一種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于金屬腐蝕微觀領(lǐng)域，具體涉及一種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置，包括實驗組件，控制系統(tǒng)，攝像組件，所述實驗組件連接控制系統(tǒng)，所述攝像組件設(shè)置在實驗組件一側(cè)用于對實驗進行觀察和記錄，應(yīng)用攝像組件中可便于更換顯微目鏡的攝像單元，能夠根據(jù)所需倍率更換目鏡使用范圍廣，效果良好，該裝置可被用在多種金屬腐蝕的實時觀測中，如鋁合金，鎂合金，不銹鋼等。
【專利說明】—種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于金屬腐蝕微觀領(lǐng)域，具體涉及一種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像 |101|裝直。

【背景技術(shù)】
[0002]在材料腐蝕研究過程中往往需要對腐蝕試樣上同一點或特定位置進行定期觀察，以了解腐蝕條件下試樣表面形貌、組織等的演變過程，為研究材料的腐蝕機理提供直觀證據(jù)。例如在腐蝕介質(zhì)中，金屬表面可能發(fā)生多種形式的局部腐蝕，如點蝕、縫隙腐蝕等，原位觀測局部腐蝕的發(fā)展過程有助于進一步了解局部腐蝕的產(chǎn)生及發(fā)展機理?，F(xiàn)有的試樣表面腐蝕形貌觀察方法通常是一般的數(shù)碼照相(攝像)機，數(shù)碼照相(攝像)機能夠被用來在低倍率的情況下拍攝金屬表面在溶液中的實時腐蝕過程。然而這種方法仍存在一定的局限性，如:這種方法只能讓研究者們看到金屬的外表面，拍攝倍率低，更多的細(xì)節(jié)無法觀察，難以確定表面腐蝕的優(yōu)先發(fā)生位置和腐蝕的發(fā)展方向等。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決這個問題，本發(fā)明提供了一種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置，這種顯微數(shù)碼攝像裝置能夠被用來觀察和記錄金屬發(fā)生局部腐蝕的過程。該裝置可被用在多種金屬腐蝕的實時觀測中，如鋁合金，鎂合金，不銹鋼等。
[0004]一種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置，所述該裝置包括:
實驗組件，包括實驗容器、實驗溶液、金屬試樣、參比電極及鉬電極，所述實驗溶液置于實驗容器內(nèi)，所述金屬試樣、參比電極及鉬電極均置于實驗溶液中；
控制系統(tǒng)，包括電化學(xué)工作站及控制中心，所述電化學(xué)站連接控制中心，所述金屬試樣、參比電極及鉬電極均連接在電化學(xué)站；
攝像組件，包括支撐架及攝像單元，所述攝像單元固定在支撐架上，所述攝像單元與實驗溶液中的金屬試樣相對應(yīng)，所述攝像單兀連接在控制中心上；
進一步地，所述攝像單元一端固定有顯微目鏡，所述顯微目鏡位置與處在實驗溶液中的金屬試樣相對應(yīng)。
[0005]進一步地，所述攝像單元通過第一固定單元及第二固定單元固定在支撐架上，所述第一、二固定單元為可拆卸和移動的支架。
[0006]一種上述的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置的使用方法，包括以下步驟:
1).標(biāo)記金屬試樣位置，將顯微目鏡通過第一固定單元及第二固定單元固定在支撐架上，調(diào)整顯微目鏡位置與金屬試樣位置對應(yīng)，同時調(diào)整顯微目鏡與金屬樣品的距離來進行聚焦；
2).打開電化學(xué)工作站及控制中心，控制參比電極施加電壓，控制鉬電極施加電流，金屬試樣反生金屬腐蝕；
3).控制中心實時采集和記錄電化學(xué)工作站和攝像單元上的數(shù)據(jù)，綜合分析電化學(xué)數(shù)據(jù)和圖像數(shù)據(jù)，研究金屬腐蝕發(fā)生和發(fā)展過程。
[0007]本發(fā)明的有益效果是觀察倍數(shù)得到提高，可分辨和記錄實驗中的更多細(xì)節(jié)，簡單易用，成本低，能夠根據(jù)所需倍率更換目鏡適用范圍廣，效果良好，該裝置可被用在多種金屬腐蝕的實時觀測中，如鋁合金，鎂合金，不銹鋼等。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0009]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施案例，對本發(fā)明進行進一步詳細(xì)描述。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0010]相反，本發(fā)明涵蓋任何由權(quán)利要求定義的在本發(fā)明的精髓和范圍上做的替代、修改、等效方法以及方案。進一步，為了使公眾對本發(fā)明有更好的了解，在下文對本發(fā)明的細(xì)節(jié)描述中，詳盡描述了一些特定的細(xì)節(jié)部分。對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說沒有這些細(xì)節(jié)部分的描述也可以完全理解本發(fā)明。
