測試治具與測試方法
【專利摘要】一種測試治具與測試方法。測試治具用以組裝至一電子裝置的一容納空間。測試治具具有一接頭，接頭用以連通一氣體控制設(shè)備。氣體控制設(shè)備經(jīng)由接頭與測試治具控制電子裝置內(nèi)的氣壓以進(jìn)行一氣密測試。
【專利說明】測試治具與測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試治具與測試方法，尤其涉及一種氣密測試治具與氣密測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]電子裝置的內(nèi)部零件可能因?yàn)樗譂B入造成損壞，而現(xiàn)今電子裝置日趨精密，對(duì)于防水的要求也逐漸提升。為滿足電子裝置符合不同的防水等級(jí)，例如IPX7標(biāo)準(zhǔn)為待測電子裝置可于I公尺深的水中放置30分鐘而不進(jìn)水，在產(chǎn)品的研發(fā)或制造過程中都需要進(jìn)行防水的測試。
[0003]現(xiàn)有的電子裝置防水測試是隨機(jī)將待測電子裝置直接放置于水中一段時(shí)間后取出，并且拆解待測電子裝置以檢視內(nèi)部是否有水痕或殘留的水。所以，當(dāng)該待測電子裝置未通過防水測試時(shí)，水分將滲入該待測電子裝置內(nèi)部而造成損壞。而且，檢視后的待測電子裝置需再度組裝，而組裝品質(zhì)是否良好以及組裝過程中是否有破壞到原有的防水結(jié)構(gòu)則都無從確定。當(dāng)受測的電子裝置是要出貨給客戶或是到市場上販?zhǔn)鄣漠a(chǎn)品時(shí)，還增加了產(chǎn)品量率不佳而給予客戶壞印象的機(jī)會(huì)。再者，上述方法僅適用在初期研發(fā)階段的少量測試或大量生產(chǎn)時(shí)的產(chǎn)品抽測，故無法確保每一個(gè)沒有被抽測到的產(chǎn)品都與抽測件的防水效果相同。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種測試治具及其測試方法，可確保每一臺(tái)電子裝置可以達(dá)到防水功能以及避免測試過程中拆解電子裝置造成的良率下降。
[0005]本發(fā)明的測試治具用以組裝至一電子裝置的一容納空間。該測試治具具有一接頭，該接頭用以連通一氣體控制設(shè)備。該氣體控制設(shè)備經(jīng)由該測試治具控制該電子裝置內(nèi)的氣壓以進(jìn)行一氣密測試。
[0006]在本發(fā)明的測試治具的一實(shí)施例中，在該電子裝置的工作狀態(tài)中，該容納空間用以容納該電子裝置的一可拆卸元件。
[0007]在本發(fā)明的測試治具的一實(shí)施例中，可拆卸元件為一電池。
[0008]在本發(fā)明的測試治具的一實(shí)施例中，氣體控制設(shè)備為抽真空機(jī)。
[0009]在本發(fā)明的測試治具的一實(shí)施例中，測試治具與電子裝置結(jié)合的部分的結(jié)構(gòu)與可拆卸元件的對(duì)應(yīng)部分的結(jié)構(gòu)相同。
[0010]本發(fā)明的測試方法包括下列步驟。組裝一測試治具至一電子裝置的一容納空間。該測試治具具有一接頭。將該接頭連通一氣體控制設(shè)備。操作該氣體控制設(shè)備經(jīng)由該測試治具控制該電子裝置內(nèi)的氣壓以進(jìn)行一氣密測試。
[0011]在本發(fā)明的測試方法的一實(shí)施例中，通過氣密測試的電子裝置組裝有一可拆卸元件時(shí)，可在I公尺深的水中放置30分鐘而不會(huì)進(jìn)水。
[0012]在本發(fā)明的測試方法的一實(shí)施例中，氣密測試包括測試能否在一第一時(shí)間內(nèi)控制電子裝置內(nèi)的氣壓降為一第一氣壓。第一時(shí)間例如為20秒，而第一氣壓例如為80托(torr)ο
[0013]在本發(fā)明的測試方法的一實(shí)施例中，氣密測試還包括當(dāng)無法在第一時(shí)間內(nèi)控制電子裝置內(nèi)的氣壓降為第一氣壓，將電子裝置連同測試治具放置于水中并供應(yīng)氣體至電子裝置，以根據(jù)氣泡產(chǎn)生的位置判斷發(fā)生漏氣的位置。
[0014]在本發(fā)明的測試方法的一實(shí)施例中，氣密測試還包括在電子裝置內(nèi)的氣壓降為第一氣壓之后，測試能否在一第二時(shí)間內(nèi)維持電子裝置內(nèi)的氣壓在第一氣壓。第二時(shí)間例如為10秒。
