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靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置制造方法

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靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型涉及防護(hù)材料靜電防護(hù)性能試驗(yàn)裝置技術(shù)。本實(shí)用新型的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,包括探頭銅片、探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片、接地墊圈、探頭外罩、探頭體、走線(xiàn)套、出線(xiàn)螺帽與外接線(xiàn)纜,探頭銅片、探頭體皆設(shè)置在探頭外罩內(nèi),探頭銅片、探頭體之間設(shè)有探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片與接地墊圈,探頭體套接在走線(xiàn)套的外側(cè),探頭體的下端連接出線(xiàn)螺帽,外接線(xiàn)纜貫穿出線(xiàn)螺帽、走線(xiàn)套后與探頭銅片連接。本實(shí)用新型的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,測(cè)試靈敏、性能良好,可精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào),實(shí)現(xiàn)試樣表面感應(yīng)靜電信號(hào)的探測(cè)功能。該裝置結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、成本低、制作方便。
【專(zhuān)利說(shuō)明】靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及防護(hù)材料靜電防護(hù)性能試驗(yàn)裝置【技術(shù)領(lǐng)域】,具體涉及一種能夠精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào)的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前國(guó)內(nèi)外關(guān)于電荷衰減性能測(cè)試方法多種多樣。根據(jù)被測(cè)試樣帶電方式不同,常用測(cè)試方法主要有三種:充電法、電暈噴電法或摩擦法。通過(guò)使被測(cè)試樣帶電至初始靜電電壓后,撤除作用于被測(cè)試樣的靜電發(fā)生裝置,然后將被測(cè)試樣迅速接地使其開(kāi)始放電,同時(shí)利用實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)實(shí)時(shí)測(cè)量被測(cè)試樣表面靜電電位隨時(shí)間變化的衰減信號(hào),計(jì)算出電荷衰減至設(shè)定終止電位的衰減時(shí)間,并以此為依據(jù)來(lái)評(píng)價(jià)被測(cè)材料的防靜電性能。對(duì)于電暈噴電法和摩擦法,被測(cè)試樣表面靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置是整個(gè)測(cè)試裝置中的關(guān)鍵部件之一。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的技術(shù)效果能夠克服上述缺陷,提供一種靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其可精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào),實(shí)現(xiàn)試樣表面感應(yīng)靜電信號(hào)的探測(cè)功能。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:其包括探頭銅片、探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片、接地墊圈、探頭外罩、探頭體、走線(xiàn)套、出線(xiàn)螺帽與外接線(xiàn)纜,探頭銅片、探頭體皆設(shè)置在探頭外罩內(nèi),探頭銅片、探頭體之間設(shè)有探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片與接地墊圈,探頭體套接在走線(xiàn)套的外側(cè),探頭體的下端連接出線(xiàn)螺帽,外接線(xiàn)纜貫穿出線(xiàn)螺帽、走線(xiàn)套后與探頭銅片連接。
[0005]所述的探頭銅片與探頭片襯套之間間隙配合,探頭銅片從探頭片襯套內(nèi)孔裝入,通過(guò)探頭銅片上的定位凸肩安裝到位,并限定銅片伸出探頭體的凸緣長(zhǎng)度,確保探測(cè)裝置端面為一平面,以保證試驗(yàn)過(guò)程中探頭平面與被測(cè)試樣平面之間測(cè)試距離相同。
[0006]所述的探頭片隔圈由聚四氟乙烯材料制成,它與探頭片襯套之間間隙配合,探頭片隔圈從探頭片襯套內(nèi)孔裝入,與探頭片襯套的內(nèi)孔定位臺(tái)階一起將探頭銅片夾持住。使得探頭銅片在整個(gè)探測(cè)裝置中軸向定位精確且與探頭外罩絕緣良好,可保證被測(cè)試樣表面的電壓信號(hào)傳輸安全可靠。
[0007]所述的探頭片襯套與探頭外罩之間間隙配合,靠探頭片襯套的外圓定位臺(tái)階限位安裝到探頭外罩內(nèi),為整個(gè)探測(cè)器探頭主體提供良好的絕緣保障。
