一種電容屏功能片智能測試的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種電容屏功能片智能測試機(jī)，其包括機(jī)殼、控制模塊，機(jī)殼上安裝有測試基臺和測試組件；測試基臺滑動連接安裝于機(jī)殼上，控制模塊控制測試基臺在機(jī)殼上的滑動；測試基臺上設(shè)連接有抽真空裝置的真空吸氣孔；控制模塊控制抽真空裝置的運(yùn)行，以定位待測功能片；測試組件包括滑竿和測試押頭，測試押頭可沿滑竿上下滑動；測試押頭的頂端設(shè)有探針以及紅外測距模塊；紅外測距模塊的輸出端連接控制模塊；控制模塊控制測試押頭的升降，探針隨測試押頭的升降在測試基臺上方升降。本發(fā)明可對功能片進(jìn)行有效定位，并能夠自動控制探針的測試行程，以實(shí)現(xiàn)智能的對定位后的功能片進(jìn)行測試，測試效率高，且測試押頭和探針的損壞幾率大大降低。
【專利說明】一種電容屏功能片智能測試機(jī)【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及觸摸屏性能測試【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是一種電容屏功能片智能測試機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]電容式觸摸屏相對于電阻式觸摸屏具有支持多點(diǎn)觸控、觸摸靈敏度高和耐磨等優(yōu)點(diǎn)，逐漸成為手機(jī)市場乃至觸摸屏市場的主流產(chǎn)品。
[0003]在電容屏生產(chǎn)過程中，需要對電容屏功能片(sensor)的開、短路進(jìn)行測試，即對其ITO導(dǎo)通率作測試，主要依靠測試機(jī)上的頂針與電容屏功能片的焊盤區(qū)域的金手指接觸，主板芯片程序返回電容屏功能片的開、短路信號，顯示于電腦上。然而現(xiàn)在大多數(shù)功能片測試機(jī)都需要手工操作，不能實(shí)現(xiàn)智能化，功能片定位難，押頭及頂針易損壞，測試繁瑣費(fèi)時，產(chǎn)品生產(chǎn)效率很低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種電容屏功能片智能測試機(jī)，其能夠定位電容屏功能片，并自動控制測試押頭及探針的測試行程，以對定位后的功能片進(jìn)行測試，測試效率高，且測試押頭和探針的損壞幾率大大降低。[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案為:一種電容屏功能片智能測試機(jī)，包括機(jī)殼，機(jī)殼內(nèi)設(shè)有控制模塊，機(jī)殼上安裝有測試基臺和測試組件；
測試基臺滑動連接安裝于機(jī)殼上，控制模塊控制測試基臺在機(jī)殼上的滑動；
測試基臺上設(shè)有一個以上真空吸氣孔；真空吸氣孔連接有抽真空裝置；控制模塊控制抽真空裝置的運(yùn)行，以使得真空吸氣孔吸緊上方功能片；
測試組件包括滑竿和測試押頭，測試押頭可沿滑竿上下滑動；測試押頭的頂端設(shè)有探針以及可將紅外線照射于測試基臺上的紅外測距模塊；紅外測距模塊的輸出端連接控制模塊；
控制模塊控制測試押頭的升降，探針隨測試押頭的升降在測試基臺上方升降。
[0006]在應(yīng)用時，功能片覆蓋于真空吸氣孔上，抽真空裝置運(yùn)行，功能片即被真空吸氣孔吸??；然后控制模塊控制測試押頭的下降，紅外測距模塊中的紅外線照射于功能片上經(jīng)反射輸出信號至控制模塊，可實(shí)時測得探針與功能片之間的距離變化?？刂颇K根據(jù)此距離變化繼續(xù)控制測試押頭的下降，直至探針與功能片之間的距離為零，則控制模塊控制測試押頭停止下降，即可開始進(jìn)行正常的探針測量。在此過程中，可保證測試押頭不會因過度下壓而導(dǎo)致探針的損壞。當(dāng)測試完畢，則控制模塊控制測試押頭帶動探針上升，等待下一次測試。
[0007]為了方便觸摸屏功能片的目測定位，測試基臺表面還設(shè)有定位線。在測試時可將觸摸屏功能塊靠定位線放置，進(jìn)一步保證探針的測試點(diǎn)準(zhǔn)確無誤，減少多個功能片測試時，調(diào)整功能片位置的時間，提高測試效率。
