板料刻痕特征無損高精密測量裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種板料刻痕特征無損高精密測量裝置，包括：支架、二維滑臺、第一傳感器、轉(zhuǎn)臺組件、單向滑臺、滑塊、導軌、第二感器、鎖扣和托架，第一傳感器通過二維滑臺連接至支架側(cè)面框架上；導軌與支架的底面框架連接，單向滑臺通過滑塊和鎖扣與導軌連接，轉(zhuǎn)臺組件與單向滑臺連接；第二傳感器通過托架與支架連接，且設(shè)置在單向滑臺下方。本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、提高膜片生產(chǎn)率、降低膜片生產(chǎn)成本的優(yōu)點。
【專利說明】板料刻痕特征無損高精密測量裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測量裝置，具體涉及一種可精密測量板料刻痕特征的板料刻痕特征無損高精密測量裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]破裂膜片是壓力閥的重要部件，承擔著管路聯(lián)通的重要作用。破裂膜片通過其上刻痕處的殘余厚度，決定膜片破裂的壓力值。在一些高性能壓力閥門中，膜片破裂的壓力值需精確控制在0.1兆帕以內(nèi)，這就要求膜片刻痕的殘余厚度需精確控制在0.01毫米以內(nèi)。目前閥門膜片的檢測主要通過對同一批次的膜片進行破壞性強度實驗來確定膜片的破裂壓力值，該方法將導致同一批次的膜片90%都用于破壞性檢測實驗，膜片生產(chǎn)率極低，且原材料浪費嚴重，使得成本極高。而目前尚無針對膜片刻痕性能的無損檢測手段。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種板料刻痕特征無損高精密測量裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的破裂膜片類刻痕特征產(chǎn)品檢測手段落后、生產(chǎn)率低、生產(chǎn)成本高的技術(shù)問題。
[0004]為達到上述目的，本發(fā)明提供一種板料刻痕特征無損高精密測量裝置，包括:支架、二維滑臺、第一傳感器、轉(zhuǎn)臺組件、單向滑臺、滑塊、導軌、第二感器、鎖扣和托架，第一傳感器通過二維滑臺連接至支架側(cè)面框架上；導軌與支架的底面框架連接，單向滑臺通過滑塊和鎖扣與導軌連接，轉(zhuǎn)臺組件與單向滑臺連接；第二傳感器通過托架與支架連接，且設(shè)置在單向滑臺下方。
[0005]依照本發(fā)明較佳實施例所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，該轉(zhuǎn)臺組件進一步包括:轉(zhuǎn)臺、手柄和螺桿，轉(zhuǎn)臺連接至單向滑臺，螺桿一端與轉(zhuǎn)動手柄連接，另一端通過齒輪結(jié)構(gòu)與轉(zhuǎn)臺連接。
[0006]依照本發(fā)明較佳實施例所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，該轉(zhuǎn)臺上設(shè)置有放射形光柵。
[0007]依照本發(fā)明較佳實施例所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，該滑臺中部為空心結(jié)構(gòu)，用以放置轉(zhuǎn)臺。
[0008]依照本發(fā)明較佳實施例所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，該第一傳感器為二維激光位移傳感器，用以實現(xiàn)對閥門膜片刻痕形態(tài)和殘余厚度的測量。
[0009]依照本發(fā)明較佳實施例所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，該第二傳感器為單點激光位移傳感器，用以實現(xiàn)對閥門膜片不同截面的自動測量。
[0010]本發(fā)明的板料刻痕特征無損高精密測量裝置可以對不同尺寸的膜片進行測量，能夠同時實現(xiàn)對刻痕的形狀以及深度數(shù)據(jù)的測量、刻痕處材料的殘余厚度數(shù)據(jù)的測量以及膜片不同截面刻痕的測量。具體對膜片刻痕形態(tài)的測量，通過以下步驟實現(xiàn):
[0011]首先，將不同尺寸的膜片置于轉(zhuǎn)臺上，調(diào)整二維滑臺以及單向滑臺的位置使膜片刻痕置于激光線束的測量范圍內(nèi)，通過鎖緊鎖扣防止單向滑臺移動；然后，通過二維激光位移傳感器讀出刻痕的形狀以及深度數(shù)據(jù)，通過單點激光位移傳感器與二維激光位移傳感器配合可獲得膜片的厚度以及刻痕處材料的殘余厚度數(shù)據(jù)；之后，通過轉(zhuǎn)動手柄帶動轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動，通過轉(zhuǎn)臺上光柵觸發(fā)單點激光傳感器信號，即可實現(xiàn)對膜片不同截面的刻痕進行測量。
[0012]綜上所述，本發(fā)明通過激光測量手段，實現(xiàn)了對膜片刻痕形態(tài)的無損檢測，結(jié)構(gòu)簡單、操作方便，可極大的降低所需的膜片強度實驗次數(shù)，大大提高膜片生產(chǎn)率，并且，有效避免了原材料浪費，降低了生產(chǎn)成本。因此，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、提高膜片生產(chǎn)率、降低膜片生產(chǎn)成本的優(yōu)點。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明板料刻痕特征無損高精密測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖2為本發(fā)明板料刻痕特征無損高精密測量裝置的結(jié)構(gòu)正視圖；
[0015]圖3為本發(fā)明板料刻痕特征無損高精密測量裝置的結(jié)構(gòu)側(cè)視圖。
