專利名稱：一種分光光度計(jì)的樣品架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種分光光度計(jì)的樣品架技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及光譜分析儀器技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種分光光度計(jì)的樣品架。
背景技術(shù)：
[0002]分光光度計(jì)就是利用分光光度法對(duì)物質(zhì)進(jìn)行定量定性分析的儀器，是一種常用的 實(shí)驗(yàn)室分析儀器[0003]儀器主要由光源、單色器、樣品架、檢測(cè)器、信號(hào)處理器和顯示與存儲(chǔ)系統(tǒng)組成。[0004]現(xiàn)有的分光光度計(jì)的樣品架多為手動(dòng)式，需要拉動(dòng)拉桿將樣品架送入光路，無法 做到儀器的自動(dòng)化，且手動(dòng)定位多有顯著的定位誤差，造成樣品的測(cè)量數(shù)據(jù)誤差較大。發(fā)明內(nèi)容[0005]本實(shí)用新型通過對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的改進(jìn)，提供一種分光光度計(jì)的樣品架。[0006]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是[0007]一種分光光度計(jì)的樣品架，包括樣品架部件4、樣品架座2、樣品支架3、軸9、滾輪 部件1、同步帶6、同步帶輪8、步進(jìn)電機(jī)7和底座5,[0008]樣品架部件4由多個(gè)試管狀開有通孔的容納槽以軸9的方向排列成一列，使光能 通過通孔穿透容納槽內(nèi)的樣品，所述樣品架部件4置于樣品架座2上，樣品架座2固接樣品 支架3，[0009]滾輪部件I固定在底座5上,步進(jìn)電機(jī)7帶動(dòng)同步帶輪8,同步帶6與滾輪部件I 和同步帶輪8驅(qū)動(dòng)樣品架座2在軸9上滑動(dòng)。[0010]本實(shí)用新型的顯著特點(diǎn)通過同步帶的帶動(dòng)實(shí)現(xiàn)樣品架的自動(dòng)移動(dòng)，可以通過主 控部分進(jìn)行微調(diào)，做到精確定位。


[0011]圖1為本實(shí)用新型的主視圖的剖視圖；[0012]圖中1_滾輪部件，2-樣品架座，3-樣品支架，4-樣品架部件，5-底座，6-同步帶， 7-步進(jìn)電機(jī),8-同步帶輪,9-軸。
具體實(shí)施方式
[0013]以下根據(jù)實(shí)施例和附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步描述。[0014]如圖1所示，一種分光光度計(jì)的樣品架，包括樣品架部件4、樣品架座2、樣品支架 3、軸9、滾輪部件1、同步帶6、同步帶輪8、步進(jìn)電機(jī)7和底座5，[0015]樣品架部件4由多個(gè)試管狀開有通孔的容納槽以軸9的方向排列成一列，使光能通過 通孔穿透容納槽內(nèi)的樣品，所述樣品架部件4置于樣品架座2上，樣品架座2固接樣品支架3，[0016]滾輪部件I固定在底座5上,步進(jìn)電機(jī)7帶動(dòng)同步帶輪8,同步帶6與滾輪部件I 和同步帶輪8驅(qū)動(dòng)樣品架座2在軸9上滑動(dòng)。
權(quán)利要求1.一種分光光度計(jì)的樣品架，包括樣品架部件(4)、樣品架座(2)、樣品支架(3)、軸 (9)、滾輪部件(I)、同步帶(6)、同步帶輪(8)、步進(jìn)電機(jī)(7)和底座(5)，其特征在于樣品架部件(4)由多個(gè)試管狀開有通孔的容納槽以軸(9)的方向排列成一列，使光能通過通孔穿透容納槽內(nèi)的樣品，所述樣品架部件(4)置于樣品架座(2)上，樣品架座(2)固接樣品支架(3)，滾輪部件(I)固定在底座(5)上,步進(jìn)電機(jī)(7)帶動(dòng)同步帶輪(8),同步帶(6)與滾輪部件⑴和同步帶輪⑶驅(qū)動(dòng)樣品架座⑵在軸(9)上滑動(dòng)。
專利摘要本實(shí)用新型提出一種分光光度計(jì)的樣品架，包括樣品架部件(4)、樣品架座(2)、樣品支架(3)、軸(9)、滾輪部件(1)、同步帶(6)、同步帶輪(8)、步進(jìn)電機(jī)(7)和底座(5)，樣品架部件(4)由多個(gè)試管狀開有通孔的容納槽以軸(9)的方向排列成一列，使光能通過通孔穿透容納槽內(nèi)的樣品，所述樣品架部件(4)置于樣品架座(2)上，樣品架座(2)固接樣品支架(3)，滾輪部件(1)固定在底座(5)上，步進(jìn)電機(jī)(7)帶動(dòng)同步帶輪(8)，同步帶(6)與滾輪部件(1)和同步帶輪(8)驅(qū)動(dòng)樣品架座(2)在軸(9)上滑動(dòng)。
文檔編號(hào)G01N21/01GK202886261SQ20122052049
公開日2013年4月17日 申請(qǐng)日期2012年10月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月11日
發(fā)明者陳捷, 李征, 滕文清 申請(qǐng)人:上海儀電分析儀器有限公司