一種環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)，包括：輸入電壓源，通過穩(wěn)壓部分與環(huán)形振蕩器的輸入端相連；穩(wěn)壓部分，分別與輸入電壓源和環(huán)形振蕩器的輸入端相連；示波器，與環(huán)形振蕩器的輸出端相連，其特征是環(huán)形振蕩器的輸出端就近引出。與現(xiàn)有技術(shù)相比，采用本實用新型提供的技術(shù)方案具有如下優(yōu)點：通過采用在輸入端加入穩(wěn)壓部分，同時在輸出端就近引出的方法，可以減少寄生電容的影響，從而在測試成本較低的情況下得到較好的測試效果。
【專利說明】一種環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及半導(dǎo)體【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]環(huán)形振蕩器是常見的電路之一，通過將奇數(shù)個反相器首尾相連，即可構(gòu)成環(huán)形振蕩器(loop oscillator)。在環(huán)形振蕩器的輸入端加直流電壓后，環(huán)形振蕩器振蕩，產(chǎn)生正弦信號。環(huán)形振蕩器的特點是線路簡單，起振容易，如果不加延遲網(wǎng)絡(luò)則不需要阻容元件，便于集成化。因此常常通過環(huán)形振蕩器來衡量一種工藝的成熟度，環(huán)振器包括的反相器個數(shù)越多，說明工藝的成熟度越高。
[0003]因此對環(huán)形振蕩器的精確測量顯得尤為重要。環(huán)形振蕩器測量包括在片測試和封裝后測試兩種，本實用新型所討論的是在片測試領(lǐng)域。對于在片測試，一般方法是是電源通過三軸線以及探針加到環(huán)形振蕩器輸入上，環(huán)形振蕩器輸出經(jīng)探針以及三軸線接到示波器上。但采用這種方法由于連線寄生電容電感的影響，測試出來的環(huán)形振蕩器輸出圖形不好，難以出現(xiàn)方波，如圖5所示。還有一種方法就是采用有源高頻探針測試系統(tǒng)的方法，這種方法測試準(zhǔn)確，但缺點是成本高，而且由于有源高頻探針特別細(xì)，不易操作，容易損壞。
[0004]因此，希望提出一種環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)，可以在較低的成本內(nèi)得到較好的測試效果。
實用新型內(nèi)容
[0005]本實用新型提供了一種可以解決上述問題的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)，包括:
[0006]輸入電壓源，通過穩(wěn)壓部分與環(huán)形振蕩器的輸入端相連；
[0007]穩(wěn)壓部分，分別與輸入電壓源和環(huán)形振蕩器的輸入端相連；
[0008]示波器，與環(huán)形振蕩器的輸出端相連，其特征是環(huán)形振蕩器的輸出端就近引出。
[0009]與現(xiàn)有技術(shù)相比，采用本實用新型提供的技術(shù)方案具有如下優(yōu)點:通過采用在輸入端加入穩(wěn)壓部分，同時在輸出端就近引出的方法，可以減少寄生電容的影響，從而在測試成本較低的情況下得到較好的測試效果。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細(xì)描述，本實用新型的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯。
[0011]圖1為根據(jù)本實用新型的實施例的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)示意圖；
[0012]圖2為根據(jù)本實用新型的實施例的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)電路圖；
[0013]圖3為采用本測試系統(tǒng)的環(huán)形振蕩器測試結(jié)果；
[0014]圖4為未采用本測試系統(tǒng)的環(huán)形振蕩器測試結(jié)果。
【具體實施方式】[0015]下面詳細(xì)描述本實用新型的實施例。
[0016]所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相
[0017]同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本實用新型，而不能解釋為對本實用新型的限制。下文的公開提供了許多不同的實施例或例子用來實現(xiàn)本實用新型的不同結(jié)構(gòu)。為了簡化本實用新型的公開，下文中對特定例子的部件和設(shè)置進(jìn)行描述。當(dāng)然，它們僅僅為示例，并且目的不在于限制本實用新型。此外，本實用新型可以在不同例子中重復(fù)參考數(shù)字和/或字母。這種重復(fù)是為了簡化和清楚的目的，其本身不指示所討論各種實施例和/或設(shè)置之間的關(guān)系。此外，本實用新型提供了的各種特定的工藝和材料的例子，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以意識到其他工藝的可應(yīng)用于性和/或其他材料的使用。
[0018]本實用新型提供了一種環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)。下面，將結(jié)合圖2至圖4通過本實用新型的一個實施例對圖1的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)進(jìn)行具體描述。如圖1所示，本實用新型所提供的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)包括以下部分:
[0019]輸入電壓源101，通過穩(wěn)壓部分102與環(huán)形振蕩器100的輸入端相連；
[0020]穩(wěn)壓部分102，分別與輸入電壓源101和環(huán)形振蕩器100的輸入端相連；
[0021]示波器103，與環(huán)形振蕩器100的輸出端相連，其特征是環(huán)形振蕩器的輸出端就近引出。
[0022]具體地，在本實用新型的實施例中，在所述普通測試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加了一個分頻器，形成帶分頻器的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)，分頻器(divider)的作用是將輸入的無線射頻(RF)信號分頻后輸出，用來在不同頻率下對環(huán)形振蕩器進(jìn)行測試。本領(lǐng)域技術(shù)人員可根據(jù)需要自行選擇不同標(biāo)準(zhǔn)的分頻器。
[0023]在本實用新型的實施例中，通過將普通環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)和帶分頻器的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)做在同一個測試板上，可以起到互相驗證的作用，如果帶分頻器的環(huán)形振蕩器的測試結(jié)果確實是不帶分頻器的頻率的分頻倍數(shù)，那么就可以同時驗證兩個系統(tǒng)的正確性。
