專利名稱：一種用于vxi總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的故障診斷模塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種故障診斷模塊，尤其涉及一種用于VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的故障診斷模塊，屬于集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
VXI 總線(VXI bus)是 VME bus Extensions for Instrumentation 的縮寫。它是繼IEEE488總線之后，為適應(yīng)測(cè)量?jī)x器從分立的臺(tái)式和機(jī)架式結(jié)構(gòu)發(fā)展為更緊湊的模塊式結(jié)構(gòu)的需要，而推出的一種新的總線標(biāo)準(zhǔn)。VXI總線系統(tǒng)是一種計(jì)算機(jī)控制的功能系統(tǒng)，一般由主機(jī)箱、若干器件、資源管理器和主控制器組成。組成VXI總線系統(tǒng)的基本邏輯單元稱為“器件”。一般來說，一個(gè)器件占據(jù)一塊VXI模塊，也允許在一塊模塊上實(shí)現(xiàn)多個(gè)器件或者一個(gè)器件占據(jù)多塊模塊。當(dāng)若干個(gè)用于集成電路測(cè)試的VXI模塊基于VXI總線進(jìn)行搭建時(shí)，就組成了 VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)。這些VXI模塊一般包括PMU (精密測(cè)量單元)模塊、通道模塊、電源模塊、圖形模塊等。在集成電路的復(fù)雜制造工序中，不可避免會(huì)引入一些缺陷，造成集成電路產(chǎn)品出現(xiàn)故障。為了減少缺陷集成電路的產(chǎn)生，在生產(chǎn)測(cè)試過程中進(jìn)行故障診斷就成為必要的環(huán)節(jié)。在集成電路生產(chǎn)測(cè)試過程中，對(duì)測(cè)試時(shí)間非常敏感。一旦發(fā)現(xiàn)故障，必須快速定位故障點(diǎn)并加以排除，在盡量短的時(shí)間內(nèi)恢復(fù)生產(chǎn)。另一方面，對(duì)于集成電路生產(chǎn)測(cè)試來說,測(cè)試設(shè)備、連接線、探針、針卡都可能是故障產(chǎn)生點(diǎn)，如何快速診斷出此類故障點(diǎn)也是個(gè)問題。面對(duì)這樣的技術(shù)問題，開發(fā)一套用于集成電路測(cè)試系統(tǒng)快速診斷的故障診斷模塊就顯得很有必要了。在專利號(hào)為ZL200510026242.9的中國發(fā)明專利中，公開一種集成電路片上系統(tǒng)中故障的測(cè)試系統(tǒng)和方法。它包含有為完善集成電路片上系統(tǒng)可測(cè)試性而增加的電路和基于此電路運(yùn)行的測(cè)試尋訪機(jī)制，其電路由串行測(cè)試總線、并行測(cè)試總線、IP核邊緣封裝單元鏈路、時(shí)鐘控制單元與IP核選擇譯碼單元組成；其測(cè)試尋訪機(jī)制由IP核獨(dú)立測(cè)試尋訪機(jī)制和IP核核間連線故障的測(cè)試尋訪機(jī)制組成。該發(fā)明適用于與IP核核間連線故障的測(cè)試。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種用于VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的故障診斷模塊。該模塊可以在集成電路生產(chǎn)測(cè)試過程中實(shí)現(xiàn)快速故障診斷。為實(shí)現(xiàn)上述的目的，本實(shí)用新型采用下述的技術(shù)方案:一種用于VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的故障診斷模塊，其特征在于:所述故障診斷模塊包括主控制器、配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊、繼電器和探卡接口 ；其中，所述主控制器一方面連接集成電路測(cè)試儀，另一方面分別連接所述配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊和探卡接口；所述配置存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)故障診斷的配置程序；所述探卡接口連接所述繼電器。[0012]其中較優(yōu)地，所述故障診斷模塊中還包括JTAG接口，所述JTAG接口連接所述主控制器。