專(zhuān)利名稱(chēng)：一種用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座，屬于探針測(cè)試治具的部件。
背景技術(shù)：
現(xiàn)行高端pcb (印刷電路板)BGA、TF、手機(jī)板、平板計(jì)算機(jī)的檢測(cè)治具皆由國(guó)外掌控，而國(guó)內(nèi)只能制作低端產(chǎn)品而無(wú)法產(chǎn)業(yè)升級(jí)。目前，用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧零部件，尾端直接焊接電源線，但由于現(xiàn)有電路板線路過(guò)于微細(xì)，因此無(wú)法適用；而且彈簧內(nèi)徑過(guò)于細(xì)小，也無(wú)法進(jìn)行焊接。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于安裝的用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用了如下技術(shù)方案:一種用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座，它包括上彈簧座、中彈簧座、下彈簧座和復(fù)數(shù)根彈簧，所述彈簧由上部彈簧、凸起部彈簧和下部彈簧一體構(gòu)成，所述上彈簧座設(shè)有與所述上部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)上彈簧座彈簧孔，所述中彈簧座設(shè)有與所述凸起部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)中彈簧座彈簧孔，所述下彈簧座設(shè)有與所述下部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)下彈簧座彈簧孔；所述上彈簧座彈簧孔、所述中彈簧座彈簧孔和所述下彈簧座彈簧一一對(duì)應(yīng)。優(yōu)選的，所述中彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于凸起部彈簧長(zhǎng)度，且所述中彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于凸起部彈簧外徑。優(yōu)選的，所述上彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于上部彈簧長(zhǎng)度，且所述上彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于上部彈簧外徑。優(yōu)選的，所述下彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于下部彈簧長(zhǎng)度，且所述下彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于下部彈簧外徑。彈簧座安裝時(shí)，將復(fù)數(shù)根彈簧置于下彈簧座彈簧孔中，然后依次套入中彈簧座和上彈簧座；上部彈簧插入微細(xì)探針以接觸電路板線路端點(diǎn)，下部彈簧與電極座擠壓接觸后形成電氣導(dǎo)通。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果在于:設(shè)置的凸起部彈簧可使彈簧座植入機(jī)座中時(shí)不易掉落，彈簧保持正垂直，使電氣導(dǎo)通穩(wěn)固；由于上端保持在無(wú)擠壓狀態(tài)，彈簧的彈力克數(shù)可控制在要求范圍內(nèi)。

圖1是本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例中用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座的縱向截面圖；圖2是圖1實(shí)施例中彈簧的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
參閱圖1-2，該用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座包括上彈簧座1、中彈簧座2、下彈簧座3和復(fù)數(shù)根彈簧4 ;彈簧4由上部彈簧41、凸起部彈簧42和下部彈簧43 —體構(gòu)成，上彈簧座I設(shè)有與上部彈簧41配合的復(fù)數(shù)個(gè)上彈簧座彈簧孔，中彈簧座2設(shè)有與凸起部彈簧42配合的復(fù)數(shù)個(gè)中彈簧座彈簧孔，下彈簧座3設(shè)有與下部彈簧43配合的復(fù)數(shù)個(gè)下彈簧座彈簧孔，上彈簧座彈簧孔、中彈簧座彈簧孔和下彈簧座彈簧一一對(duì)應(yīng)。其中，中彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于凸起部彈簧42長(zhǎng)度，且中彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于凸起部彈簧42外徑；上彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于上部彈簧41長(zhǎng)度，且上彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于上部彈簧41外徑；下彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于下部彈簧43長(zhǎng)度，且下彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于下部彈簧43外徑。彈簧座安裝時(shí)，將復(fù)數(shù)根彈簧4置于下彈簧座彈簧孔中，然后依次套入中彈簧座2和上彈簧座I ;上部彈簧41插入微細(xì)探針以接觸電路板線路端點(diǎn)，下部彈簧43與電極座擠壓接觸后形成電氣導(dǎo)通。以上僅是本實(shí)用新型的具體應(yīng)用范例，對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不構(gòu)成任何限制。凡采用等同變換或者等效替換而形成的技術(shù)方案，均落在本實(shí)用新型權(quán)利保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座，其特征在于，它包括上彈簧座、中彈簧座、下彈簧座和復(fù)數(shù)根彈簧，所述彈簧由上部彈簧、凸起部彈簧和下部彈簧一體構(gòu)成，所述上彈簧座設(shè)有與所述上部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)上彈簧座彈簧孔，所述中彈簧座設(shè)有與所述凸起部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)中彈簧座彈簧孔，所述下彈簧座設(shè)有與所述下部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)下彈簧座彈簧孔；所述上彈簧座彈簧孔、所述中彈簧座彈簧孔和所述下彈簧座彈簧一一對(duì)應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座，其特征在于，所述中彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于凸起部彈簧長(zhǎng)度，且所述中彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于凸起部彈簧外徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座，其特征在于，所述上彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于上部彈簧長(zhǎng)度，且所述上彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于上部彈簧外徑。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座，其特征在于，所述下彈簧座彈簧孔長(zhǎng)度等于下部彈簧長(zhǎng)度，且所述下彈簧座彈簧孔內(nèi)徑等于下部彈簧外徑。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于測(cè)試探針與測(cè)試機(jī)導(dǎo)通的彈簧座，它包括上彈簧座、中彈簧座、下彈簧座和復(fù)數(shù)根彈簧，所述彈簧由上部彈簧、凸起部彈簧和下部彈簧一體構(gòu)成，所述上彈簧座設(shè)有與所述上部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)上彈簧座彈簧孔，所述中彈簧座設(shè)有與所述凸起部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)中彈簧座彈簧孔，所述下彈簧座設(shè)有與所述下部彈簧配合的復(fù)數(shù)個(gè)下彈簧座彈簧孔。本實(shí)用新型設(shè)置的凸起部彈簧可使彈簧座植入機(jī)座中時(shí)不易掉落，彈簧保持正垂直，使電氣導(dǎo)通穩(wěn)固；由于上端保持在無(wú)擠壓狀態(tài)，彈簧的彈力克數(shù)可控制在要求范圍內(nèi)。
文檔編號(hào)G01R1/067GK203054018SQ20122073028
公開(kāi)日2013年7月10日 申請(qǐng)日期2012年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月27日
發(fā)明者吳兆正 申請(qǐng)人:昆山鴻裕電子有限公司