一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法，其包括以下步驟：a）電壓校準(zhǔn)，在第一電壓下，取得第一采樣值；b）微控制單元計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)線，即計(jì)算第一電壓與第一采樣值的比值；c）微控制單元取得自動重合閘的第二采樣值；d）根據(jù)步驟b）所述的比值以及第二采樣值，利用正比關(guān)系計(jì)算出第二采樣值對應(yīng)的外部電壓。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法，通過軟件實(shí)現(xiàn)自適應(yīng)檢測功能，避免了對于硬件電路的嚴(yán)格要求，大大的降低了成本。另一方面，由于自適應(yīng)的功能，在生產(chǎn)過程中也減少了大量的人力成本，減少了外部環(huán)境的限制，適用的工作環(huán)境更加廣泛。
【專利說明】一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電力領(lǐng)域，尤其涉及一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有的生產(chǎn)自動重合閘的實(shí)際作業(yè)過程中，由于外部環(huán)境(溫度、氣壓、光亮)的影響，以及生產(chǎn)過程中焊錯電阻，甚至是外部電路的元器件的細(xì)微差異，也會導(dǎo)致不同重合閘的性能存在差異性，同一個標(biāo)準(zhǔn)源，由不同的自動重合閘傳送到MCU的采樣電壓值也會存在一些差異，所以，我們不能夠用一個絕對的標(biāo)準(zhǔn)線使MCU通過采樣值，判斷出外部的實(shí)際電壓。
[0003]因此有必要提供一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法來解決上述問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明涉及一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法，其包括以下步驟:a)，電壓校準(zhǔn)，在第一電壓下，取得第一采樣值；b)微控制單元計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)線，即計(jì)算第一電壓與第一采樣值的比值；c)微控制單元取得自動重合閘的第二采樣值；d)根據(jù)步驟b)所述的比值以及第二采樣值，利用正比關(guān)系計(jì)算出第二采樣值對應(yīng)的外部電壓。
[0006]本發(fā)明還提供一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括一自動重合閘，一微控制單元，采樣單元，所述微控制單元與采樣單元及自動重合閘相連接，所述微控制單元通過采樣單元取得一第一電壓下的第一采樣值，計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)線，即計(jì)算第一電壓與第一采樣值的比值；所述自動重合閘取得一第二采樣值，所述微控制單元依據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)線，利用正比關(guān)系，計(jì)算出第二采樣值對應(yīng)的外部電壓。
[0007]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明所提供的自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法，通過軟件實(shí)現(xiàn)自適應(yīng)檢測功能，避免了對于硬件電路的嚴(yán)格要求，大大的降低了成本。另一方面，由于自適應(yīng)的功能，在生產(chǎn)過程中也減少了大量的人力成本，減少了外部環(huán)境的限制，適用的工作環(huán)境更加廣泛。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的有關(guān)本發(fā)明的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0009]圖1為本發(fā)明的自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法流程圖；
圖2為本發(fā)明的自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】[0010]以下將結(jié)合附圖所示的各實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。但這些實(shí)施例并不限制本發(fā)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)這些實(shí)施例所做出的結(jié)構(gòu)、方法、或功能上的變換均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
[0011]參圖1所示，本發(fā)明所提供的自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法，其包括以下步驟:S001，電壓校準(zhǔn)，在第一電壓下，取得第一采樣值；S002，微控制單元計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)線，即計(jì)算第一電壓與第一米樣值的比值；S003,微控制單兀取得自動重合閘的第二米樣值；S004,根據(jù)步驟S002所述的比值以及第二采樣值，利用正比關(guān)系計(jì)算出第二采樣值對應(yīng)的外部電壓。
[0012]本發(fā)明還提供一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括一自動重合閘1，一微控制單元MCU2,采樣單元3,所述微控制單元2與采樣單元3及自動重合閘I相連接，所述微控制單元2通過采樣單元3取得一第一電壓下的第一采樣值，計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)線，即計(jì)算第一電壓與第一采樣值的比值；所述自動重合閘I取得一第二采樣值，所述微控制單元2依據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)線，利用正比關(guān)系，計(jì)算出第二采樣值對應(yīng)的外部電壓。
[0013]具體的，第二采樣值對應(yīng)的外部電壓與第二采樣值的比值，等于第一電壓與第一采樣值的比值。
[0014]本發(fā)明所提供的自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法，通過軟件實(shí)現(xiàn)自適應(yīng)檢測功能，避免了對于硬件電路的嚴(yán)格要求，大大的降低了成本。另一方面，由于自適應(yīng)的功能，在生產(chǎn)過程中也減少了大量的人力成本，減少了外部環(huán)境的限制，適用的工作環(huán)境更加廣泛。
[0015]應(yīng)當(dāng)理解，雖然本說明書按照實(shí)施方式加以描述，但并非每個實(shí)施方式僅包含一個獨(dú)立的技術(shù)方案，說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)將說明書作為一個整體，各實(shí)施方式中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當(dāng)組合，形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實(shí)施方式。
[0016]上文所列出的一系列的詳細(xì)說明僅僅是針對本發(fā)明的可行性實(shí)施方式的具體說明，它們并非用以限制本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡未脫離本發(fā)明技藝精神所作的等效實(shí)施方式或變更均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)方法，其特征在于，其包括以下步驟:a)，電壓校準(zhǔn)，在第一電壓下，取得第一采樣值山)微控制單元計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)線，即計(jì)算第一電壓與第一采樣值的比值；c)微控制單元取得自動重合閘的第二采樣值；d)根據(jù)步驟b)所述的比值以及第二采樣值，利用正比關(guān)系計(jì)算出第二采樣值對應(yīng)的外部電壓。
2.一種自動重合閘自適應(yīng)檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括一自動重合閘，一微控制單元，采樣單元，所述微控制單元與采樣單元及自動重合閘相連接，所述微控制單元通過采樣單元取得一第一電壓下的第一采樣值，計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)線，即計(jì)算第一電壓與第一采樣值的比值；所述自動重合閘取得一第二采樣值，所述微控制單元依據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)線，利用正比關(guān)系，計(jì)算出第二采樣值對應(yīng)的外部電壓。
【文檔編號】G01R19/00GK103852620SQ201210518657
【公開日】2014年6月11日 申請日期:2012年12月6日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月6日
【發(fā)明者】聞敏剛 申請人:蘇州工業(yè)園區(qū)新宏博通訊科技有限公司