其中較優(yōu)地，所述主控制器由微控制器和復(fù)雜可編程邏輯器件組成，所述微控制器用于控制配置存儲(chǔ)器和集成電路測(cè)試儀資源，所述復(fù)雜可編程邏輯器件用于提供所述繼電器的繼電器控制位。其中較優(yōu)地，所述配置存儲(chǔ)器為E2PROM或者FLASH。其中較優(yōu)地，所述診斷模塊包括但不限于測(cè)試儀故障診斷模塊、GPIB通信診斷模塊、通路連接性診斷模塊、通路漏電流診斷模塊和供電電壓診斷模塊中的一個(gè)或數(shù)個(gè)。本實(shí)用新型所提供的故障診斷模塊可以與各種VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)相互配合，自動(dòng)完成集成電路生產(chǎn)測(cè)試過程中的故障診斷工作，故障定位快速準(zhǔn)確，操作簡(jiǎn)單方便。

圖1是本實(shí)用新型所提供的故障診斷模塊的整體結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本故障診斷模塊中，主控制器的原理示意圖；圖3是本故障診斷模塊中，CPLD的配置示意圖；圖4是本故障診斷模塊中，探卡接口的示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。如圖1所示，本實(shí)用新型所提供的故障診斷模塊由主控制器、配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊、繼電器、探卡接口和轉(zhuǎn)接卡座(圖1中未示出)組成。其中，主控制器一方面連接集成電路測(cè)試儀，從中獲取集成電路測(cè)試儀的資源；另一方面分別連接配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊和探卡接口，以便對(duì)它們進(jìn)行控制。配置存儲(chǔ)器連接到主控制器，用于存儲(chǔ)故障診斷的配置程序。在故障診斷模塊運(yùn)行時(shí)，配置存儲(chǔ)器可以向主控制器提供進(jìn)行故障診斷的配置程序。該配置存儲(chǔ)器可以是E2PROM (電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器)或者FLASH (非易失性存儲(chǔ)器)等。各個(gè)診斷模塊(診斷模塊I 診斷模塊N，其中N為正整數(shù))由故障診斷軟件進(jìn)行控制，分別可以提供探針扎痕、探卡接觸、通路連接性、通路漏電、GPIB通信診斷、測(cè)試儀故障診斷、供電電壓診斷等多種故障診斷功能。探卡接口提供了繼電器與探針臺(tái)探卡(連接集成電路測(cè)試儀)的連接接口。轉(zhuǎn)接卡座用于實(shí)現(xiàn)本故障診斷模塊與集成電路測(cè)試儀等的連接，其具體實(shí)現(xiàn)是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員都能掌握的常規(guī)技術(shù)，在此就不贅述了。上述故障診斷模塊是針對(duì)VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的，因此其中的各個(gè)功能模塊都是VXI總線驅(qū)動(dòng)的，主控制器和繼電器的控制信號(hào)都來源于VXI總線，與之配套的故障診斷軟件的底層驅(qū)動(dòng)也是針對(duì)VXI總線編寫的。圖2是主控制器的原理示意圖。該主控制器由微控制器和CPLD(復(fù)雜可編程邏輯器件)組成。其中，微控制器控制配置存儲(chǔ)器和集成電路測(cè)試儀資源；CPLD用于提供繼電器控制位，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)繼電器的控制。圖3是主控制器中CPLD的配置示意圖。該CPLD包括通過邏輯元件連接的第一跟隨器、譯碼器和第二跟隨器，其中第一跟隨器、第二跟隨器的輸出端連接譯碼器的輸入端。該CPLD也可以由FPGA (現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列)來替代。[0026]圖4是本故障診斷模塊中探卡接口的示意圖。該探卡接口分別連接集成電路測(cè)試儀和繼電器，并通過主控制器分別連接多個(gè)診斷模塊。根據(jù)集成電路生產(chǎn)測(cè)試過程中出現(xiàn)的故障不同，所需要的診斷模塊也隨之有所不同。在圖4所示的實(shí)施例中，本故障診斷模塊提供了一些基本的診斷模塊，包括測(cè)試儀故障診斷模塊、GPIB通信診斷模塊、通路連接性診斷模塊、通路漏電流診斷模塊和供電電壓診斷模塊等。這些診斷模塊可以通過軟件控制進(jìn)行選取，在實(shí)際診斷過程中可以隨時(shí)進(jìn)行更改。