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精密測(cè)角方法及其裝置的制作方法

文檔序號(hào):5958479閱讀:308來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:精密測(cè)角方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種基于偏振光的精密測(cè)角方法及其裝置,尤其涉及一種基于雙光路信號(hào)處理及壓控放大實(shí)現(xiàn)精密測(cè)角的方法及其裝置。
背景技術(shù)
光學(xué)測(cè)角方法由于具有非接觸、高準(zhǔn)確度和高靈敏度的特點(diǎn)而倍受人們的重視,應(yīng)用越來(lái)越廣泛。光學(xué)測(cè)角法除眾所周知的光學(xué)分度頭法和多面棱體法外,常用的還有光電編碼器法、自準(zhǔn)直法、聲光調(diào)制法以及激光干涉法等。典型的設(shè)備有碼盤(光電或光學(xué)碼盤)、多齒分度臺(tái)等設(shè)備。在距離較遠(yuǎn)的條件下(例如超過(guò)lm),采用這些設(shè)備進(jìn)行高精度測(cè)量的實(shí)現(xiàn)成本和難度大大增加,因而,其應(yīng)用受到限制。利用偏振光進(jìn)行角度測(cè)量可以攻克這一技術(shù)難點(diǎn),其利用光路中偏振元件的旋轉(zhuǎn)引起偏振光光強(qiáng)、相位或頻差的變化,并基于光的偏振面對(duì)旋轉(zhuǎn)的敏感性,可以方便地測(cè)量與偏振光束垂直的角位移,具有精度高、速度 快且作用距離遠(yuǎn)等優(yōu)點(diǎn),因而在航天器對(duì)接、軍用系統(tǒng)高精度測(cè)量、采礦和隧道開(kāi)掘、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域有廣闊的應(yīng)用前景。利用偏振光,可以直接應(yīng)用馬呂斯定律檢測(cè)兩個(gè)偏振片透光軸之間的夾角,但測(cè)量精度不高,這是因?yàn)槟壳吧袩o(wú)高精度測(cè)量偏振面旋轉(zhuǎn)角的儀器,所以,必須將角度信號(hào)轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)度信號(hào)再進(jìn)行測(cè)量。同時(shí),微小角度變化引起的光強(qiáng)度變化并不明顯,如果直接用光強(qiáng)度信號(hào)作為角度信號(hào)的載體,利用光電轉(zhuǎn)換器件將光強(qiáng)度信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷麟娦盘?hào),那么微小的角度變化就會(huì)湮沒(méi)在噪聲與電信號(hào)漂移之中而檢測(cè)不到;且采用直接檢測(cè)檢偏器投射或反射光強(qiáng)方法測(cè)量方位角信息時(shí),由于光電器件漂移、放大電路性能等影響,測(cè)量精度難以提高。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決背景技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種可提高系統(tǒng)測(cè)角精度、測(cè)角速度快、靈敏度高以及作用距離遠(yuǎn)的精密測(cè)角方法及其裝置。本發(fā)明的技術(shù)解決方案是本發(fā)明提供了一種精密測(cè)角方法,其特殊之處在于所述精密測(cè)角方法包括以下步驟I)由光源發(fā)射出光強(qiáng)為I。的光束;2 )對(duì)步驟I)中的光束進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束,得到準(zhǔn)直光;3)將準(zhǔn)直光束進(jìn)行起偏并得到線偏振光;4)對(duì)線偏振光進(jìn)行磁光調(diào)制,得到磁光調(diào)制信號(hào)光;5)將磁光調(diào)制信號(hào)光進(jìn)行偏振分束,得到分束后的光強(qiáng)為I1的第一分束光以及光強(qiáng)為I2的第二分束光;6)通過(guò)光電轉(zhuǎn)換器探測(cè)第一分束光的光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào)以及第二分束光的光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào);所述模擬電信號(hào)包括交流分量以及直流分量;
8)解算檢偏器與X軸之間的方位角。上述步驟8)的具體實(shí)現(xiàn)方式是根據(jù)下面公式解算檢偏器與X軸之間的方位角;
/ —八F = -1 = si Ii 2α + 2Θ{) cos 2a cos ω - θ()2 sin 2a cos 2cot
