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用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī)的制作方法

文檔序號(hào):6201796閱讀:179來(lái)源:國(guó)知局
用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】一種用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),包括一個(gè)直四棱柱狀的主體,其兩個(gè)底面均呈平形四邊形,主體的兩個(gè)相向的側(cè)面中各自沿其所在平面向主體外設(shè)置有一個(gè)平板狀延伸部,其中一個(gè)平板狀延伸部的厚度小于另一個(gè)平板狀延伸部的厚度,任意一個(gè)平板狀延伸部的外端端面中均各自設(shè)置有缺口。厚度較小的平板狀延伸部作為通規(guī),厚度較大的平板狀延伸部作為止規(guī)。將通規(guī)側(cè)、止規(guī)側(cè)平板狀延伸部先后伸入儀表指針與儀表盤(pán)之間的間隙,通規(guī)側(cè)平板狀延伸部可以通過(guò)該間隙且止規(guī)側(cè)平板狀延伸部不能通過(guò)該間隙時(shí),提示儀表指針裝配高度合格。本實(shí)用新型中的平板狀延伸部不會(huì)損傷指針下的儀表盤(pán),對(duì)檢測(cè)不同規(guī)格的指針式儀表指針裝配高度的具有通用性。
【專(zhuān)利說(shuō)明】用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī)
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】:
[0002]本實(shí)用新型涉及物理領(lǐng)域,尤其涉及量具,特別是一種用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī)。
[0003]【背景技術(shù)】:
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中,廣泛采用通止規(guī)檢測(cè)儀表指針裝配高度。但是指針式儀表裝配高度檢測(cè)裝置的工作原理和硬件條件存在顯著的差異,所以,還沒(méi)有一個(gè)統(tǒng)一的、被廣泛接受的指針式儀表指針裝配高度檢測(cè)通止規(guī)可供使用。為了進(jìn)一步提高儀表指針裝配質(zhì)量,相當(dāng)一部分科研人員都研制了自己的高度檢測(cè)裝置。由于不同的檢測(cè)裝置制造工藝及材質(zhì)技術(shù)方面的存在差異,而指針下儀表牌又極容易受到損傷,因而,不同檢測(cè)裝置很難實(shí)現(xiàn)對(duì)指針式儀表指針裝配高度檢測(cè)的通用性。
[0005]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
[0006]本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),所述的這種用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī)要解決現(xiàn)有技術(shù)中用于檢測(cè)指針式儀表指針裝配高度的裝置不具備通用性的技術(shù)問(wèn)題。
[0007]本實(shí)用新型的這種用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),包括一個(gè)金屬塊,其中,所述的金屬塊包括一個(gè)直四棱柱狀的主體,所述的直四棱柱狀的主體的兩個(gè)底面均呈平形四邊形,直四棱柱狀的主體的兩個(gè)相向的側(cè)面中各自沿其所在平面向主體外設(shè)置有一個(gè)平板狀延伸部,所述的兩個(gè)平板狀延伸部相互平行且其延伸方向相反,其中一個(gè)平板狀延伸部的厚度小于另一個(gè)平板狀延伸部的厚度,任意一個(gè)平板狀延伸部的外端端面中均各自設(shè)置有缺口。
[0008]進(jìn)一步的,任意一個(gè)平板狀延伸部與其相鄰的主體的側(cè)面均成大于90度的夾角。
[0009]進(jìn)一步的,所述的缺口呈半圓狀或者弓形。
[0010]進(jìn)一步的,直四棱柱狀的主體中設(shè)置有減重孔。
[0011]進(jìn)一步的,所述的減重孔也呈直四棱柱狀,其底面分別位于直四棱柱狀的主體的底面中。
[0012]本實(shí)用新型的工作原理是:平板狀延伸部的厚度小于另一個(gè)平板狀延伸部的厚度,厚度較小的平板狀延伸部作為檢測(cè)儀表指針裝配高度的通規(guī),厚度較大的平板狀延伸部作為檢測(cè)儀表指針裝配高度的止規(guī)。將通規(guī)側(cè)平板狀延伸部和止規(guī)側(cè)平板狀延伸部先后伸入儀表指針與儀表盤(pán)之間的間隙,通規(guī)側(cè)平板狀延伸部可以通過(guò)該間隙且止規(guī)側(cè)平板狀延伸部不能通過(guò)該間隙時(shí),提示儀表指針裝配高度合格。
