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物理量檢測(cè)設(shè)備和物理量檢測(cè)設(shè)備的檢查方法

文檔序號(hào):5952701閱讀:197來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:物理量檢測(cè)設(shè)備和物理量檢測(cè)設(shè)備的檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及一種量檢測(cè)設(shè)備和量檢測(cè)設(shè)備的檢查方法。
背景技術(shù)
用于檢測(cè)被檢測(cè)對(duì)象旋轉(zhuǎn)角的常規(guī)旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備包括諸如磁體的磁性產(chǎn)生部分以及諸如霍爾元件的磁通密度檢測(cè)部分。磁性產(chǎn)生部分和磁通密度檢測(cè)部分之一附著于被檢測(cè)對(duì)象。磁通密度檢測(cè)部分檢測(cè)被檢測(cè)對(duì)象旋轉(zhuǎn)時(shí)磁性產(chǎn)生部分的磁性,由此檢測(cè)被檢測(cè)對(duì)象的旋轉(zhuǎn)角。例如,JP-A-2002-206911公開(kāi)了一種旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備,包括作為磁性產(chǎn)生部分的磁體、作為磁通密度檢測(cè)部分的磁通密度傳感器和作為處理部分的信號(hào)處理器。信號(hào)處理器執(zhí)行校正操作。信號(hào)處理器基于與預(yù)定校正點(diǎn)對(duì)應(yīng)的預(yù)定值(電壓電 平)校正實(shí)際輸出電壓,實(shí)際輸出電壓基于磁通密度傳感器的輸出信號(hào)。預(yù)定校正點(diǎn)設(shè)置在有規(guī)則間隔處。在校正點(diǎn)的間隔是常數(shù)時(shí),輸出信號(hào)的非線性得不到改進(jìn),實(shí)際輸出電壓的誤差保持為旋轉(zhuǎn)角的線性誤差。JP-A-2007-71889公開(kāi)了一種校正方法,將輸出變化率大的區(qū)域比輸出變化率小的區(qū)域更精細(xì)地進(jìn)行劃分。日本專利No. 3491577(對(duì)應(yīng)于US 6498479)公開(kāi)了一種校正方法,其中將磁性檢測(cè)元件的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),利用反正弦函數(shù)處理數(shù)字信號(hào)。不過(guò),在輸出波形不清晰時(shí),不能使用JP-A-2007-71889和日本專利No. 3491577中公開(kāi)的校正方法。

發(fā)明內(nèi)容
本公開(kāi)的目的是提供一種無(wú)論輸出波形如何都能夠校正實(shí)際輸出值的物理量檢測(cè)設(shè)備。本公開(kāi)的另一目的是提供一種物理量檢測(cè)設(shè)備的檢查方法。根據(jù)本公開(kāi)一方面的物理量檢測(cè)設(shè)備包括信號(hào)輸出部分、校正值計(jì)算部分和處理部分。信號(hào)輸出部分根據(jù)被檢測(cè)對(duì)象的物理量變化輸出信號(hào)。校正值計(jì)算部分計(jì)算校正值。處理部分利用所述校正值校正基于所述信號(hào)輸出部分的實(shí)際輸出值的值,計(jì)算基于所述校正值的被檢測(cè)對(duì)象的物理量并輸出計(jì)算的物理量。校正值計(jì)算部分計(jì)算基于一次誤差量的所述校正值,所述一次誤差量是通過(guò)對(duì)基于預(yù)定物理量范圍之內(nèi)的實(shí)際輸出值的值執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程而計(jì)算的內(nèi)插后實(shí)際輸出值和基于與所述內(nèi)插后實(shí)際輸出值對(duì)應(yīng)的實(shí)際輸出值的值之間的差異。無(wú)論輸出波形如何,該物理量檢測(cè)設(shè)備都能夠準(zhǔn)確地校正實(shí)際輸出值。在物理量檢測(cè)設(shè)備中,校正值計(jì)算部分可以執(zhí)行最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程,其中所述校正值計(jì)算部分計(jì)算二次誤差量的最大絕對(duì)值,所述二次誤差量是通過(guò)對(duì)所述一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程而計(jì)算的內(nèi)插后誤差量和對(duì)應(yīng)的一次誤差量之間的差異,并且校正值計(jì)算部分可以將校正值設(shè)置為與二次誤差量的最大絕對(duì)值對(duì)應(yīng)的一次誤差量。在根據(jù)本公開(kāi)另一方面的物理量檢測(cè)設(shè)備的檢查方法中,在重復(fù)所述最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程的次數(shù)大于或等于預(yù)定次數(shù)時(shí),可以判定所述物理量檢測(cè)設(shè)備有故障。