/, + A其中α為檢偏器與X軸之間的方位角; Θ。是交流磁光調(diào)制角幅度;ω是磁光調(diào)制頻率;t是時(shí)間;I1是第一分束光光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào);I2是第二分束光光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào);F是為解算a值所設(shè)的中間變量。上述精密測(cè)角方法在步驟6)和步驟8)之間還包括7)對(duì)步驟6)所得到的第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)進(jìn)行雙光路
信號(hào)處理。上述步驟7)的具體實(shí)現(xiàn)方式是判斷第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)經(jīng)過(guò)放大之后的和信號(hào)中是否含有調(diào)制頻率及其倍頻成分;理想情況下不含有這種信號(hào),兩路信號(hào)的放大比例一致,直接進(jìn)行和運(yùn)算以及差運(yùn)算,執(zhí)行步驟8),即可實(shí)現(xiàn)精密測(cè)角;實(shí)際工程實(shí)現(xiàn)中,由于光電器件漂移、放大電路性能等影響,兩路信號(hào)的放大比例不一致,對(duì)二者的和信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,信號(hào)中含有調(diào)制頻率及其倍頻成分,直接影響測(cè)角精度。將此調(diào)制信號(hào)作為反饋信號(hào),壓控放大其中一路信號(hào)(附圖2中通道2),判斷兩路信號(hào)的和信號(hào)中是否含有調(diào)制頻率及其倍頻成分;若含有,繼續(xù)進(jìn)行壓控放大;若不含,則判斷第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)放大比例一致,消除了光電器件漂移、放大電路性能差異等帶來(lái)的兩路信號(hào)增益差異對(duì)測(cè)角精度的影響,繼而執(zhí)行差運(yùn)算,進(jìn)行步驟8)。上述步驟7 )中,若第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)放大比例不一致時(shí),所述使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致的具體實(shí)現(xiàn)方式是采用數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)兩路信號(hào)進(jìn)行和運(yùn)算以及頻譜分析,根據(jù)分析結(jié)果輸出一個(gè)相應(yīng)的控制電壓,壓控放大其中一路信號(hào),使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致。一種基于上述的精密測(cè)角方法的精密測(cè)角裝置,其特殊之處在于所述精密測(cè)角裝置包括偏振光信號(hào)發(fā)射單元以及設(shè)置在偏振光信號(hào)發(fā)射單元出射光路上的信號(hào)檢測(cè)單元;所述偏振光信號(hào)發(fā)射單元包括光源、準(zhǔn)直擴(kuò)束鏡、起偏器以及磁光調(diào)制器;所述準(zhǔn)直擴(kuò)束鏡、起偏器以及磁光調(diào)制器依次設(shè)置在經(jīng)光源的出射光路上。上述磁光調(diào)制器包括磁旋光玻璃以及環(huán)繞設(shè)置在磁旋光玻璃周圍的調(diào)制線圈。上述信號(hào)檢測(cè)單兀包括偏振分光鏡、第一聚光鏡、第二聚光鏡、第一光電轉(zhuǎn)換器以及第二光電轉(zhuǎn)換器;所述光源依次經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直擴(kuò)束鏡、起偏器以及磁光調(diào)制器入射至檢偏器即偏振分光鏡;所述偏振分光鏡將入射光分為第一分束光以及第二分束光;所述第一分束光以及第二分束光為線偏振光,偏振方向相互垂直,傳播方向成一定夾角;所述第一聚光鏡以及第一光電轉(zhuǎn)換器依次設(shè)置在第一分束光的光路上;所述第二聚光鏡以及第二光電轉(zhuǎn)換器依次設(shè)置在第二分束光的光路上;所述偏振分光鏡(檢偏器)是渥拉斯頓棱鏡或偏振分束器。上述精密測(cè)角裝置還包括與信號(hào)檢測(cè)單元電性相連的雙光路信號(hào)處理單元。