[0008]控制模塊包括押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)和控制器，控制器控制押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)的運(yùn)行，從而帶動測試押頭沿滑竿上下滑動。押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)可為氣缸等現(xiàn)有技術(shù)?？刂破骺刹捎矛F(xiàn)有的控制芯片配合繼電器等執(zhí)行機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)對押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)的運(yùn)行控制。
[0009]測試基臺上設(shè)有2個測試區(qū)，2個測試區(qū)隨測試基臺在機(jī)殼上的滑動，可交替位于探針下方。在利用一個測試區(qū)進(jìn)行功能片探針測試時，可同時在另一測試區(qū)放置新的待測功能片，待前一測試區(qū)的功能片測試完畢，直接控制測試基臺滑動，至另一測試區(qū)位于探針下方，繼續(xù)進(jìn)行測試，測試效率較高。
[0010]測試基臺上還設(shè)有橫向微調(diào)旋鈕和縱向微調(diào)旋鈕，以分別控制測試基臺在機(jī)殼上的橫向和縱向移動。測試基臺在機(jī)殼上的滑動可利用現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)，如滑軌配合氣缸、絲桿配合電機(jī)等方式。微動旋鈕也可利用現(xiàn)有技術(shù)，實(shí)現(xiàn)測試基臺在橫向和縱向的微距調(diào)節(jié)。
[0011]紅外測距模塊包括紅外光源和紅外接收器，控制模塊控制紅外接收器發(fā)出紅外線，紅外接收器的輸出端連接控制模塊。紅外測距模塊可采用現(xiàn)有技術(shù)。紅外光源與探針位于同一高度，當(dāng)紅外線照射于功能片時即反射，使得紅外接收器接收反射光，從而確定當(dāng)前被測功能片與探針之間的距離。
[0012]本發(fā)明的有益效果為:測試基臺通過真空吸氣孔可保證被測功能片在整個測試過程中不會移動；紅外測距模塊能夠?qū)崟r測得探針與待測功能片之間的距離，從而由控制器控制探針隨測試押頭的升降，保證探針在測試過程中能夠與功能片良好接觸，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確，且不因過度下壓而損壞，測試效率得到大大提高。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1所示為本發(fā)明的具體實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例做進(jìn)一步描述。
[0015]如圖1所示，電容屏功能片智能測試機(jī)，包括機(jī)殼1，機(jī)殼I內(nèi)設(shè)有控制模塊，機(jī)殼I上安裝有測試基臺2和測試組件；
測試基臺2滑動連接安裝于機(jī)殼I上，控制模塊控制測試基臺2在機(jī)殼I上的滑動；測試基臺2上設(shè)有左測試區(qū)21和右測試區(qū)22 ；
測試基臺2的測試區(qū)上均布有多個真空吸氣孔3，真空吸氣孔3的另一端連接抽真空裝置，當(dāng)功能片置于吸氣孔上方時，控制模塊控制抽真空裝置的運(yùn)行，抽真空即可定位功能片。測試基臺2表面還設(shè)有定位線8，在測試時可將觸摸屏功能片靠定位線8放置。
[0016]測試組件包括滑竿4和測試押頭5，測試押頭5可沿滑竿4上下滑動；測試押頭5的頂端設(shè)有探針6以及可將紅外線照射于測試基臺上的紅外測距模塊7 ;紅外測距模塊7的輸出端連接控制模塊；
控制模塊包括押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)和控制器，控制器控制押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)的運(yùn)行，從而帶動測試押頭5沿滑竿4上下滑動，帶動探針6在測試基臺2的測試區(qū)上方升降。