[0011]如圖1所示，本發(fā)明提供一種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置，所述裝置包括實驗組件、控制系統(tǒng)及攝像組件，所述實驗組件連接控制系統(tǒng)，所述攝像組件設(shè)置在實驗組件一側(cè)用于對實驗進行觀察和記錄。
[0012]所述實驗組件包括實驗容器1、實驗溶液2、金屬試樣3、參比電極4及鉬電極5，所述實驗溶液2置于實驗容器1內(nèi)，所述金屬試樣3、參比電極4及鉬電極5分別置于實驗溶液2中，其中、參比電極4及鉬電極5都是用于電化而設(shè)，參比電極4可施加電壓，鉬電極5可施加電流；所述控制系統(tǒng)包括電化學(xué)工作站6及控制中心7，所述金屬試樣3、參比電極4及鉬電極5均連接在電化學(xué)站6上，所述電化學(xué)工作站6連接控制中心7，控制中心7進一步可為一電腦，記錄影片和電化學(xué)測試；所述攝像組件包括支撐架8、第一固定單元9、第二固定單元10、顯微目鏡11及攝像單元12，所述攝像單元12通過第一固定單元9及第二固定單元10固定在支撐架8上，所述第一固定單元9及第二固定單元10為可拆卸和移動的支架，所述顯微目鏡11固定在攝像單元12 —端，所述顯微目鏡11位置與處在實驗溶液2中的金屬試樣3相對應(yīng)，調(diào)整顯微目鏡11與金屬試樣3的距離來進行聚焦，直到聚焦達到最佳效果，便于采集圖像，開始實驗，所述控制中心7進行實時采集和記錄來自電化學(xué)工作站6和攝像單元12的數(shù)據(jù)，通過綜合分析電化學(xué)數(shù)據(jù)和記錄圖像數(shù)據(jù)，記錄金屬腐蝕發(fā)生和發(fā)展過程，研究其腐蝕機理，當(dāng)其他倍率的顯微目鏡需要被更換上時，從第二固定單元10中移除當(dāng)前目鏡然后重新裝上新的所需的目鏡即可。
[0013]所述支撐架8為金屬支撐架、攝像單元12具體為普通數(shù)碼攝像頭。
[0014]工作原理，將所述工作原件安裝完畢后，調(diào)整目鏡與金屬樣品的距離來進行聚焦，直接達到聚焦到最佳效果，通過控制中心實時采集和記錄來自電化學(xué)工作站和攝像單元的數(shù)據(jù)，通過綜合分析電化學(xué)數(shù)據(jù)和記錄圖像數(shù)據(jù)，研究金屬腐蝕發(fā)生和發(fā)展過程，用于實驗。
【權(quán)利要求】
1.一種用于腐蝕研究的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置，其特征在于，所述該裝置包括: 實驗組件，包括實驗容器、實驗溶液、金屬試樣、參比電極及鉬電極，所述實驗溶液置于實驗容器內(nèi)，所述金屬試樣、參比電極及鉬電極均置于實驗溶液中； 控制系統(tǒng)，包括電化學(xué)工作站及控制中心，所述電化學(xué)站連接控制中心，所述金屬試樣、參比電極及鉬電極均連接在電化學(xué)站； 攝像組件，包括支撐架及攝像單元，所述攝像單元固定在支撐架上，所述攝像單元與實驗溶液中的金屬試樣相對應(yīng)，所述攝像單兀連接在控制中心上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置，其特征在于，所述攝像單元一端固定有顯微目鏡，所述顯微目鏡位置與處在實驗溶液中的金屬試樣相對應(yīng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置，其特征在于，所述攝像單元通過第一固定單元及第二固定單元固定在支撐架上，所述第一、二固定單元為可拆卸和移動的支架。
4.一種如權(quán)利要求1、2或3所述的簡易顯微數(shù)碼攝像裝置的使用方法，其特征在于，包括以下步驟: 1).標(biāo)記金屬試樣位置，將顯微目鏡通過第一固定單元及第二固定單元固定在支撐架上，調(diào)整顯微目鏡位置與金屬試樣位置對應(yīng)，同時調(diào)整顯微目鏡與金屬樣品的距離來進行聚焦； 2).打開電化學(xué)工作站及控制中心，控制參比電極施加電壓，控制鉬電極施加電流，金屬試樣發(fā)生金屬腐蝕； 3).控制中心實時采集和記錄電化學(xué)工作站和攝像單元上的數(shù)據(jù)，綜合分析電化學(xué)數(shù)據(jù)和圖像數(shù)據(jù)，研究金屬腐蝕發(fā)生和發(fā)展過程。
【文檔編號】G01N17/02GK104297146SQ201410411866
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年8月20日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月20日
【發(fā)明者】劉佐嘉, 劉小輝, 李曉剛, 程學(xué)群 申請人:北京科技大學(xué)