專利名稱：一種可拆式測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及測試設(shè)備上使用的測試治具。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)之專用型測試治具為一緊迫嵌入式植針治具，拆卸后大多數(shù)零件皆無法重復(fù)使用；以臺(tái)北探針實(shí)業(yè)有限公司編號(hào)T030探針為例，探針之套管開口處外徑最大為O. 71mm、其次外徑為O. 62mm，而治具上的多層植針面板之植針孔徑設(shè)計(jì)尺寸為O. 65mm,因此當(dāng)探針緊迫嵌入治具之多層植針面板時(shí)，探針之套管會(huì)有輕微形變且緊密結(jié)合，因此傳統(tǒng)之專用型治具拆卸后，大多數(shù)零件皆無法重復(fù)使用。隨著電子產(chǎn)品日新月異，因此傳統(tǒng)之專用型測試治具可使用時(shí)間越來越短，只要電子零件一有變動(dòng)，該傳統(tǒng)之專用型治具便報(bào)廢無法使用。本申請(qǐng)人有鑒于上述習(xí)知測試治具之結(jié)構(gòu)缺失與不便之處，秉持著研究創(chuàng)新、精益求精之精神，利用其專業(yè)眼光和專業(yè)知識(shí)，研究出一種符合產(chǎn)業(yè)利用的可拆式測試治具。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種具有快速組裝及拆卸后可重復(fù)使用的可拆式測試治具，該可拆式測試治具可以測試印刷電路板、半導(dǎo)體封裝組件或晶圓等。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明是通過如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)
一種可拆式測試治具，該可拆式測試治具包含
一多層植針面板，該多層植針面板內(nèi)設(shè)有依電路之回路設(shè)計(jì)的測試點(diǎn)，并且在測試點(diǎn)植入探針，多層植針面板中至少有一層可活動(dòng)緊迫固定探針；
一支撐架，該支撐架用以連接多層植針面板及底座，并提供強(qiáng)固支撐力以承受測試機(jī)之下壓力；
一底座，該底座用以固定于測試機(jī)；以及
一連接器組，設(shè)計(jì)在底座上，連接器組用以連接測試機(jī)和可拆式測試治具之回路。上述方案中還可進(jìn)一步優(yōu)化是在多層植針面板中置入軟性皮膜加強(qiáng)緊迫探針，軟性皮膜是由橡膠、硅膠或塑料制成。上述方案中，所述多層植針面板中的活動(dòng)層為橫向位移緊迫固定探針。上述方案中，所述的多層植針面板之測試點(diǎn)處的孔徑大于探針上的套管最大外徑。上述方案中，所述的連接器組設(shè)置于多層植針面板的后方。藉此，與先前技術(shù)相較，根據(jù)本發(fā)明之可拆式測試治具當(dāng)電子零件變動(dòng)時(shí)，測試治具拆卸后90%以上零件皆可重復(fù)使用，可拆式測試治具，也無須使用昂貴之泛用型測試機(jī)，并且具有成本低廉、可重復(fù)回收使用及節(jié)能減碳等優(yōu)點(diǎn)，該可拆式測試治具可以測試印刷電路板、半導(dǎo)體封裝組件或晶圓等。


圖I為根據(jù)本創(chuàng)作之一較佳具體實(shí)施例之可拆式測試治具之架構(gòu)示意 圖2為圖I之多層植針面板之細(xì)部說明 圖3為圖2之活動(dòng)層橫移后之細(xì)部說明圖。
主要組件符號(hào)說明
10 :多層植針面板 102 :植針面板 104 :活動(dòng)層 106 :軟性皮膜 108 :探針 12 :支撐架 14 :底座 16 :連接器組
具體實(shí)施例方式關(guān)于本發(fā)明之優(yōu)點(diǎn)與精神可以藉由以下之發(fā)明詳述及所附圖式得到進(jìn)一步之了解。請(qǐng)參閱圖1、2、3，根據(jù)本發(fā)明之一較佳具體實(shí)施例之可拆式測試治具，系詳細(xì)描繪于該等圖式中。圖I為根據(jù)本發(fā)明之較佳具體實(shí)施例之可拆式測試治具之架構(gòu)示意圖。如圖I所示，根據(jù)本發(fā)明之可拆式測試治具包含一多層植針面板10，該多層植針面板內(nèi)設(shè)有依電路之回路設(shè)計(jì)測試點(diǎn)，并且在測試點(diǎn)植入探針108，該多層植針面板下方為一支撐架12，支撐架下方為一底座14，支撐架12用以連接多層植針面板10和底座14，并提供強(qiáng)固支撐力以承受測試機(jī)之下壓力，底座14用以連接固定于測試機(jī)；多層植針面板后方為連接器組16，連接器組16設(shè)計(jì)在底座14上，連接器組用以連接測試機(jī)和可拆式測試治具之回路。圖2所示，根據(jù)本發(fā)明之可拆式測試治具包含一多層植針面板10之細(xì)部說明，該多層植針面板內(nèi)有數(shù)層之植針面板102，及至少一層之活動(dòng)層104，用以緊迫探針108，也可在多層植針面板中置入軟性皮膜106加強(qiáng)緊迫探針，軟性皮膜可以是橡膠、硅膠或是塑料制作；圖3所示為活動(dòng)層104橫移后，探針108與多層植針面板10緊密結(jié)合之結(jié)構(gòu)。活動(dòng)層104為橫向位移緊迫固定探針108，使探針108與多層植針面板10之測試點(diǎn)處的孔內(nèi)壁緊密結(jié)合，連接牢固，拆裝簡便。實(shí)施例I :
