專利名稱：磁共振成像裝置的制作方法
技術領域：
實施方式涉及磁共振成像(imaging)裝置。
背景技術：
以往，作為與磁共振成像裝置相關的攝像法，存在快速自旋回波(Fast SpinEcho FSE)法。該FSE法是通過在對于被檢體施加激發(fā)脈沖(flip pulse)之后依次施加多個重聚脈沖(flop pulse),從而收集被稱為回波鏈(echo train)的多個回波信號的攝像法。在此，所謂激發(fā)脈沖，是指用于勵磁被檢體內的原子核自旋(spin)的RF(Radi0Frequency)脈沖。另外，所謂重聚脈沖是指用于將原子核自旋的相位重聚(refocus)的RF脈沖。在該FSE法中，由于施加多個RF脈沖，因此,與自旋回波(spin echo) —起生成激發(fā)回波(stimulated echo) 0并且，通過該激發(fā)回波，有時在收集的回波信號中產(chǎn)生相位偏移。這樣的回波信號的相位偏移變?yōu)楫a(chǎn)生靈敏度不均勻或信號降低、重像(ghost)等畫質劣化的原因。為了防止這樣的畫質劣化，一般而言，在主掃描(main-scan)之前執(zhí)行用于測定回波信號中所生成的相位差的預掃描(pre-scan)，并根據(jù)通過預掃描測定出的相位差來校正主掃描用脈沖序列(pulse sequence)。此時,例如,在預掃描中,執(zhí)行取消(cancel)激發(fā)回波的脈沖序列，只收集自旋回波。并且，通過預掃描收集到的自旋回波中第I個以及第2個回波信號在讀出(readout)方向進行傅立葉(Fourier)轉換，并計算第I個回波信號與第2個回波信號之間的0次以及I次的相位差。之后，根據(jù)計算出的0次以及I次的相位差計算用于校正讀出方向以及切片選擇方向的相位偏移的校正量，并根據(jù)計算出的校正量變更主掃描用脈沖序列。 并且，在上述技術中，有時由于基于相位編碼(encode)用傾斜磁場的渦電流的影響不能校正相位編碼方向上所生成的相位偏移，由于該相位偏移而會發(fā)生畫質劣化。

發(fā)明內容
實施方式涉及的磁共振成像裝置具備執(zhí)行部、計算部、以及校正部。執(zhí)行部執(zhí)行規(guī)定的攝像參數(shù)相互不同的第I以及第2預掃描，該第I以及第2預掃描是與主掃描用脈沖序列相同地分別施加讀出用傾斜磁場、切片方向傾斜磁場，并在直到用于校正量計算的回波之前與主掃描用脈沖序列相同地施加相位編碼用傾斜磁場的預掃描。計算部根據(jù)通過上述第I以及第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來將相位偏移的量作為校正量進行計算。校正部根據(jù)通過上述計算部計算出的上述校正量來校正上述主掃描用脈沖序列。
根據(jù)實施方式的磁共振成像裝置，能夠防止由于回波信號的相位偏移而生成的圖像劣化。


圖I是表示第I實施方式涉及的MRI裝置的結構的圖。圖2是表示圖I所示的計算機系統(tǒng)的詳細的結構的功能性框(block)圖。圖3是表示第I實施方式涉及的主掃描用脈沖序列的圖。圖4是表示第I實施方式涉及的預掃描用脈沖序列的圖。圖5以及6是用于說明通過第I實施方式涉及的序列校正部進行的相位偏移的校正的圖。 圖7是表示通過第I實施方式涉及的MRI裝置進行的相位偏移校正的處理步驟的流程圖(flowchart)。圖8是用于說明第I實施方式的變形例的圖。圖9A是表示通過以往的預掃描而得到的圖像的一個例子的圖。圖9B是表示通過第I實施方式中的預掃描而得到的圖像的一個例子的圖。圖10是表示第2實施方式涉及的第2預掃描用第2脈沖序列的圖。圖11是用于說明通過第2實施方式涉及的序列校正部進行的相位偏移的計算的圖。圖12是用于說明第I以及第2實施方式的變形例的圖。圖13是表示第3實施方式涉及的預掃描用脈沖序列的圖。圖14是用于說明第3實施方式涉及的回波信號的收集的圖。圖15是表示第4實施方式涉及的第2預掃描用第2脈沖序列的圖。圖16是用于說明第5實施方式涉及的MRI裝置的圖。圖17是用于說明第6實施方式涉及的MRI裝置的圖。圖18是用于說明第7實施方式涉及的MRI裝置的圖。
