高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置制造方法
【專利摘要】高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置。目前高壓開關(guān)特性測試儀器不斷出新，但校驗(yàn)設(shè)備仍存在功能簡單，工作效率低等不足。本產(chǎn)品組成包括：殼體（1），殼體內(nèi)安裝有衰減電路（2）、放大電路（3），衰減電路與交直流轉(zhuǎn)換電路（4）連接，交直流轉(zhuǎn)換電路與A/D轉(zhuǎn)換器（5）連接，A/D轉(zhuǎn)換器與光電耦合器A（6）連接，放大電路與整流電路（7）連接，整流電路與調(diào)理電路（8）連接，調(diào)理電路與與輸入電路（9）連接，輸入電路與光電耦合器B（10）連接，光電耦合器A、光電耦合器B分別與微處理器（11）連接，微處理器與顯示電路（12）、鍵盤控制電路（13）、時(shí)基電路（14）、電源電路（15）連接。本發(fā)明用于校驗(yàn)高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀。
【專利說明】高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】:
本發(fā)明涉及一種高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置。
[0002]【背景技術(shù)】:
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，智能型高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀器不斷出新，但對應(yīng)的校驗(yàn)技術(shù)和設(shè)備仍比較落后，存在著功能簡單，自動(dòng)化程度不高，校驗(yàn)接線復(fù)雜，附加誤差不確定，工作效率低等不足，影響了其發(fā)展和應(yīng)用。
[0003]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
本發(fā)明的目的是提供一種高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置。
[0004]上述的目的通過以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其組成包括:殼體，所述的殼體內(nèi)安裝有衰減電路、放大電路，所述的衰減電路與交直流轉(zhuǎn)換電路連接，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路與A/D轉(zhuǎn)換器連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換器與光電耦合器A連接，所述的放大電路與整流電路連接，所述的整流電路與調(diào)理電路連接，所述的調(diào)理電路與輸入電路連接，所述的輸入電路與光電耦合器B連接，所述的光電耦合器A、所述的光電耦合器B分別與微處理器連接，所述的微處理器與顯不電路、鍵盤控制電路、時(shí)基電路、電源電路連接。
[0005]所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，所述的殼體上具有顯示屏、操作按鍵，所述的顯示屏與所述的顯示電路連接，所述的操作按鍵與所述的鍵盤控制電路連接。
[0006]所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，所述的微處理器是單片機(jī)，所述的單片機(jī)的型號為AT89S52。
[0007]所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路包括電阻R1、電阻R2、跟隨器Ul、真有效值轉(zhuǎn)換器U2，所述的真有效值轉(zhuǎn)換器U2的型號為AD536，實(shí)現(xiàn)被測電壓的交、直流轉(zhuǎn)換。
[0008]所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，所述的A/D轉(zhuǎn)換器包括A/ D芯片U3和外圍電路，所述的A/D芯片的型號為ICL7135，是4位半雙積分型轉(zhuǎn)換器。
[0009]有益效果:
1.本發(fā)明的電量參數(shù)測量電路使輸入的電壓信號Ui經(jīng)過衰減電路、交直流轉(zhuǎn)換電路接入A/D轉(zhuǎn)換器，變?yōu)閿?shù)字信號，然后經(jīng)光電耦合器A接入微處理器進(jìn)行運(yùn)算，經(jīng)微處理器處理后的數(shù)據(jù)、信號以程序代碼的形式傳送到顯示電路，在殼體的顯示屏上給出測量結(jié)果，進(jìn)而自動(dòng)完成電量參數(shù)的校驗(yàn)工作。
[0010]2.本發(fā)明輸入的合、分閘等時(shí)間參數(shù)、機(jī)械參數(shù)信號經(jīng)過放大電路、整流電路、調(diào)理電路和輸入電路，進(jìn)行放大、整流、調(diào)理、整形，得到的數(shù)字信號經(jīng)過光電耦合器B接入微處理器，微處理器對此信號進(jìn)行識別和操作，輸出相應(yīng)的測量開關(guān)參數(shù)或機(jī)械參數(shù)的觸發(fā)信號，去控制被校高壓開關(guān)特性測試儀的運(yùn)行，并顯示開關(guān)參數(shù)或機(jī)械參數(shù)的測量結(jié)果。
[0011]3.本發(fā)明將被檢高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀與高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置各端子對應(yīng)相連，由校驗(yàn)裝置給出合、分閘時(shí)間，合、分閘同期性及彈跳時(shí)間等測量時(shí)間參數(shù)的觸發(fā)信號，同時(shí)記錄被測高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀相應(yīng)參數(shù)的測量值，比較校驗(yàn)裝置和測試儀二者的差異，即可實(shí)現(xiàn)被測高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀各參數(shù)的校準(zhǔn)。
