專利名稱：檢測前處理設(shè)備及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測行業(yè)前處理領(lǐng)域，尤其涉及一種能夠檢測和消除被檢測物所帶的靜電的檢測前處理設(shè)備及方法。
背景技術(shù)：
靜電的產(chǎn)生是由于摩擦、相接觸的兩個(gè)物體發(fā)生分離、靜電感應(yīng)等現(xiàn)象產(chǎn)生的，在日常生活和工作區(qū)域的任何物體都能產(chǎn)生靜電，人體對大于3000V的靜電才有感覺，但是由于在電器和可靠性檢測領(lǐng)域，大都情況下，被檢測物在進(jìn)行檢測之前，需要進(jìn)行靜電消除，否則將會(huì)影響檢測結(jié)果。在檢測行業(yè)，很多檢測實(shí)驗(yàn)室是杜絕靜電的，例如高頻檢測實(shí)驗(yàn)室、EMC實(shí)驗(yàn)室等等，如果被檢測物上帶有靜電，則靜電能夠擊壞檢測儀器，被檢測物在進(jìn)行檢測之前要進(jìn)行靜電的檢測和消除，以免造成不必要的麻煩。針對一些體積較大、且無礙于輕微濕潤的絕緣的被檢測物來說，在待檢測的前處理階段，進(jìn)行靜電消除時(shí)，如果能在稍微潮濕的環(huán)境下進(jìn)行，對靜電消除的效果會(huì)更優(yōu)。因此，亟需一種能夠檢測和消除物質(zhì)所帶的靜電的檢測前處理設(shè)備及方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一是提供一種能夠檢測和消除被檢測物所帶的靜電的檢測前處
理設(shè)備。本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種能夠檢測和消除被檢測物所帶的靜電的檢測前處理方法。為了實(shí)現(xiàn)上述目的之一，本發(fā)明的技術(shù)方案是提供一種檢測前處理設(shè)備，用于對被檢測物在檢測前進(jìn)行靜電的檢測和消除，其包括倉體，內(nèi)部形成實(shí)驗(yàn)空間；靜電檢測消除裝置，包括靜電檢測單元、中央處理器、離子霧化發(fā)生器、熱風(fēng)發(fā)生器及若干噴頭，所述噴頭裝設(shè)于所述實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)，且和所述離子霧化發(fā)生器連通，所述靜電檢測單元裝設(shè)于所述噴頭上，所述中央處理器分別與所述靜電檢測單元及離子霧化發(fā)生器電性連接，所述靜電檢測單元用于檢測被檢測物所帶的靜電信息，并發(fā)送到所述中央處理器，所述中央處理器用于判斷被檢測物所帶的電性并計(jì)算被檢測物的電量，并啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器產(chǎn)生極性相反及電量相等的離子霧向被檢測物進(jìn)行噴灑，所述所述熱風(fēng)發(fā)生器與所述中央處理器電性連接，且與所述噴頭連通，被檢測物所帶的靜電為零時(shí)，所述中央處理器啟動(dòng)所述熱風(fēng)發(fā)生器對被檢測物進(jìn)行吹熱風(fēng)，至被檢測物干燥為止。所述靜電檢測消除裝置還包括機(jī)械手，所述實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)壁設(shè)置有滑軌，所述噴頭裝設(shè)于所述機(jī)械手上，所述機(jī)械手滑動(dòng)的安裝于所述滑軌上。所述靜電檢測消除裝置還包括有伸縮氣缸，所述伸縮氣缸的外殼滑動(dòng)的安裝于所述滑軌上，且與所述噴頭連接。
所述倉體還開設(shè)有抽風(fēng)口，所述抽風(fēng)口裝設(shè)有抽風(fēng)裝置。所述靜電檢測單元為靜電傳感器，還包括信號處理裝置，所述所述靜電檢測單元通過所述信號處理裝置與所述中央處理器連接。所述信號處理裝置包括依次相連的濾波器、放大器及模數(shù)轉(zhuǎn)換器。所述檢測前處理設(shè)備還包括三叉連接頭及管道，所述三叉連接頭包括第一端口、第二端口及第三端口，所述離子霧化發(fā)生器連接到所述第一端口，所述熱風(fēng)發(fā)生器連接到所述第二端口，所述第三端口與所述噴頭連通，且所述第一端口及第二端口上均設(shè)置有用于控制所述第一端口及第二端口打開和/或閉合的電磁開關(guān)。所述離子霧化發(fā)生器與所述第一端口之間還設(shè)置有流量控制器及流量計(jì)。