一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法和裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的處理方法和裝置，屬于供電【技術(shù)領(lǐng)域】，所述方法包括：采集電能質(zhì)量參數(shù)，根據(jù)所述電能質(zhì)量參數(shù)獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時(shí)刻采集的電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質(zhì)量參數(shù)在不同時(shí)刻采集的數(shù)據(jù)構(gòu)成；根據(jù)擾動(dòng)事件波形典型異常庫所存儲(chǔ)的電能質(zhì)量參數(shù)判斷所述矩陣M是否為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)，將所述異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)剔除；利用剔除后的電能質(zhì)量參數(shù)對(duì)電能質(zhì)量進(jìn)行分析。應(yīng)用本發(fā)明，可以有效降低電能異常質(zhì)量數(shù)據(jù)的影響，提高獲取電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
【專利說明】ー種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法和裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及供電【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及ー種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]電能質(zhì)量(Power Quality)從普遍意義上講是指優(yōu)質(zhì)供電,包括電壓質(zhì)量、電流質(zhì)量、供電質(zhì)量和用電質(zhì)量。其可以定義為:導(dǎo)致用戶設(shè)備故障或不能正常工作的電壓、電流或頻率的偏差，其內(nèi)容包括頻率偏差、電壓偏差、電壓波動(dòng)與閃變、三相不平衡、暫時(shí)或瞬態(tài)過電壓、波形畸變、電壓暫降、中斷、暫升以及供電連續(xù)性等。
[0003]近年來，隨著中國(guó)的エ業(yè)化和電カ電子技術(shù)的發(fā)展，越來越多的非線性、沖擊性負(fù)荷投入電網(wǎng)使得供電系統(tǒng)電能質(zhì)量問題愈加嚴(yán)重，與此同時(shí)，微處理控制器、自動(dòng)化生產(chǎn)線、精密制造等對(duì)電能質(zhì)量敏感的用戶也在不斷増加，電能質(zhì)量問題成為供電【技術(shù)領(lǐng)域】的ー個(gè)重要研究方向。
[0004]一般來說，解決電能質(zhì)量問題包括三個(gè)步驟:1.獲取電能質(zhì)量數(shù)據(jù)；2.對(duì)電能質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行深度分析和電能質(zhì)量評(píng)估；3.依據(jù)電能質(zhì)量評(píng)估結(jié)果有針對(duì)性地解決存在的電能質(zhì)量問題。
[0005]在解決電能質(zhì)量問題的過程中電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性極其重要。當(dāng)電網(wǎng)發(fā)生暫態(tài)事件或者設(shè)備異常時(shí)，采集電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的監(jiān)測(cè)設(shè)備會(huì)采集到與實(shí)際明顯不符的數(shù)據(jù)，稱為異常數(shù)據(jù)。若電能質(zhì)量數(shù)據(jù)中有異常數(shù)據(jù)，則依據(jù)其分析和評(píng)估的結(jié)果不能準(zhǔn)確反映電網(wǎng)中實(shí)際存在的電能質(zhì)量問題，進(jìn)而導(dǎo)致依據(jù)其分析和評(píng)估結(jié)果無法有效解決存在的電能質(zhì)量問題。
[0006]因此，需要本領(lǐng)域技術(shù)人員迫切解決的問題是如何降低電能異常質(zhì)量數(shù)據(jù)的影響，提高獲取電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，以便有效解決存在的電能質(zhì)量問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法和裝置，能夠降低電能異常質(zhì)量數(shù)據(jù)的影響，提高獲取電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。所述技術(shù)方案如下:
[0008]第一方面，提供了一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法，所述方法包括:
[0009]采集電能質(zhì)量參數(shù)，
[0010]根據(jù)所述電能質(zhì)量參數(shù)獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時(shí)刻采集的電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質(zhì)量參數(shù)在不同時(shí)刻采集的數(shù)據(jù)構(gòu)成；