上述雙光路信號(hào)處理單元包括第一通道、第一濾波器、放大器、第二通道、第二濾波器、壓控放大器、和運(yùn)算處理單元、差運(yùn)算處理單元、第一 A/D轉(zhuǎn)換器、精密放大器、第二A/D轉(zhuǎn)換器、第三A/D轉(zhuǎn)換器、DSP (頻譜分析模塊、計(jì)算控制模塊以及數(shù)據(jù)處理模塊)、D/A轉(zhuǎn)換器以及數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī);所述第一通道通過(guò)第一濾波器與放大器相連;所述第二通道通過(guò)第二濾波器與壓控放大器相連;所述放大器與壓控放大器并聯(lián)后依次接入和運(yùn)算處理單元以及差運(yùn)算處理單元;所述和運(yùn)算處理單元依次通過(guò)第一 A/D轉(zhuǎn)換器、頻譜分析模塊、計(jì)算控制模塊以及D/A轉(zhuǎn)換器接入壓控放大器;所述和運(yùn)算處理單元通過(guò)第三A/D轉(zhuǎn)換器及數(shù)據(jù)處理模塊接入數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī);所述差運(yùn)算處理單元依次通過(guò)精密放大器、第二 A/D轉(zhuǎn)換器及數(shù)據(jù)處理模塊接入數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī)。 本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是本發(fā)明提供了一種精密測(cè)角方法及其裝置,采用調(diào)制偏振光技術(shù),具體采用磁光調(diào)制技術(shù),將光強(qiáng)度變化的頻率作為角度信號(hào)的載體,從而使直接測(cè)量強(qiáng)度信號(hào)變?yōu)闇y(cè)量頻率信號(hào),通過(guò)信號(hào)處理來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度角度測(cè)量;同時(shí),為消除兩路信號(hào)的放大比例對(duì)測(cè)角結(jié)果的影響,提高測(cè)角精度,采用雙光路信號(hào)處理,使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致,由于可以采用相關(guān)處理及長(zhǎng)時(shí)間積分的方式進(jìn)行信號(hào)分析,對(duì)實(shí)時(shí)性要求并不高,所以可以達(dá)到很高的分析精度,進(jìn)而是角度測(cè)量的精度可以提高到10"之內(nèi)。本發(fā)明具有測(cè)角速度快、靈敏度高以及作用距離遠(yuǎn)等優(yōu)點(diǎn)。


圖I是本發(fā)明所提供的精密測(cè)角裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本發(fā)明所采用的雙光路信號(hào)處理單元的結(jié)構(gòu)示意圖;其中I-偏振光信號(hào)發(fā)射單元;2_信號(hào)檢測(cè)單元;11_光源;12_準(zhǔn)直擴(kuò)束鏡;13_起偏器;14-磁旋光玻璃;15-磁光調(diào)制器;21_偏振分光鏡;22_第一聚光鏡;23_第二聚光鏡;24-第一光電轉(zhuǎn)換器;25_第二光電轉(zhuǎn)換器。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明提供了一種精密測(cè)角方法,該精密測(cè)角方法包括以下步驟I)由光源發(fā)射出光強(qiáng)為I。的光束;2 )對(duì)步驟I)中的光束進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束,得到準(zhǔn)直光;3)將準(zhǔn)直光束進(jìn)行起偏并得到線偏振光;4)對(duì)線偏振光進(jìn)行磁光調(diào)制,得到磁光調(diào)制信號(hào)光;5)將磁光調(diào)制信號(hào)光進(jìn)行偏振分束,得到分束后的光強(qiáng)為I1的第一分束光以及光強(qiáng)為I2的第二分束光;6)通過(guò)光電轉(zhuǎn)換器探測(cè)第一分束光光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào)(包括交流和直流分量)以及第二分束光光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào)(包括交流和直流分量);7)對(duì)步驟6)所得到的第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)進(jìn)行雙光路信號(hào)處理其具體實(shí)現(xiàn)方式是判斷第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)經(jīng)過(guò)放大之后的和信號(hào)中是否含有調(diào)制頻率及其倍頻成分;若沒(méi)有,直接進(jìn)行步驟8);若含有,則判斷第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)放大比例不一致,所述使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致的具體實(shí)現(xiàn)方式是采用數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)兩路信號(hào)進(jìn)行和運(yùn)算以及頻譜分析,根據(jù)分析結(jié)果輸出一個(gè)相應(yīng)的控制電壓,壓控放大其中一路信號(hào),使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致后進(jìn)行步驟8)。