貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法。該缺陷檢測裝置包括：紅外圖像輸入裝置（100），獲取并輸出貼附有偏振片（600）的液晶面板（500）的圖像；信號(hào)處理裝置（200），基于貼附有偏振片（600）的液晶面板（500）的圖像獲得貼附有偏振片（600）的液晶面板（500）的預(yù)缺陷圖像，并且基于預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷預(yù)缺陷圖像是否為缺陷；報(bào)警裝置（300），基于信號(hào)處理裝置（200）的判斷結(jié)果來判斷是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)。本發(fā)明可對貼附有偏振片的液晶面板上存在的異物和/或氣泡進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測，極大地降低了具有缺陷的液晶面板漏檢的風(fēng)險(xiǎn)，同時(shí)降低了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率。
【專利說明】貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示領(lǐng)域，更具體地講，涉及一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶顯示裝置(LiquidCrystalDisplay, LCD)具有機(jī)身薄、省電、無福射等眾多優(yōu)點(diǎn)而被廣泛地應(yīng)用。液晶顯示裝置的具體構(gòu)造請參照圖1，其主要包括液晶面板10以及與該液晶面板10相對設(shè)置的背光模組20 ;其中，液晶面板10包括第一基板11以及與第一基板11面對設(shè)置的第二基板12，并且在第一基板11與第二基板12之間夾設(shè)液晶層13?？拷彻饽＝M20設(shè)置的第一基板11通常為薄膜晶體管陣列基板，而遠(yuǎn)離背光模組20設(shè)置的第二基板12通常為濾色片基板。液晶層13包括若干液晶分子，但其本身并不發(fā)光，而是通過施加電壓來控制液晶分子的偏轉(zhuǎn)方向，并將背光模組20提供的光折射出來而產(chǎn)生畫面。
[0003]液晶分子是細(xì)長的棒狀分子，具有僅使沿某一方向偏動(dòng)的光(偏振光)透過的性質(zhì)。背光模組20提供的光并不是僅沿特定方向振動(dòng)的光，而是沿所有方向振動(dòng)的自然光。因此，為了將這些沿所有方向振動(dòng)的自然光變?yōu)檠靥囟ǚ较蛘駝?dòng)的光，需要在第一基板11的與背光模組20面對的表面上貼附偏振片14，且亦需要在第二基板12的與第一基板11背對的表面上貼附偏振片15。
[0004]然而，在利用光學(xué)膜貼附設(shè)備貼附偏振片時(shí)，容易在偏振片與各個(gè)基板表面之間產(chǎn)生糊狀物、膜的切屑等異物以及空氣卷入形成的氣泡等缺陷，這就需要將這些存在的缺陷檢測出來。目前，所采用的檢測方法通常是在液晶面板貼附偏振片后利用點(diǎn)燈檢測，這種方法可以將貼附有偏振片的液晶面板中存在的缺陷作為亮點(diǎn)而檢測出來。但是在目前的點(diǎn)燈檢測方法中，由于點(diǎn)燈檢測設(shè)備和人力方面的成本限制，貼附有偏振片的液晶面板的抽檢無法全部進(jìn)行檢查，而是按照一定的比例來進(jìn)行抽檢，這樣就會(huì)造成具有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的漏檢，存在很大的風(fēng)險(xiǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明的目的在于提供一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置，其中，所述缺陷檢測裝置包括:紅外圖像輸入裝置，獲取并輸出貼附有偏振片的液晶面板的圖像；信號(hào)處理裝置，根據(jù)貼附有偏振片的液晶面板的圖像與存儲(chǔ)在信號(hào)處理裝置中未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的比較結(jié)果來獲得貼附有偏振片的液晶面板的預(yù)缺陷圖像，并且基于所述預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與存儲(chǔ)在所述信號(hào)處理裝置的對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷所述預(yù)缺陷圖像是否為偏振片與液晶面板之間的缺陷；報(bào)警裝置，基于所述信號(hào)處理裝置的判斷結(jié)果來判斷是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0006]本發(fā)明的另一目的還在于提供一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括步驟:a)獲取貼附有偏振片的液晶面板的圖像；b)根據(jù)獲取的貼附有偏振片的液晶面板的圖像與未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的比較結(jié)果來獲得貼附有偏振片的液晶面板的預(yù)缺陷圖像；c)基于所述預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷所述預(yù)缺陷圖像是否為偏振片與液晶面板之間的缺陷；d)基于步驟c)的判斷結(jié)果，判斷是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0007]進(jìn)一步地，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸大于所述缺陷圖像的尺寸時(shí)，所述信號(hào)處理裝置判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