[0011]根據(jù)擾動(dòng)事件波形典型異常庫所存儲(chǔ)的電能質(zhì)量參數(shù)判斷所述矩陣M是否為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)，
[0012]將所述異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)剔除；
[0013]利用剔除后的電能質(zhì)量參數(shù)第電能質(zhì)量進(jìn)行分析。[0014]本發(fā)明還提供一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理裝置，所述裝置包括:
[0015]采集單元，用于采集電能質(zhì)量參數(shù)；
[0016]第一獲取單元，用于根據(jù)所述電能質(zhì)量參數(shù)獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時(shí)刻采集的電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質(zhì)量參數(shù)在不同時(shí)刻采集的數(shù)據(jù)構(gòu)成；
[0017]第一判斷単元，用于根據(jù)擾動(dòng)事件波形典型異常庫所存儲(chǔ)的電能質(zhì)量參數(shù)判斷所述第一獲取單元獲取的矩陣M是否為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)，
[0018]處理模塊，用于將所述異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)剔除以及利用剔除后的電能質(zhì)量參數(shù)第電能質(zhì)量進(jìn)行分析。
[0019]本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:
[0020]通過把監(jiān)測(cè)設(shè)備采集的電能質(zhì)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為矩陣，使電能質(zhì)量數(shù)據(jù)條理清晰，不易混淆，便于分析人員處理。由于矩陣是計(jì)算機(jī)處理大規(guī)模數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)，因此將監(jiān)測(cè)設(shè)備采集的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成矩陣M也便于計(jì)算機(jī)讀取和處理。進(jìn)ー步地，通過舍棄判定為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)的矩陣M，可以有效清除所采集的電能質(zhì)量數(shù)據(jù)中的異常數(shù)據(jù)，大幅提高電網(wǎng)電能質(zhì)量分析的準(zhǔn)確性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0022]圖1是本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法流程圖；
[0023]圖2是本發(fā)明實(shí)施例ニ提供的一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法流程圖；
[0024]圖3是本發(fā)明實(shí)施例ニ提供的從擾動(dòng)事件波形典型異常庫中提取的典型異常擾動(dòng)事件波形；
[0025]圖4是本發(fā)明實(shí)施例ニ提供的通過典型異常擾動(dòng)事件波形獲取的特征波形。
[0026]圖5是本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)ー步地詳細(xì)描述。
[0028]實(shí)施例一
[0029]本實(shí)施例提供了一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法，參見圖1，本實(shí)施例提供的方法流程具體如下:
[0030]S101，采集電能質(zhì)量參數(shù)。
[0031]S102，根據(jù)所述電能質(zhì)量參數(shù)獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時(shí)刻采集的電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質(zhì)量參數(shù)在不同時(shí)刻采集的數(shù)據(jù)構(gòu)成。
[0032]按照電能質(zhì)量國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及IEC (International Electrotechnical Commission,國(guó)際電エ委員會(huì))、IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers,電氣和電子工程師協(xié)會(huì))相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，電網(wǎng)電能質(zhì)量數(shù)據(jù)主要包括電壓偏差、頻率偏差、諧波、間諧波、電壓三相不平衡度、閃變等幾項(xiàng)電能質(zhì)量參數(shù)指標(biāo)，同時(shí)為了全面分析電能質(zhì)量，還會(huì)在監(jiān)測(cè)時(shí)將電流、功率、功率因數(shù)等參數(shù)也ー并記錄。
[0033]監(jiān)測(cè)設(shè)備同時(shí)采集多個(gè)電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)，連續(xù)采集若干次，即獲得多個(gè)電能質(zhì)量參數(shù)的穩(wěn)態(tài)序列。所述多個(gè)穩(wěn)態(tài)序列中序號(hào)相同的數(shù)據(jù)是同時(shí)采集的。
