專(zhuān)利名稱(chēng)：用于電子器件的異常檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子電路技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于電子器件的異常檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
隨著科技飛速發(fā)展的時(shí)代，電子器件在通信領(lǐng)域，電子領(lǐng)域，工控領(lǐng)域，越來(lái)越表現(xiàn)出其強(qiáng)力的高效的及時(shí)的驅(qū)動(dòng)能力，且電子器件和模塊的性能越來(lái)越穩(wěn)定和功能完備。但是電子器件由于其電氣特性，且為電子電路，易受ESD(Electro-Static discharge,靜電釋放)、環(huán)境和濕度溫度的影響。因此，由于電子器件本身特性，從而存在系統(tǒng)的穩(wěn)定性和失效性，所以可以降低概率，卻不可能消除
發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)問(wèn)題之一或至少提供一種有用的商業(yè)選擇。為此，本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出一種可以檢測(cè)電子器件異常的用于電子器件的異常檢測(cè)方法。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例提供一種用于電子器件的異常檢測(cè)方法，包括如下步驟控制器讀取電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)判斷所述電子器件是否發(fā)生工作異常；如果判斷所述電子器件發(fā)生工作異常，則所述控制器將所述內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)與預(yù)存的正常狀態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)以判斷所述內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)，并分析得到所述異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形；以及所述控制器將所述電子器件的所述異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形發(fā)送至上位機(jī)，以由操作人員通過(guò)所述上位機(jī)對(duì)所述電子器件的異常情形進(jìn)行遠(yuǎn)程分析。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于電子器件的異常檢測(cè)方法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電子器件的工作特性的隨時(shí)檢測(cè)，并將電子器件的異常狀態(tài)傳輸出去供技術(shù)人員進(jìn)行分析，為改善性能或優(yōu)化電子布局，優(yōu)化電子設(shè)備的生命周期及工作性能，起到非常好的作用和效果。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述控制器與所述電子器件通過(guò)所述串行外設(shè)接口SPI總線或內(nèi)部整合電路I2C總線進(jìn)行通信。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述控制器讀取電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)，包括如下步驟所述控制器向所述電子器件發(fā)送讀取指令；所述電子器件在接收到所述讀取指令后，向所述控制器反饋回應(yīng)碼，其中，所述回應(yīng)碼包括所述電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述回應(yīng)碼包括所述電子器件的設(shè)備ID號(hào)、出廠序列號(hào)、軟件版本號(hào)、運(yùn)行狀態(tài)數(shù)據(jù)。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，還包括如下步驟所述控制器檢測(cè)所述電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位的電壓變化，并判斷對(duì)應(yīng)的輸出腳位的電壓變化是否正常。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，還包括如下步驟所述控制器檢測(cè)所述電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位的電平變化，并設(shè)置所述控制器處于通用輸入/輸出GPIO輸入模式，根據(jù)所述輸出腳位的電平變化判斷對(duì)應(yīng)的輸出腳位的電平變化是否正常。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在判斷出所述內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)后，還包括如下步驟將所述異常情形根據(jù)嚴(yán)重程度進(jìn)行分級(jí)，根據(jù)分級(jí)結(jié)果采用對(duì)應(yīng)的方式通知操作人員。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述分級(jí)結(jié)果包括嚴(yán)重級(jí)別和非嚴(yán)重級(jí)別，其中，對(duì)于嚴(yán)重級(jí)別的異常情形，則所述控制器在判斷所述嚴(yán)重級(jí)別的異常情形后，則發(fā)送至上位機(jī)進(jìn)行分析，并向所述操作人員發(fā)出提醒；對(duì)于非嚴(yán)重級(jí)別的異常情形，則所述控制器在所述非嚴(yán)重級(jí)別的異常情形的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)達(dá)到預(yù)設(shè)容量后，則發(fā)送至上位機(jī)進(jìn)行分析，并向所述操作人員發(fā)出提醒。本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過(guò)本發(fā)明的實(shí)踐了解到。