[0008]進(jìn)一步地，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸不大于所述缺陷圖像的尺寸時(shí)，所述信號(hào)處理裝置對所述預(yù)缺陷圖像的外形與所述缺陷圖像的外形進(jìn)行比較，其中，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的外形符合所述缺陷圖像的外形時(shí)，所述信號(hào)處理裝置判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
[0009]進(jìn)一步地，當(dāng)所述信號(hào)處理裝置判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷時(shí)，所述報(bào)警裝置發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0010]本發(fā)明通過在光學(xué)膜貼附設(shè)備內(nèi)增加缺陷檢測裝置，可對貼附有偏振片的液晶面板上存在的異物和/或氣泡進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測，極大地降低了具有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的漏檢的風(fēng)險(xiǎn)，并且改善了偏振片貼附品質(zhì)的同時(shí)無需對貼附有偏振片的液晶面板進(jìn)行點(diǎn)燈檢測，很大程度的減少人力、物力的投入，降低了生產(chǎn)成本，并提高了生產(chǎn)效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖2是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置。
[0013]圖3是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]現(xiàn)在對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述，其示例表示在附圖中，其中，相同的標(biāo)號(hào)始終表示相同部件。下面通過參照附圖對實(shí)施例進(jìn)行描述以解釋本發(fā)明。在附圖中，為了清晰起見，可以夸大層和區(qū)域的厚度。在下面的描述中，為了避免公知結(jié)構(gòu)和/或功能的不必要的詳細(xì)描述所導(dǎo)致的本發(fā)明構(gòu)思的混淆，可省略公知結(jié)構(gòu)和/或功能的不必要的詳細(xì)描述。
[0015]圖2是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置。
[0016]參照圖2，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的缺陷檢測裝置包括紅外圖像輸入裝置100、信號(hào)處理裝置200和報(bào)警裝置300。
[0017]具體而言，紅外圖像輸入裝置100可設(shè)置于光學(xué)膜貼附設(shè)備400內(nèi)，并且紅外圖像輸入裝置100可面對光學(xué)膜貼附設(shè)備400的支撐準(zhǔn)備貼附偏振片600的液晶面板500的平臺(tái)401，這樣，當(dāng)液晶面板500放置于平臺(tái)401上后，紅外圖像輸入裝置100可面對液晶面板500。
[0018]當(dāng)光學(xué)膜貼附設(shè)備400對放置在其平臺(tái)401上的液晶面板500貼附偏振片600完成后，紅外圖像輸入裝置100 (諸如紅外掃描儀、紅外光柵掃描儀等)可發(fā)射紅外電磁波到貼附有偏振片600的液晶面板500來對該貼附有偏振片600的液晶面板500進(jìn)行紅外光掃描，進(jìn)而獲得該貼附有偏振片600的液晶面板500的光信號(hào)，將該光信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，再將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，而后紅外圖像輸入裝置100將該數(shù)字信號(hào)傳輸?shù)叫盘?hào)處理裝置(諸如計(jì)算機(jī))200。信號(hào)處理裝置200將接收到的數(shù)字信號(hào)還原為模擬信號(hào)，進(jìn)而獲取貼附有偏振片600的液晶面板500的圖像。
[0019]信號(hào)處理裝置200將獲得的貼附有偏振片600的液晶面板500的圖像與在信號(hào)處理裝置200中存儲(chǔ)的未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像進(jìn)行比較，得到貼附有偏振片600的液晶面板500的圖像與未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的不同之處，并將該不同之處作為偏振片600與液晶面板500之間的預(yù)缺陷的圖像。這里所述的預(yù)缺陷還未被確定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷(即液晶面板500與偏振片600之間的糊狀物、膜的切屑等異物以及空氣卷入形成的氣泡等)，其需要進(jìn)一步地判斷。