檢測前處理設(shè)備還包括用于承載被檢測物的支撐柱。為了實(shí)現(xiàn)上述另一目的，本發(fā)明還公開了一種利用檢測前處理設(shè)備進(jìn)行靜電檢測和消除的方法，其包括如下步驟(I)提供一倉體，內(nèi)部具有可密閉的實(shí)驗(yàn)空間，并將被檢測物測置于所述倉體內(nèi)部的實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)，密閉所述實(shí)驗(yàn)空間；(2)檢測被檢測物的帶靜電信息；(3)綜合分析被檢測物所帶靜電的電性及電量；(4)啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器產(chǎn)生極性相反及電量相等的離子霧向被檢測物進(jìn)行噴灑；(5)檢測被檢測物的當(dāng)前帶靜電信息，如有，轉(zhuǎn)步驟(3)，如沒有，執(zhí)行下一步驟；(6)向被檢測物吹熱風(fēng)，至被檢測物干燥為止。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明檢測前處理設(shè)備具有靜電檢測消除裝置及熱風(fēng)發(fā)生器，所述靜電檢測消除裝置包括靜電檢測單元、中央處理器、離子霧化發(fā)生器及若干噴頭，被檢測物置于所述支撐柱上，若所述靜電檢測單元檢測到被檢測物帶有靜電信息，則所述中央處理器則啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器產(chǎn)生極性相反、電量相等的離子霧通過所述噴頭向被檢測物進(jìn)行噴灑，在本發(fā)明中所述靜電檢測單元和中央處理器是循環(huán)工作的，直至檢測到被檢測物不帶靜電后，所述中央處理器將啟動(dòng)所述所述熱風(fēng)發(fā)生器，通過所述噴頭向被檢測物吹熱風(fēng)，干燥被檢測物。通過以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明的實(shí)施例。


圖1為本發(fā)明檢測前處理設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例的原理框圖。圖2為如圖1所示的檢測前處理設(shè)備的倉體的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為如圖1所示的檢測前處理設(shè)備的熱風(fēng)發(fā)生器和離子霧化發(fā)生器通過三叉連接頭與噴頭連接的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為如圖1所示的檢測前處理設(shè)備的靜電檢測消除裝置的電路原理框圖。圖5為本發(fā)明檢測前處理方法的流程框圖。
具體實(shí)施方式
現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例，附圖中類似的元件標(biāo)號代表類似的元件。如上所述，如圖1-4所示，本發(fā)明提供的提供的檢測前處理設(shè)備100，用于檢測和消除被檢測物所帶的靜電，其包括倉體10、靜電檢測消除裝置20，所述倉體10內(nèi)部可以密閉形成實(shí)驗(yàn)空間10a，所述靜電檢測消除裝置20包括靜電檢測單元21、中央處理器22、離子霧化發(fā)生器23、熱風(fēng)發(fā)生器27及三個(gè)噴頭24，分別設(shè)置在所述實(shí)驗(yàn)空間IOa的上內(nèi)壁和兩相對的側(cè)壁上，在所述實(shí)驗(yàn)空間IOa上內(nèi)壁和兩相對的側(cè)壁上分別裝設(shè)有三條所述滑軌11，在如圖2所示的倉體10中，由于由于視角關(guān)系，看到兩個(gè)所述噴頭24，所述機(jī)械手25滑動(dòng)的安裝于所述滑軌11上，所述機(jī)械手25在與所述滑軌11接觸處設(shè)置滑槽(圖上未示)，三個(gè)所述噴頭24裝設(shè)于所述機(jī)械手25上，且和所述離子霧化發(fā)生器23連通，所述靜電檢測單元21為靜電傳感器，在本實(shí)施例中，所述噴頭24呈喇叭狀，且所述靜電檢測單元21裝設(shè)于所述噴頭24末端的中央處，所述噴頭24末端的周邊均勻的開設(shè)有用于噴灑離子霧和/或熱風(fēng)的噴孔24a，所述中央處理器22分別與所述靜電檢測單元21及離子霧化發(fā)生器23電性連接，所述靜電檢測單元21用于檢測被檢測物所帶的靜電信息，并發(fā)送到所述中央處理器22，所述中央處理器22用于判斷被檢測物所帶的電性并計(jì)算被檢測物的電量，并啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器23產(chǎn)生極性相反及電量相等的離子霧向被檢測物進(jìn)行噴灑，所述熱風(fēng)發(fā)生器27與所述中央處理器22電性連接，且與所述噴頭24連通，被檢測物所帶的靜電為零時(shí)，所述中央處理器22啟動(dòng)所述熱風(fēng)發(fā)生器27對被檢測物進(jìn)行吹熱風(fēng)，至被檢測物干燥為止。