本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中圖I為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的用于電子器件的異常檢測(cè)方法的流程圖；以及圖2為根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的用于電子器件的異常檢測(cè)方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類(lèi)似的標(biāo)號(hào)表示相同或類(lèi)似的元件或具有相同或類(lèi)似功能的元件。下面通過(guò)參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。此外，術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括一個(gè)或者更多個(gè)該特征。在本發(fā)明的描述中，“多個(gè)”的含義是兩個(gè)或兩個(gè)以上，除非另有明確具體的限定。在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語(yǔ)“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語(yǔ)應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過(guò)中間媒介間接相連，可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本發(fā)明中的具體含義。下面參考圖I和圖2描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于電子器件的異常檢測(cè)方法。如圖I所示，本發(fā)明實(shí)施例提供的用于電子器件的異常檢測(cè)方法，包括如下步驟步驟SlOI，控制器讀取電子器件(IC_Chip )的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)，并根據(jù)內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)判斷所述電子器件是否發(fā)生工作異常。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，控制器與電子器件通過(guò)SPI (Serial PeripheralInterface,串行外設(shè)接口)總線或I2C (Inter — Integrated Circuit,內(nèi)部整合電路)總線進(jìn)行通信。可以理解的是，控制器與電子器件還可以通過(guò)其他任意串行或并行總線進(jìn)行通信。其中，控制器可以為MCU(Micro Control Unit,微控制單兀)或CPU (CentralProcessing Unit,中央處理器)?？刂破魍ㄟ^(guò)上述SPI總線或I2C總線與電子器件進(jìn)行通信，向電子器件發(fā)送讀取指令。電子器件在接收到上述讀取指令后，向控制器反饋載有電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)的回應(yīng)碼。在本發(fā)明的一個(gè)示例中，回應(yīng)碼可以包括但不限于電子器件的設(shè)備ID號(hào)、出廠序列號(hào)、軟件版本號(hào)、運(yùn)行狀態(tài)數(shù)據(jù)等?？刂破鞲鶕?jù)上述接收到的回應(yīng)碼，首先簡(jiǎn)單判斷電子器件是否發(fā)生工作異常。·
步驟S102，如果判斷電子器件發(fā)生工作異常，則控制器將內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)與預(yù)存的正常狀態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)以判斷內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)，并分析得到異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形。如果判斷電子器件內(nèi)部工作異常，則通過(guò)軟件對(duì)比內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)與正常狀態(tài)數(shù)據(jù)或預(yù)期數(shù)據(jù)，從而判斷出內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)?？刂破鞲鶕?jù)內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)判斷異常狀態(tài)類(lèi)型。如果判斷電子器件發(fā)生異常，則進(jìn)一步判斷異常類(lèi)型，例如通信故障、不能啟動(dòng)等。其中，在電子器件反饋的回應(yīng)碼中記錄有故障狀態(tài)。在本發(fā)明的一個(gè)示例中，內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)包括受外界干擾的信號(hào)不穩(wěn)定；工作電壓受外界干擾波動(dòng)造成的電子器件工作異常，從而導(dǎo)致發(fā)送數(shù)據(jù)散亂，具有隨機(jī)不確定性；數(shù)據(jù)為流程類(lèi)的數(shù)據(jù)，從而可以判斷出芯片工作狀態(tài)紊亂。可以理解的是，上述異常狀態(tài)僅出于示例的目的。電子器件的內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)不限于此，還包括其他狀態(tài)。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，控制器還可以檢測(cè)電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位的電壓變化，并判斷對(duì)應(yīng)的輸出腳位的電壓變化是否正常，并獲得異常狀態(tài)和異常狀態(tài)數(shù)據(jù)。其中，異常狀態(tài)檢測(cè)是通過(guò)MCU或主控中預(yù)置的分析單元(Debug單元)執(zhí)行。具體地，將電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位連接到MCU或主控的ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)上，并通過(guò)軟件來(lái)檢測(cè)，判斷出電子器件的相對(duì)應(yīng)輸出腳位的電壓變化是否正常，并以此來(lái)判斷電子器件是否異常。在本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例中，控制器檢測(cè)電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位的電平變化，根據(jù)輸出腳位的電平變化判斷對(duì)應(yīng)的輸出腳位的電平變化是否正常。