8)根據(jù)下面公式解算檢偏器與X軸之間的方位角;
權(quán)利要求
1.一種精密測(cè)角方法,其特征在于所述精密測(cè)角方法包括以下步驟 1)由光源發(fā)射出光強(qiáng)為Itl的光束; 2)對(duì)步驟I)中的光束進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束,得到準(zhǔn)直光; 3)將準(zhǔn)直光進(jìn)行起偏并得到線偏振光; 4)對(duì)線偏振光進(jìn)行磁光調(diào)制,得到磁光調(diào)制信號(hào)光; 5)將磁光調(diào)制信號(hào)光進(jìn)行偏振分束,得到分束后的光強(qiáng)為I1的第一分束光以及光強(qiáng)為I2的第二分束光; 6)通過(guò)光電轉(zhuǎn)換器探測(cè)第一分束光的光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào)以及第二分束光的光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào);所述模擬電信號(hào)包括交流分量以及直流分量; 8)解算檢偏器與X軸之間的方位角。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的精密測(cè)角方法,其特征在于所述步驟8)的具體實(shí)現(xiàn)方式是 根據(jù)下面公式解算檢偏器與X軸之間的方位角;
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的精密測(cè)角方法,其特征在于所述精密測(cè)角方法在步驟6)和步驟8)之間還包括 7)對(duì)步驟6)所得到的第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)進(jìn)行雙光路信號(hào)處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的精密測(cè)角方法,其特征在于所述步驟7)的具體實(shí)現(xiàn)方式是 判斷第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)經(jīng)過(guò)放大之后的和信號(hào)中是否含有調(diào)制頻率及其倍頻成分;若沒(méi)有,直接進(jìn)行步驟8);若含有,則判斷第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)放大比例不一致;采用一個(gè)壓控放大電路進(jìn)行信號(hào)放大,使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致后進(jìn)行步驟8)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的精密測(cè)角方法,其特征在于所述步驟7)中,若第一分束光的電信號(hào)以及第二分束光的電信號(hào)放大比例不一致時(shí),所述使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致的具體實(shí)現(xiàn)方式是采用數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)兩路信號(hào)進(jìn)行和運(yùn)算以及頻譜分析,根據(jù)分析結(jié)果輸出一個(gè)相應(yīng)的控制電壓,壓控放大其中一路信號(hào),使兩路信號(hào)的放大比例趨向一致。