具體實施例方式以下，根據(jù)附圖，針對實施方式涉及的磁共振成像裝置詳細地進行說明。另外，在以下所示的實施方式中，將磁共振成像裝置稱為MRI (Magnetic Resonance Imaging)裝置。(第I實施方式)圖I是表示第I實施方式涉及的MRI裝置的結構的圖。如圖I所示，該MRI裝置100具備靜磁場磁鐵I、傾斜磁場線圈(coil) 2、傾斜磁場電源3、床4、床控制部5、發(fā)送RF線圈6、發(fā)送部7、接收RF線圈8、接收部9、序列控制部10以及計算機系統(tǒng)(system) 20。靜磁場磁鐵I是形成中空的圓筒形狀的磁鐵，在內部的空間產(chǎn)生均勻的靜磁場。作為該靜磁場磁鐵1，例如使用永久磁鐵、超導磁鐵等。傾斜磁場線圈2是形成中空的圓筒形狀的線圈，被配置在靜磁場磁鐵I的內側。該傾斜磁場線圈2是與相互正交的X，Y，Z的各軸對應的3個線圈組合而成，這3個線圈獨立地從后述的傾斜磁場電源3接受電流供給，產(chǎn)生磁場強度沿著X，Y，Z的各軸而變化的傾斜磁場。另外，假設Z軸方向是與靜磁場相同的方向。傾斜磁場電源3對傾斜磁場線圈2供給電流。在此，通過傾斜磁場線圈2產(chǎn)生的X，Y，Z各軸的傾斜磁場例如分別與切片(slice)選擇用傾斜磁場Gs、相位編碼用傾斜磁場Ge以及讀出用傾斜磁場Gr對應。切片選擇用傾斜磁場G s用于任意地決定攝像斷面。相位編碼用傾斜磁場Ge用于根據(jù)空間位置使磁共振信號的相位發(fā)生變化。讀出用傾斜磁場Gr用于根據(jù)空間位置使磁共振信號的頻率變化。床4具備載置被檢體P的頂板4a,在基于后述的床控制部5的控制下，以載置有被檢體P的狀態(tài)將頂板4a插入傾斜磁場線圈2的空洞(攝像口)內。通常，該床4設置成長度方向與靜磁場磁鐵I的中心軸平行。床控制部5是在基于控制部26的控制下,控制床4的裝置，驅動床4，使頂板4a向長度方向以及上下方向移動。發(fā)送RF線圈6被配置在傾斜磁場線圈2的內側，從發(fā)送部7接受高頻脈沖的供給來產(chǎn)生高頻磁場。發(fā)送部7對發(fā)送RF線圈6發(fā)送與拉莫爾(Larmor)頻率對應的高頻脈沖。接收RF線圈8被配置在傾斜磁場線圈2的內側，接收由于上述的高頻磁場的影響而從被檢體P放射的磁共振信號。該接收RF線圈8如果接收到磁共振信號，則將該磁共振信號向接 收部9輸出。接收部9根據(jù)從接收RF線圈8輸出的磁共振信號生成磁共振(MagneticResonance MR)信號數(shù)據(jù)。該接收部9通過將從接收RF線圈8輸出的磁共振信號進行數(shù)字(digital)轉換來生成MR信號數(shù)據(jù)(data)。在該MR信號數(shù)據(jù)中，通過上述的切片選擇用傾斜磁場Gs、相位編碼用傾斜磁場Ge以及讀出用傾斜磁場Gr,相位編碼方向、讀出方向、切片編碼方向的空間頻率的信息對應地配置在k空間。并且，如果生成了 MR信號數(shù)據(jù)，則接收部9將該MR信號數(shù)據(jù)向序列控制部10發(fā)送。序列控制部10通過根據(jù)從計算機系統(tǒng)20發(fā)送的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)，驅動傾斜磁場電源3、發(fā)送部7以及接收部9，從而執(zhí)行被檢體P的掃描。在此，所謂序列執(zhí)行數(shù)據(jù)是指傾斜磁場電源3對傾斜磁場線圈2供給的電源的強度或供給電源的定時、發(fā)送部7對發(fā)送RF線圈6發(fā)送的RF信號的強度或發(fā)送RF信號的定時、以及接收部9檢測磁共振信號的定時等，將表示用于執(zhí)行被檢體P的掃描的步驟的脈沖序列進行定義的信息。另外，序列控制部10根據(jù)序列執(zhí)行數(shù)據(jù)驅動傾斜磁場電源3、發(fā)送部7以及接收部9之后，如果被從接收部9發(fā)送了 MR信號數(shù)據(jù)，則將該MR信號數(shù)據(jù)向計算機系統(tǒng)20轉送。計算機系統(tǒng)20進行MRI裝置100的整體控制。例如，計算機系統(tǒng)20通過驅動MRI裝置100所具有的各部，來進行被檢體P的掃描或圖像重建等。該計算機系統(tǒng)20具有接口(interface)部21、圖像重建部22、存儲部23、輸入部24、顯示部25以及控制部26。