具體地，將電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位連接到MCU或主控的GPIO (GeneralPurpose Input Output,通用輸入輸出)檢測(cè)腳位上，并在做檢測(cè)時(shí)配置成GPIO輸入模式，以此通過(guò)軟件檢測(cè)，判斷出電子器件的相對(duì)應(yīng)輸出腳位的電平變化(例如高電平或低電平)是否正常，并以此來(lái)判斷電子器件是否異常。步驟S103，控制器將電子器件的所述異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形發(fā)送至上位機(jī)，以由操作人員通過(guò)上位機(jī)對(duì)所述電子器件的異常情形進(jìn)行遠(yuǎn)程分析。由此，操作人員可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電子器件的異常狀態(tài)的遠(yuǎn)程分析，從而額可以及時(shí)排除電子器件出席的工作，優(yōu)化電子器件的生命周期及工作性能，起到非常好的作用和效果。如圖2所示，本發(fā)明實(shí)施例的用于電子器件的異常檢測(cè)方法，還包括如下步驟步驟S104，將異常狀態(tài)根據(jù)嚴(yán)重程度進(jìn)行分級(jí)，根據(jù)分級(jí)結(jié)果采用對(duì)應(yīng)的方式通知操作人員。具體地，控制器在對(duì)檢測(cè)到的電子器件的工作異常定位后，根據(jù)嚴(yán)重程度對(duì)異常情形及對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分級(jí)。換言之，判斷異常狀態(tài)及對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)的嚴(yán)重等級(jí)。其中，分級(jí)結(jié)果可以包括嚴(yán)重級(jí)別(HIGH)和非嚴(yán)重級(jí)別(LOW)。然后根據(jù)分級(jí)結(jié)果，判斷是否需要即時(shí)通過(guò)通信模塊發(fā)送給上位機(jī)作技術(shù)分析并判斷是否需要通知客戶(hù)以更換相關(guān)器件或修復(fù)產(chǎn)品。其中，通信模塊可以為GSM(Global System of Mobile communication,全球移動(dòng)通訊系統(tǒng))。對(duì)于嚴(yán)重級(jí)別的異常情形(HIGH)，控制器在判斷嚴(yán)重級(jí)別的異常狀態(tài)后，發(fā)送至上位機(jī)進(jìn)行分析，并向操作人員發(fā)出提醒。具體地，將電子器件所屬的功能異常及影響提醒至操作人員，從而操作人員聯(lián)系產(chǎn)品生產(chǎn)商去進(jìn)行修復(fù)或檢測(cè)。其中，異常情形對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)可即時(shí)將該部分?jǐn)?shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)作為存管，供技術(shù)分析原因?qū)τ诜菄?yán)重級(jí)別的異常狀態(tài)(L0W)，控制器在非嚴(yán)重級(jí)別的異常狀態(tài)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)達(dá)到預(yù)設(shè)容量后，則發(fā)送至上位機(jī)進(jìn)行分析，并向所述操作人員發(fā)出提醒。具體地，將異常數(shù)據(jù)存到MCU或主控單元的Flash存儲(chǔ)單元中，當(dāng)存儲(chǔ)預(yù)設(shè)容量的數(shù)據(jù)后，再通過(guò)GSM模塊·發(fā)送給操作人員。如果產(chǎn)品帶有GSM模塊，可以采用上述方法通過(guò)網(wǎng)絡(luò)在線傳給產(chǎn)品上位機(jī)或產(chǎn)品開(kāi)發(fā)商的服務(wù)器中。如果產(chǎn)品沒(méi)有GSM模塊時(shí)，則可以通過(guò)人工獲取手段，比如提醒操作人員聯(lián)系產(chǎn)品的技術(shù)支持人員，或售后人員上門(mén)服務(wù)時(shí)，將控制器中的Flash數(shù)據(jù)取出供分析。換言之，如果產(chǎn)品沒(méi)有GSM模塊，則需要售后主動(dòng)采用人工方式。當(dāng)然不限于此，還可以為其他獲得到數(shù)據(jù)的方式，以取到數(shù)據(jù)以便分析。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，可以直接在界面中給操作人員以提醒，其中，提醒方式包括光信號(hào)形式和聲信號(hào)形式。例如LCD (Liquid Crystal Display,液晶顯示器)或燈光閃爍，蜂鳴器等提示方式。操作人員根據(jù)提示接收到上述異常狀態(tài)數(shù)據(jù)后，對(duì)上述異常狀態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行技術(shù)分析。例如，產(chǎn)品的功能出現(xiàn)問(wèn)題或正常報(bào)廢都是部分器件完成生命周期造成的。但是出廠后的測(cè)試場(chǎng)景很多是在開(kāi)發(fā)或量產(chǎn)測(cè)試中，所測(cè)試不到的或者測(cè)試次數(shù)上模擬不出來(lái)的。通過(guò)上述步驟及時(shí)發(fā)現(xiàn)、保存并拿到相關(guān)異常的狀態(tài)和數(shù)據(jù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電子器件的選型，操作人員場(chǎng)景的性能模擬和后續(xù)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的優(yōu)化，以及對(duì)電子器件的失效性分析，從而相對(duì)失效場(chǎng)景的抓取以想出應(yīng)對(duì)措施等。由此，可以極大的提高產(chǎn)品質(zhì)量、后續(xù)生命周期，并及時(shí)優(yōu)化產(chǎn)品的操作人員體驗(yàn)。本發(fā)明實(shí)施例的用于電子器件的異常檢測(cè)方法可以利用電子器件內(nèi)部本身帶有的單片機(jī)軟件模塊完成。