[0017]測試基臺2上還設(shè)有橫向微調(diào)旋鈕9和縱向微調(diào)旋鈕10，以分別控制測試基臺2在機(jī)殼I上的橫向和縱向移動。測試基臺2在機(jī)殼上的滑動可利用現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)，如滑軌配合氣缸、絲桿配合電機(jī)等方式。微動旋鈕也可利用現(xiàn)有技術(shù)，實(shí)現(xiàn)測試基臺在橫向和縱向的微距調(diào)節(jié)。[0018]紅外測距模塊7包括紅外光源和紅外接收器，控制模塊控制紅外接收器發(fā)出紅外線，紅外接收器的輸出端連接控制模塊。紅外測距模塊可采用現(xiàn)有技術(shù)。紅外光源與探針位于同一高度，當(dāng)紅外線照射于功能片時即反射，使得紅外接收器接收反射光，從而確定當(dāng)前被測功能片與探針之間的距離。
[0019]本發(fā)明的機(jī)殼上還設(shè)有定位按鈕12和啟動按鈕11，分別用于人工操作控制模塊對相應(yīng)工序的啟動。在應(yīng)用時，將功能片沿定位線放置，覆蓋于真空吸氣孔上，按下定位按鈕12，控制模塊即控制抽真空裝置運(yùn)行，功能片即被真空吸氣孔3吸??；然后按下啟動按鈕11，控制模塊控制測試押頭5的下降，紅外測距模塊7中的紅外線照射于功能片上經(jīng)反射輸出信號至控制模塊，可實(shí)時測得探針6與功能片之間的距離變化?？刂颇K根據(jù)此距離變化繼續(xù)控制測試押頭的下降，直至探針與功能片之間的距離為零，則控制模塊控制測試押頭停止下降，即可開始進(jìn)行正常的探針測量。在此過程中，可保證測試押頭不會因過度下壓而導(dǎo)致探針的損壞。當(dāng)測試完畢，則控制模塊控制測試押頭帶動探針上升，等待下一次測試。
[0020]測試基臺2的兩個測試區(qū)隨測試基臺2在機(jī)殼I上的滑動，可交替位于探針6下方。在利用一個測試區(qū)進(jìn)行功能片探針測試時，可同時在另一測試區(qū)放置新的待測功能片，待前一測試區(qū)的功能片測試完畢，直接控制測試基臺滑動，至另一測試區(qū)位于探針下方，繼續(xù)進(jìn)行測試，測試效率較高。
【權(quán)利要求】
1.一種電容屏功能片智能測試機(jī),其特征是，包括機(jī)殼，機(jī)殼內(nèi)設(shè)有控制模塊，機(jī)殼上安裝有測試基臺和測試組件； 測試基臺滑動連接安裝于機(jī)殼上，控制模塊控制測試基臺在機(jī)殼上的滑動； 測試基臺上設(shè)有一個以上真空吸氣孔；真空吸氣孔連接有抽真空裝置；控制模塊控制抽真空裝置的運(yùn)行，以使得真空吸氣孔吸緊上方功能片； 測試組件包括滑竿和測試押頭，測試押頭可沿滑竿上下滑動；測試押頭的頂端設(shè)有探針以及可將紅外線照射于測試基臺上的紅外測距模塊；紅外測距模塊的輸出端連接控制模塊； 控制模塊控制測試押頭的升降，探針隨測試押頭的升降在測試基臺上方升降。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電容屏功能片智能測試機(jī)，其特征是，控制模塊包括押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)和控制器，控制器控制押頭升降驅(qū)動機(jī)構(gòu)的運(yùn)行，從而帶動測試押頭沿滑竿上下滑動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電容屏功能片智能測試機(jī)，其特征是，測試基臺上包括2個測試區(qū)，2個測試區(qū)隨測試基臺在機(jī)殼上的滑動，可交替位于探針下方。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的電容屏功能片智能測試機(jī)，其特征是，測試基臺表面還設(shè)有定位線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的電容屏功能片智能測試機(jī)，其特征是，測試基臺上還設(shè)有橫向微調(diào)旋鈕和縱向微調(diào)旋鈕，以分別控制測試基臺在機(jī)殼上的橫向和縱向移動。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的電容屏功能片智能測試機(jī)，其特征是，紅外測距模塊包括紅外光源和紅外接收器，控制模塊控制紅外接收器發(fā)出紅外線，紅外接收器的輸出端連接控制模塊。
【文檔編號】G01R31/02GK103487716SQ201310469481
【公開日】2014年1月1日 申請日期:2013年10月10日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月10日
【發(fā)明者】刁成龍, 竇勝國, 曾毅 申請人:南京華睿川電子科技有限公司