[0034]數(shù)據(jù)處理人員或設(shè)備會(huì)將獲得的多個(gè)電能質(zhì)量參數(shù)的穩(wěn)態(tài)序列組成ー個(gè)矩陣M。所述矩陣M的行對(duì)應(yīng)ー種電能質(zhì)量參數(shù)，行元素是監(jiān)測(cè)設(shè)備在不同時(shí)刻采集的ー種電能質(zhì)量參數(shù)數(shù)據(jù)；所述矩陣M的列對(duì)應(yīng)監(jiān)測(cè)設(shè)備采集數(shù)據(jù)的時(shí)刻，列元素是監(jiān)測(cè)設(shè)備在同一時(shí)刻采集的多種電能質(zhì)量參數(shù)數(shù)據(jù)。
[0035]S103，根據(jù)擾動(dòng)事件波形典型異常庫所存儲(chǔ)的電能質(zhì)量參數(shù)判斷所述矩陣M是否為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)。
[0036]在本發(fā)明實(shí)施例中，通過對(duì)比所述M矩陣和預(yù)置的典型異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)判斷所述矩陣M是否為擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)。具體地，擾動(dòng)事件波形典型異常庫中預(yù)先存放著各種典型異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)，采用基于S變換的方法對(duì)矩陣M和擾動(dòng)事件波形典型異常庫中典型異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，得到相似度。然后判斷所述相似度是否超出合理的范圍，若是，則認(rèn)為所述矩陣M也屬于異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)并舍棄所述矩陣M。
[0037]S104，將所述異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)剔除。對(duì)于判斷為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)的矩陣M，將其舍棄。
[0038]特別地，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以多次重復(fù)執(zhí)行S102、S103、S104，實(shí)現(xiàn)剔除更多的異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)。
[0039]S105，利用剔除后的電能質(zhì)量參數(shù)對(duì)電能質(zhì)量進(jìn)行分析。
[0040]本實(shí)施例提供了一種有效處理電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的方法。通過把監(jiān)測(cè)設(shè)備采集的電能質(zhì)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為矩陣，使電能質(zhì)量數(shù)據(jù)條理清晰，不易混淆，便于分析人員處理。由于矩陣是計(jì)算機(jī)處理大規(guī)模數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)，因此將監(jiān)測(cè)設(shè)備采集的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成矩陣M也便于計(jì)算機(jī)讀取和處理。進(jìn)ー步地，通過舍棄判定為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)的矩陣M，可以有效清除所采集的電能質(zhì)量數(shù)據(jù)中的異常數(shù)據(jù)，大幅提高電網(wǎng)電能質(zhì)量分析的準(zhǔn)確性。
[0041]實(shí)施例ニ
[0042]本實(shí)施例提供了一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法，參見圖2，本實(shí)施例提供的方法流程具體如下:
[0043]S201,采集電能質(zhì)量參數(shù)。
[0044]S202，根據(jù)所述電能質(zhì)量參數(shù)取得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時(shí)刻采集的電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質(zhì)量參數(shù)在不同時(shí)刻采集的數(shù)據(jù)構(gòu)成。
[0045]S203，剔除所述矩陣M中的異常最值數(shù)據(jù)。
[0046]最值數(shù)據(jù)是指矩陣M行元素中的最大值和最小值。正常的電能質(zhì)量數(shù)據(jù)應(yīng)該處在ー個(gè)合理的范圍內(nèi)，超出合理范圍的數(shù)據(jù)就屬于范圍異常數(shù)據(jù)。一般地，最大值、最小值超出合理范圍的機(jī)率最大，因此成為初步篩選和剔除對(duì)象。
[0047]剔除矩陣M中的異常最值數(shù)據(jù)，具體包括:[0048]獲取所述矩陣M每一行對(duì)應(yīng)的第一系數(shù)和第二系數(shù)；
[0049]計(jì)算所述矩陣M每一行的最大值元素、最小值元素和平均值；
[0050]依次判斷所述矩陣M每一行的最大值元素是否大于當(dāng)前行平均值和對(duì)應(yīng)第一系數(shù)的乘積，
[0051]若是，則刪除所述最大值元素所在的列；
