)展到大規(guī)模集成電路和超大規(guī)1旲集成電路,從而使電子廣品向著聞效能低消耗、聞精度、聞穩(wěn)定、智能化的方向發(fā)展。
[0004]隨著社會(huì)的發(fā)展,人力成本的逐升,自動(dòng)化行業(yè)的興起,自動(dòng)化設(shè)備的廣泛使用,已是無法取代的,而自動(dòng)化設(shè)備這一重要的工具的大力推廣,可以給各行業(yè)節(jié)省大量的人力和物力。提聞廣品的品質(zhì),增加廣值效益。
[0005]在自動(dòng)化組裝設(shè)備中,經(jīng)常要用到對產(chǎn)品的具體尺寸及本身氣密性進(jìn)行檢測,由于人工作業(yè)產(chǎn)生的測量精度差,測量難度大,作業(yè)效率低,目前還沒有一種測量精度高、操作簡單、作業(yè)效率高的氣密性檢測設(shè)備。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明正是針對以上技術(shù)問題,提供一種模擬人的動(dòng)作,將操作人員的手工動(dòng)作用機(jī)器代替,并且測量精度高、操作簡單、作業(yè)效率高的氣密性檢測設(shè)備。
[0007]本發(fā)明通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
氣密性檢測設(shè)備,包括機(jī)架、測試框、測試模、測試氣缸、測試治具、頂升機(jī)構(gòu),其特征在于機(jī)架上方設(shè)置有測試框,測試模設(shè)置在測試框內(nèi),測試模上分別連接多個(gè)測試氣缸測試框下方對應(yīng)于測試模位置設(shè)置有一個(gè)頂升機(jī)構(gòu),頂升機(jī)構(gòu)上方固定連接一個(gè)測試治具。測試框由多塊透明薄板組成。測試模內(nèi)設(shè)置有夾緊機(jī)構(gòu)。測試模內(nèi)的夾緊機(jī)構(gòu)與測試氣缸協(xié)同動(dòng)作。
[0008]實(shí)際使用中,將待測試工件放在測試治具上,然后啟動(dòng)氣密性檢測設(shè)備,頂升機(jī)構(gòu)動(dòng)作,將放有工件的測試治具朝上頂入測試模內(nèi),然后由多個(gè)測試氣缸分別對工作進(jìn)行檢測,檢測完成后,測試氣缸復(fù)位,頂升機(jī)構(gòu)下降,從而帶動(dòng)測試治具下降,以便操作人員取出測試完成的工作,并根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行分類。
[0009]本發(fā)明利用產(chǎn)品本身的特性,產(chǎn)品采用多測試氣缸對工件進(jìn)行多方位測試,可以一次性解決產(chǎn)品多工位檢測的問題,避免了人工重復(fù)動(dòng)作,實(shí)現(xiàn)最快化。克服了人員操作繁瑣的困難,速度快,效率高。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]附圖中,圖1是本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖,其中:
I一機(jī)架,2一測試框,3一測試模,4一測試氣缸,5測試治具一,6一頂升機(jī)構(gòu)。

【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0012]氣密性檢測設(shè)備,包括機(jī)架1、測試框2、測試模3、測試氣缸4、測試治具5、頂升機(jī)構(gòu)6,其特征在于機(jī)架I上方設(shè)置有測試框2,測試模3設(shè)置在測試框2內(nèi),測試模3上分別連接多個(gè)測試氣缸4測試框2下方對應(yīng)于測試模3位置設(shè)置有一個(gè)頂升機(jī)構(gòu)6,頂升機(jī)構(gòu)6上方固定連接一個(gè)測試治具5。測試框2由多塊透明薄板組成。測試模3內(nèi)設(shè)置有夾緊機(jī)構(gòu)。測試模3內(nèi)的夾緊機(jī)構(gòu)與測試氣缸4協(xié)同動(dòng)作。
[0013]實(shí)際使用中,將待測試工件放在測試治具5上,然后啟動(dòng)氣密性檢測設(shè)備,頂升機(jī)構(gòu)6動(dòng)作,將放有工件的測試治具5朝上頂入測試模3內(nèi),然后由多個(gè)測試氣缸4分別對工作進(jìn)行檢測,檢測完成后,測試氣缸4復(fù)位,頂升機(jī)構(gòu)6下降,從而帶動(dòng)測試治具5下降,以便操作人員取出測試完成的工作,并根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行分類。
[0014]本發(fā)明利用產(chǎn)品本身的特性,產(chǎn)品采用多測試氣缸4對工件進(jìn)行多方位測試,可以一次性解決產(chǎn)品多工位檢測的問題,避免了人工重復(fù)動(dòng)作,實(shí)現(xiàn)最快化??朔巳藛T操作繁瑣的困難,速度快,效率高。
【權(quán)利要求】
1.氣密性檢測設(shè)備,包括機(jī)架、測試框、測試模、測試氣缸、測試治具、頂升機(jī)構(gòu),其特征在于機(jī)架上方設(shè)置有測試框,測試模設(shè)置在測試框內(nèi),測試模上分別連接多個(gè)測試氣缸測試框下方對應(yīng)于測試模位置設(shè)置有一個(gè)頂升機(jī)構(gòu),頂升機(jī)構(gòu)上方固定連接一個(gè)測試治具。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述氣密性檢測設(shè)備,其特征在于所述測試框由多塊透明薄板組成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述氣密性檢測設(shè)備,其特征在于所述測試模內(nèi)設(shè)置有夾緊機(jī)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述氣密性檢測設(shè)備,其特征在于所述測試模內(nèi)的夾緊機(jī)構(gòu)與測試氣缸協(xié)同動(dòng)作。
【文檔編號】G01M3/02GK104198127SQ201410466189
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年9月15日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月15日
【發(fā)明者】孫豐 申請人:蘇州賽騰精密電子有限公司
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