專利名稱：便攜式高精度同軸度測量儀的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于金屬材料性能測試技術領域，特別涉及用于具有拉伸、壓縮功能的試驗機，檢測上下夾具之間同軸度的儀器設備。
背景技術：
在材料試驗機行業(yè)，電子萬能試驗機和蠕變試驗機都是應用比較廣泛的試驗機型，在對試樣進行拉伸試驗時，它們都是通過上下兩個夾具將試樣夾持在中間。在拉伸試驗中，上下夾具偏心會產生側向力，影響到材料的物理性能。也就是說，上下夾具的同軸度會直接影響到試驗數據的準確性。為此，測量上下夾具的同軸度的儀器裝置便應運而生。如今，測量同軸度的儀器基本分為兩種一種是人工測量類儀器，通過刻度表進行測量，采用人工讀數和計算。這種方法操作簡單，但是計算方式落后，結果精度低，只能用在精度要求不高的場合。另一種是計算機輔助類測量儀器，通過傳感器進行測量，通過計算機采集測量數據并進行計算和顯示，然后用標準打印機輸出檢測報告。這種方法測量準確，自動化程度高，但是成套裝置體積龐大而笨重，現場移動不便，成本也非常之高。
發(fā)明內容本實用新型提供一種便攜式高精度同軸度測量儀，以解決人工測量數據不準，計算機成套裝置測量龐大笨重，成本高的問題。本實用新型的技術方案是雙引伸計夾持裝置分別與儀表放大器芯片一、儀表放大器芯片二連接，儀表放大器芯片一、儀表放大器芯片二分別與四運算放大器芯片連接，四運算放大器芯片與A/D轉換器芯片的模擬輸入端連接，A/D轉換器芯片的數字輸出端與單片機芯片連接，單片機芯片與掉電存儲非易EEROM芯片連接，單片機芯片還與液晶顯示模塊連接。本實用新型的優(yōu)點在于結構新穎，體積小，成本低、測量精確、易于攜帶放置，方便實用，實現了低功耗、高精度、便攜方式測量，給現場使用者帶來便利。

圖1是本實用新型的原理框圖。
具體實施方式
雙引伸計夾持裝置I分別與儀表放大器芯片一 2、儀表放大器芯片二 3連接，儀表放大器芯片一 2、儀表放大器芯片二 3分別與四運算放大器芯片4連接，四運算放大器芯片4與A/D轉換器芯片5的模擬輸入端連接，A/D轉換器芯片5的數字輸出端與單片機芯片6連接，單片機芯片6與掉電存儲非易EEROM芯片7連接，單片機芯片6還與液晶顯示模塊8連接。本實用新型中儀表放大器芯片一、儀表放大器芯片二都采用AD620AN芯片；四運算放大器芯片采用TL084芯片，四運算放大器芯片中有兩個構成濾波器，另兩個構成電平轉換器，A/D轉換器芯片采用低功耗、高精度、雙通道的AD7705AN芯片，簡化了電路結構；核心微處理器單片機芯片采用目前功耗最低的單片機系列MSP430芯片；掉電存儲非易EEROM芯片采用X5045，實現了試驗數據的現場存儲；低功耗的液晶顯示模塊采用SMS0501C模塊，有效地降低了功耗；前置放大、濾波、電平轉換等中間環(huán)節(jié)皆選用低功耗器件，單片機外圍器件皆選用SPI類型接口器件，簡化硬件結構，縮小體積。采用電池與市電互切換供電，降低待機功耗。
權利要求1. 一種便攜式高精度同軸度測量儀，其特征在于雙引伸計夾持裝置分別與儀表放大器芯片一、儀表放大器芯片二連接，儀表放大器芯片一、儀表放大器芯片二分別與四運算放大器芯片連接，四運算放大器芯片與A/D轉換器芯片的模擬輸入端連接，A/D轉換器芯片的數字輸出端與單片機芯片連接，單片機芯片與掉電存儲非易EEROM芯片連接，單片機芯片還與液晶顯示模塊連接。
專利摘要本實用新型涉及一種便攜式高精度同軸度測量儀，屬于金屬材料性能測試技術領域。雙引伸計夾持裝置分別與儀表放大器芯片一、儀表放大器芯片二連接，儀表放大器芯片一、儀表放大器芯片二分別與四運算放大器芯片連接，四運算放大器芯片與A/D轉換器芯片的模擬輸入端連接，A/D轉換器芯片的數字輸出端與單片機芯片連接，單片機芯片與掉電存儲非易EEROM芯片連接，單片機芯片還與液晶顯示模塊連接。本實用新型的優(yōu)點在于結構新穎，體積小，成本低、測量精確、易于攜帶放置，方便實用，實現了低功耗、高精度、便攜方式測量，給現場使用者帶來便利。
文檔編號G01B7/312GK202836506SQ20122051615
公開日2013年3月27日 申請日期2012年10月10日 優(yōu)先權日2012年10月10日
發(fā)明者韓巍, 許太, 張泳, 范曉望 申請人:長春機械科學研究院有限公司