根據(jù)本發(fā)明之一較佳具體實(shí)施例之可拆式測試治具，具有快速組裝及拆卸后可重復(fù)使用之特點(diǎn)；以臺(tái)北探針實(shí)業(yè)有限公司編號(hào)T030探針為例，探針之套管開口處外徑最大為
O.71mm、其次外徑為O. 62mm，本發(fā)明之多層植針面板10之測試點(diǎn)處的孔徑設(shè)計(jì)尺寸為略大于O. 71mm,大于探針之套管的最大外徑，探針嵌入治具之多層植針面板時(shí)，探針之套管開口處沒有緊迫嵌入治具之多層植針面板，因此探針之套管不會(huì)有形變，而固定探針之方法乃利用多層植針面板中至少一層以橫向位移方式緊迫探針，也可在多層植針面板中置入軟性皮膜加強(qiáng)緊迫探針，因此可拆式測試治具拆卸后，大多數(shù)零件皆可重復(fù)使用。實(shí)施例2: 根據(jù)本發(fā)明之另一較佳具體實(shí)施例之可拆式測試治具，一樣具有快速組裝及拆卸后可重復(fù)使用之特點(diǎn)；以臺(tái)北探針實(shí)業(yè)有限公司編號(hào)T040探針為例，探針內(nèi)管外徑為O. 40mm,本發(fā)明之多層植針面板10之測試點(diǎn)處的孔徑設(shè)計(jì)尺寸為略大于O. 40mm,大于探針之套管的最大外徑，探針嵌入治具之多層植針面板時(shí)，內(nèi)管沒有緊迫嵌入治具之多層植針面板，因此探針之內(nèi)管不會(huì)有形變，而固定探針之方法一樣利用多層植針面板中至少一層，以橫向位移方式緊迫探針，也可在多層植針面板中置入軟性皮膜加強(qiáng)緊迫探針，同時(shí)此內(nèi)管非一般型內(nèi)管，而是尾端有連接電線之內(nèi)管，此種可拆式測試治具可以測試更密集之電路板、半導(dǎo)體封裝組件或晶圓等，且測試治具拆卸后，一樣大多數(shù)零件皆可重復(fù)使用。綜上所述，根據(jù)本發(fā)明之可拆式測試治具，與先前技術(shù)相較，根據(jù)本發(fā)明之可拆式測試治具當(dāng)電子零件變動(dòng)時(shí)，測試治具拆卸后90%以上零件皆可重復(fù)使用，可拆式測試治具，也無須使用昂貴之泛用型測試機(jī)，并且具有成本低廉、可重復(fù)回收使用及節(jié)能減碳等優(yōu)點(diǎn)，該可拆式測試治具可以測試印刷電路板、半導(dǎo)體封裝組件或晶圓等。藉由以上較佳具體實(shí)施例之詳述，系希望能更加清楚描述本發(fā)明之特征與精神，而并非以上述所揭露的較佳具體實(shí)施例來對(duì)本發(fā)明之范疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排于本發(fā)明所欲申請(qǐng)之專利范圍的范疇內(nèi)。因此，本發(fā)明所申請(qǐng)之專利范圍的范疇?wèi)?yīng)該根據(jù)上述的說明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所有可能的改變以及具相等性的安排。
權(quán)利要求
1.一種可拆式測試治具，其特征在于該可拆式測試治具包含 一多層植針面板，該多層植針面板內(nèi)設(shè)有依電路之回路設(shè)計(jì)的測試點(diǎn)，并且在測試點(diǎn)植入探針，多層植針面板中至少有一層可活動(dòng)緊迫固定探針； 一支撐架，該支撐架用以連接多層植針面板及底座，并提供強(qiáng)固支撐力以承受測試機(jī)之下壓力； 一底座，該底座用以固定于測試機(jī)；以及 一連接器組，設(shè)計(jì)在底座上，連接器組用以連接測試機(jī)和可拆式測試治具之回路。
2. 如權(quán)利要求I所述的一種可拆式測試治具，其特征在于在多層植針面板中置入軟性皮膜加強(qiáng)緊迫探針，軟性皮膜是由橡膠、硅膠或塑料制成。
3.如權(quán)利要求I所述的一種可拆式測試治具，其特征在于多層植針面板中的活動(dòng)層為橫向位移緊迫固定探針。
4.如權(quán)利要求I所述的一種可拆式測試治具，其特征在于多層植針面板之測試點(diǎn)處的孔徑大于探針上的套管最大外徑。
5.如權(quán)利要求I所述的一種可拆式測試治具，其特征在于連接器組設(shè)置于多層植針面板的后方。
全文摘要
本發(fā)明涉及測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及測試設(shè)備上使用的一種可拆式測試治具，其包含一多層植針面板，該多層植針面板內(nèi)設(shè)有依電路之回路設(shè)計(jì)的測試點(diǎn)，并且在測試點(diǎn)植入探針，多層植針面板中至少有一層可活動(dòng)緊迫固定探針；一支撐架，該支撐架用以連接多層植針面板及底座，并提供強(qiáng)固支撐力以承受測試機(jī)之下壓力；一底座，該底座用以固定于測試機(jī)；以及一連接器組，連接器組用以連接測試機(jī)和可拆式測試治具之回路。根據(jù)本發(fā)明之可拆式測試治具，具有快速組裝及拆卸后可重復(fù)使用之特點(diǎn)；當(dāng)電子零件變動(dòng)時(shí)，測試治具拆卸后90％以上之零件皆可重復(fù)使用，該可拆式測試治具可以測試印刷電路板、半導(dǎo)體封裝組件或晶圓等。
文檔編號(hào)G01R1/02GK102621354SQ20121010433
公開日2012年8月1日 申請(qǐng)日期2012年4月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月11日
發(fā)明者游森溢 申請(qǐng)人:游森溢