[0015]在本發(fā)明的測試方法的一實(shí)施例中，氣密測試還包括在電子裝置內(nèi)的氣壓降為第一氣壓之后，測試能否在一第三時(shí)間內(nèi)維持電子裝置內(nèi)的氣壓與第一氣壓的差值在一預(yù)設(shè)值內(nèi)。第三時(shí)間例如為30秒，預(yù)設(shè)值例如為2托。
[0016]基于上述，在本發(fā)明的測試治具與測試方法中，以測試治具取代電子裝置原有的可拆卸元件，無須拆卸與組裝電子裝置的固定部分，藉以確保每一電子產(chǎn)品皆為良品。
[0017]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1A與圖1B是本發(fā)明一實(shí)施例的測試治具的兩個(gè)方向的視圖。
[0019]圖2是待測試的一電子裝置的分解圖。
[0020]圖3是圖1B的測試治具組裝至圖2的電子裝置時(shí)的示意圖。
[0021]附圖標(biāo)記:
[0022]50:測試治具
[0023]52:開口
[0024]54:接頭
[0025]60:電子裝置
[0026]62:容納空間
[0027]64:可拆卸元件
[0028]66:透氣防水膜
[0029]70:氣體控制設(shè)備
[0030]72:軟管
【具體實(shí)施方式】
[0031]圖1A與圖1B是本發(fā)明一實(shí)施例的測試治具的兩個(gè)方向的視圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1A與圖1B，本實(shí)施例的測試治具50在圖1A所見的一側(cè)具有開口 52，而測試治具50在圖1B所見的一側(cè)則具有一接頭54。該接頭54與該開口 52是彼此連通的，亦即從該開口 52進(jìn)入該測試治具50內(nèi)的氣體可從該接頭54流出，反之亦然。
[0032]圖2是待測試的一電子裝置的分解圖。請(qǐng)參照?qǐng)D2，電子裝置60具有一容納空間62與一可拆卸元件64。在電子裝置60的工作狀態(tài)中，該容納空間62用以容納可拆卸元件64 (如電池)。當(dāng)該電子裝置60沒有處于工作狀態(tài)中，則可選擇性地將該可拆卸元件64拆下。換言之，該電子裝置60上的可拆卸元件64原本就是設(shè)計(jì)讓使用者可依照需求決定是否拆卸的。該可拆卸元件64組裝于該容納空間62時(shí)，整個(gè)電子裝置60是否能夠通過一定條件的氣密測試也就是使用如圖1B所示的測試治具50進(jìn)行測試所要得到的信息。
[0033]圖3是圖1B的測試治具組裝至圖2的電子裝置時(shí)的示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D3，在進(jìn)行測試時(shí)，本實(shí)施例的測試治具50可組裝至圖2的電子裝置60的容納空間62。該測試治具50的接頭54用以連通一氣體控制設(shè)備70。舉例而言，該接頭54是經(jīng)由軟管72連通該氣體控制設(shè)備70。該接頭54可以是任何一種市面上常見的氣體接頭，且該接頭54的尺寸也可依需求做選擇。該氣體控制設(shè)備70經(jīng)由該測試治具50控制該電子裝置60內(nèi)的氣壓以進(jìn)行一氣密測試。
[0034]由上述可知,本實(shí)施例的測試治具50是取代電子裝置60上原本就設(shè)計(jì)為可拆卸的可拆卸元件64 (顯示于圖2)，而無須拆解該電子裝置60被設(shè)計(jì)為固定式的部分，更無須破壞該電子裝置60的結(jié)構(gòu)，藉以確保該電子裝置60在測試前后的狀態(tài)一致而維持品質(zhì)。
[0035]本實(shí)施例中，該可拆卸元件64為一電池。當(dāng)然，該可拆卸元件64也可以是該電子裝置60上常見的其他可拆卸元件，例如天線之類的。為了確保測試完成后將該可拆卸元件64組裝回該電子裝置60時(shí)也可達(dá)到相同的氣密標(biāo)準(zhǔn)，該測試治具50與該電子裝置60結(jié)合的部分的結(jié)構(gòu)可設(shè)計(jì)為與該可拆卸元件64的對(duì)應(yīng)部分的結(jié)構(gòu)相同。例如，該測試治具50的外殼可米用與該可拆卸兀件64的外殼相同的外殼。本實(shí)施例的氣體控制設(shè)備70為抽真空機(jī)或打氣機(jī)。當(dāng)然，要進(jìn)行氣密測試并不限定以抽真空的方式進(jìn)行，也可利用例如打氣機(jī)的氣體控制設(shè)備將氣體灌進(jìn)電子裝置60而做測試。
[0036]以下針對(duì)本發(fā)明一實(shí)施例的測試方法做說明，其中以使用如圖3所示的測試治具50與電子裝置60為例。然而，不限定本實(shí)施例的測試方法需使用如圖3所示的測試治具50與電子裝置60，也不限定如圖3所示的測試治具50進(jìn)能用于進(jìn)行本實(shí)施例的測試方法。
