X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置及測(cè)量方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置及測(cè)量方法，所述電磁特性測(cè)試裝置包括：分別連接第一和第二X波段天線的測(cè)試夾具，所述第一和第二X波段天線分別通過第一和第二X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件連接。該裝置及方法能將多套系統(tǒng)簡(jiǎn)化成一套寬帶測(cè)試系統(tǒng)，有效降低成本。
【專利說明】X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置及測(cè)量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種天線材料的跨頻段電磁特性測(cè)量系統(tǒng)，特別是涉及ー種X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置及測(cè)量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]材料電磁特性測(cè)量技術(shù)在信息技術(shù)、特別是軍事裝備及航天有關(guān)技術(shù)中具有十分重要的意義。開環(huán)天線電磁特性測(cè)試系統(tǒng)以非接觸、非破環(huán)等優(yōu)點(diǎn)被國內(nèi)外眾多科研機(jī)構(gòu)所研制，其核心之ー是天線。
[0003]為了保證材料電磁參數(shù)測(cè)量準(zhǔn)確，天線應(yīng)選擇具有高方向性和良好駐波比性能。通常天線設(shè)計(jì)的工作頻段等于或小于ー個(gè)波導(dǎo)波段，在該波段配合測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試夾具、網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件、電纜轉(zhuǎn)接和測(cè)試軟件等組建測(cè)試系統(tǒng)，能夠得到理想的測(cè)試結(jié)果。
[0004]測(cè)量寬帶特性材料，傳統(tǒng)方法是組建多套開環(huán)天線電磁特性測(cè)試系統(tǒng)，研制多對(duì)天線，以滿足不同頻段的測(cè)試需要。該方法對(duì)測(cè)試平臺(tái)提出了較高的要求，不僅增加了系統(tǒng)的復(fù)雜程度，而且成本較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對(duì)以上現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供ー種X波段天線材料的跨頻段電磁特性測(cè)量方法及測(cè)量裝置。不僅能在X波段(8.2GHz?12.4GHz)測(cè)量材料電磁特性，還將該天線應(yīng)用于P波段(12.4GHz?18GHz)、！(波段(18GHz?26.5GHz)和R波段(26.5GHz?40GHz)，在8.2GHz?40GHz頻率范圍測(cè)量材料的電磁參數(shù)均獲得較好的測(cè)試結(jié)果。該方法是開環(huán)天線電磁特性測(cè)試系統(tǒng)的創(chuàng)新應(yīng)用，將多套系統(tǒng)簡(jiǎn)化成ー套寬帶測(cè)試系統(tǒng)，有效降低成本。
[0006]本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
[0007]X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量方法，該測(cè)量方法包括如下步驟:
[0008]I)確定X波段天線的ロ面直徑及端ロ特性；
[0009]2)確定X波段到其他波段的漸變波導(dǎo)段；
[0010]3)建立X波段天線電磁特性測(cè)試系統(tǒng)；
[0011]4)通過所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)中的網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行全ニ端ロ校準(zhǔn)；
[0012]5)對(duì)所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行空間校準(zhǔn)；
[0013]6)通過漸變波導(dǎo)對(duì)所述開環(huán)電磁特性測(cè)試系統(tǒng)在P波段、K波段和R波段進(jìn)行電磁特性測(cè)試。
[0014]所述步驟I中的X波段天線的ロ面直徑為30cm,端ロ為標(biāo)準(zhǔn)3cm波導(dǎo)。
[0015]所述步驟2中的漸變波導(dǎo)的駐波比小于1.05，衰減為0.ldB。
[0016]所述步驟3中的電磁特性測(cè)試系統(tǒng)包括:分別連接第一和第二 X波段天線的測(cè)試夾具，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二 X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件連接。[0017]所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)還包括第一和第二 X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二 X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段與第一和第二其他波段的同軸轉(zhuǎn)接器連接。
[0018]X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置，所述電磁特性測(cè)試裝置包括:分別連接第一和第二 X波段天線的測(cè)試夾具，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二 X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件連接。
[0019]該測(cè)量裝置還包括第一和第二 X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段，所述第一和第二X波段天線分別通過第一和第二 X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段與第一和第二其他波段的同軸轉(zhuǎn)接器連接。
[0020]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:
[0021]通過對(duì)測(cè)量裝置和測(cè)量方法的改進(jìn)，將一套X波段開環(huán)材料電磁特性測(cè)量系統(tǒng)拓展應(yīng)用到更多其他頻段，測(cè)量精度不低于本頻段天線開環(huán)測(cè)量系統(tǒng)。該測(cè)量裝置和測(cè)量方法在保證測(cè)量精度的同時(shí)有效簡(jiǎn)化測(cè)量系統(tǒng)，降低成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1:X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)組成；