[0020]信號(hào)處理裝置200將所述預(yù)缺陷的圖像的尺寸與在信號(hào)處理裝置200中存儲(chǔ)的對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸進(jìn)行比較。當(dāng)所述預(yù)缺陷的圖像的尺寸大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸時(shí)，信號(hào)處理裝置200直接將該預(yù)缺陷確定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷。當(dāng)所述預(yù)缺陷的圖像的尺寸不大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸時(shí)，進(jìn)一步地，信號(hào)處理裝置200要對該預(yù)缺陷的圖像進(jìn)行外形形狀的判斷，其中，當(dāng)信號(hào)處理裝置200確定該預(yù)缺陷的圖像的外形符合對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的外形時(shí)，則該預(yù)缺陷的圖像的尺寸即使不大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸，信號(hào)處理裝置200也將該預(yù)缺陷判定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷；當(dāng)信號(hào)處理裝置200確定該預(yù)缺陷的圖像的外形符合對比數(shù)據(jù)庫中的非缺陷圖像的外形時(shí)；則該預(yù)缺陷不為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷。此處，對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的外形通常呈現(xiàn)尖銳的凸起，即表示偏振片600與液晶面板500之間存在氣泡和糊狀物或膜的切屑或顆粒等，這種情況下，即使預(yù)缺陷的圖像的尺寸不大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸，其也被信號(hào)處理裝置200判定為缺陷。對比數(shù)據(jù)庫中的非缺陷圖像的外形呈現(xiàn)圓滑的凸起，即表示偏振片600與液晶面板500之間只存在氣泡等，這種情況下，當(dāng)預(yù)缺陷的圖像的尺寸大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸，信號(hào)處理裝置200直接該預(yù)缺陷判定為缺陷；而當(dāng)預(yù)缺陷的圖像的尺寸不大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸，需進(jìn)一步地對該預(yù)缺陷的圖像的外形進(jìn)行判斷，只有該預(yù)缺陷的圖像的外形呈現(xiàn)上述的圓滑的凸起，信號(hào)處理裝置200才將該預(yù)缺陷判斷為非缺陷。
[0021]報(bào)警裝置300基于信號(hào)處理裝置200的判斷結(jié)果來決定是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)；當(dāng)信號(hào)處理裝置200將預(yù)缺陷判定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷時(shí)，報(bào)警裝置300發(fā)出報(bào)警信號(hào)來提醒工作人員此時(shí)的貼附有偏振片600的液晶面板500存在缺陷，當(dāng)信號(hào)處理裝置200判定預(yù)缺陷判斷不是液晶面板500與偏振片600之間的缺陷時(shí)，報(bào)警裝置300不發(fā)出報(bào)警信號(hào)，光學(xué)膜貼附設(shè)備400繼續(xù)對下一液晶面板執(zhí)行偏振片貼附的操作。這里，報(bào)警裝置300可內(nèi)置于信號(hào)處理裝置200中，也可外設(shè)于信號(hào)處理裝置200。
[0022]本發(fā)明還提供了一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法，具體請參照圖3，其示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法流程圖。
[0023]一并參照圖2、圖3，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法包括步驟:
[0024]S1:獲取貼附有偏振片600的液晶面板500的預(yù)缺陷圖像；
[0025]S2:基于所述預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷所述預(yù)缺陷圖像是否為偏振片600與液晶面板500之間的缺陷；[0026]S3:基于步驟S2的判斷結(jié)果，判斷是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0027]在步驟SI中，可利用紅外圖像輸入裝置100 (諸如紅外掃描儀、紅外光柵掃描儀等)發(fā)射紅外電磁波到貼附有偏振片600的液晶面板500來對該貼附有偏振片600的液晶面板500進(jìn)行紅外光掃描，進(jìn)而獲得該貼附有偏振片600的液晶面板500的光信號(hào)，將該光信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，再將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，而后紅外圖像輸入裝置100將該數(shù)字信號(hào)傳輸?shù)叫盘?hào)處理裝置(諸如計(jì)算機(jī))200。信號(hào)處理裝置200將接收到的數(shù)字信號(hào)還原為模擬信號(hào)，進(jìn)而獲取貼附有偏振片600的液晶面板500的圖像。