接口部21控制在與序列控制部10之間接受的各種信號的輸入輸出。例如，該接口部21對于序列控制部10發(fā)送序列執(zhí)行數(shù)據(jù)，并從序列控制部10接收MR信號數(shù)據(jù)。如果接收到MR信號數(shù)據(jù)，則接口部21按每個被檢體P將各MR信號數(shù)據(jù)存儲于存儲部23。圖像重建部22通過對于通過存儲部23存儲的MR信號數(shù)據(jù)實施后處理，即實施傅立葉變換等重建處理，來生成被檢體P內的希望的核自旋的頻譜數(shù)據(jù)(spectrum data)或圖像數(shù)據(jù)。存儲部23存儲通過后述的控制部26執(zhí)行的處理所需的各種數(shù)據(jù)或各種程序(program)等。例如，存儲部2 3按每個被檢體P存儲通過接口部21接收到的MR信號數(shù)據(jù)、或通過圖像重建部22生成的頻譜數(shù)據(jù)或圖像數(shù)據(jù)等。
輸入部24接受來自操作者的各種指示或信息輸入。作為該輸入部24，能夠適當?shù)乩檬髽?mouse)或軌跡球(trackball)等定位設備(pointing device)、模式(mode)切換開關(switch)等選擇設備、或者鍵盤(keyboard)等輸入設備。顯示部25在基于控制部26的控制下，顯示頻譜數(shù)據(jù)或者圖像數(shù)據(jù)等各種信息。作為該顯示部25，能夠利用液晶顯示器等顯示設備?？刂撇?6 具有未圖示的 CPU (Central Processing Unit)或存儲器(memory)等，進行MRI裝置100的整體控制。該控制部26通過例如根據(jù)經(jīng)由輸入部24從操作者輸入的攝像條件來生成各種序列執(zhí)行數(shù)據(jù)，并將生成的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)發(fā)送至序列控制部10來控制掃描。另外，作為掃描的結果從序列控制部10發(fā)送出MR信號數(shù)據(jù)時，控制部2 6控制圖像重建部22根據(jù)該MR信號數(shù)據(jù)來重建圖像。以上，針對第I實施方式涉及的MRI裝置100的結構進行了說明?；谶@樣的結構，MRI裝置100執(zhí)行預掃描。在此，預掃描與主掃描用脈沖序列相同地施加讀出用傾斜磁場、切片方向傾斜磁場，并直到計算校正量的回波之前，與主掃描用脈沖序列相同地施加相位編碼用傾斜磁場。并且，MRI裝置100根據(jù)通過預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來將相位偏移的量作為校正量進行計算。另外，MRI裝置100根據(jù)通過后述的校正量計算部26c計算出的校正量，校正主掃描用脈沖序列。S卩，第I實施方式涉及的MRI裝置100執(zhí)行施加相位編碼用傾斜磁場的預掃描，并根據(jù)與通過預掃描得到的回波信號之間的相位偏移，計算主掃描用脈沖序列的校正量。從而，根據(jù)第I實施方式，讀出方向、切片方向的偏移之外，也能夠防止由于基于相位編碼用傾斜磁場的0次的相位偏移而生成的圖像劣化。以下，針對該MRI裝置100所具有的功能詳細地進行說明。圖2是表示圖I所示的計算機系統(tǒng)20的詳細的結構的功能框圖。在圖2中，示出計算機系統(tǒng)20所具有的功能部中的接口部21、存儲部23、以及控制部26。存儲部23具有序列執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲部23a與MR信號數(shù)據(jù)存儲部23b。序列執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲部23a存儲通過后述的攝像條件設定部26a生成的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。MR信號數(shù)據(jù)存儲部23b存儲通過接口部21接收到的MR信號數(shù)據(jù)?？