[0023]圖2:P波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)組成；
[0024]圖3:K波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)組成；
[0025]圖4:R波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)組成。
【具體實(shí)施方式】
[0026]本發(fā)明的第一個(gè)目的是提供一種X波段天線材料的跨頻段電磁特性測(cè)量方法。該測(cè)量方法的具體步驟如下。
[0027]第一步:確定X波段天線的口面直徑及端口特性。該X波段天線為波紋透鏡天線，口面直徑為30cm，端口為標(biāo)準(zhǔn)3cm波導(dǎo)。天線的工作頻段為8.2GHz?12.4GHz，該頻段內(nèi)具有較好的駐波比和方向性指標(biāo)。
[0028]第二步:確定X波段到其他波段的漸變波導(dǎo)段
[0029]X波段到P波段、X波段到K波段、X波段到R波段的漸變波導(dǎo)段具有較好的駐波特性和衰減特性。駐波比全頻段小于1.05，衰減0.ldB。
[0030]第三步:建立X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)
[0031]X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)由一對(duì)X波段天線、X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器、測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試夾具、電纜、網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件組成，測(cè)試系統(tǒng)框圖如圖1所示。X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)要求網(wǎng)絡(luò)分析儀配有時(shí)域選項(xiàng)。X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)的頻率范圍為8.2GHz?12.4GHzO
[0032]第四步:通過所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)對(duì)X波段天線進(jìn)行全二端口校準(zhǔn)
[0033]選用X波段校準(zhǔn)件和對(duì)應(yīng)校準(zhǔn)模型使X波段天線在波導(dǎo)口完成全二端口校準(zhǔn)，按圖1連接系統(tǒng)，調(diào)整兩天線間距離，測(cè)試夾具置于天線中間，共同放置在測(cè)試平臺(tái)上。兩天線間距離選擇滿足遠(yuǎn)場(chǎng)條件以保證測(cè)試夾具位于兩天線的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)域，且被測(cè)材料的尺寸是該處波束寬度的3倍到5倍。設(shè)置頻率范圍、測(cè)量點(diǎn)數(shù)，點(diǎn)數(shù)設(shè)置的原則一般是能夠使整個(gè)系統(tǒng)在時(shí)域的位置包含進(jìn)來。
[0034]第五步:通過所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)對(duì)X波段天線材料進(jìn)行空間校準(zhǔn)
[0035]選用尺寸不小于該處波束寬度5倍，厚度已知的金屬板作為短路板，將其放置在測(cè)試夾具處，進(jìn)行空間反射校準(zhǔn)，移除短路板進(jìn)行空間直通校準(zhǔn)。根據(jù)短路板在時(shí)域上的峰值位置確定測(cè)試夾具位置，設(shè)置時(shí)域門寬度將該位置取出。將被測(cè)材料放在測(cè)試夾具上，通過時(shí)域門獲得被測(cè)材料的S參數(shù)，結(jié)合被測(cè)材料厚度推算其電磁參數(shù)。
[0036]本發(fā)明的測(cè)試方法還能夠?qū)崿F(xiàn)X波段天線在P波段、K波段和R波段的電磁特性測(cè)試。
[0037]A.X波段天線在P波段的測(cè)試
[0038]P波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)由ー對(duì)X波段天線、ー對(duì)X波段到P波段漸變波導(dǎo)段、P波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器、測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試夾具、電纜、網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件組成，測(cè)試系統(tǒng)框圖如圖2所示。P波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)要求網(wǎng)絡(luò)分析儀配有時(shí)域選項(xiàng)。相比較X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)，増加了ー對(duì)X波段到P波段漸變波導(dǎo)段，將X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器替換為P波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器。
[0039]P波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)的頻率范圍為12.4GHz?18GHz。具體設(shè)置要求、校準(zhǔn)原理和測(cè)試過程同X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)。
[0040]B.X波段天線在K波段的測(cè)試
[0041]K波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)由ー對(duì)X波段天線、ー對(duì)X波段到K波段漸變波導(dǎo)段、K波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器、測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試夾具、電纜、網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件組成，測(cè)試系統(tǒng)框圖如圖3所示。K波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)要求網(wǎng)絡(luò)分析儀配有時(shí)域選項(xiàng)。相比較X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)，増加了ー對(duì)X波段到K波段漸變波導(dǎo)段，將X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器替換為K波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器。