信號(hào)處理裝置200將獲得的貼附有偏振片600的液晶面板500的圖像與在信號(hào)處理裝置200中存儲(chǔ)的未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像進(jìn)行比較，得到貼附有偏振片600的液晶面板500的圖像與未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的不同之處，并將該不同之處作為偏振片600與液晶面板500之間的預(yù)缺陷的圖像。這里所述的預(yù)缺陷還未被確定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷(即液晶面板500與偏振片600之間的糊狀物、膜的切屑等異物以及空氣卷入形成的氣泡等)，其需要進(jìn)一步地判斷。
[0028]在步驟S2中，可利用信號(hào)處理裝置200 (諸如計(jì)算機(jī))將所述預(yù)缺陷的圖像的尺寸與在信號(hào)處理裝置200中存儲(chǔ)的對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸進(jìn)行比較。當(dāng)所述預(yù)缺陷的圖像的尺寸大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸時(shí)，信號(hào)處理裝置200直接將該預(yù)缺陷確定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷。當(dāng)所述預(yù)缺陷的圖像的尺寸不大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸時(shí)，需要對所述預(yù)缺陷圖像的外形進(jìn)行進(jìn)一步判斷來確定該預(yù)缺陷圖像是否為缺陷圖像。
[0029]當(dāng)利用信號(hào)處理裝置200確定該預(yù)缺陷的圖像的外形符合對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的外形時(shí)，則該預(yù)缺陷的圖像的尺寸即使不大于尺寸，信號(hào)處理裝置200也將該預(yù)缺陷判定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷；當(dāng)利用信號(hào)處理裝置200確定該預(yù)缺陷的圖像的外形符合對比數(shù)據(jù)庫中的非缺陷圖像的外形時(shí)；則該預(yù)缺陷不為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷。此處，對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的外形通常呈現(xiàn)尖銳的凸起，即表示偏振片600與液晶面板500之間存在氣泡和糊狀物或膜的切屑或顆粒等，這種情況下，即使預(yù)缺陷的圖像的尺寸不大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸，其也被信號(hào)處理裝置200判定為缺陷。對比數(shù)據(jù)庫中的非缺陷圖像的外形呈現(xiàn)圓滑的凸起，即表示偏振片600與液晶面板500之間只存在氣泡等，這種情況下，當(dāng)預(yù)缺陷的圖像的尺寸大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸，信號(hào)處理裝置200直接該預(yù)缺陷判定為缺陷；而當(dāng)預(yù)缺陷的圖像的尺寸不大于對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸，需進(jìn)一步地對該預(yù)缺陷的圖像的外形進(jìn)行判斷，只有該預(yù)缺陷的圖像的外形呈現(xiàn)上述的圓滑的凸起，信號(hào)處理裝置200才將該預(yù)缺陷判斷為非缺陷。
[0030]在步驟S3中，可利用報(bào)警裝置300基于步驟S2中的判斷結(jié)果來決定是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)。當(dāng)信號(hào)處理裝置200將預(yù)缺陷判定為液晶面板500與偏振片600之間的缺陷時(shí)，報(bào)警裝置300發(fā)出報(bào)警信號(hào)來提醒工作人員此時(shí)的貼附有偏振片600的液晶面板500存在缺陷，當(dāng)信號(hào)處理裝置200判定預(yù)缺陷判斷不是液晶面板500與偏振片600之間的缺陷時(shí)，報(bào)警裝置300不發(fā)出報(bào)警信號(hào)，光學(xué)膜貼附設(shè)備400繼續(xù)對下一液晶面板執(zhí)行偏振片貼附的操作。這里，報(bào)警裝置300可內(nèi)設(shè)于信號(hào)處理裝置200中，也可外設(shè)于信號(hào)處理裝置200中。[0031]綜上所述，通過在光學(xué)膜貼附設(shè)備內(nèi)增加缺陷檢測裝置，可對貼附有偏振片的液晶面板上存在的異物和/或氣泡進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測，極大地降低了具有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的漏檢的風(fēng)險(xiǎn)，并且改善了偏振片貼附品質(zhì)。同時(shí)無需對貼附有偏振片的液晶面板進(jìn)行點(diǎn)燈檢測，極大程度地減少人力、物力的投入，降低了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率。