【具體實施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例作詳細說明，本實施例在以本發(fā)明技術(shù)方案為前提下進行實施，給出了詳細的實施方式和具體的操作過程，但本發(fā)明的保護范圍不限于下述的實施例。
[0017]請同時參閱圖1至圖3，一種板料刻痕特征無損高精密測量裝置，包括:支架1、二維滑臺2、第一傳感器3、轉(zhuǎn)臺組件、單向滑臺5、滑塊6、導軌9、第二感器10、鎖扣11和托架12，轉(zhuǎn)臺組件進一步包括轉(zhuǎn)臺4、螺桿7和手柄8。第一傳感器3通過二維滑臺2連接至支架I的側(cè)面框架上；導軌9與支架I的底面框架連接，單向滑臺5通過滑塊6和鎖扣11與導軌9連接，轉(zhuǎn)臺4與單向滑臺5連接，螺桿7 —端與轉(zhuǎn)動手柄8連接，另一端通過齒輪結(jié)構(gòu)與轉(zhuǎn)臺4連接。第二傳感器10通過托架12與支架I連接，且設(shè)置在單向滑臺5下方。
[0018]具體地，轉(zhuǎn)臺4上設(shè)置有放射形光柵，且單向滑臺5中部為空心結(jié)構(gòu)，用以放置轉(zhuǎn)臺4。
[0019]更進一步地，第一傳感器3為二維激光位移傳感器，用以實現(xiàn)對閥門膜片刻痕形態(tài)和殘余厚度的測量。第二傳感器10為單點激光位移傳感器，用以實現(xiàn)對閥門膜片不同截面的自動測量。
[0020]本發(fā)明的板料刻痕特征無損高精密測量裝置可以對不同尺寸的膜片進行測量，能夠同時實現(xiàn)對刻痕的形狀以及深度數(shù)據(jù)的測量、刻痕處材料的殘余厚度數(shù)據(jù)的測量以及膜片不同截面刻痕的測量。具體對膜片刻痕形態(tài)的測量，通過以下步驟實現(xiàn):
[0021]I)將膜片置于轉(zhuǎn)臺4上，調(diào)整二維滑臺2以及單向滑臺5的位置使膜片刻痕置于激光線束的測量范圍內(nèi)，通過鎖緊鎖扣11防止滑臺移動。
[0022]2)通過轉(zhuǎn)動手柄8帶動轉(zhuǎn)臺4轉(zhuǎn)動，通過轉(zhuǎn)臺4上的光柵觸發(fā)單點激光傳感器10的信號進行測量。
[0023]3)通過二維激光位移傳感器3讀出刻痕的形狀以及深度。
[0024]4)通過單點激光位移傳感器10與二維激光位移傳感器3配合獲得膜片的厚度以及刻痕處材料的殘余厚度數(shù)據(jù)。
[0025]5)測量完成，取下膜片。[0026]以上步驟中，具體通過單向滑臺移動與鎖緊調(diào)整二維激光位移傳感器與膜片的相對位置，實現(xiàn)對不同尺寸閥門膜片進行測量。并且，通過二維滑臺調(diào)整二維激光位移傳感器以及膜片之間的相對位置，實現(xiàn)對閥門膜片刻痕形態(tài)和殘余厚度的測量；通過轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動，由光柵觸發(fā)單點激光位移傳感器，實現(xiàn)對閥門膜片不同截面的自動測量。
[0027]本發(fā)明通過激光測量手段，實現(xiàn)了對膜片刻痕形態(tài)的無損檢測，結(jié)構(gòu)簡單、操作方便，可極大的降低所需的膜片強度實驗次數(shù)，大大提高膜片生產(chǎn)率，并且，有效避免了原材料浪費，降低了生產(chǎn)成本。因此，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、提高膜片生產(chǎn)率、降低膜片生產(chǎn)成本的優(yōu)點。
[0028]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施實例而已，并非對本發(fā)明做任何形式上的限制，任何未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施實例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種板料刻痕特征無損高精密測量裝置，其特征在于，包括:支架、二維滑臺、第一傳感器、轉(zhuǎn)臺組件、單向滑臺、滑塊、導軌、第二感器、鎖扣和托架，所述第一傳感器通過所述二維滑臺連接至所述支架側(cè)面框架上；所述導軌與所述支架的底面框架連接，所述單向滑臺通過所述滑塊和鎖扣與所述導軌連接，所述轉(zhuǎn)臺組件與所述單向滑臺連接；所述第二傳感器通過所述托架與所述支架連接，且設(shè)置在所述單向滑臺下方。
2.如權(quán)利要求1所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)臺組件進一步包括:轉(zhuǎn)臺、手柄和螺桿，所述轉(zhuǎn)臺連接至所述單向滑臺，所述螺桿一端與所述轉(zhuǎn)動手柄連接，另一端通過齒輪結(jié)構(gòu)與轉(zhuǎn)臺連接。
3.如權(quán)利要求2所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)臺上設(shè)置有放射形光柵。
4.權(quán)利要求1所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，其特征在于，所述滑臺中部為空心結(jié)構(gòu)，用以放置所述轉(zhuǎn)臺。
5.權(quán)利要求1所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，其特征在于，所述第一傳感器為二維激光位移傳感器，用以實現(xiàn)對閥門膜片刻痕形態(tài)和殘余厚度的測量。
6.權(quán)利要求1所述的板料刻痕特征無損高精密測量裝置，其特征在于，所述第二傳感器為單點激光位移傳感器，用以實現(xiàn)對閥門膜片不同截面的自動測量。
【文檔編號】G01B11/24GK103453838SQ201210183606
【公開日】2013年12月18日 申請日期:2012年6月5日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月5日
【發(fā)明者】陳長江, 楊國舜, 郭立杰, 尤登飛, 陸彬, 陳軍 申請人:上海航天設(shè)備制造總廠