[0012]4.本發(fā)明的輸入信號處理電路與微處理器的接口，都是經(jīng)過光電耦合器來實(shí)現(xiàn)信號的傳送的，這樣能夠?qū)⑾到y(tǒng)與現(xiàn)場進(jìn)行電氣隔離，防止干擾的竄入，保證系統(tǒng)的運(yùn)行穩(wěn)定。
[0013]【專利附圖】

【附圖說明】:
附圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]附圖2是附圖1中微處理器的第一部分的電路原理圖。
[0015]附圖3是附圖1中微處理器的第二部分的電路原理圖。
[0016]附圖4是附圖1中電源電路的電路原理圖。
[0017]附圖5是附圖1中交直流轉(zhuǎn)換電路與A/D轉(zhuǎn)換器連接的電路原理圖。
[0018]圖中:相同符號線路之間具有連接關(guān)系。
[0019]【具體實(shí)施方式】:
實(shí)施例1:
一種高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其組成包括:殼體1，所述的殼體內(nèi)安裝有衰減電路2、放大電路3，所述的衰減電路與交直流轉(zhuǎn)換電路4連接，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路與A/D轉(zhuǎn)換器5連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換器與光電耦合器A，件號:6連接，所述的放大電路與整流電路7連接，所述的整流電路與調(diào)理電路8連接，所述的調(diào)理電路與輸入電路9連接，所述的輸入電路與光電稱合器B,件號:10連接,所述的光電稱合器A、所述的光電稱合器B分別與微處理器11連接，所述的微處理器與顯示電路12、鍵盤控制電路13、時(shí)基電路14、電源電路15連接。
[0020]實(shí)施例2:
根據(jù)實(shí)施例1所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其特征是:所述的殼體上具有顯示屏、操作按鍵，所述的顯示屏與所述的顯示電路連接，所述的操作按鍵與所述的鍵盤控制電路連接。
[0021]實(shí)施例3:
根據(jù)實(shí)施例1或2所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，所述的微處理器是單片機(jī)，所述的單片機(jī)的型號為AT89S52。
[0022]實(shí)施例4:
根據(jù)實(shí)施例1或2所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路包括電阻R1、電阻R2、跟隨器Ul、真有效值轉(zhuǎn)換器U2、，所述的電阻R1、所述的電阻R2對輸入電壓Ui進(jìn)行分壓，所述的跟隨器Ul是電路的輸入級，所述的真有效值轉(zhuǎn)換器U2的型號為AD536，實(shí)現(xiàn)被測電壓的交、直流轉(zhuǎn)換；
實(shí)施例5:
根據(jù)實(shí)施例1或2所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，所述的A/D轉(zhuǎn)換器包括A/D芯片U3和外圍電路，所述的A/D芯片的型號為ICL7135，是4位半雙積分型轉(zhuǎn)換器。所述的A/D芯片的三根信號線中，POL是被測電壓的極性標(biāo)志信號，BUSY是轉(zhuǎn)換器的工作狀態(tài)輸出端，CLK是外接時(shí)鐘輸入端，這三根信號線接入所述的單片機(jī)，由所述的單片機(jī)采集數(shù)據(jù)，進(jìn)行處理，再由所述的顯示屏進(jìn)行顯示，實(shí)現(xiàn)被測電壓的測量。
【權(quán)利要求】
1.一種高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其組成包括:殼體，其特征是:所述的殼體內(nèi)安裝有衰減電路、放大電路，所述的衰減電路與交直流轉(zhuǎn)換電路連接，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路與A/D轉(zhuǎn)換器連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換器與光電耦合器A連接，所述的放大電路與整流電路連接，所述的整流電路與調(diào)理電路連接，所述的調(diào)理電路與輸入電路連接，所述的輸入電路與光電耦合器B連接，所述的光電耦合器A、所述的光電耦合器B分別與微處理器連接，所述的微處理器與顯示電路、鍵盤控制電路、時(shí)基電路、電源電路連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其特征是:所述的殼體上具有顯示屏、操作按鍵，所述的顯示屏與所述的顯示電路連接，所述的操作按鍵與所述的鍵盤控制電路連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其特征是:所述的微處理器是單片機(jī)，所述的單片機(jī)的型號為AT89S52。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其特征是:所述的交直流轉(zhuǎn)換電路包括電阻R1、電阻R2、跟隨器U1、真有效值轉(zhuǎn)換器U2，所述的真有效值轉(zhuǎn)換器U2的型號為AD536，實(shí)現(xiàn)被測電壓的交、直流轉(zhuǎn)換。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀校驗(yàn)裝置，其特征是:所述的A/D轉(zhuǎn)換器包括A/ D芯片U3和外圍電路，所述的A/D芯片的型號為ICL7135，是4位半雙積分型轉(zhuǎn)換器。
【文檔編號】G01R35/00GK103869272SQ201410110747
【公開日】2014年6月18日 申請日期:2014年3月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月24日
【發(fā)明者】黃吉?jiǎng)? 牛濱, 敖紅光, 周紹杰, 苑加和 申請人:哈爾濱理工大學(xué)