[0037]首先組裝該測試治具50至該電子裝置60的容納空間62，并且將該接頭54連通該氣體控制設(shè)備70。接著，操作該氣體控制設(shè)備70經(jīng)由該測試治具50控制該電子裝置60內(nèi)的氣壓以進(jìn)行氣密測試。
[0038]本實(shí)施例的測試方法不僅是氣密測試，也可模擬獲得對(duì)應(yīng)的防水等級(jí)，例如電子裝置60是否符合IPX7標(biāo)準(zhǔn)。如此，在電子裝置60需進(jìn)行防水等級(jí)的測試時(shí)，不需要真的將該電子裝置60放入水中，可避免一旦該電子裝置60內(nèi)部進(jìn)水時(shí)該電子裝置60損壞而需要報(bào)廢所造成的成本。具體而言，本實(shí)施例是以控制該電子裝置60內(nèi)的氣壓相對(duì)于外界環(huán)境為正壓或負(fù)壓來模擬該電子裝置60在水中承受水壓的狀態(tài)。舉例而言，本實(shí)施例的測試方法的測試目的可設(shè)定為測試通過的電子裝置60組裝有可拆卸元件64 (顯示于圖2)后，可在I公尺深的水中放置30分鐘而不進(jìn)水，亦即符合IPX7標(biāo)準(zhǔn)。
[0039]本實(shí)施例的氣密測試包括測試能否在一第一時(shí)間內(nèi)控制電子裝置60內(nèi)的氣壓降為一第一氣壓。以下舉例說明時(shí)，以第一時(shí)間為20秒而第一氣壓為80托為例,但本發(fā)明不限定于此。若在20秒內(nèi)該氣體控制設(shè)備70都沒有辦法讓該電子裝置60內(nèi)的氣壓降為80托，則可初步判定該電子裝置60無法通過氣密測試。此時(shí)，可選擇將該電子裝置60連同該測試治具50放置于水中，并以該氣體控制設(shè)備70供應(yīng)氣體至該電子裝置60，以根據(jù)氣泡產(chǎn)生的位置判斷發(fā)生漏氣的位置。
[0040]另一方面，若在20秒內(nèi)氣體控制設(shè)備70能夠讓該電子裝置60內(nèi)的氣壓降為80托，則可初步判定該電子裝置60通過氣密測試。選擇性地，可進(jìn)一步在該電子裝置60內(nèi)的氣壓降為80托之后，持續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)該氣體控制設(shè)備70，測試能否在一第二時(shí)間內(nèi)維持該電子裝置60內(nèi)的氣壓在第一氣壓(即80托)。如此，可確定該電子裝置60內(nèi)的氣壓確實(shí)可維持在80托，而非臨時(shí)性地達(dá)到80托。第二時(shí)間例如為10秒，但不限定于此。
[0041]另外，在該電子裝置60內(nèi)的氣壓降為80托之后，或是在該電子裝置60內(nèi)的氣壓維持在80托10秒之后，可選擇性地測試能否在一第三時(shí)間內(nèi)維持該電子裝置60內(nèi)的氣壓與80托的差值在一預(yù)設(shè)值內(nèi)。在第三時(shí)間內(nèi)，該氣體控制設(shè)備70停止運(yùn)轉(zhuǎn)，僅保持氣密狀態(tài)。第三時(shí)間例如為30秒，預(yù)設(shè)值例如為2托，但不限定于此。若該氣體控制設(shè)備70停止運(yùn)轉(zhuǎn)后，該電子裝置60內(nèi)的氣壓經(jīng)過30秒后的值與80托的差值可維持在2托內(nèi)，則判定該電子裝置60通過氣密測試。
[0042]以上述所舉例的數(shù)據(jù)可看出，本實(shí)施例的測試方法僅以I分鐘的最大測試時(shí)間就可確定該電子裝置60是否可以通過氣密測試，進(jìn)而判定該電子裝置60的防水能力是否達(dá)到符合IPX7標(biāo)準(zhǔn)。因此，本實(shí)施例的測試方法大幅縮短了測試所需的時(shí)間，適于對(duì)每一個(gè)電子裝置60進(jìn)行測試，而非以抽檢的方式進(jìn)行。如此，大幅提升了電子裝置60的可靠度。
[0043]另一方面，部分的電子裝置60可能有傳遞聲音的需求而必須在表面開洞以便于聲波傳出，但又為了符合防水的需求，而會(huì)在開洞處設(shè)置有一透氣防水膜66。因此，要以氣密測試取代實(shí)際將該電子裝置60放置于水中所進(jìn)行的防水測試時(shí)，必須避免氣體通過該透氣防水膜66。此時(shí)，可在進(jìn)行氣密測試前，以水滴從該電子裝置60的外部覆蓋該透氣防水膜66。如此，在以該氣體控制設(shè)備70抽取該電子裝置60內(nèi)的空氣以降低內(nèi)部氣壓而進(jìn)行氣密測試時(shí)，水滴可封阻該透氣防水膜66而避免氣體進(jìn)入電子裝置60內(nèi)，進(jìn)而順利完成氣密測試。