利用上述檢查方法,能夠容易地發(fā)現(xiàn)有故障的物理量檢測(cè)設(shè)備。


在結(jié)合附圖考慮時(shí),從以下詳細(xì)描述,本公開(kāi)的其他目的和優(yōu)點(diǎn)將更加容易明了。在附圖中圖I是示出了根據(jù)本公開(kāi)示范性實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的圖示;圖2是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備中的處理電路的圖示;圖3是示出了預(yù)定值和校正值之間對(duì)應(yīng)關(guān)系的 圖示;圖4是示出了校正值計(jì)算過(guò)程的流程圖;圖5是不出了校正值計(jì)算過(guò)程中緩存內(nèi)容的圖不;圖6是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和輸出信號(hào)之間關(guān)系的曲線圖;圖7是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和一次誤差量之間關(guān)系的曲線圖;圖8是不出了校正值計(jì)算過(guò)程中緩存內(nèi)容的圖不;圖9是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和誤差量之間關(guān)系的曲線圖;圖10是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和輸出信號(hào)之間關(guān)系的曲線圖;圖11是示出了校正值計(jì)算過(guò)程中緩存內(nèi)容的圖示;圖12是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和誤差量之間關(guān)系的曲線圖;圖13是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和輸出信號(hào)之間關(guān)系的曲線圖;圖14是示出了校正值計(jì)算過(guò)程中緩存內(nèi)容的圖示;圖15是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和誤差量之間關(guān)系的曲線圖;圖16是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和輸出信號(hào)之間關(guān)系的曲線圖;以及圖17是示出了旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備的角度和誤差量之間關(guān)系的曲線圖。
具體實(shí)施例方式將參考附圖描述根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例的物理量檢測(cè)設(shè)備??梢詫⒏鶕?jù)本公開(kāi)示范性實(shí)施例的物理量檢測(cè)設(shè)備用于旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I。旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I檢測(cè)例如作為被檢測(cè)對(duì)象的節(jié)流閥閥桿的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角。相對(duì)旋轉(zhuǎn)角是物理量的范例。旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I包括永磁體20和霍爾集成電路(霍爾IC)10?;魻朓C 10包括霍爾元件11和數(shù)字信號(hào)處理器(DSP) 12以及存儲(chǔ)器13。永磁體20附著于設(shè)置于節(jié)流閥閥桿上作為被檢測(cè)對(duì)象的磁軛30。