需要說明的是，在本實(shí)施例中，所述倉體10接地，而所述實(shí)驗(yàn)空間IOa的內(nèi)壁涂覆有絕緣漆層，而在整個(gè)靜電檢測和消除的過程中，所述實(shí)驗(yàn)空間IOa是呈與外界密閉狀態(tài)，在所述實(shí)驗(yàn)空間IOa的側(cè)壁上裝設(shè)有風(fēng)扇(圖上未示)，當(dāng)所述噴頭24向被檢測物噴灑離子霧時(shí)，啟動(dòng)風(fēng)扇使得所述實(shí)驗(yàn)空間IOa內(nèi)產(chǎn)生環(huán)形氣流，使得所述實(shí)驗(yàn)空間IOa內(nèi)的離子能夠與被檢測物上所帶的靜電充分中和。如圖2所示，所述靜電檢測消除裝置20還包括有伸縮氣缸26，所述伸縮氣缸26的外殼滑動(dòng)的安裝于所述滑軌11上，即是在所述伸縮氣缸26的外殼上設(shè)置有所述滑槽與所述滑軌11配合，且所述機(jī)械手25裝設(shè)于一連接座26a上，所述連接座26a與所述神錯(cuò)氣缸26連接。通過所述伸縮氣缸26能夠調(diào)整所述噴頭24相對于被檢測物的距離，便于所述噴頭24向被檢測物噴灑離子霧或者熱風(fēng)。在一個(gè)實(shí)施例中，所述機(jī)械手25設(shè)計(jì)成可伸縮的結(jié)構(gòu)，與所述伸縮氣缸26配合使用，如此設(shè)計(jì)適合在所述實(shí)驗(yàn)空間IOa的體積比較大、被檢測物的體積較大的情況下使用。在一個(gè)實(shí)施例中，所述機(jī)械手25設(shè)計(jì)成可伸縮的結(jié)構(gòu)，取代所述伸縮氣缸26。在一個(gè)實(shí)施例中，如圖2所示，所述倉體10的頂端面還開設(shè)有抽風(fēng)口 12，所述抽風(fēng)口 12裝設(shè)有抽風(fēng)裝置(圖上未示)，在所述噴頭24對被檢測物進(jìn)行噴灑離子霧前，啟動(dòng)所述抽風(fēng)口 12對所述實(shí)驗(yàn)空間IOa進(jìn)行抽負(fù)壓，如此能夠讓所述噴頭24能夠順利向被檢測物噴灑離子霧，通過所述抽風(fēng)裝置可以隨時(shí)對所述實(shí)驗(yàn)空間IOa進(jìn)行抽風(fēng)，以使得所述實(shí)驗(yàn)空間IOa內(nèi)的氣壓保持穩(wěn)定。如圖4所示，所述靜電檢測單元21為靜電傳感器，還包括信號處理裝置25，所述所述靜電檢測單元21通過所述信號處理裝置25與所述中央處理器22連接。如圖4所示，所述信號處理裝置25包括依次相連的濾波器25a、放大器25b及模數(shù)轉(zhuǎn)換器25c。通過所述信號處理裝置25對所述靜電檢測單元21所檢測到的信號進(jìn)行處理，使得信號符合所述中央處理器22的輸入要求。如圖3所示，所述檢測前處理設(shè)備100還包括三叉連接頭40及管道50，所述三叉連接頭40包括第一端口 40a、第二端口 40b及第三端口 40c，所述離子霧化發(fā)生器23連接到所述第一端口 40a，所述熱風(fēng)發(fā)生器27連接到所述第二端口 40b，所述第三端口 40c與所述噴頭24連通，且所述第一端口 40a及第二端口 40b上均設(shè)置有用于控制所述第一端口 40a及第二端口 40b打開和/或閉合的電磁開關(guān)60。所述三叉連接頭40將所述離子霧化發(fā)生器23和熱風(fēng)發(fā)生器27能夠匯集于一條管道50，且最終均通過所述噴頭24進(jìn)行噴灑離子霧或者吹熱風(fēng)，使得本發(fā)明檢測前處理設(shè)備100的結(jié)構(gòu)簡單，節(jié)約了原材料成本，也將大大的降低用戶在使用過程中，由維護(hù)產(chǎn)生的費(fèi)用。