[0052]依次判斷所述矩陣M每一行最小值元素是否小于當(dāng)前行平均值和對(duì)應(yīng)第二系數(shù)的乘積，
[0053]若是，則刪除所述最小值元素所在的列。
[0054]其中，所述第一系數(shù)和第二系數(shù)的作用是對(duì)最值數(shù)據(jù)合理取值范圍的大小進(jìn)行調(diào)整，使分析人員可以根據(jù)當(dāng)前電網(wǎng)的實(shí)際狀況篩選異常最值數(shù)據(jù)；所述第一系數(shù)和第二系數(shù)的值可由本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)當(dāng)前電網(wǎng)的實(shí)際狀況結(jié)合經(jīng)驗(yàn)給出，其取值范圍一般在0到10之間，例如第一系數(shù)等于2，第二系數(shù)等于0.5。
[0055]所述矩陣M中的最大值、最小值通常由電網(wǎng)負(fù)載過大引起，若最大值和/或最小值超出合理范圍，例如，若所述最大值大于當(dāng)前行平均值與第一系數(shù)乘積，則說明對(duì)應(yīng)時(shí)刻電網(wǎng)的負(fù)載超出了正常范圍，該時(shí)刻采集的電能質(zhì)量數(shù)據(jù)屬于異常數(shù)據(jù)，不能作為電能質(zhì)量問題的分析依據(jù)。本步驟通過刪除超出合理范圍的最大值和/或最小值所在的列，可以有效剔除因電網(wǎng)負(fù)載過大而產(chǎn)生的異常電能質(zhì)量數(shù)據(jù)。
[0056]可選地，本實(shí)施例提供的處理方法還可以包括:
[0057]S204，判斷所述矩陣M是否異常，若是則舍棄所述矩陣M返回S202，若否則執(zhí)行下一步。
[0058]正常情況下，電能質(zhì)量參數(shù)的值應(yīng)該是小幅波動(dòng)得，若波動(dòng)程度超過合理的范圍，則認(rèn)為該電能質(zhì)量參數(shù)數(shù)據(jù)異常。對(duì)矩陣M而言，若某一行元素的波動(dòng)程度超過合理的范圍，則認(rèn)為所述矩陣M異常，返回SlOl重新獲取新的矩陣M，若矩陣M全部行序列的波動(dòng)程度都在合理的范圍內(nèi)，則執(zhí)行下一歩。
[0059]判斷所述矩陣M是否異常，具體包括:
[0060]獲取所述矩陣M每一行對(duì)應(yīng)的第三系數(shù)；
[0061]計(jì)算所述矩陣M每一行的標(biāo)準(zhǔn)差和平均值；
[0062]依次判斷所述矩陣M每一行的標(biāo)準(zhǔn)差是否大于當(dāng)前行的平均值和對(duì)應(yīng)第三系數(shù)的乘積，若是，則所述矩陣M異常。
[0063]其中，所述第三系數(shù)的作用是對(duì)判定所述矩陣M是否異常的條件進(jìn)行調(diào)整，其值可由本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)當(dāng)前電網(wǎng)的實(shí)際狀況結(jié)合經(jīng)驗(yàn)給出。
[0064]在統(tǒng)計(jì)學(xué)中，標(biāo)準(zhǔn)差與平均值的差通常用來表示抽樣的離散程度，若標(biāo)準(zhǔn)差與平均值的差超出一定的范圍，則可以認(rèn)為抽樣樣本無效。對(duì)所述矩陣M而言，若所述矩陣M某一行的標(biāo)準(zhǔn)差大于當(dāng)前行的平均值和對(duì)應(yīng)第三系數(shù)的乘積，就可以認(rèn)為本次電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的采集屬于無效抽樣，所述矩陣M異常，應(yīng)該被舍棄。本步驟通過標(biāo)準(zhǔn)差和平均值判斷所述矩陣是否異常，如果異常則舍棄所述矩陣M，可以有效刪除因無效抽樣產(chǎn)生的異常數(shù)據(jù)。
[0065]可選地，本實(shí)施例提供的處理方法還可以包括:
[0066]S205，剔除所述矩陣M中的變化率異常數(shù)據(jù)，具體包括:
[0067]計(jì)算所述矩陣M中每個(gè)元素相對(duì)于該元素所在行的相鄰元素的變化率r，所述變化率
【權(quán)利要求】
1.一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，所述方法包括: 采集電能質(zhì)量參數(shù)， 根據(jù)所述電能質(zhì)量參數(shù)獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時(shí)刻采集的電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質(zhì)量參數(shù)在不同時(shí)刻采集的數(shù)據(jù)構(gòu)成；根據(jù)擾動(dòng)事件波形典型異常庫所存儲(chǔ)的電能質(zhì)量參數(shù)判斷所述矩陣M是否為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)， 將所述異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)剔除； 利用剔除后的電能質(zhì)量參數(shù)對(duì)電能質(zhì)量進(jìn)行分析。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述判斷所述矩陣M是否為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)，具體包括: 從擾動(dòng)事件波形典型異常庫中獲取特征矩陣D，所述特征矩陣D與所述矩陣M的行數(shù)和列數(shù)相同；

計(jì)算所述矩陣M與所述特征矩陣D的相似度S，所述相似度