刂撇?6具有攝像條件設定部26a、預掃描執(zhí)行部26b、校正量計算部26c、序列校正部26d、以及主掃描執(zhí)行部26e。攝像條件設定部26a根據(jù)由操作者經(jīng)由輸入部24輸入的攝像條件，生成將攝像中所使用的脈沖序列進行定義的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。例如，當由操作者輸入了 FSE法的攝像條件時，攝像條件設定部26a分別針對以下說明的主掃描用脈沖序列、預掃描用脈沖序列，生成序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。圖3是表示第I實施方式涉及的主掃描用脈沖序列的圖。在圖3中，“RF”表示施加勵磁用激發(fā)脈沖以及重聚用重聚脈沖的定時。另外，“Gss”表示切片選擇用傾斜磁場的施加定時以及強度，“Gro”表示讀出用傾斜磁場的施加定時以及強度，“Gpe”表示相位編碼用傾斜磁場的施加定時以及強度。另外，在圖3中，只示出與一個切片選擇相關的脈沖序列，針對切片編碼省略圖示。另外，“ETS(Echo Train Spacing) ”表示回波間隔。如圖3所示，主掃描用脈沖序列是一般的FSE法的脈沖序列。如圖3所示，主掃描用脈沖序列在激發(fā)脈沖fli被施加之后，通過依次施加多個重聚脈沖flol、flo2. . . flo9、flolO> floll...，來收集多個回波信號 Echo I、Echo2. . . Echo9、Echo 10、Echoll.。另外，圖3所示的脈沖序列是設定為在第10個收集的回波信號EcholO中相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱?zero)時的例子。圖4是表示第I實施方式涉及的預掃描用脈沖序列的圖。預掃描用脈沖序列與圖3所示的主掃描用脈沖序列相同地施加讀出用傾斜磁場、切片方向傾斜磁場，并直到計算校正量的回波之前，與主掃描用的脈沖序列相同地施加相位編碼用傾斜磁場。例如，如圖4所示，預掃描用脈沖序列與主掃描用脈沖序列相同地施加讀出用傾斜磁場、切片選擇用傾斜磁場，并直到k空間中心附近的回波，施加主掃描用脈沖序列中所施加的相位編碼用傾斜磁場中的至少一個。換而言之，在主掃描用脈沖序列中，該脈沖序列是直到造影(Contrast)TE的附近施加相位編碼用傾斜磁場，造影TE以后除去相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。另外,在圖4中，示出EcholO與k空間的中心對應時的例子。例如，預掃描用脈沖序列是與主掃描用脈沖序列相同地施加讀出用傾斜磁場、切 片選擇用傾斜磁場，并在主掃描用脈沖序列中所使用的多個相位編碼中，施加平均強度附近的相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。另外，在該脈沖序列中，設定成激發(fā)回波被取消，只收集自旋回波。例如，能夠使用美國專利第5818229所記載的方法。在該方法中，通過將一邊使重聚用重聚脈沖的相位變?yōu)?1，31 , 31 , JI ...而一邊收集到的I次激發(fā)(Shot)的回波信號、與一邊變?yōu)?1，-31，
而一邊收集到的2次激發(fā)的回波信號相加，來只取出自旋回波分量?；蛘?，也可以通過從I次激發(fā)的回波信號中減去2次激發(fā)的回波信號來只取出激發(fā)回波分量，并代替自旋回波分量而使用取出的激發(fā)回波分量。在此，例如，當相位編碼Matrix在256中是19回波收集時，預掃描用脈沖序列為了填充k空間而將需要256/19 = 13次激發(fā)。此時，預掃描用脈沖序列被設定為，施加具有平均的相位編碼用傾斜磁場強度的激發(fā)(對序列填充(sequential)填充相位編碼時，在中心激發(fā)(7次激發(fā)))中所施加的相位編碼用傾斜磁場。返回圖2的說明，預掃描執(zhí)行部26b執(zhí)行預掃描用脈沖序列。具體而言，如果通過攝像條件設定部26a生成了預掃描用序列執(zhí)行數(shù)據(jù)，則預掃描執(zhí)行部26b首先從序列執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲部23a讀出序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。