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于電子器件的異常檢測(cè)方法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電子器件的工作特性的隨時(shí)檢測(cè)，并將電子器件的特定時(shí)間及場(chǎng)景下的階段性異常狀態(tài)傳輸出去供技術(shù)人員進(jìn)行分析，為改善性能或優(yōu)化電子布局，優(yōu)化電子設(shè)備的生命周期及工作性能，起到非常好的作用和效果。流程圖中或在此以其他方式描述的任何過(guò)程或方法描述可以被理解為，表示包括一個(gè)或更多個(gè)用于實(shí)現(xiàn)特定邏輯功能或過(guò)程的步驟的可執(zhí)行指令的代碼的模塊、片段或部分，并且本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式的范圍包括另外的實(shí)現(xiàn)，其中可以不按所示出或討論的順序，包括根據(jù)所涉及的功能按基本同時(shí)的方式或按相反的順序，來(lái)執(zhí)行功能，這應(yīng)被本發(fā)明的實(shí)施例所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員所理解。在流程圖中表示或在此以其他方式描述的邏輯和/或步驟，例如，可以被認(rèn)為是用于實(shí)現(xiàn)邏輯功能的可執(zhí)行指令的定序列表，可以具體實(shí)現(xiàn)在任何計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中，以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備(如基于計(jì)算機(jī)的系統(tǒng)、包括處理器的系統(tǒng)或其他可以從指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備取指令并執(zhí)行指令的系統(tǒng))使用，或結(jié)合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備而使用。就本說(shuō)明書(shū)而言，"計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)"可以是任何可以包含、存儲(chǔ)、通信、傳播或傳輸程序以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備或結(jié)合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備而使用 的裝置。計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)的更具體的示例(非窮盡性列表)包括以下具有一個(gè)或多個(gè)布線的電連接部(電子裝置)，便攜式計(jì)算機(jī)盤(pán)盒(磁裝置)，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)，只讀存儲(chǔ)器(R0M)，可擦除可編輯只讀存儲(chǔ)器(EPR0M或閃速存儲(chǔ)器)，光纖裝置，以及便攜式光盤(pán)只讀存儲(chǔ)器(⑶ROM)。另外，計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)甚至可以是可在其上打印所述程序的紙或其他合適的介質(zhì)，因?yàn)榭梢岳缤ㄟ^(guò)對(duì)紙或其他介質(zhì)進(jìn)行光學(xué)掃描，接著進(jìn)行編輯、解譯或必要時(shí)以其他合適方式進(jìn)行處理來(lái)以電子方式獲得所述程序，然后將其存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器中。應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明的各部分可以用硬件、軟件、固件或它們的組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。在上述實(shí)施方式中，多個(gè)步驟或方法可以用存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中且由合適的指令執(zhí)行系統(tǒng)執(zhí)行的軟件或固件來(lái)實(shí)現(xiàn)。例如，如果用硬件來(lái)實(shí)現(xiàn)，和在另一實(shí)施方式中一樣，可用本領(lǐng)域公知的下列技術(shù)中的任一項(xiàng)或他們的組合來(lái)實(shí)現(xiàn)具有用于對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)實(shí)現(xiàn)邏輯功能的邏輯門(mén)電路的離散邏輯電路，具有合適的組合邏輯門(mén)電路的專(zhuān)用集成電路，可編程門(mén)陣列(PGA)，現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)等。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法攜帶的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，包括方法實(shí)施例的步驟之一或其組合。 此外，在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理模塊中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以?xún)蓚€(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)模塊中。上述集成的模塊既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。所述集成的模塊如果以軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷(xiāo)售或使用時(shí)，也可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中。上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器，磁盤(pán)或光盤(pán)等。在本說(shuō)明書(shū)的描述中，參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說(shuō)明書(shū)中，對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不一定指的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任何的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。
盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例，可以理解的是，上述實(shí)施例是示例性的，不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的原理和宗旨 的情況下在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。
權(quán)利要求
1.一種用于電子器件的異常檢測(cè)方法，其特征在于，包括如下步驟 控制器讀取電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)判斷所述電子器件是否發(fā)生工作異常； 如果判斷所述電子器件發(fā)生工作異常，則所述控制器將所述內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)與預(yù)存的正常狀態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)以判斷所述內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)，并分析得到所述異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形；以及 所述控制器將所述電子器件的所述異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形發(fā)送至上位機(jī)，以由操作人員通過(guò)所述上位機(jī)對(duì)所述電子器件的異常情形進(jìn)行遠(yuǎn)程分析。
2.如權(quán)利要求I所述的異常檢測(cè)方法，其特征在于，所述控制器與所述電子器件通過(guò)所述串行外設(shè)接口 SPI總線或內(nèi)部整合電路I2C總線進(jìn)行通信。
3.如權(quán)利要求I所述的異常檢測(cè)方法，其特征在于，所述控制器讀取電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)，包括如下步驟 所述控制器向所述電子器件發(fā)送讀取指令； 所述電子器件在接收到所述讀取指令后，向所述控制器反饋回應(yīng)碼，其中，所述回應(yīng)碼包括所述電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求I或3所述的異常檢測(cè)方法，其特征在于，所述回應(yīng)碼包括所述電子器件的設(shè)備ID號(hào)、出廠序列號(hào)、軟件版本號(hào)、運(yùn)行狀態(tài)數(shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求I所述的異常檢測(cè)方法，其特征在于，還包括如下步驟 所述控制器檢測(cè)所述電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位的電壓變化，并判斷對(duì)應(yīng)的輸出腳位的電壓變化是否正常。
6.如權(quán)利要求I或5所述的異常檢測(cè)方法，其特征在于，還包括如下步驟 所述控制器檢測(cè)所述電子器件的一個(gè)或多個(gè)輸出腳位的電平變化，并設(shè)置所述控制器處于通用輸入/輸出GPIO輸入模式，根據(jù)所述輸出腳位的電平變化判斷對(duì)應(yīng)的輸出腳位的電平變化是否正常。
7.如權(quán)利要求I所述的異常檢測(cè)方法，其特征在于，在判斷出所述內(nèi)部工作異常的異常情形后，還包括如下步驟 將所述異常情形根據(jù)嚴(yán)重程度進(jìn)行分級(jí)，根據(jù)分級(jí)結(jié)果采用對(duì)應(yīng)的方式通知操作人員。
8.如權(quán)利要求7所述的異常檢測(cè)方法，其特征在于，所述分級(jí)結(jié)果包括嚴(yán)重級(jí)別和非嚴(yán)重級(jí)別，其中， 對(duì)于嚴(yán)重級(jí)別的異常情形，則所述控制器在判斷所述嚴(yán)重級(jí)別的異常狀態(tài)后，則發(fā)送至上位機(jī)進(jìn)行分析，則發(fā)送至所述上位機(jī)以由所述操作人員對(duì)所述嚴(yán)重級(jí)別的異常情形進(jìn)行遠(yuǎn)程分析，并向所述操作人員發(fā)出提醒； 對(duì)于非嚴(yán)重級(jí)別的異常情形，則所述控制器在所述非嚴(yán)重級(jí)別的異常狀態(tài)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)達(dá)到預(yù)設(shè)容量后，則發(fā)送至所述上位機(jī)以由所述操作人員對(duì)所述非嚴(yán)重級(jí)別的異常情形進(jìn)行遠(yuǎn)程分析，并向所述操作人員發(fā)出提醒。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)一種用于電子器件的異常檢測(cè)方法，包括如下步驟控制器讀取電子器件的內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)，并根據(jù)內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)判斷電子器件是否發(fā)生工作異常；如果判斷電子器件發(fā)生工作異常，則控制器將內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)與預(yù)存的正常狀態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)以判斷內(nèi)部工作異常的異常狀態(tài)，并分析得到異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形；控制器將電子器件的異常狀態(tài)對(duì)應(yīng)的異常情形發(fā)送至上位機(jī)，以由操作人員通過(guò)上位機(jī)對(duì)電子器件的異常情形進(jìn)行遠(yuǎn)程分析。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電子器件的工作特性的隨時(shí)檢測(cè)，并將電子器件的異常狀態(tài)傳輸出去供技術(shù)人員進(jìn)行分析，為改善性能或優(yōu)化電子布局，優(yōu)化電子設(shè)備的生命周期及工作性能，起到非常好的作用和效果。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102928690SQ20121037217
公開(kāi)日2013年2月13日 申請(qǐng)日期2012年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月28日
發(fā)明者曹帥, 薛瑞尼 申請(qǐng)人:珠海德百祺科技有限公司