永磁體20可以相對(duì)于具有磁軛30的旋轉(zhuǎn)的霍爾IClO旋轉(zhuǎn)?;魻栐?1由半導(dǎo)體薄膜制成?;魻栐?1作為信號(hào)輸出部分工作?;魻栐?1根據(jù)磁通密度的變化輸出信號(hào)。DSP 12專用于處理數(shù)字信號(hào)。DSP 12對(duì)霍爾元件11輸出并轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)的值執(zhí)行例如校正過(guò)程和旋轉(zhuǎn)角算術(shù)過(guò)程。DSP 12作為處理部分工作。存儲(chǔ)器13例如包括只讀存儲(chǔ)器或可寫(xiě)和可擦存儲(chǔ)器。存儲(chǔ)器13存儲(chǔ)DSP 12使用的各種數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)器13還存儲(chǔ)與磁軛30的旋轉(zhuǎn)角對(duì)應(yīng)的校正值K (I)到K (m),其中“m”是大于I的自然數(shù)。在本實(shí)施例中,霍爾IC 10是其中構(gòu)建了模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器電路(以下稱為ADC)14和數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器電路(以下稱為DAC)15以及霍爾元件11、DSP 12和存儲(chǔ)器13的IC芯片。設(shè)置霍爾IC 10,使得霍爾元件11的磁力感測(cè)表面位于中心軸O上。計(jì)算機(jī)16設(shè)置于霍爾IC 10外部。計(jì)算機(jī)16計(jì)算校正值K (I)到K (m)并在存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)校正值K (I)到K (m)。計(jì)算機(jī)16作為校正值計(jì)算部分工作。接下來(lái),將描述旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I的工作。霍爾元件11根據(jù)繞相對(duì)于永磁體20的中心軸O的相對(duì)旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的磁通量變化而輸出信號(hào)。ADC 14將霍爾元件11輸出的模擬值轉(zhuǎn)換成數(shù)字值并向DSP 12發(fā)送數(shù)字值。在下文中,將ADC 14輸出的數(shù)字值稱為實(shí)際輸出值。DSP 12執(zhí)行校正過(guò)程和旋轉(zhuǎn)角算術(shù)過(guò)程。DSP 12向DAC 15發(fā)送處理的結(jié)果。DAC15將從DSP 12發(fā)送的數(shù)字值轉(zhuǎn)換成模擬值并輸出模擬值。在DSP 12執(zhí)行的校正過(guò)程中,事先設(shè)置m校正點(diǎn),DSP基于與m校正點(diǎn)對(duì)應(yīng)的預(yù)定值校正實(shí)際輸出值。在存儲(chǔ)器13中,存儲(chǔ)與相應(yīng)校正點(diǎn)和校正值K (I)到K (m)對(duì)應(yīng)的預(yù)定值A(chǔ) (I)到A (m)。如圖3中所示,預(yù)定值A(chǔ) (I)到A (m)分別與校正值K (I)到K (m)對(duì)應(yīng)。 預(yù)定值A(chǔ) (I)到A (m)是霍爾元件11實(shí)際輸出值(電壓電平)范圍之內(nèi)的值。被檢測(cè)對(duì)象的可旋轉(zhuǎn)角范圍是預(yù)定物理量范圍的范例。DSP 12基于預(yù)定值A(chǔ) (I)到A (m)以及校正值K (I)到K (m)校正霍爾元件11的實(shí)際輸出值。在實(shí)際輸出值等于預(yù)定值A(chǔ) (I)到A (m)之一時(shí),DSP 12從實(shí)際輸出值減去與等于實(shí)際輸出值的預(yù)定值對(duì)應(yīng)的校正值以校正實(shí)際輸出值。例如,在實(shí)際輸出值等于預(yù)定值A(chǔ) (3)時(shí),由于與預(yù)定值A(chǔ) (3)對(duì)應(yīng)的校正值為K (3),所以將實(shí)際輸出值校正為A