并且,預掃描執(zhí)行部26b通過經(jīng)由接口部21將讀出的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)發(fā)送至序列控制部10，來執(zhí)行預掃描。例如，預掃描執(zhí)行部2 6b通過將對圖4所示的脈沖序列進行定義的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)發(fā)送至序列控制部10，來執(zhí)行預掃描。校正量計算部26c根據(jù)通過預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來將相位偏移的量作為校正量進行計算。該校正量計算部26c根據(jù)通過預掃描收集到的多個回波信號中的相位差，將通過讀出用傾斜磁場、切片選擇用傾斜磁場而生成的相位偏移(0次以及I次)、通過相位編碼用傾斜磁場生成的0次的相位偏移的量作為校正量進行計算。具體而言，通過預掃描執(zhí)行部26b執(zhí)行了預掃描之后，校正量計算部26c從MR信號數(shù)據(jù)存儲部23b讀出與通過預掃描收集到的回波信號相關的MR信號數(shù)據(jù)。之后，校正量計算部26c將讀出的各MR信號數(shù)據(jù)在讀出方向進行傅立葉變換之后，計算I次的相位差。該I次的相位差是讀出用傾斜磁場的I次相位差。在FSE法中所產(chǎn)生的各回波的相位差中，存在成為位置的I次函數(shù)的I次的相位差與由于線圈配置的不匹配等產(chǎn)生的沒有位置依存性的相位差。沒有位置依存性的相位差被稱為O次的相位差。通過校正對于各MR信號數(shù)據(jù)計算出的I次的相位，并求得相位平均從而計算O次的相位差。在該O次的相位差中，讀出用傾斜磁場的O次的相位差、以及切片選擇用傾斜磁場的O次以及I次的相位差之外，也包含相位編碼用傾斜磁場的O次的相位
差的影響。在此，校正量計算部26c計算通過預掃描收集到的回波信號中的I次以及0次的相位差。該差值成為通過讀出用傾斜磁場、切片選擇用傾斜磁場、以及相位編碼用傾斜磁場而生成的相位偏移。 例如，假設執(zhí)行了圖4所示的脈沖序列。此時，校正量計算部26c計算圖4所示的第10個回波信號EcholO與第11個回波信號Echoll之間的相位差pi。并且，校正量計算部26c根據(jù)計算出的相位差將相位偏移pi作為校正量進行計算。另外，在此，校正量計算部26c將第10個回波信號與第11個回波信號用于校正量的計算，但也可以使用第12個以后的多個回波。例如，校正量計算部26c也可以設定預掃描的脈沖序列的第10個與第11個的相位差為pl，第12個與第11個的相位差為pl_2，第12個與第13個的相位差為pl_3，通過相位編碼用傾斜磁場在相位編碼方向生成的相位偏移為(pl+pl_2+pl_3)/3。序列校正部26d根據(jù)通過校正量計算部26c計算出的相位偏移，校正主掃描用脈沖序列。具體而言，如果通過校正量計算部26c計算出相位偏移，則序列校正部26d根據(jù)計算出的相位偏移,校正序列執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲部23a所存儲的主掃描用序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。在此，序列校正部26d以使得通過校正量計算部26c計算出的相位偏移變?yōu)榱愕姆绞絹硇Ｕ鲯呙栌妹}沖序列。此時，例如對于I次的相位差，序列校正部26d以在激發(fā)脈沖與重聚脈沖之間施加校正傾斜磁場的方式，來變更主掃描用脈沖序列。另外，在主掃描用脈沖序列中的讀出用傾斜磁場的前后，序列校正部26d也可以增加校正傾斜磁場。另外，例如對于0次的相位差，序列校正部26d通過變更重聚脈沖的相位，來使相位偏移變?yōu)榱恪＿@樣，通過由序列校正部26d以使得預掃描所觀測到的相位偏移變?yōu)榱愕姆绞叫Ｕ鲯呙栌妹}沖序列，將能夠得到?jīng)]有受到讀出用傾斜磁場、切片選擇用傾斜磁場的0次以及I次的渦電流、以及相位編碼用傾斜磁場的0次的渦電流的影響的圖像。