[0008]所述的接地銅片與探頭片襯套之間間隙配合。接地銅片從探頭片襯套內(nèi)孔裝入,靠探頭片隔圈定位,探頭片隔圈為機(jī)加工件,可以充分保證其軸向尺寸的精度要求,從而確保了接地銅片與探頭銅片之間的距離。接地線(xiàn)焊接于接地銅片上,使得接地銅片與探頭銅片上感應(yīng)到的靜電形成一個(gè)準(zhǔn)確的電位差,為探測(cè)器測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性提供良好的保障。接地銅片中心開(kāi)有通孔,方便走線(xiàn)套從中間穿過(guò)與探頭銅片進(jìn)行螺紋連接。[0009]所述的接地墊圈與探頭片襯套之間為間隙配合。接地墊圈從探頭片襯套內(nèi)孔裝入,靠接地銅片定位,靠探頭體螺紋擰緊與探頭片襯套、探頭銅片、探頭片隔圈共同構(gòu)成靜電探測(cè)器探頭的主體。探頭體與接地銅片通過(guò)接地墊圈相連通,共同接地。
[0010]所述的探頭外罩與探頭體之間螺紋連接,靠靜電探測(cè)器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長(zhǎng)度,同時(shí)通過(guò)兩者的旋緊為探頭主體進(jìn)行軸向壓緊定位。探頭外罩與探頭體為整個(gè)探測(cè)器主體提供了良好的接地屏蔽作用。
[0011]所述的走線(xiàn)套由絕緣極好的聚四氟乙烯材料制作。走線(xiàn)套上端部開(kāi)有內(nèi)螺紋,與探頭銅片下端的外螺紋配合擰緊連接。走線(xiàn)套開(kāi)有中心孔,外接線(xiàn)纜從中心孔穿過(guò),與探頭銅片下端的螺紋端部焊接。方便探頭銅片感應(yīng)信號(hào)的傳輸。
[0012]所述的出線(xiàn)螺帽由絕緣性能良好的夾布膠木制作,與探頭體之間靠螺紋連接,出線(xiàn)螺帽開(kāi)有中心孔,探頭銅片的外接線(xiàn)纜可穿過(guò)中心孔自由出入。出線(xiàn)螺帽與探頭體之間的螺紋擰緊又為走線(xiàn)套軸向壓緊定位。
[0013]本實(shí)用新型的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,測(cè)試靈敏、性能良好,可精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào),實(shí)現(xiàn)試樣表面感應(yīng)靜電信號(hào)的探測(cè)功能。該裝置結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、成本低、制作方便、使用安全。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0014]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0015]1-探頭銅片;2_探頭片隔圈;3_探頭片襯套;4_接地銅片;5_接地墊圈;6-探頭外罩;7_探頭體;8_走線(xiàn)套;9_出線(xiàn)螺帽;10_外接線(xiàn)纜;
[0016]101.定位凸肩;
[0017]301.內(nèi)孔定位臺(tái)階;302.外圓定位臺(tái)階。
【具體實(shí)施方式】
[0018]如圖1所示,本實(shí)用新型的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,包括探頭銅片1、探頭片隔圈2、探頭片襯套3、接地銅片4、接地墊圈5、探頭外罩6、探頭體7、走線(xiàn)套8、出線(xiàn)螺帽9與外接線(xiàn)纜10,探頭銅片1、探頭體7皆設(shè)置在探頭外罩6內(nèi),探頭銅片1、探頭體7之間設(shè)有探頭片隔圈2、探頭片襯套3、接地銅片4與接地墊圈5,探頭體7套接在走線(xiàn)套8的外側(cè),探頭體7的下端連接出線(xiàn)螺帽9,外接線(xiàn)纜10貫穿出線(xiàn)螺帽9、走線(xiàn)套8后與探頭銅片I連接。
[0019]所述的探頭銅片I與探頭片襯套3之間為間隙配合,探頭銅片I從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入,靠探頭銅片I上的定位凸肩101安裝到位,并限定探頭銅片I伸出探頭體7的凸緣長(zhǎng)度,確保探測(cè)裝置端面為一平面。
[0020]所述的探頭片隔圈2與探頭片襯套3之間為間隙配合,探頭片隔圈2從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入,與探頭片襯套3的內(nèi)孔定位臺(tái)階301 —起將探頭銅片I夾持住。
[0021]所述的探頭片襯套3與探頭外罩6之間為間隙配合,通過(guò)探頭片襯套的外圓定位臺(tái)階302限位安裝到探頭外罩6內(nèi)。
[0022]所述的接地銅片4與探頭片襯套3之間為間隙配合,接地銅片4從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入,通過(guò)探頭片隔圈2定位,接地銅片4焊接接地線(xiàn),接地銅片4中心開(kāi)有通孔,走線(xiàn)套8從通孔中間穿過(guò)并與探頭銅片I螺紋連接。
[0023]所述的接地墊圈5與探頭片襯套3之間為間隙配合,接地墊圈5從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入,通過(guò)接地銅片4、探頭體7定位,探頭體7與接地銅片4通過(guò)接地墊圈5相連通后共同接地,接地墊圈5、探頭片襯套3、探頭銅片1、探頭片隔圈3共同構(gòu)成靜電探測(cè)器探頭的主體。