[0024]雖然普通環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)和帶分頻器的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)做在同一個測試板上，但在使用過程中是相互獨立的，即可以各自分別使用，而不會影響最終的測試結(jié)果。在其他實施例中也可以只做單獨的普通環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)或者只做帶分頻器的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)。
[0025]在本實用新型的實施例中，所述的測試系統(tǒng)制作在一塊PCB (印刷電路板)上，在其他實施例中，本領(lǐng)域技術(shù)人員也可使用其它的系統(tǒng)集成方式來制作本測試系統(tǒng)。
[0026]在本實用新型的實施例中，所述環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)還包括一個使能端和一個接地端，所述使能端用于與環(huán)形振蕩器的使能端相連，為其提供使能信號。對于帶分頻器的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)來首，還包括一個分頻器的電源端，用于為分頻器提供電源。
[0027]所述輸入電壓源101采用的是半導(dǎo)體參數(shù)測試儀keithley4200，它通過穩(wěn)壓部分與待測環(huán)形振蕩器的輸入端相連，為了方便利用半導(dǎo)體參數(shù)測試儀keithley4200加電壓，待測環(huán)形振蕩器的輸入端通過SMA (Sub-Miniature-A)接頭引出。
[0028]所述穩(wěn)壓部分102由穩(wěn)壓電容器構(gòu)成，分別與輸入電壓源101和環(huán)形振蕩器100的輸入端相連。為了進(jìn)一步減小其它輸入電壓可能帶來的影響，在本實用新型的實施例中，為所有的輸入電壓都加了穩(wěn)壓部分，包括測試系統(tǒng)的使能端，以及帶分頻器的環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)中分頻器的電源端。
[0029]所述環(huán)形振蕩器100的輸出端在距離探針最近的位置引出，此距離由印刷電路板的工藝所決定，然后通過無源高頻探頭與示波器103相連，采用無源探頭的原因是因為其成本遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于有源高頻探頭，可以極大的縮減測試成本。
[0030]圖3為采用本測試系統(tǒng)測試得到的環(huán)形振蕩器的輸出，可以看出得到了比較好的方波圖形。而圖4為未采用本系統(tǒng)測試的環(huán)形振蕩器輸出，效果比較差，幾乎為正弦波。
[0031]采用本實用新型提供的技術(shù)方案具有如下優(yōu)點:通過采用在輸入端加入穩(wěn)壓部分，同時在輸出端就近引出的方法，可以減少寄生電容的影響，從而在測試成本較低的情況下得到較好的測試效果。
[0032]雖然關(guān)于示例實施例及其優(yōu)點已經(jīng)詳細(xì)說明，應(yīng)當(dāng)理解在不脫離本實用新型的精神和所附權(quán)利要求限定的保護范圍的情況下，可以對這些實施例進(jìn)行各種變化、替換和修改。對于其他例子，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)容易理解在保持本實用新型保護范圍內(nèi)的同時，工藝步驟的次序可以變化。
[0033]此外，本實用新型的應(yīng)用范圍不局限于說明書中描述的特定實施例的工藝、機構(gòu)、制造、物質(zhì)組成、手段、方法及步驟。從本實用新型的公開內(nèi)容，作為本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將容易地理解，對于目前已存在或者以后即將開發(fā)出的工藝、機構(gòu)、制造、物質(zhì)組成、手段、方法或步驟，其中它們執(zhí)行與本實用新型描述的對應(yīng)實施例大體相同的功能或者獲得大體相同的結(jié)果，依照本實用新型可以對它們進(jìn)行應(yīng)用。因此，本實用新型所附權(quán)利要求旨在將這些工藝、機構(gòu)、制造、物質(zhì)組成、手段、方法或步驟包含在其保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種環(huán)形振蕩器測試系統(tǒng)，包括: 輸入電壓源(101)，通過穩(wěn)壓部分(102 )與環(huán)形振蕩器(100 )的輸入端相連； 穩(wěn)壓部分(102)，分別與輸入電壓源(101)和環(huán)形振蕩器(100)的輸入端相連； 示波器(103)，與環(huán)形振蕩器(100)的輸出端相連，其特征是環(huán)形振蕩器的輸出端就近引出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中所述輸入電壓源(101)是半導(dǎo)體參數(shù)測試儀keithley4200o
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中環(huán)形振蕩器(100)的輸入端通過SMA接頭引出。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中所述穩(wěn)壓部分(102)通過穩(wěn)壓電容來實現(xiàn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中所述環(huán)形振蕩器(100)的輸出端通過無源高頻探頭與示波器(103)相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征是還包括一個使能端和一個接地端。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征是使能端也通過一個穩(wěn)壓部分與待測環(huán)形振蕩器相連。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征是整個測試系統(tǒng)做在一個印刷電路板上。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的測試系統(tǒng)，其中所述環(huán)形振蕩器的輸出端就近引出距離為印刷電路板工藝所允許的最小距離。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征是在本測試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上再設(shè)置一個分頻器，形成帶分頻器的測試系統(tǒng)。
【文檔編號】G01R31/26GK203688739SQ201320833795
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2013年12月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月17日
【發(fā)明者】卜建輝, 曾傳濱, 張剛, 羅家俊, 韓鄭生 申請人:中國科學(xué)院微電子研究所