圖5以及6是用于說明通過序列校正部26d進行的相位偏移的校正的圖。圖5表示相位編碼方向的相位偏移的一個例子。在圖5中，實線61表示每個回波信號的相位編碼方向的0次的相位偏移,虛線62表不相位編碼用傾斜磁場的強度。另外，圖6表不配置圖5所不的回波信號的k空間。在圖6中，橫軸表不相位編碼方向。在此，相位編碼方向的0次的相位偏移依存于對k空間的回波信號的配置的方法。圖5所示的例子表示對于k空間，在相位編碼方向依次配置收集到的回波信號的情況。圖6所示的編號表示收集到的回波信號的順序。使用圖4所示的脈沖序列進行了預掃描時，校正被配置于與第10個收集的回波信號EcholO對應的位置(圖6所示的箭頭的位置)，即k空間的中心附近的回波信號的0次的相位偏移。另外，在此，針對以第10個收集的回波信號EcholO為基準進行校正的情況進行說明，但作為基準的回波信號也可以是任意的回波信號。主掃描執(zhí)行部26e使用通過序列校正部26d校正后的主掃描用脈沖序列，執(zhí)行主掃描。具體而言，如果通過序列校正部26d校正了主掃描用序列執(zhí)行數(shù)據(jù)，則預掃描執(zhí)行部26b從序列執(zhí)行數(shù)據(jù)存儲部23a讀出校正后的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。并且，主掃描執(zhí)行部26e通過經(jīng)由接口部21將讀出的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)發(fā)送至序列控制部10，從而執(zhí)行主掃描。接著，針對通過第I實施方式涉及的MRI裝置100進行的相位偏移校正的處理步驟進行說明。圖7是表示通過第I實施方式涉及的MRI裝置100進行的相位偏移校正的處理步驟的流程圖。如圖7所示，在第I實施方式涉及的MRI裝置100中，由操作者指示開始攝像時(步驟(st印)SlOl，是)，攝像條件設定部26a接受經(jīng)由輸入部24由操作者進行的攝像條件的輸入(步驟S102)。接著，攝像條件設定部26a根據(jù)通過操作者輸入的攝像條件，分別生成主掃描用以及預掃描用序列執(zhí)行數(shù)據(jù)(步驟S103)。
例如，攝像條件設定部26a將對圖3所示的脈沖序列進行了定義的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)生成為主掃描用序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。另外，例如，攝像條件設定部26a生成對圖4所示的脈沖序列進行了定義的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。接著，預掃描執(zhí)行部26b根據(jù)通過攝像條件設定部26a生成的脈沖序列的序列執(zhí)行數(shù)據(jù)，執(zhí)行預掃描(步驟S104)。接著，校正量計算部26c根據(jù)通過各預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來將相位偏移的量作為校正量進行計算(步驟S106)。之后，序列校正部26d根據(jù)通過校正量計算部26c計算出的校正量來校正主掃描用序列執(zhí)行數(shù)據(jù)(步驟S106)。接著，主掃描執(zhí)行部26e根據(jù)通過序列校正部26d校正后的主掃描用序列執(zhí)行數(shù)據(jù)，執(zhí)行主掃描(步驟S107)。并且，圖像重建部22根據(jù)通過主掃描收集到的MR信號數(shù)據(jù)來重建圖像(步驟S108)。如上述那樣，在第I實施方式中，預掃描執(zhí)行部26b執(zhí)行預掃描。在此，預掃描與主掃描用脈沖序列相同地施加讀出用傾斜磁場、切片方向傾斜磁場，并直到計算校正量的回波之前，與主掃描用脈沖序列相同地施加相位編碼用傾斜磁場。例如，預掃描與主掃描用脈沖序列相同地施加讀出用傾斜磁場、切片選擇用傾斜磁場，并直到k空間中心附近的回波，施加主掃描用脈沖序列中所施加的相位編碼用傾斜磁場中的至少一個。