[0042]K波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)的頻率范圍為18GHz?26.5GHz。具體設(shè)置要求、校準(zhǔn)原理和測(cè)試過程同X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)。
[0043]C.X波段天線在R波段的測(cè)試
[0044]R波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)由ー對(duì)X波段天線、ー對(duì)X波段到R波段漸變波導(dǎo)段、R波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器、測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試夾具、電纜、網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件組成，測(cè)試系統(tǒng)框圖如圖4所示。R波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)要求網(wǎng)絡(luò)分析儀配有時(shí)域選項(xiàng)。相比較X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)，増加了ー對(duì)X波段到R波段漸變波導(dǎo)段，將X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器替換為R波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器。
[0045]R波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)的頻率范圍為26.5GHz?40GHz。具體設(shè)置要求、校準(zhǔn)原理和測(cè)試過程同X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)。
[0046]本發(fā)明的另一目的還提供ー種X波段天線材料的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置，該電磁特性測(cè)試裝置包括:分別連接第一和第二 X波段天線的測(cè)試夾具，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二 X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件連接。如圖1所示為X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
[0047]下面舉例說明X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)具體實(shí)施步驟。設(shè)計(jì)ー對(duì)X波段波紋透鏡天線，在8.2GHz?12.4GHz頻率范圍駐波比小于1.57，IOGHz時(shí)3dB波束寬度為8.9度，IOdB波束寬度為13.5度，主瓣與第一旁瓣幅度差36dB。按圖1組建系統(tǒng)，調(diào)整兩天線間距離為1.2m，測(cè)試夾具置于天線中間，共同放置在測(cè)試平臺(tái)上。啟動(dòng)測(cè)試軟件，設(shè)置測(cè)試頻率為8.2GHz?12.4GHz,點(diǎn)數(shù)為51。首先在波導(dǎo)口采用SOLT方法完成全二端口校準(zhǔn),然后將短路板(500mmX500mmX2mm)放置于測(cè)試夾具位置,設(shè)置時(shí)域?qū)挾葹?.5ns?3ns，時(shí)域門寬度為1ns，時(shí)域門形狀為Min，輸入短路板厚度，進(jìn)行空間反射校準(zhǔn)；移除短路板，進(jìn)行空間直通校準(zhǔn)。將被測(cè)材料放置在測(cè)試夾具上，通過S參數(shù)及材料厚度計(jì)算得到被測(cè)材料的電磁參數(shù)。采用該系統(tǒng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣片聚四氟乙烯(200mmX240mmX5.3mm)得到介電常數(shù)結(jié)果為1.94?2.05，與參考文獻(xiàn)給出的聚四氟乙烯的標(biāo)準(zhǔn)值符合較好。
[0048]P波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)具體實(shí)施步驟:采用X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)中的一對(duì)X波段波紋透鏡天線,其在12.4GHz?18GHz頻率范圍駐波比小于1.5，15GHz時(shí)3dB波束寬度為5.8度，IOdB波束寬度為10.4度，主瓣與第一旁瓣幅度差31dB。按圖2組建系統(tǒng)，調(diào)整兩天線間距離為1.7m，測(cè)試夾具置于天線中間，共同放置在測(cè)試平臺(tái)上。啟動(dòng)測(cè)試軟件，設(shè)置測(cè)試頻率為12.4GHz?18GHz，點(diǎn)數(shù)為201。首先在波導(dǎo)口采用SOLT方法完成全二端口校準(zhǔn)，然后將短路板(500mmX500mmX2mm)放置于測(cè)試夾具位置，設(shè)置時(shí)域?qū)挾葹?.9ns?4.5ns,時(shí)域門寬度為Ins,時(shí)域門形狀為Min,輸入短路板厚度，進(jìn)行空間反射校準(zhǔn)；移除短路板，進(jìn)行空間直通校準(zhǔn)。將被測(cè)材料放置在測(cè)試夾具上，通過S參數(shù)及材料厚度計(jì)算得到被測(cè)材料的電磁參數(shù)。采用該系統(tǒng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣片聚四氟乙烯(200mmX240mmX5.3mm)得到介電常數(shù)結(jié)果為1.90-2.10，與參考文獻(xiàn)給出的聚四氟乙烯的標(biāo)準(zhǔn)值符合較好。
