透鏡測(cè)量設(shè)備及測(cè)量方法
【專利摘要】一種透鏡厚度測(cè)量設(shè)備，包括第一基臺(tái)、第一定位件、第二基臺(tái)、第二定位件及測(cè)量器，第一定位件固定于第一基臺(tái)上，第二定位件可移動(dòng)地安裝于第二基臺(tái)上，第一定位件用于抵頂透鏡入光面及出光面中的一個(gè)，第二定位件用于朝向透鏡移動(dòng)而抵頂透鏡入光面及出光面中的另一個(gè)，測(cè)量器根據(jù)第二定位件的移動(dòng)距離測(cè)出透鏡的厚度。該測(cè)量設(shè)備可精確及快速地測(cè)出透鏡的厚度。本發(fā)明還提供一種透鏡厚度的測(cè)量方法。
【專利說明】透鏡測(cè)量設(shè)備及測(cè)量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種透鏡測(cè)量設(shè)備及測(cè)量方法，特別是指一種用于發(fā)光二極管的透鏡測(cè)量設(shè)備及測(cè)量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]發(fā)光二極管作為新興的光源，已被廣泛地應(yīng)用于各種用途當(dāng)中，特別是顯示器背光模組?，F(xiàn)有的發(fā)光二極管通常會(huì)搭配透鏡使用，以產(chǎn)生符合預(yù)期的光型。然而，現(xiàn)有的透鏡的出光面及入光面往往會(huì)形成各種形狀復(fù)雜的曲面來調(diào)整光線，導(dǎo)致透鏡的厚度(即出光面特定位置與入光面特定位置間的距離)難以測(cè)量?，F(xiàn)有的厚度測(cè)量方法是先測(cè)出諸如透鏡高度、各曲面高度等多個(gè)參數(shù)，然后再將這些參數(shù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算得到。然而，測(cè)量透鏡的這些參數(shù)過程中容易出現(xiàn)誤差，這些誤差在經(jīng)過運(yùn)算之后將可能被放大，從而無法得到正確的厚度數(shù)值。并且，此種測(cè)量方法較為復(fù)雜，不利于透鏡的快速檢測(cè)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]因此，有必要提供一種能夠精確且快速測(cè)量的透鏡厚度的設(shè)備及其測(cè)量方法。
[0004]一種透鏡厚度測(cè)量設(shè)備，包括第一基臺(tái)、第一定位件、第二基臺(tái)、第二定位件及測(cè)量器，第一定位件固定于第一基臺(tái)上，第二定位件可移動(dòng)地安裝于第二基臺(tái)上，第一定位件用于抵頂透鏡入光面及出光面中的一個(gè)，第二定位件用于朝向透鏡移動(dòng)而抵頂透鏡入光面及出光面中的另一個(gè)，測(cè)量器根據(jù)第二定位件的移動(dòng)距離測(cè)出透鏡的厚度。
[0005]一種透鏡厚度的測(cè)量方法，包括:提供測(cè)量設(shè)備，測(cè)量設(shè)備包括第一基臺(tái)、第二基臺(tái)、第一定位件、第二定位件及測(cè)量器，第一定位件固定于第一基臺(tái)上，第二定位件活動(dòng)地安裝于第二基臺(tái)上；將透鏡的入光面及出光面中的一個(gè)抵靠在第一定位件上；朝向透鏡移動(dòng)第二定位件，使第二定位件抵靠透鏡的出光面及入光面中的另外一個(gè)，此時(shí)測(cè)量器根據(jù)第二定位件的移動(dòng)距離測(cè)出透鏡的厚度。
[0006]由于采用第一定位件來抵頂透鏡的入光面及出光面中的一個(gè)，第二定位件朝向透鏡移動(dòng)來抵頂透鏡入光面及出光面中的另一個(gè)，因此，僅需要通過測(cè)量器測(cè)量第二定位件的移動(dòng)距離即可測(cè)量出透鏡入光面與出光面的間距，進(jìn)而得出透鏡的厚度數(shù)值。因此，透鏡厚度的測(cè)量可快速實(shí)現(xiàn)。并且，由于無需對(duì)多個(gè)參數(shù)進(jìn)行運(yùn)算，避免誤差的放大化，因而厚度數(shù)值的精度也可得到確保。
