專利名稱：一種太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
—種太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置，尤其涉及利用電致發(fā)光原理對(duì)單個(gè)太陽(yáng)能晶硅電池片進(jìn)行測(cè)試的裝置。
背景技術(shù)：
[0002]太陽(yáng)能光伏組件主要的生產(chǎn)過(guò)程是使用鋼化玻璃、EVA膠膜、電池片、背板等材料經(jīng)過(guò)高溫固化后形成層壓組件，在其四周安裝鋁邊框提高其機(jī)械強(qiáng)度并用于戶外安裝。 目前光伏組件使用的電池片平均厚度僅為180 μ m左右，在電池片生產(chǎn)過(guò)程中很多環(huán)節(jié)都有可能造成隱裂(隱裂指的是電池片出現(xiàn)肉眼無(wú)法察覺的裂縫)，一旦隱裂的電池片被封裝入電池組件內(nèi)，會(huì)導(dǎo)致組件的使用壽命降低。組件生產(chǎn)車間通常會(huì)利用晶硅電池片電致發(fā)光的原理對(duì)組件進(jìn)行檢測(cè)，用以檢驗(yàn)組件是否存在隱裂、裂片、斷柵等不良，稱為EL (Electroluminescence)測(cè)試,進(jìn)行這種測(cè)試的儀器被稱為組件EL測(cè)試儀。但是,這種普遍使用的測(cè)試方法及測(cè)試儀器只能針對(duì)已經(jīng)焊接的電池片進(jìn)行，而此時(shí)已無(wú)法明確的區(qū)分出現(xiàn)的隱裂是電池片來(lái)料缺陷或是焊接過(guò)程中造成，也就是說(shuō)無(wú)法對(duì)隱裂電池片進(jìn)行有效地來(lái)料控制，如果要檢驗(yàn)未焊接的 電池片是否存在隱裂等缺陷，需要另外購(gòu)置專用的單片EL 測(cè)試儀，此類測(cè)試儀市場(chǎng)價(jià)格大約在30-40萬(wàn)人民幣，對(duì)于企業(yè)來(lái)說(shuō)需要負(fù)擔(dān)較高的成本， 無(wú)法普及使用。發(fā)明內(nèi)容[0003]為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種可連接于組件EL測(cè)試儀的測(cè)試裝置， 采用這種裝置，可以使用普通的組件EL測(cè)試儀在晶硅電池片沒有焊接之前就可以進(jìn)行檢測(cè)，滿足企業(yè)對(duì)電池片來(lái)料的檢驗(yàn)，并且操作簡(jiǎn)單，速度快，成本低廉。[0004]本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種單片EL測(cè)試裝置，放置于組件 EL測(cè)試儀的暗室里，包括下底板、上壓板、高度限位框架、探針導(dǎo)軌和探針頭。[0005]所述下底板為高透光鋼化玻璃，在高透光鋼化玻璃上安裝有若干下探針導(dǎo)軌，下探針導(dǎo)軌上安裝有下探針頭，下探針頭的位置與待測(cè)試晶硅電池片的柵線分布相對(duì)應(yīng)，與下探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的的負(fù)極；所述上壓板上安裝有上探針導(dǎo)軌，上探針導(dǎo)軌上安裝有上探針頭，上探針頭的位置與下探針頭對(duì)應(yīng)，與上探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的正極；上壓板和下底板在一側(cè)鉸接。[0006]所述上探針導(dǎo)軌之間位置距離可調(diào)，上探針導(dǎo)軌可拆卸添加；所述上探針頭數(shù)量、 上探針頭之間距離可調(diào)；所述下探針導(dǎo)軌之間位置距離可調(diào)，下探針導(dǎo)軌可拆卸添加；所述下探針頭數(shù)量、下探針頭之間距離可調(diào)。[0007]所述上壓板在邊框上固定有鎖扣裝置及高度限位塊，使上壓板扣合后探針頭與電池片能充分接觸，且壓力適中，避免由于壓力過(guò)大造成電池片損傷。[0008]所述上壓板在邊框上固定有把手。[0009]所述下底板在邊框上固定有上端限位塊及側(cè)面限位塊，用以固定測(cè)試電池片的位[0010]本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明可以安裝在組件生產(chǎn)車間現(xiàn)有的組件EL測(cè)試儀上 對(duì)一塊電池片進(jìn)行測(cè)試，觀察其是否在尚未焊接的情況下即出現(xiàn)隱裂現(xiàn)象，可作為組件車 間的電池片來(lái)料檢驗(yàn)工具。其成本低廉，不需占用額外的空間，可滿足不同規(guī)格電池片測(cè) 試。使用時(shí)操作簡(jiǎn)單，使用壽命長(zhǎng)。其作用可以完全等同于一臺(tái)獨(dú)立的單片EL測(cè)試儀。