(3)-K (3)。在實(shí)際輸出值不等于預(yù)定值A(chǔ) (I)到A (m)的任一個(gè)時(shí),從實(shí)際輸出值減去與實(shí)際輸出值對(duì)應(yīng)的算術(shù)校正值K以校正實(shí)際輸出值。利用從方程I導(dǎo)出的方程2,使用實(shí)際輸出值處于其間的兩個(gè)預(yù)定值以及與兩個(gè)預(yù)定值對(duì)應(yīng)的兩個(gè)校正值,通過(guò)線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程計(jì)算算術(shù)校正值K。{K (n) -K (η-1)} / {A (η) —A (η-1)} = {Κ_Κ (η-1)} / {Α_Α (η-1)}...方程IK= {K (η) -K (η-1)) / {A (η) - (η-1)} X {Α_Α (η-1)} +K (η-1)...方程2例如,假設(shè)實(shí)際輸出值A(chǔ)介于預(yù)定值A(chǔ) (3)和預(yù)定值A(chǔ) (4)之間,與實(shí)際輸出值A(chǔ)對(duì)應(yīng)的算術(shù)校正值為K。向方程I中代入實(shí)際輸出值Α、預(yù)定值A(chǔ) (3)、預(yù)定值A(chǔ) (4)、校正值K (3)和校正值K (4),得到方程(3)。{K (4) -K (3)} / {A (4) -A (3)} = {Κ-Κ (3)} / {Α-Α (3)}...方程 3從方程3獲得方程4。K= [ {K (4) -K (3) / {A (4) -A (3)} ] X {Α-Α (3)} +K (3)…方程4由于實(shí)際輸出值被校正為Α-Κ,所以將實(shí)際輸出值校正為值Α-[{Κ(4)_Κ(3)}/{Α(4)-Α(3)}]Χ{Α-Α(3)}+Κ(3)。通過(guò)這種方式,DSP 12通過(guò)從實(shí)際輸出值減去線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程計(jì)算的算術(shù)校正值來(lái)校正實(shí)際輸出值,由此計(jì)算旋轉(zhuǎn)角。將參考圖4到圖16描述校正值的設(shè)置。在本實(shí)施例中,設(shè)置于霍爾IClO外部的計(jì)算機(jī)16通過(guò)執(zhí)行圖4中所示的校正值計(jì)算過(guò)程來(lái)計(jì)算校正值。在S101,計(jì)算機(jī)16設(shè)置目標(biāo)誤差量。例如,計(jì)算機(jī)16將目標(biāo)誤差量設(shè)置為80。
在S102,計(jì)算機(jī)16在緩存BI中存儲(chǔ)角度值,其對(duì)應(yīng)于磁軛30的可旋轉(zhuǎn)角范圍之內(nèi)的角度。在本實(shí)施例中,磁軛30的可旋轉(zhuǎn)角范圍為90度。在圖6中,緩存BI中存儲(chǔ)的角度值O對(duì)應(yīng)于O度,角度值1024對(duì)應(yīng)于90度。換言之,緩存BI中存儲(chǔ)的角度值的一個(gè)比例尺對(duì)應(yīng)于90/1024度。在S103,計(jì)算機(jī)16從霍爾元件11檢測(cè)對(duì)應(yīng)于磁軛30旋轉(zhuǎn)角的實(shí)際輸出值,并在緩存B2中存儲(chǔ)實(shí)際輸出值。如圖6中所示,將實(shí)際輸出值表達(dá)為通過(guò)點(diǎn)(0,0)的曲線SI。在S104,計(jì)算機(jī)16基于霍爾元件11檢測(cè)的實(shí)際輸出值計(jì)算理想的輸出值。在本實(shí)施例中,理想輸出值是連接實(shí)際輸出值的最大值和最小值的線性函數(shù)表達(dá)的直線上的值。如圖6中所示,由通過(guò)點(diǎn)(0,0)的線性線S2表示理想輸出值。計(jì)算機(jī)16在緩存B3中存儲(chǔ)理想輸出值。理想輸出值與內(nèi)插后的實(shí)際輸出值對(duì)應(yīng)。在S105,計(jì)算機(jī)16計(jì)算實(shí)際輸出值的一次誤差量。一次誤差量是實(shí) 際輸出值和對(duì)應(yīng)的理想輸出值之間的差異。計(jì)算機(jī)16計(jì)算緩存B2中存儲(chǔ)的實(shí)際輸出值和緩存B3中存儲(chǔ)的理想輸出值之間的差異并在緩存B4中存儲(chǔ)差異作為一次誤差值。如圖7中所示,由曲線S3表達(dá)與預(yù)定角范圍之內(nèi)的角度對(duì)應(yīng)的一次誤差量。在S106,計(jì)算機(jī)16設(shè)置校正值并對(duì)一次誤差值執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程。計(jì)算機(jī)16將校正值設(shè)置為緩存B4中存儲(chǔ)的一次誤差量的最大絕對(duì)值并在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)校正值。如圖5和圖8中所示,緩存B4中存儲(chǔ)的最大絕對(duì)值為165。