本故障診斷模塊中還設(shè)有JTAG接口。JTAG是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議，與IEEE1149.1兼容。該JTAG接口連接主控制器，用于完成對(duì)主控制器的相關(guān)配置。JTAG接口還可用于實(shí)現(xiàn)ISP (In-System Programmable在線編程),對(duì)待測(cè)試器件進(jìn)行編程。本故障診斷模塊在進(jìn)行故障診斷時(shí)，主控制器從配置存儲(chǔ)器讀出進(jìn)行故障診斷的配置程序，同時(shí)得到已選擇的診斷模塊的信息，根據(jù)已選擇的診斷模塊信息依次調(diào)用集成電路測(cè)試儀的資源，并通過繼電器將集成電路測(cè)試儀的資源引入探卡接口，分別利用所選擇的診斷模塊進(jìn)行診斷，從而快速確認(rèn)集成電路的故障點(diǎn)。上面以上對(duì)本實(shí)用新型所提供的VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)故障診斷模塊進(jìn)行了詳細(xì)的說明。對(duì)本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員而言，在不背離本實(shí)用新型實(shí)質(zhì)精神的前提下對(duì)它所做的任何顯而易見的改動(dòng)，都將構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型專利權(quán)的侵犯，將承擔(dān)相應(yīng)的法律責(zé)任。
權(quán)利要求1.一種用于VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的故障診斷模塊，其特征在于: 所述故障診斷模塊包括主控制器、配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊、繼電器和探卡接口 ；其中， 所述主控制器一方面連接集成電路測(cè)試儀，另一方面分別連接所述配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊和探卡接口； 所述探卡接口連接所述繼電器。
2.按權(quán)利要求1所述的故障診斷模塊，其特征在于: 所述故障診斷模塊中還包括JTAG接口，所述JTAG接口連接所述主控制器。
3.按權(quán)利要求1所述的故障診斷模塊，其特征在于:所述主控制器由微控制器和復(fù)雜可編程邏輯器件組成，所述微控制器用于控制配置存儲(chǔ)器和集成電路測(cè)試儀資源，所述復(fù)雜可編程邏輯器件用于提供所述繼電器的繼電器控制位。
4.按權(quán)利要求1所述的故障診斷模塊，其特征在于: 所述配置存儲(chǔ)器為E2PROM或者FLASH。
5.按權(quán)利要求1所述的故障診斷模塊，其特征在于: 所述診斷模塊包括測(cè)試儀故障診斷模塊、GPIB通信診斷模塊、通路連接性診斷模塊、通路漏電流診斷模塊和供電電壓診斷模塊中的一個(gè)或數(shù)個(gè)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種用于VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的故障診斷模塊，包括主控制器、配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊、繼電器和探卡接口。其中，主控制器一方面連接集成電路測(cè)試儀，另一方面分別連接配置存儲(chǔ)器、多個(gè)診斷模塊和探卡接口；配置存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)故障診斷的配置程序；探卡接口連接繼電器。本故障診斷模塊可以與各種VXI總線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)相互配合，自動(dòng)完成集成電路生產(chǎn)測(cè)試過程中的故障診斷工作，故障定位快速準(zhǔn)確，操作簡(jiǎn)單方便。
文檔編號(hào)G01R31/00GK202929136SQ201220546058
公開日2013年5月8日 申請(qǐng)日期2012年10月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月23日
發(fā)明者李 杰, 馮建科, 蔣常斌 申請(qǐng)人:北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所