[0044]綜上所述，在本發(fā)明的測試治具與測試方法中，以測試治具取代電子裝置原有的可拆卸元件，可確保每一電子產(chǎn)品皆為良品，并避免在測試過程中拆解電子裝置的固定部分。另外，利用測試時(shí)間較短的氣密測試可模擬測試時(shí)間較長的防水測試，有利于逐一檢測電子裝置而解決抽檢無法確保所有產(chǎn)品的可靠度的問題。
[0045]雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員，當(dāng)可作些許更動(dòng)與潤飾，而不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種測試治具，用以組裝至一電子裝置的一容納空間，該測試治具具有一接頭，該接頭用以連通一氣體控制設(shè)備，該氣體控制設(shè)備經(jīng)由該測試治具控制該電子裝置內(nèi)的氣壓以進(jìn)行一氣密測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，其中在該電子裝置的工作狀態(tài)中，該容納空間用以容納該電子裝置的一可拆卸元件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試治具，其中該可拆卸元件為一電池。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試治具與該電子裝置結(jié)合的部分的結(jié)構(gòu)與該可拆卸元件的對(duì)應(yīng)部分的結(jié)構(gòu)相同。
5.—種測試方法,包括: 組裝一測試治具至一電子裝置的一容納空間，該測試治具具有一接頭； 將該接頭連通一氣體控制設(shè)備；以及 操作該氣體控制設(shè)備經(jīng)由該測試治具控制該電子裝置內(nèi)的氣壓以進(jìn)行一氣密測試。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試方法，其中通過該氣密測試的該電子裝置組裝有一可拆卸元件時(shí)，該電子裝置在I公尺深的水中放置30分鐘不會(huì)進(jìn)水。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試方法，其中該氣密測試包括: 測試能否在一第一時(shí)間內(nèi)控制該電子裝置內(nèi)的氣壓降為一第一氣壓。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法,其中該第一時(shí)間為20秒,該第一氣壓為80托。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其中該氣密測試還包括: 當(dāng)無法在該第一時(shí)間內(nèi)控制該電子裝置內(nèi)的氣壓降為該第一氣壓，將該電子裝置連同該測試治具放置于水中并供應(yīng)氣體至該電子裝置，以根據(jù)氣泡產(chǎn)生的位置判斷發(fā)生漏氣的位置。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其中該氣密測試還包括: 在該電子裝置內(nèi)的氣壓降為該第一氣壓之后，測試能否在一第二時(shí)間內(nèi)維持該電子裝置內(nèi)的氣壓在該第一氣壓。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試方法，其中該第二時(shí)間為10秒。
12.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其中該氣密測試還包括: 在該電子裝置內(nèi)的氣壓降為該第一氣壓之后，測試能否在一第三時(shí)間內(nèi)維持該電子裝置內(nèi)的氣壓與該第一氣壓的差值在一預(yù)設(shè)值內(nèi)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的測試方法，其中該第三時(shí)間為30秒，該預(yù)設(shè)值為2托。
【文檔編號(hào)】G01M3/26GK103674441SQ201210341527
【公開日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2012年9月14日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月14日
【發(fā)明者】吳光鎮(zhèn) 申請(qǐng)人:亞旭電腦股份有限公司