[0011]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；[0012]圖2為本發(fā)明的側(cè)視圖；[0013]圖3為上壓板的仰視圖；[0014]圖4為下底板的俯視圖；[0015]圖中1-上壓板；2_上壓板把手；3_上壓板探針導(dǎo)軌；4_探針頭；5_下底板引出 線纜；6_上壓板引出線纜；7_上端限位塊；8_下底板；9_鋼化玻璃；10_下底板探針導(dǎo)軌; 11-側(cè)面限位塊；12-高度限位框；13-鎖扣裝置。
具體實(shí)施方式
[0016]本發(fā)明提供一種單片EL測(cè)試裝置，需加裝于組件EL測(cè)試儀上。組件EL測(cè)試儀主 要包括暗室及紅外相機(jī)，單片EL測(cè)試裝置放置于組件EL測(cè)試儀的暗室里，并與組件EL測(cè) 試儀的電源正負(fù)極相連接。在通電后，單片EL測(cè)試裝置可利用晶硅電池片電致發(fā)光的特性 進(jìn)行測(cè)試作業(yè)。[0017]所述單片EL測(cè)試裝置的特征是一種單片EL測(cè)試裝置，放置于組件EL測(cè)試儀 的暗室里，包括下底板、上壓板、上端限位塊、側(cè)面限位塊、高度限位框架、鎖扣裝置、探針導(dǎo) 軌、探針頭和EL測(cè)試儀連接線。[0018]所述下底板為高透光鋼化玻璃，在高透光鋼化玻璃上裝有下探針導(dǎo)軌，探針導(dǎo)軌 上分布著探針頭，探針導(dǎo)軌可按照測(cè)試晶硅電池片柵線數(shù)量、柵線間距離進(jìn)行調(diào)整，探針頭 數(shù)量級(jí)分布密度可根據(jù)測(cè)試晶硅電池片柵線情況進(jìn)行調(diào)整。在下底板后側(cè)有與探針頭相連 接的引出線纜，用以連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的的負(fù)極。[0019]所述上壓板上裝有上探針導(dǎo)軌，探針導(dǎo)軌上分布著探針頭，探針導(dǎo)軌可按照測(cè)試 晶硅電池片柵線數(shù)量、柵線間距離進(jìn)行調(diào)整，探針頭數(shù)量級(jí)分布密度可根據(jù)測(cè)試晶硅電池 片柵線情況進(jìn)行調(diào)整。在上壓板上裝有把手。在上壓板后側(cè)有與探針頭相連接的引出線纜， 用以連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的正極。[0020]所述探針導(dǎo)軌之間位置距離可調(diào)，探針導(dǎo)軌可拆卸添加。所述探針頭數(shù)量、探針頭 之間距離可調(diào)。[0021]所述下底板與上壓板在一側(cè)成合頁(yè)狀連接，上壓板在測(cè)試時(shí)扣合，在其余時(shí)間翻 開，上壓板上含有鎖扣裝置及高度限位塊，使上壓板扣合后探針頭與電池片能充分接觸，且 壓力適中，避免由于壓力過(guò)大造成電池片損傷。[0022]所述下底板具有上端限位塊及側(cè)面限位塊，用以固定測(cè)試電池片的位置。[0023]
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明。[0024]所述單片EL測(cè)試裝置，如圖1-4所示，它包括上壓板1、下底板8，上壓板I上安裝有上壓板探針導(dǎo)軌3，上壓板探針導(dǎo)軌3可以拆卸，其距離可調(diào)整。在上壓板探針導(dǎo)軌3上 均勻排布有探針頭4，探針頭4數(shù)量與位置可調(diào)。所述上壓板I上含有鎖扣裝置13，上壓板 I的外框?yàn)楦叨认尬豢蚣?2，上壓板I上含有上壓板引出線纜6及上壓板把手2。上壓板I 與下底板8之間連接，上壓板I可扣合至下底板8上。所述下底板8上含有鋼化玻璃9，鋼 化玻璃9上裝有下底板探針導(dǎo)軌10，下底板探針導(dǎo)軌10可拆卸，距離可調(diào)整。下底板探針 導(dǎo)軌10上均勻分布有探針頭4，探針頭4數(shù)量與位置可調(diào)，下底板探針導(dǎo)軌10配合上壓板 探針導(dǎo)軌3使用，可適應(yīng)不同規(guī)格電池片的測(cè)試。下底板8上裝有上端限位塊7及側(cè)面限 位塊11。[0025]具體使用方法將下底板引出線纜5、上壓板引出線纜6分別連接至組件EL測(cè)試 儀的正極、負(fù)極。根據(jù)待測(cè)電池片的柵線位置、柵線數(shù)量調(diào)整上壓板探針導(dǎo)軌3、下底板探針 導(dǎo)軌10的位置及探針頭4的排布方式。將上壓板I打開，放入待測(cè)試電池片，對(duì)照上端限 位塊7及側(cè)面限位塊11固定待測(cè)電池片的位置。