[0049]K波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)具體實(shí)施步驟:采用X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)中的一對(duì)X波段波紋透鏡天線，其在18GHZ?26.5GHz頻率范圍駐波比小于1.13，22GHz時(shí)3dB波束寬度為3.7度，IOdB波束寬度為7度，主瓣與第一旁瓣幅度差30dB。按圖3組建系統(tǒng)，調(diào)整兩天線間距離為1.7m，測(cè)試夾具置于天線中間，共同放置在測(cè)試平臺(tái)上。啟動(dòng)測(cè)試軟件，設(shè)置測(cè)試頻率為18GHz?26.5GHz，點(diǎn)數(shù)為201。首先在波導(dǎo)口采用SOLT方法完成全二端口校準(zhǔn)，然后將短路板(500mmX500mmX2mm)放置于測(cè)試夾具位置，設(shè)置時(shí)域?qū)挾葹?.9ns?5ns,時(shí)域門寬度為Ins,時(shí)域門形狀為Min,輸入短路板厚度，進(jìn)行空間反射校準(zhǔn)；移除短路板，進(jìn)行空間直通校準(zhǔn)。將被測(cè)材料放置在測(cè)試夾具上，通過S參數(shù)及材料厚度計(jì)算得到被測(cè)材料的電磁參數(shù)。采用該系統(tǒng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣片聚四氟乙烯(200mmX240mmX5.3mm)得到介電常數(shù)結(jié)果為1.90-2.10，與參考文獻(xiàn)給出的聚四氟乙烯的標(biāo)準(zhǔn)值符合較好。
[0050]R波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)具體實(shí)施步驟:采用X波段開環(huán)天線材料電磁特性測(cè)試系統(tǒng)中的一對(duì)X波段波紋透鏡天線，其在26.5GHz?40GHz頻率范圍駐波比小于1.5，15GHz時(shí)3dB波束寬度為4度，IOdB波束寬度為6度，主瓣與第一旁瓣幅度差20dB。按圖4組建系統(tǒng)，調(diào)整兩天線間距離為1.7m，測(cè)試夾具置于天線中間，共同放置在測(cè)試平臺(tái)上。啟動(dòng)測(cè)試軟件，設(shè)置測(cè)試頻率為26.5GHz?40GHz，點(diǎn)數(shù)為401。首先在波導(dǎo)口采用SOLT方法完成全二端口校準(zhǔn)，然后將短路板(500mmX500mmX2mm)放置于測(cè)試夾具位置，設(shè)置時(shí)域?qū)挾葹?.2ns?5ns,時(shí)域門寬度為Ins,時(shí)域門形狀為Min,輸入短路板厚度，進(jìn)行空間反射校準(zhǔn)；移除短路板，進(jìn)行空間直通校準(zhǔn)。將被測(cè)材料放置在測(cè)試夾具上，通過S參數(shù)及材料厚度計(jì)算得到被測(cè)材料的電磁參數(shù)。采用該系統(tǒng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣片聚四氟こ烯(200mmX240mmX5.3mm)得到介電常數(shù)結(jié)果為1.90-2.10，與參考文獻(xiàn)給出的聚四氟こ烯的標(biāo)準(zhǔn)值符合較好。
[0051]應(yīng)當(dāng)理解，以上借助優(yōu)選實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行的詳細(xì)說明是示意性的而非限制性的。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在閱讀本發(fā)明說明書的基礎(chǔ)上可以對(duì)各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
【權(quán)利要求】
1.X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量方法，其特征在于，該測(cè)量方法包括如下步驟: 1)確定X波段天線的口面直徑及端口特性； 2)確定X波段到其他波段的漸變波導(dǎo)段； 3)建立X波段天線電磁特性測(cè)試系統(tǒng)； 4)通過所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)中的網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行全二端口校準(zhǔn)； 5)對(duì)所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行空間校準(zhǔn)； 6)通過漸變波導(dǎo)對(duì)所述開環(huán)電磁特性測(cè)試系統(tǒng)在P波段、K波段和R波段進(jìn)行電磁特性測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量方法，其特征在于，所述步驟I中的X波段天線的口面直徑為30cm，端口為標(biāo)準(zhǔn)3cm波導(dǎo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量方法，其特征在于，所述步驟2中的漸變波導(dǎo)的駐波比小于1.05，衰減為0.ldB。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量方法，其特征在于，所述步驟3中的電磁特性測(cè)試系統(tǒng)包括:分別連接第一和第二X波段天線的測(cè)試夾具，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二 X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量方法，其特征在于，所述電磁特性測(cè)試系統(tǒng)還包括第一和第二 X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段與第一和第二其他波段的同軸轉(zhuǎn)接器連接。
6.X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置，其特征在于，所述電磁特性測(cè)試裝置包括:分別連接第一和第二 X波段天線的測(cè)試夾具，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二 X波段波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網(wǎng)絡(luò)分析儀及校準(zhǔn)件連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測(cè)量裝置，其特征在于，該測(cè)量裝置還包括第一和第二 X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段，所述第一和第二 X波段天線分別通過第一和第二X波段至其他波段的漸變波導(dǎo)段與第一和第二其他波段的同軸轉(zhuǎn)接器連接。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK103605033SQ201310631717
【公開日】2014年2月26日 申請(qǐng)日期:2013年11月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月29日
【發(fā)明者】張娜, 張國華, 劉杰, 成俊杰, 高春彥, 陳婷 申請(qǐng)人:北京無線電計(jì)量測(cè)試研究所