如圖3所示，所述離子霧化發(fā)生器23與所述第一端口 40a之間還設(shè)置有流量控制器70及流量計(jì)71，通過所述流量控制器70和流量計(jì)71能夠隨時(shí)掌握管道內(nèi)離子霧的流量大小。如圖2所示，所述檢測前處理設(shè)備100還包括用于承載被檢測物的支撐柱80，被檢測物置于所述支撐柱80上，且針對不同的需求，可以在所述支撐柱80上裝設(shè)升降機(jī)構(gòu)，以調(diào)整被檢測物在所述實(shí)驗(yàn)空間IOa內(nèi)的水平高度。如圖5所示，為了實(shí)現(xiàn)上述另一目的，本發(fā)明還公開了一種利用檢測前處理設(shè)備進(jìn)行靜電檢測和消除的方法，其包括如下步驟SOOl提供一倉體，內(nèi)部具有可密閉的實(shí)驗(yàn)空間，并將被檢測物測置于所述倉體內(nèi)部的實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)，密閉所述實(shí)驗(yàn)空間；S002檢測被檢測物的帶靜電信息；S003綜合分析被檢測物所帶靜電的電性及電量；S004啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器產(chǎn)生極性相反及電量相等的離子霧向被檢測物進(jìn)行噴灑；S005檢測被檢測物的當(dāng)前帶靜電信息，如有，轉(zhuǎn)步驟S003，如沒有，執(zhí)行下一步驟；S006向被檢測物吹熱風(fēng)，至被檢測物干燥為止。在一個(gè)實(shí)施例中，所述中央處理器22為帶顯示器的個(gè)人電腦，通過編程實(shí)現(xiàn)讓啟動(dòng)和/或關(guān)斷所述離子霧發(fā)生器23或熱風(fēng)發(fā)生器27，且通過顯示器觀察整個(gè)設(shè)備的工作狀態(tài)。結(jié)合圖1-5，本發(fā)明檢測前處理設(shè)備及方法中，通過所述靜電檢測消除裝置20檢測并消被檢測物所帶的靜電，及熱風(fēng)發(fā)生器27對已經(jīng)消除靜電的被檢測物進(jìn)行吹熱風(fēng)干燥，，所述靜電檢測消除裝置20包括靜電檢測單元21、中央處理器22、離子霧化發(fā)生器23及噴頭24，被檢測物置于所述支撐柱80上，若所述靜電檢測單元21檢測到被檢測物帶有靜電信息，所述中央處理器22則啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器23產(chǎn)生極性相反、電量相等的離子霧通過所述噴頭24向被檢測物進(jìn)行噴灑，在本發(fā)明中所述靜電檢測單元21和中央處理器22是循環(huán)工作的，直至檢測到被檢測物不帶靜電后，需要說明的是，對帶靜電量的大小要求的不同的被檢測物，只需檢測到被檢測物所帶的靜電在符合要求的范圍內(nèi)即可，當(dāng)所述靜電檢測單元21檢測到被檢測物所待的靜電在符合要求范圍內(nèi)之后，所述中央處理器22將啟動(dòng)所述所述熱風(fēng)發(fā)生器27，通過所述噴頭24向被檢測物吹熱風(fēng)，干燥被檢測物。以上所揭露的僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明申請專利范圍所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測前處理設(shè)備，用于對被檢測物在檢測前進(jìn)行靜電的檢測和消除，其特征在于，包括 倉體，內(nèi)部形成實(shí)驗(yàn)空間； 靜電檢測消除裝置，包括靜電檢測單元、中央處理器、離子霧化發(fā)生器、熱風(fēng)發(fā)生器及若干噴頭，所述噴頭裝設(shè)于所述實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)，且和所述離子霧化發(fā)生器連通，所述靜電檢測單元裝設(shè)于所述噴頭上，所述中央處理器分別與所述靜電檢測單元及離子霧化發(fā)生器電性連接，所述靜電檢測單元用于檢測被檢測物所帶的靜電信息，并發(fā)送到所述中央處理器，所述中央處理器用于判斷被檢測物所帶的電性并計(jì)算被檢測物的電量，并啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器產(chǎn)生極性相反及電量相等的離子霧向被檢測物進(jìn)行噴灑，所述熱風(fēng)發(fā)生器與所述中央處理器電性連接，且與所述噴頭連通，被檢測物所帶的靜電為零時(shí)，所述中央處理器啟動(dòng)所述熱風(fēng)發(fā)生器對被檢測物進(jìn)行吹熱風(fēng)，至被檢測物干燥為止。