將上壓板扣合，鎖扣裝置13鎖定，此時(shí)可 將組件EL測(cè)試儀的頂蓋關(guān)閉，使其營(yíng)造出暗室環(huán)境。組件EL測(cè)試儀通過(guò)下底板弓丨出線纜5 及上壓板引出線纜6向單片EL測(cè)試裝置通以恒定電流，并通過(guò)上壓板探針導(dǎo)軌3、下底板探 針導(dǎo)軌10上的探針頭4使被測(cè)試的晶硅電池片通電，電池片會(huì)由于電致發(fā)光原理發(fā)出紅外 光，此時(shí)利用組件測(cè)試儀上的紅外相機(jī)控制系統(tǒng)對(duì)電池片發(fā)光的圖像進(jìn)行拍攝，并顯示于 電腦上，通過(guò)圖像即可判斷尚未焊接的晶硅電池片是否存在缺陷，至此完成測(cè)試。測(cè)試結(jié)束 后將組件EL測(cè)試儀的頂蓋升起，并將上壓板I打開，取出測(cè)試電池片，完成一個(gè)工作循環(huán)。
權(quán)利要求1.一種太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置，放置于組件EL測(cè)試儀的暗室里，包括下底板、上壓板、高度限位框架、探針導(dǎo)軌和探針頭，其特征在于所述下底板為高透光鋼化玻璃，在高透光鋼化玻璃上安裝有若干下探針導(dǎo)軌，下探針導(dǎo)軌上安裝有下探針頭，下探針頭的位置與待測(cè)試晶硅電池片的柵線分布相對(duì)應(yīng)，與下探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的的負(fù)極；所述上壓板上安裝有上探針導(dǎo)軌，上探針導(dǎo)軌上安裝有上探針頭，上探針頭的位置與下探針頭對(duì)應(yīng)，與上探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的正極；上壓板和下底板在一側(cè)鉸接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置，其特征在于所述上探針導(dǎo)軌之間位置距離可調(diào)，上探針導(dǎo)軌可拆卸添加；所述上探針頭數(shù)量、上探針頭之間距離可調(diào)；所述下探針導(dǎo)軌之間位置距離可調(diào)，下探針導(dǎo)軌可拆卸添加；所述下探針頭數(shù)量、下探針頭之間距離可調(diào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置，其特征在于所述上壓板在邊框上固定有鎖扣裝置及高度限位塊，使上壓板扣合后探針頭與電池片能充分接觸，且壓力適中，避免由于壓力過(guò)大造成電池片損傷。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置，其特征在于所述上壓板在邊框上固定有把手。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置，其特征在于所述下底板在邊框上固定有上端限位塊及側(cè)面限位塊，用以固定測(cè)試電池片的位置。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種太陽(yáng)能晶硅電池片的測(cè)試裝置，放置于組件EL測(cè)試儀的暗室里，下底板為高透光鋼化玻璃，在高透光鋼化玻璃上安裝有若干下探針導(dǎo)軌，下探針導(dǎo)軌上安裝有下探針頭，下探針頭的位置與待測(cè)試晶硅電池片的柵線分布相對(duì)應(yīng)，與下探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的負(fù)極；所述上壓板上安裝有上探針導(dǎo)軌，上探針導(dǎo)軌上安裝有上探針頭，上探針頭的位置與下探針頭對(duì)應(yīng)，與上探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測(cè)試儀測(cè)試線的正極。通過(guò)本實(shí)用新型可以使用普通的組件EL測(cè)試儀在晶硅電池片沒有焊接之前就可以進(jìn)行檢測(cè)，滿足企業(yè)對(duì)電池片來(lái)料的檢驗(yàn)，并且操作簡(jiǎn)單，速度快，成本低廉。
文檔編號(hào)G01N21/88GK202837198SQ20122047169
公開日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2012年9月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月17日
發(fā)明者潘阿偉, 馬標(biāo), 郭忠民 申請(qǐng)人:西安黃河光伏科技股份有限公司