[0007]下面參照附圖，結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1示出了本發(fā)明一實(shí)施例的透鏡厚度測(cè)量設(shè)備的立體圖，其中一透鏡置于測(cè)量設(shè)備上。
[0009]圖2為圖1的測(cè)量設(shè)備的分解圖。
[0010]圖3為圖1的測(cè)量設(shè)備的剖面圖。[0011]圖4為圖3的測(cè)量設(shè)備的部分放大圖。
[0012]主要元件符號(hào)說明
【權(quán)利要求】
1.一種透鏡厚度測(cè)量設(shè)備，其特征在于:包括第一基臺(tái)、第二基臺(tái)、第一定位件、第二定位件及測(cè)量器，第一定位件固定安裝于第一基臺(tái)上，第二定位件活動(dòng)安裝于第二基臺(tái)上，第一定位件用于抵頂透鏡入光面及出光面中的一個(gè)，第二定位件用于朝向透鏡移動(dòng)而抵頂透鏡入光面及出光面中的另一個(gè)，測(cè)量器根據(jù)第二定位件的移動(dòng)距離測(cè)出透鏡的厚度。
2.如權(quán)利要求1所述的透鏡厚度測(cè)量設(shè)備，其特征在于:第一定位件包括穿設(shè)第一基臺(tái)的桿件及固定于桿件末端的抵靠部，第二定位件包括穿設(shè)第二基臺(tái)的桿件及固定于桿件末端的抵靠部。
3.如權(quán)利要求2所述的透鏡厚度測(cè)量設(shè)備，其特征在于:第一定位件的抵靠部及第二定位件的抵靠部均呈球形。
4.如權(quán)利要求1所述的透鏡厚度測(cè)量設(shè)備，其特征在于:還包括固定于第二定位件上的操作段，第二定位件隨著操作段的移動(dòng)而抵頂透鏡入光面及出光面中的另一個(gè)。
5.如權(quán)利要求4所述的透鏡厚度測(cè)量設(shè)備，其特征在于:測(cè)量器固定于操作段上。
6.一種透鏡厚度的測(cè)量方法，包括: 提供測(cè)量設(shè)備，測(cè)量設(shè)備包括第一基臺(tái)、第二基臺(tái)、第一定位件、第二定位件及測(cè)量器，第一定位件固定安裝于第一基臺(tái)上，第二定位件活動(dòng)地安裝于第二基臺(tái)上； 將透鏡的入光面及出光面中的一個(gè)抵靠在第一定位件上； 朝向透鏡移動(dòng)第二定位件，使第二定位件抵靠透鏡的出光面及入光面中的另外一個(gè)，此時(shí)測(cè)量器根據(jù)第二定位件的移動(dòng)距離測(cè)出透鏡的厚度。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)量方法，其特征在于:第一定位件包括抵靠透鏡入光面及出光面其中一個(gè)的抵靠部，第二定位件包括抵靠透鏡入光面及出光面其中另一個(gè)的抵靠部，透鏡的入光面及出光面均為凹面，第一定位件及第二定位件的抵靠部的曲率半徑小于透鏡入光面及出光面的曲率半徑。
8.如權(quán)利要求6所述的測(cè)量方法，其特征在于:測(cè)量設(shè)備還包括第三基臺(tái)，在將透鏡的入光面及出光面中的一個(gè)抵靠在第一定位件上的過程中還包括將透鏡放置在第三基臺(tái)上的步驟，第一基臺(tái)、第三基臺(tái)及第二基臺(tái)依次排列對(duì)齊。
9.如權(quán)利要求6所述的測(cè)量方法，其特征在于:測(cè)量設(shè)備還包括固定于第二定位件的操作段，第二定位件是通過操作操作段向透鏡移動(dòng)的。
10.如權(quán)利要求9所述的測(cè)量方法，其特征在于:測(cè)量器固定于操作段上。
【文檔編號(hào)】G01B21/08GK103868486SQ201210550807
【公開日】2014年6月18日 申請(qǐng)日期:2012年12月18日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月18日
【發(fā)明者】郭章緯 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司