并且，校正量計算部26c根據(jù)通過預掃描收集到的多個回波信號中的相位差，將通過讀出用傾斜磁場、切片選擇用傾斜磁場而生成的相位偏移(0次以及I次)、通過相位編碼用傾斜磁場而生成的0次的相位偏移的量作為校正量進行計算。另外，序列校正部26d根據(jù)通過校正量計算部26c計算出的校正量，校正主掃描用脈沖序列。從而，根據(jù)第I實施方式，能夠防止由于讀出用傾斜磁場、切片選擇用傾斜磁場的0次以及I次的渦電流、相位編碼用傾斜磁場的0次的渦電流而產(chǎn)生的畫質劣化。另外，在第I實施方式中，直到在與在主掃描中相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱愕钠陂g相同的期間或者該期間的附近所收集的回波信號之前，預掃描用脈沖序列與主掃描用脈沖序列相同地施加相位編碼用傾斜磁場。從而，根據(jù)第I實施方式，由于校正被配置在對畫質最有益的k空間的中心附近的回波信號的相位偏移，因此，能夠進一步提高通過MRI裝置100而生成的圖像的畫質。另外，作為第I實施方式的變形例，預掃描執(zhí)行部26b也可以進行多次預掃描。例如，預掃描執(zhí)行部26b執(zhí)行與主掃描用脈沖序列相同地施加讀出用傾斜磁場、切片方向傾斜磁場，直到計算校正量的回波之前，與主掃描用脈沖序列相同地施加相位編碼用傾斜磁場的第I預掃描，和使用了施加與在第I預掃描中所施加的相位編碼用傾斜磁場不同的相位編碼用傾斜磁場的第2脈沖序列的第2預掃描。例如，作為第I預掃描，預掃描執(zhí)行部26b施加多次激發(fā)中，在最前的回波中施加最大的相位編碼用傾斜磁場的激發(fā)的相位編碼用傾斜磁場，作為第2預掃描，施加在最前的回波中，施加最小的相位編碼用傾斜磁場的激發(fā)的相位編碼用傾斜磁場。
圖8是用于說明第I實施方式的變形例的圖。圖8表示圖5所示的相位編碼方向的相位偏移中，從第I個回波信號(Echol)到第4個回波信號(Echo4)的相位偏移。與圖5相同，實線61表不每個回波信號的相位編碼方向的0次的相位偏移,虛線62表不相位編碼用傾斜磁場的強度。例如，在圖8所示的例子中，表示使用多次激發(fā)a，b，c，. . .，k，l，m的情況。另外，例如，如圖8所示，多次激發(fā)a，b，c，...，k，l，m中，在第I個回波信號(Echol)中，假設施加最大的相位編碼用傾斜磁場的激發(fā)是激發(fā)a，施加最小的相位編碼用傾斜磁場的激發(fā)為激發(fā)m。此時，作為第I預掃描，預掃描執(zhí)行部26b施加激發(fā)a的相位編碼(參照圖8所示的三角的標志)，作為第2預掃描，施加激發(fā)m的相位編碼(參照圖8所示的黑色的三角的楊)。此時，例如，校正量計算部26c也可以設第I預掃描的相位差為pl，第2預掃描的相位差為p2，pl為對于激發(fā)a的校正量，p2為對于激發(fā)m的校正量，對于中間的激發(fā)的校正量通過插補來求得。具體而言，設激發(fā)數(shù)為N，則對于相位編碼用傾斜磁場第i大的激發(fā)的校正量變?yōu)?pl+(p2-pl)*(i-l)/(N-I)。圖9A是表示通過以往的預掃描而得到的圖像的一個例子的圖。圖9B是表示通過第I實施方式中的預掃描而得到的圖像的一個例子的圖。圖9A是通過除去了以往的相位編碼的預掃描而收集到的圖像的一個例子。另外，圖9B是通過第I實施方式的預掃描而收集到的圖像的一個例子。如這些圖所示的那樣，在第I實施方式中得知，改善了基于相位編碼用傾斜磁場的0次的相位偏移而導致的信號降低。(第2實施方式)另外，在第I實施方式中，針對校正被配置在k空間的中心附近的回波信號的相位偏移的情況進行了說明，但MRI裝置100的實施方式并不限定于此。因此，以下，作為第2實施方式，針對校正多個回波信號的相位偏移的情況進行說明。第2實施方式涉及的MRI裝置的結構基本上與圖I以及2所示的結構相同，但通過攝像條件設定部26a、預掃描執(zhí)行部26b、校正量計算部26c、以及序列校正部26d進行的處理與第I實施方式不同。在第2實施方式中，除了主掃描用脈沖序列、第I預掃描用第I脈沖序列(圖4所示的脈沖序列)之外，攝像條件設定部26a還針對以下說明的第2預掃描用脈沖序列，也制成序列執(zhí)行數(shù)據(jù)。