6.一種基于權(quán)利要求1-5任一權(quán)利要求所述的精密測(cè)角方法的精密測(cè)角裝置,其特征在于所述精密測(cè)角裝置包括偏振光信號(hào)發(fā)射單元以及設(shè)置在偏振光信號(hào)發(fā)射單元出射光路上的信號(hào)檢測(cè)單元;所述偏振光信號(hào)發(fā)射單元包括光源、準(zhǔn)直擴(kuò)束鏡、起偏器以及磁光調(diào)制器;所述準(zhǔn)直擴(kuò)束鏡、起偏器以及磁光調(diào)制器依次設(shè)置在經(jīng)光源的出射光路上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的精密測(cè)角裝置,其特征在于所述磁光調(diào)制器包括磁旋光玻璃以及環(huán)繞設(shè)置在磁旋光玻璃周圍的調(diào)制線圈。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的精密測(cè)角裝置,其特征在于所述信號(hào)檢測(cè)單元包括偏振分光鏡、第一聚光鏡、第二聚光鏡、第一光電轉(zhuǎn)換器以及第二光電轉(zhuǎn)換器;所述光源依次經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直擴(kuò)束鏡、起偏器以及磁光調(diào)制器入射至偏振分光鏡;所述偏振分光鏡將入射光分為第一分束光以及第二分束光;所述第一分束光以及第二分束光為偏振方向相互垂直、傳播方向成一定夾角的線偏振光;所述第一聚光鏡以及第一光電轉(zhuǎn)換器依次設(shè)置在第一分束光的光路上;所述第二聚光鏡以及第二光電轉(zhuǎn)換器依次設(shè)置在第二分束光的光路上。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7或8所述的精密測(cè)角裝置,其特征在于所述精密測(cè)角裝置還包括與信號(hào)檢測(cè)單元電性相連的雙光路信號(hào)處理單元。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的精密測(cè)角裝置,其特征在于所述雙光路信號(hào)處理單元包括第一通道、第一濾波器、放大器、第二通道、第二濾波器、壓控放大器、和運(yùn)算處理單元、差運(yùn)算處理單元、第一 A/D轉(zhuǎn)換器、精密放大器、第二 A/D轉(zhuǎn)換器、第三A/D轉(zhuǎn)換器、頻譜分析模塊、計(jì)算控制模塊、D/A轉(zhuǎn)換器、數(shù)據(jù)處理模塊以及數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī);所述第一通道通過(guò)第一濾波器與放大器相連;所述第二通道通過(guò)第二濾波器與壓控放大器相連;所述放大器與壓控放大器并聯(lián)后依次接入和運(yùn)算處理單元以及差運(yùn)算處理單元;所述和運(yùn)算處理單元依次通過(guò)第一 A/D轉(zhuǎn)換器、頻譜分析模塊、計(jì)算控制模塊以及D/A轉(zhuǎn)換器接入壓控放大器;所述和運(yùn)算處理單元通過(guò)第三A/D轉(zhuǎn)換器及數(shù)據(jù)處理模塊接入數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī);所述差運(yùn)算處理單元依次通過(guò)精密放大器、第二 A/D轉(zhuǎn)換器及數(shù)據(jù)處理模塊接入數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī)。
全文摘要
本發(fā)明涉及精密測(cè)角的方法及其裝置,包括1)由光源發(fā)射出光強(qiáng)為I0的光束;2)對(duì)光束進(jìn)行準(zhǔn)直擴(kuò)束,得到準(zhǔn)直光;3)將準(zhǔn)直光束進(jìn)行起偏并得到線偏振光;4)對(duì)線偏振光進(jìn)行磁光調(diào)制,得到磁光調(diào)制信號(hào)光;5)將磁光調(diào)制信號(hào)光進(jìn)行偏振分束,得到分束后的光強(qiáng)為I1的第一分束光以及光強(qiáng)為I2的第二分束光;6)通過(guò)光電轉(zhuǎn)換器探測(cè)第一分束光的光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào)以及第二分束光的光強(qiáng)度信號(hào)經(jīng)過(guò)光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成的模擬電信號(hào);所述模擬電信號(hào)包括交流分量以及直流分量;8)解算檢偏器與x軸之間的方位角。本發(fā)明提供了一種可提高系統(tǒng)測(cè)角精度、測(cè)角速度快、靈敏度高以及作用距離遠(yuǎn)的精密測(cè)角方法及其裝置。
文檔編號(hào)G01B11/26GK102878953SQ20121036376
公開(kāi)日2013年1月16日 申請(qǐng)日期2012年9月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月26日
發(fā)明者吳易明, 陸衛(wèi)國(guó), 李春艷, 肖茂森, 王海霞 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所
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