[0013]本實(shí)用新型和已有技術(shù)相比較,其效果是積極和明顯的。本實(shí)用新型在直四棱柱狀的金屬塊的兩個(gè)相向側(cè)面上各自向相反方向延伸設(shè)置一個(gè)平板,兩個(gè)平板的厚度有差另O,分別作為檢測(cè)儀表指針裝配高度的通規(guī)和止規(guī),將通規(guī)側(cè)平板狀延伸部和止規(guī)側(cè)平板狀延伸部先后伸入儀表指針與儀表盤(pán)之間的間隙,通規(guī)側(cè)平板狀延伸部可以通過(guò)該間隙且止規(guī)側(cè)平板狀延伸部不能通過(guò)該間隙時(shí),提示儀表指針裝配高度合格。平板狀延伸部不會(huì)損傷指針下的儀表盤(pán),對(duì)檢測(cè)不同規(guī)格的指針式儀表指針裝配高度的具有通用性。[0014]【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】:
[0015]圖1是本實(shí)用新型的用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī)的示意圖。
[0016]圖2是本實(shí)用新型的用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī)的正視圖。
[0017]【具體實(shí)施方式】:
[0018]實(shí)施例1:
[0019]如圖1和圖2所示,本實(shí)用新型的用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),包括一個(gè)金屬塊,其中,所述的金屬塊包括一個(gè)直四棱柱狀的主體1,所述的直四棱柱狀的主體I的兩個(gè)底面均呈平形四邊形,直四棱柱狀的主體I的兩個(gè)相向的側(cè)面中分別沿其所在平面向主體I外設(shè)置有一個(gè)平板狀延伸部2和一個(gè)平板狀延伸部3,平板狀延伸部2和平板狀延伸部3相互平行且其延伸方向相反,其中平板狀延伸部2的厚度小于平板狀延伸部3的厚度,板狀延伸部2和平板狀延伸部3的外端端面中均各自設(shè)置有缺口。
[0020]進(jìn)一步的,平板狀延伸部2和平板狀延伸部3與其相鄰的主體I的側(cè)面均成大于90度的夾角。
[0021 ] 進(jìn)一步的,所述的缺口呈半圓狀或者弓形。
[0022]進(jìn)一步的,直四棱柱狀的主體I中設(shè)置有減重孔4。
[0023]進(jìn)一步的,所述的減重孔4也呈直四棱柱狀,其底面分別位于直四棱柱狀的主體I的底面中。
[0024]本實(shí)施例的工作原理是:平板狀延伸部2的厚度小于平板狀延伸部3的厚度,厚度較小的平板狀延伸部2作為檢測(cè)儀表指針裝配高度的通規(guī),厚度較大的平板狀延伸部3作為檢測(cè)儀表指針裝配高度的止規(guī)。將通規(guī)側(cè)平板狀延伸部2和止規(guī)側(cè)平板狀延伸部3先后伸入儀表指針與儀表盤(pán)之間的間隙,通規(guī)側(cè)平板狀延伸部2可以通過(guò)該間隙且止規(guī)側(cè)平板狀延伸部3不能通過(guò)該間隙時(shí),提示儀表指針裝配高度合格。
【權(quán)利要求】
1.一種用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),包括一個(gè)金屬塊,其特征在于:所述的金屬塊包括一個(gè)直四棱柱狀的主體,所述的直四棱柱狀的主體的兩個(gè)底面均呈平形四邊形,直四棱柱狀的主體的兩個(gè)相向的側(cè)面中各自沿其所在平面向主體外設(shè)置有一個(gè)平板狀延伸部,所述的兩個(gè)平板狀延伸部相互平行且其延伸方向相反,其中一個(gè)平板狀延伸部的厚度小于另一個(gè)平板狀延伸部的厚度,任意一個(gè)平板狀延伸部的外端端面中均各自設(shè)置有缺口。
2.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),其特征在于:任意一個(gè)平板狀延伸部與其相鄰的主體的側(cè)面均成大于90度的夾角。
3.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),其特征在于:所述的缺口呈半圓狀或者弓形。
4.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),其特征在于:直四棱柱狀的主體中設(shè)置有減重孔。
5.如權(quán)利要求4所述的用于檢測(cè)儀表指針裝配高度的通止規(guī),其特征在于:所述的減重孔也呈直四棱柱狀,其底面分別位于直四棱柱狀的主體的底面中。
【文檔編號(hào)】G01B5/02GK203489818SQ201320630010
【公開(kāi)日】2014年3月19日 申請(qǐng)日期:2013年10月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月12日
【發(fā)明者】張光, 趙永軍 申請(qǐng)人:延鋒偉世通汽車(chē)電子有限公司
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