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述判斷所述相似度S是否大于相似度限值，若是，則所述矩陣M是異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)之后，還包括: 將所述矩陣M放入擾動(dòng)事件波形典型異常庫。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟A和步驟B之間還包括: 獲取所述矩陣M每一行對(duì)應(yīng)的第一系數(shù)和第二系數(shù)； 計(jì)算所述矩陣M每一行的最大值元素、最小值元素和平均值； 依次判斷所述矩陣M每一行的最大值元素是否大于當(dāng)前行平均值和對(duì)應(yīng)第一系數(shù)的乘積， 若是，則刪除所述最大值元素所在的列； 依次判斷所述矩陣M每一行最小值元素是否小于當(dāng)前行平均值和對(duì)應(yīng)第二系數(shù)的乘積， 若是，則刪除所述最小值元素所在的列。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟A和步驟B之間還包括: 若所述矩陣M中第i行對(duì)應(yīng)的電能質(zhì)量參數(shù)P與其他t行對(duì)應(yīng)的電能質(zhì)量參數(shù)Q通過公式 F關(guān)聯(lián)，即 P = f(Ql，Q2，...Qt)，則: 獲取所述第i行對(duì)應(yīng)的第七系數(shù)；針對(duì)所述M矩陣中第i行，依次計(jì)算該行第j列元素Mi,j的校驗(yàn)數(shù)據(jù)M*i,j M*i,j=f(Q1j,Q2j,...,Qtj)，其中Qtj為所述其他t行的第j列元素；其中，t是大于O且小于n的整數(shù)； 計(jì)算Mi.j與M*i.j的差的絕對(duì)值X ; 判斷所述絕對(duì)值X是否大于所述第七系數(shù)，若是，則刪除所述第j列。
6.一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)處理裝置，其特征在于，所述裝置包括: 采集單元，用于采集電能質(zhì)量參數(shù)； 第一獲取單元，用于根據(jù)所述電能質(zhì)量參數(shù)獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時(shí)刻采集的電能質(zhì)量參數(shù)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質(zhì)量參數(shù)在不同時(shí)刻采集的數(shù)據(jù)構(gòu)成； 第一判斷単元，用于根據(jù)擾動(dòng)事件波形典型異常庫所存儲(chǔ)的電能質(zhì)量參數(shù)判斷所述第一獲取單元獲取的矩陣M是否為異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)， 處理模塊，用于將所述異常擾動(dòng)事件波形數(shù)據(jù)剔除，以及利用剔除后的電能質(zhì)量參數(shù)第電能質(zhì)量進(jìn)行分析。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第一判斷単元，具體還用于: 從擾動(dòng)事件波形典型異常庫中獲取特征矩陣D，所述特征矩陣D與所述矩陣M的行數(shù)和列數(shù)相同； 計(jì)算所述第一獲取單元獲取的矩陣M與所述特征矩陣D的相似度S，所述相似度
8.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第一判斷単元還用于: 將判斷為擾動(dòng)時(shí)間波形數(shù)據(jù)的矩陣M放入擾動(dòng)事件波形典型異常庫。
9.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 第二獲取單元，用于獲取所述第一獲取單元獲取的矩陣M每一行對(duì)應(yīng)的第一系數(shù)和第二系數(shù)； 第一計(jì)算單元，用于計(jì)算所述第一獲取單元獲取的矩陣M每一行的最大值元素、最小值元素和平均值； 第二判斷単元，用于依次判斷所述第一單元獲取的矩陣M每一行的最大值元素是否大于當(dāng)前行平均值和對(duì)應(yīng)第一系數(shù)的乘積， 若是，則刪除所述最大值元素所在的列； 第三判斷単元，用于依次判斷所述第一單元獲取的矩陣M每一行最小值元素是否小于當(dāng)前行平均值和對(duì)應(yīng)第二系數(shù)的乘積， 若是，則刪除所述最小值元素所在的列。
10.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:第三獲取單元，用于獲取所述第一獲取單元獲取的矩陣M每一行對(duì)應(yīng)的第三系數(shù)；第二計(jì)算單元，用于計(jì)算所述第一獲取單元獲取的矩陣M每一行的標(biāo)準(zhǔn)差和平均值；第四判斷単元，用于依次判斷所述第一獲取單元獲取的矩陣M每一行的標(biāo)準(zhǔn)差是否大于所述第二計(jì)算單元計(jì)算的當(dāng)前行的平均值和所述第三獲取單元獲取的對(duì)應(yīng)第三系數(shù)的乘積，若大于， 則舍棄所述矩陣M并通過第一獲取單元重新獲取矩陣M。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK103605016SQ201310530458
【公開日】2014年2月26日 申請(qǐng)日期:2013年10月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月30日
【發(fā)明者】周剛, 梅桂華, 謝善益, 常夏勤, 趙云峰, 曾強(qiáng), 李玎, 翟瑞聰, 楊強(qiáng), 馬明 申請(qǐng)人:廣東電網(wǎng)公司電力科學(xué)研究院, 南京南瑞繼保工程技術(shù)有限公司