[0024]所述的探頭外罩6與探頭體7之間螺紋連接,通過(guò)靜電探測(cè)器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長(zhǎng)度,同時(shí)通過(guò)兩者的旋緊為探頭主體進(jìn)行軸向壓緊定位。
[0025]所述的走線(xiàn)套8上端部開(kāi)有內(nèi)螺紋,與探頭銅片I下端的外螺紋配合擰緊連接,走線(xiàn)套8開(kāi)有中心孔,外接線(xiàn)纜10從中心孔穿過(guò),與探頭銅片I下端的螺紋端部焊接。
[0026]所述的出線(xiàn)螺帽9與探頭體7之間螺紋連接,出線(xiàn)螺帽9開(kāi)有中心孔,探頭銅片的外接線(xiàn)纜10可穿過(guò)中心孔自由出入,出線(xiàn)螺帽9與探頭體7之間的螺紋擰緊為走線(xiàn)套8軸向壓緊定位。
【權(quán)利要求】
1.一種靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,包括探頭銅片(I)、探頭片隔圈(2)、探頭片襯套(3)、接地銅片(4)、接地墊圈(5)、探頭外罩(6)、探頭體(7)、走線(xiàn)套(8)、出線(xiàn)螺帽(9)與外接線(xiàn)纜(10),探頭銅片(I)、探頭體(7)皆設(shè)置在探頭外罩(6)內(nèi),探頭銅片(I)、探頭體(7)之間設(shè)有探頭片隔圈(2)、探頭片襯套(3)、接地銅片(4)與接地墊圈(5),探頭體(7)套接在走線(xiàn)套(8)的外側(cè),探頭體(7)的下端連接出線(xiàn)螺帽(9),外接線(xiàn)纜(10)貫穿出線(xiàn)螺帽(9)、走線(xiàn)套(8)后與探頭銅片(I)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的探頭銅片(I)與探頭片襯套(3)之間間隙配合,探頭銅片(I)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入,通過(guò)探頭銅片(I)上的定位凸肩(101)安裝到位,并限定探頭銅片(I)伸出探頭體(7)的凸緣長(zhǎng)度,確保探測(cè)裝置端面為一平面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的探頭片隔圈(2)與探頭片襯套(3)之間間隙配合,探頭片隔圈(2)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入,與探頭片襯套(3 )的內(nèi)孔定位臺(tái)階(301) —起將探頭銅片(I)夾持住。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的探頭片襯套(3)與探頭外罩(6)之間間隙配合,通過(guò)探頭片襯套的外圓定位臺(tái)階(302)限位安裝到探頭外罩(6)內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的接地銅片(4)與探頭片襯套(3)之間間隙配合,接地銅片(4)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入,通過(guò)探頭片隔圈(2)定位,接地銅片(4)焊接接地線(xiàn),接地銅片(4)中心開(kāi)有通孔,走線(xiàn)套(8)從通孔中間穿過(guò)并與探頭銅片(I)螺紋連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的接地墊圈(5)與探頭片襯套(3)之間間隙配合,接地墊圈(5)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入,通過(guò)接地銅片(4)、探頭體(7)定位,探頭體(7)與接地銅片(4)通過(guò)接地墊圈(5)相連通后共同接地,接地墊圈(5)、探頭片襯套(3)、探頭銅片(I)、探頭片隔圈(3)共同構(gòu)成靜電探測(cè)器探頭的主體。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的探頭外罩(6)與探頭體(7)之間螺紋連接,通過(guò)靜電探測(cè)器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長(zhǎng)度,同時(shí)通過(guò)兩者的旋緊為探頭主體進(jìn)行軸向壓緊定位。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的走線(xiàn)套(8)上端部開(kāi)有內(nèi)螺紋,與探頭銅片(I)下端的外螺紋配合擰緊連接,走線(xiàn)套(8)開(kāi)有中心孔,外接線(xiàn)纜(10)從中心孔穿過(guò),與探頭銅片(I)下端的螺紋端部焊接。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置,其特征在于,所述的出線(xiàn)螺帽(9)與探頭體(7)之間螺紋連接,出線(xiàn)螺帽(9)開(kāi)有中心孔,探頭銅片的外接線(xiàn)纜(10)可穿過(guò)中心孔自由出入,出線(xiàn)螺帽(9)與探頭體(7)之間的螺紋擰緊為走線(xiàn)套(8)軸向壓緊定位。
【文檔編號(hào)】G01R19/00GK203479881SQ201320615277
【公開(kāi)日】2014年3月12日 申請(qǐng)日期:2013年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
【發(fā)明者】楊成麗, 李娟娟, 付偉, 焦亮 申請(qǐng)人:山東省紡織科學(xué)研究院
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