于是,計(jì)算機(jī)16將校正值設(shè)置為165,并在緩存7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)校正值。此外,在S106,計(jì)算機(jī)16對(duì)緩存B4中的165和O之間的一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程,并在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域存儲(chǔ)計(jì)算的量作為內(nèi)插后的誤差量。接下來(lái),計(jì)算機(jī)16計(jì)算緩存B4中存儲(chǔ)的值和緩存B7中對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)的值之間的差異并在緩存B5中存儲(chǔ)該差異作為二次誤差量。如圖9中所示,由曲線S31表達(dá)緩存B5中存儲(chǔ)的二次誤差量。此外,如圖10中所示,由曲線Sll表達(dá)利用校正值165校正的實(shí)際輸出值。在S107,計(jì)算機(jī)16判斷緩存B5中整個(gè)區(qū)域中存儲(chǔ)的所有二次量的絕對(duì)值是否小于目標(biāo)誤差量。在所有二次誤差量的絕對(duì)值都小于目標(biāo)誤差量時(shí),這對(duì)應(yīng)于S107的“是”,校正值計(jì)算過(guò)程結(jié)束。在并非所有二次誤差量的絕對(duì)值都小于目標(biāo)誤差量時(shí),即在二次誤差量絕對(duì)值中的至少一個(gè)大于或等于目標(biāo)誤差量時(shí),這對(duì)應(yīng)于S107的“否”,校正值計(jì)算過(guò)程前進(jìn)到S108。在本范例中,因?yàn)榫彺鍮5中存在絕對(duì)值大于目標(biāo)誤差量(=80)的二次誤差量,所以校正值計(jì)算過(guò)程前進(jìn)到S108。在S108,計(jì)算機(jī)16將緩存B5中存儲(chǔ)的二次誤差量拷貝到緩存B6,如圖8和圖11所示。在S109,計(jì)算機(jī)16計(jì)算緩存B6中存儲(chǔ)的二次誤差量的最大絕對(duì)值。在本范例中,如圖11所示,最大絕對(duì)值為215。在SI 10,計(jì)算機(jī)16設(shè)置校正值。計(jì)算機(jī)16將校正值設(shè)置為與S109檢測(cè)到的二次誤差量的最大絕對(duì)值對(duì)應(yīng)的一次誤差量,并在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)校正值。在本范例中,如圖11所示,在緩存7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)與緩存B6中的-215對(duì)應(yīng)的緩存B4的-144。在S111,計(jì)算機(jī)16對(duì)一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程。具體而言,計(jì)算機(jī)16對(duì)與緩存B6中的最大絕對(duì)值和緩存B6中最接近最大絕對(duì)值的O值之間的二次誤差量對(duì)應(yīng)的一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程,然后計(jì)算機(jī)16在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)計(jì)算的值。在本范例中,如圖11所示,計(jì)算機(jī)16對(duì)緩存B4中與角度值O到角度值302對(duì)應(yīng)的一次誤差量以及緩存B4中與角度值302到角度值749對(duì)應(yīng)的一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程,計(jì)算機(jī)16在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)計(jì)算的值作為內(nèi)插后的誤差量。在SI 12,計(jì)算機(jī)16計(jì)算二次誤差量。接下來(lái),計(jì)算機(jī)16計(jì)算緩存B4中存儲(chǔ)的一次誤差量和緩存B7中存儲(chǔ)的對(duì)應(yīng)內(nèi)插后誤差量之間的差異并在緩存B5中存儲(chǔ)該差異作為新的二次誤差量。因此,如圖11中所示,用緩存B4中的值和緩存B7中的值之間的差異替代緩存B5中的值。如圖12中所示,由曲線S32表達(dá)緩存B5中存儲(chǔ)的二次誤差量。此外,如圖13中所示,由曲線S12表達(dá)利用校正值165和-144校正的實(shí)際輸出值。