[0032]盡管已經(jīng)參照其示例性實(shí)施例具體顯示和描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離權(quán)利要求所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對其進(jìn)行形式和細(xì)節(jié)上的各種改變。
【權(quán)利要求】
1.一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置，其特征在于，所述缺陷檢測裝置包括:紅外圖像輸入裝置(100)，獲取并輸出貼附有偏振片(600)的液晶面板(500)的圖像；信號(hào)處理裝置(200)，根據(jù)貼附有偏振片(600)的液晶面板(500)的圖像與存儲(chǔ)在信號(hào)處理裝置(200)中未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的比較結(jié)果來獲得貼附有偏振片(600)的液晶面板(500)的預(yù)缺陷圖像，并且基于所述預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與存儲(chǔ)在所述信號(hào)處理裝置(200)的對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷所述預(yù)缺陷圖像是否為偏振片(600)與液晶面板(500)之間的缺陷；報(bào)警裝置(300)，基于所述信號(hào)處理裝置(200)的判斷結(jié)果來判斷是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸大于所述缺陷圖像的尺寸時(shí)，所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸不大于所述缺陷圖像的尺寸時(shí)，所述信號(hào)處理裝置(200)對所述預(yù)缺陷圖像的外形與所述缺陷圖像的外形進(jìn)行比較，其中，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的外形符合所述 缺陷圖像的外形時(shí)，所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，當(dāng)所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷時(shí)，所述報(bào)警裝置(300 )發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，當(dāng)所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷時(shí)，所述報(bào)警裝置(300 )發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
6.一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法，其特征在于，所述缺陷檢測方法包括步驟:a)獲取貼附有偏振片(600)的液晶面板(500)的圖像；b )根據(jù)獲取的貼附有偏振片(600 )的液晶面板(500 )的圖像與未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的比較結(jié)果來獲得貼附有偏振片(600)的液晶面板(500)的預(yù)缺陷圖c)基于所述預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷所述預(yù)缺陷圖像是否為偏振片(600)與液晶面板(500)之間的缺陷；d)基于步驟c)的判斷結(jié)果，判斷是否發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的缺陷檢測方法，其特征在于，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸大于所述缺陷圖像的尺寸時(shí)，所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的缺陷檢測方法，其特征在于，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸不大于所述缺陷圖像的尺寸時(shí)，所述信號(hào)處理裝置(200)對所述預(yù)缺陷圖像的外形與所述缺陷圖像的外形進(jìn)行比較，其中，當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的外形符合所述缺陷圖像的外形時(shí)，所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的缺陷檢測方法，其特征在于，當(dāng)所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷時(shí)，所述報(bào)警裝置(300)發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷檢測方法，其特征在于，當(dāng)所述信號(hào)處理裝置(200)判斷所述預(yù)缺陷為所述 缺陷時(shí)，所述報(bào)警裝置(300 )發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
【文檔編號(hào)】G01N21/88GK103439339SQ201310392957
【公開日】2013年12月11日 申請日期:2013年9月2日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月2日
【發(fā)明者】楊順 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司