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于所述靜電檢測消除裝置還包括機(jī)械手，所述實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)壁設(shè)置有滑軌，所述噴頭裝設(shè)于所述機(jī)械手上，所述機(jī)械手滑動(dòng)的安裝于所述滑軌上。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于所述靜電檢測消除裝置還包括有伸縮氣缸，所述伸縮氣缸的外殼滑動(dòng)的安裝于所述滑軌上，且與所述噴頭連接。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于所述倉體還開設(shè)有抽風(fēng)口，所述抽風(fēng)口裝設(shè)有抽風(fēng)裝置。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于所述靜電檢測單元為靜電傳感器，還包括信號處理裝置，所述所述靜電檢測單元通過所述信號處理裝置與所述中央處理器連接。
6.如權(quán)利要求5所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于所述信號處理裝置包括依次相連的濾波器、放大器及模數(shù)轉(zhuǎn)換器。
7.如權(quán)利要求1所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于還包括三叉連接頭及管道，所述三叉連接頭包括第一端口、第二端口及第三端口，所述離子霧化發(fā)生器連接到所述第一端口，所述熱風(fēng)發(fā)生器連接到所述第二端口，所述第三端口與所述噴頭連通，且所述第一端口及第二端口上均設(shè)置有用于控制所述第一端口及第二端口打開和/或閉合的電磁開關(guān)。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于所述離子霧化發(fā)生器與所述第一端口之間還設(shè)置有流量控制器及流量計(jì)。
9.如權(quán)利要求1所述的檢測前處理設(shè)備，其特征在于還包括用于承載被檢測物的支撐柱。
10.一種根據(jù)如權(quán)利要求1所述的檢測前處理設(shè)備進(jìn)行檢測前處理方法，其特征在于，包括如下步驟 (1)提供一倉體，內(nèi)部具有可密閉的實(shí)驗(yàn)空間，并將被檢測物測置于所述倉體內(nèi)部的實(shí)驗(yàn)空間內(nèi)，密閉所述實(shí)驗(yàn)空間； (2)檢測被檢測物的帶靜電信息； (3)綜合分析被檢測物所帶靜電的電性及電量； (4)啟動(dòng)所述離子霧化發(fā)生器產(chǎn)生極性相反及電量相等的離子霧向被檢測物進(jìn)行噴灑；(5)檢測被檢測物的當(dāng)前帶靜電信息，如有，轉(zhuǎn)步驟(3)，如沒有，執(zhí)行下一步驟；(6)向被檢`測物吹熱風(fēng)，至被檢測物干燥為止。
全文摘要
本發(fā)明公開一種檢測前處理設(shè)備及方法，檢測前處理設(shè)備包括倉體、靜電檢測消除裝置，靜電檢測消除裝置，包括靜電檢測單元、中央處理器、離子霧化發(fā)生器、熱風(fēng)發(fā)生器及噴頭，噴頭和離子霧化發(fā)生器連通，靜電檢測單元裝設(shè)于噴頭上，中央處理器分別與靜電檢測單元及離子霧化發(fā)生器電性連接，靜電檢測單元用于檢測被檢測物所帶的靜電信息，中央處理器用于判斷被檢測物所帶的電性并計(jì)算被檢測物的電量，并啟動(dòng)離子霧化發(fā)生器產(chǎn)生極性相反及電量相等的離子霧，熱風(fēng)發(fā)生器與噴頭連通，被檢測物所帶的靜電為零時(shí)，中央處理器啟動(dòng)熱風(fēng)發(fā)生器對被檢測物進(jìn)行吹熱風(fēng)，至被檢測物干燥為止。本發(fā)明是一種能夠檢測和消除物質(zhì)所帶的靜電的檢測前處理設(shè)備及方法。
文檔編號G01R29/12GK103068134SQ20121055667
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月20日
發(fā)明者陳益思, 李波, 董寧, 朱平, 郭勇 申請人:深圳市華測檢測技術(shù)股份有限公司