在S113,計(jì)算機(jī)16判斷是否所有二次誤差量的絕對(duì)值都小于目標(biāo)誤差量。在所有二次誤差量的絕對(duì)值都小于目標(biāo)誤差量時(shí),這對(duì)應(yīng)于S113的“是”,校正值計(jì)算過(guò)程結(jié)束。在并非所有二次誤差量的絕對(duì)值都小于目標(biāo)誤差量時(shí),即在二次誤差量絕對(duì)值中的至少一個(gè)大于或等于目標(biāo)誤差量時(shí),這對(duì)應(yīng)于S113的“否”,該過(guò)程返回到S108。在本范例中,如圖11和圖12所示,因?yàn)榻^對(duì)值大于或等于目標(biāo)誤差量80的二次誤差量仍然在緩存B5中,校正值計(jì)算過(guò)程返回到S108。在S108,計(jì)算機(jī)16將緩存B5中存儲(chǔ)的二次誤差量拷貝到緩存B6,如圖11和圖14所示。在S109,計(jì)算機(jī)16檢測(cè)緩存B6中存儲(chǔ)的二次誤差量的最大絕對(duì)值。在本范例中,緩存B6中存儲(chǔ)的二次誤差量的最大絕對(duì)值為83。在SI 10,計(jì)算機(jī)16設(shè)置校正值。計(jì)算機(jī)16將校正值設(shè)置為與S109檢測(cè)到的二次誤差量的最大絕對(duì)值對(duì)應(yīng)的一次誤差量,并在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)校正值。在本范例中,如圖14所示,在緩存7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)與緩存B6中的最大絕對(duì)值83對(duì)應(yīng)的緩存B4的一次誤差量130。在S111,計(jì)算機(jī)16對(duì)一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程。具體而言,計(jì)算機(jī)16對(duì)與緩存B6中的最大絕對(duì)值和緩存B6中最接近最大絕對(duì)值的O值之間的二次誤差量對(duì)應(yīng)的一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程,然后計(jì)算機(jī)16在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)計(jì)算的值。如圖14中所示,與緩存B6中的最大絕對(duì)值83對(duì)應(yīng)的角度值是875,與緩存B6中最接近最大絕對(duì)值83的O值對(duì)應(yīng)的角度值為749和1024。于是,計(jì)算機(jī)16對(duì)緩存B4中與角度值749到角度值875對(duì)應(yīng)的一次誤差量以及緩存B4中與角度值875到角度值1024對(duì)應(yīng)的一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程,然后在緩存B7中的對(duì)應(yīng)區(qū)域中存儲(chǔ)計(jì)算的值。在S112,計(jì)算機(jī)16計(jì)算新的二次誤差量。因此,如圖11中所示,用緩存B4中的值和緩存B7中的值之間的差異替代緩存B5中的值。如圖15中所示,由曲線S33表達(dá)緩存B5中存儲(chǔ)的二次誤差量。此外,如圖16中所示,由曲線S33表達(dá)利用校正值165、-144、83校正的實(shí)際輸出值。在S113,計(jì)算機(jī)16判斷是否所有二次誤差量的絕對(duì)值都小于目標(biāo)誤差量80。如圖14中所示,在緩存B5中,沒(méi)有絕對(duì)值大于或等于目標(biāo)誤差量80的二次誤差量。于是,校正值計(jì)算過(guò)程結(jié)束。重復(fù)S108到SI 13的過(guò)程,直到所有二次誤差量的絕對(duì)值變得小于目標(biāo)誤差量80為止。從S108到SI 13的過(guò)程對(duì)應(yīng)于最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程。
接下來(lái),將描述旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I的檢查方法。在本實(shí)施例中,如果在最大絕對(duì)值變得小于目標(biāo)誤差量80之前重復(fù)最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程的次數(shù)大于或等于預(yù)定次數(shù),判定旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I有故障。例如,在最大絕對(duì)值變得小于目標(biāo)誤差量80之前重復(fù)最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程的次數(shù)大于或等于6時(shí),判定旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I有故障。在本實(shí)施例中,計(jì)算機(jī)16將校正值設(shè)置為與實(shí)際輸出值的二次誤差量的最大絕對(duì)值對(duì)應(yīng)的一次誤差量。因此,可以計(jì)算適當(dāng)?shù)男Uc(diǎn),并且不論輸出波形的形狀如何,都可以以高精確度校正實(shí)際輸出值。在圖17中,示出了利用校正值165、-144、83校正的實(shí)際輸出值的誤差量。如圖17所示,根據(jù)本實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I能夠利用一些校正點(diǎn)以高精確度校正實(shí)際輸出值。此外,因?yàn)槭冀K將校正值設(shè)置為與二次誤差量的最大絕對(duì)值對(duì)應(yīng)的一次誤差量,所以可以從誤差量最大的點(diǎn)開(kāi)始設(shè)置校正值和校正點(diǎn),可以設(shè)置最適當(dāng)?shù)男U岛妥钸m當(dāng)?shù)男Uc(diǎn)。此外,因?yàn)橥ㄟ^(guò)對(duì)實(shí)際輸出值執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程來(lái)計(jì)算校正值,所以可以簡(jiǎn)化計(jì)算并可以減少處理時(shí)間。在本實(shí)施例中,設(shè)置目標(biāo)誤差量80。于是,可以限制最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程的次數(shù),
并可以限制處理時(shí)間的增加。在本實(shí)施例中,在計(jì)算校正值直到二次誤差量的最大絕對(duì)值變得小于目標(biāo)誤差量80時(shí),如果校正值的數(shù)量大于預(yù)定值,判定旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I有故障。因此,能夠容易發(fā)現(xiàn)有故障的旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備I。在上述實(shí)施例中,將物理量檢測(cè)設(shè)備應(yīng)用于旋轉(zhuǎn)角檢測(cè)設(shè)備。在另一個(gè)實(shí)施例中,也可以將物理量檢測(cè)設(shè)備應(yīng)用于沖程量檢測(cè)設(shè)備。也可以使用物理量檢測(cè)設(shè)備校正具有其他曲線的實(shí)際輸出值。在上述實(shí)施例中,作為校正值計(jì)算部分的計(jì)算機(jī)16計(jì)算校正值,其設(shè)置于霍爾IC 10外部。在另一個(gè)實(shí)施例中,可以在霍爾IC中設(shè)置算術(shù)裝置,例如微計(jì)算機(jī),作為校正值計(jì)算部分。在上述實(shí)施例中,校正值計(jì)算部分通過(guò)對(duì)實(shí)際輸出值的一次誤差量執(zhí)行最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程來(lái)設(shè)置校正值,處理部分對(duì)實(shí)際輸出值利用校正值執(zhí)行校正過(guò)程。在另一個(gè)實(shí)施例中,校正值計(jì)算部分可以通過(guò)對(duì)利用反正弦函數(shù)或反余弦函數(shù)處理實(shí)際輸出值獲得的值的一次誤差量執(zhí)行最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程來(lái)設(shè)置校正值,處理部分可以利用校正值對(duì)利用反正弦函數(shù)或反余弦函數(shù)處理的值執(zhí)行校正過(guò)程。盡管已經(jīng)參考以上實(shí)施例描述了本公開(kāi),但要理解本公開(kāi)不限于這些實(shí)施例和構(gòu)造。本公開(kāi)意在覆蓋各種修改和等價(jià)布置。
權(quán)利要求
1.一種物理量檢測(cè)設(shè)備(I),包括 信號(hào)輸出部分(11),根據(jù)被檢測(cè)對(duì)象(30)的物理量變化輸出信號(hào); 校正值計(jì)算部分(16),計(jì)算校正值;以及 處理部分(12),利用所述校正值校正基于所述信號(hào)輸出部分(11)的實(shí)際輸出值的值,計(jì)算基于所述校正值的被檢測(cè)對(duì)象(30)的物理量,并輸出計(jì)算的物理量, 其中所述校正值計(jì)算部分(16)計(jì)算基于一次誤差量的校正值,所述一次誤差量是通過(guò)對(duì)基于預(yù)定物理量范圍之內(nèi)的實(shí)際輸出值的值執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程而計(jì)算的內(nèi)插后實(shí)際輸出值和基于與所述內(nèi)插后實(shí)際輸出值對(duì)應(yīng)的實(shí)際輸出值的值之間的差異。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的物理量檢測(cè)設(shè)備(I), 其中基于實(shí)際輸出值的值是通過(guò)利用反正弦函數(shù)或反余弦函數(shù)處理實(shí)際輸出值而獲得的值。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的物理量檢測(cè)設(shè)備(I), 其中所述校正值計(jì)算部分(16)執(zhí)行最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程,其中所述校正值計(jì)算部分(16)計(jì)算二次誤差量的最大絕對(duì)值,所述二次誤差量是通過(guò)對(duì)所述一次誤差量執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程而計(jì)算的內(nèi)插后誤差量和對(duì)應(yīng)的一次誤差量之間的差異,并且 其中所述校正值計(jì)算部分(16)將所述校正值設(shè)置為與所述二次誤差量的最大絕對(duì)值對(duì)應(yīng)的一次誤差量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的物理量檢測(cè)設(shè)備(I), 其中所述校正值計(jì)算部分(16)重復(fù)所述最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程,直到所述二次誤差量的最大絕對(duì)值變得小于預(yù)定閾值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4的任一項(xiàng)所述的物理量檢測(cè)設(shè)備(I), 其中所述物理量是相對(duì)旋轉(zhuǎn)角或相對(duì)沖程量。
6.一種根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的物理量檢測(cè)設(shè)備(I)的檢查方法,包括 在重復(fù)最大絕對(duì)值計(jì)算過(guò)程的次數(shù)大于或等于預(yù)定次數(shù)時(shí),判定所述物理量檢測(cè)設(shè)備(I)有故障。
全文摘要
一種物理量檢測(cè)設(shè)備(1)包括信號(hào)輸出部分(11)、校正值計(jì)算部分(16)和處理部分(12)。信號(hào)輸出部分(11)根據(jù)被檢測(cè)對(duì)象(30)的物理量變化輸出信號(hào)。校正值計(jì)算部分(16)計(jì)算校正值。處理部分(12)利用所述校正值校正基于所述信號(hào)輸出部分(11)的實(shí)際輸出值的值,計(jì)算基于所述校正值的被檢測(cè)對(duì)象(30)的物理量,并輸出計(jì)算的物理量。校正值計(jì)算部分(16)計(jì)算基于一次誤差量的所述校正值,所述一次誤差量是通過(guò)對(duì)基于預(yù)定物理量范圍之內(nèi)的實(shí)際輸出值的值執(zhí)行線性函數(shù)內(nèi)插過(guò)程而計(jì)算的內(nèi)插后實(shí)際輸出值和基于與所述內(nèi)插后實(shí)際輸出值對(duì)應(yīng)的實(shí)際輸出值的值之間的差異。
文檔編號(hào)G01B7/02GK102878921SQ201210243409
公開(kāi)日2013年1月16日 申請(qǐng)日期2012年7月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月13日
發(fā)明者原哲也, 久保田貴光 申請(qǐng)人:株式會(huì)社電裝
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