圖10是表示第2實施方式涉及的第2預掃描用第2脈沖序列的圖。第2脈沖序列是施加與第I預掃描中所施加的相位編碼用傾斜磁場不同的與回波數(shù)對應的相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。例如，如圖10所示，第2脈沖序列是施加與比第I預掃描少的回波數(shù)對應的、與主掃描用脈沖序列相同的相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。另外，讀出用傾斜磁場以及切片選擇用傾斜磁場與第I預掃描相同。例如，如圖10所示，第2脈沖序列設定成直到第3個回波信號施加相位編碼用傾斜磁場。另外，在第2實施方式中，除了第I預掃描之外，預掃描執(zhí)行部26b也執(zhí)行使用了圖10所示的第2脈沖序列的第2預掃描。另外，在第2實施方式中，校正量計算部26c根據(jù)通過第I預掃描收集到的多個回波信號計算第I相位偏移。另外，校正量計算部26c根據(jù)通過第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第2相位偏移。并且，校正量計算部26c根據(jù)計算出的第I相位偏移與第2相位偏移，來計算與多個回波信號相關的校正量。例如，假設分別執(zhí)行圖4所示的第I脈沖序列與圖10所示的第2脈沖序列。此時，校正量計算部26c分別計算圖4所示的第10個回波信號EcholO與第11個回波信號Echoll 之間的相位差pl、和圖10所示的第5個回波信號Echo5與第4個回波信號Echo4之間的相位差p2。另外，作為第I相位偏移，校正量計算部26c計算pl。另外，作為第2相位偏移，校正量計算部26c計算p2。在此，作為第I相位偏移的pl變?yōu)榈?0個回波信號EcholO中的相位偏移diflO。另外，作為第2相位偏移的p2變?yōu)榈?個回波信號Echo4中的相位偏移dif4o并且，校正量計算部26c根據(jù)第I相位偏移與第2相位偏移，計算與第4個以及第10個回波信號以外的回波信號相關的校正量。例如，在主掃描中，當在第10個所收集的回波信號EcholO，相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱銜r，回波信號中的相位偏移在直到EcholO之前逐漸增加，若超過EcholO則逐漸減少。因此，例如，能夠假設第16個回波信號中的相位偏移difl6與第4個回波信號Echo4中的相位偏移dif4相等。因此，校正量計算部26c以在主掃描中相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱愕幕夭ㄐ盘枮榛鶞剩鶕?jù)在該回波信號之前的前半部分收集到的回波信號中的相位偏移，來估計在后半部分所收集的回波信號中的相位偏移。另外，校正量計算部26c通過將計算出的各回波信號中的相位偏移進行線性插補，來計算多個回波信號中的相位偏移。圖11是用于說明通過第2實施方式涉及的序列校正部26d進行的相位偏移的計算的圖。如圖11所示，例如，序列校正部26d以第10個回波信號EcholO為基準，根據(jù)第4個回波信號Echo4中的相位偏移dif4來估計第16個回波信號Echol6中的相位偏移dif 16。之后，校正量計算部26c通過將回波信號Echo4中的相位偏移dif4、回波信號EcholO中的相位偏移dif 10、回波信號Echoie中的dif 16進行線性插補，來計算多個回波信號中的相位偏移。另外，在第2實施方式中，序列校正部26d根據(jù)通過校正量計算部26c計算出的相位偏移，來校正在主掃描用脈沖序列中對各回波信號施加的相位編碼方向的傾斜磁場的強度。此時，例如，序列校正部26d變更在各回波信號中所施加的相位編碼用傾斜磁場的強度，以使得各回波信號中的相位偏移變?yōu)榱??；蛘撸蛄行Ｕ?6d也可以通過變更倒回用傾斜磁場的強度，來使各回波信號中的相位偏移變?yōu)榱?。如上述的那樣，在?實施方式中，預掃描執(zhí)行部26b也執(zhí)行第2預掃描。在此，第2預掃描是施加與第I預掃描中所施加的相位編碼用傾斜磁場不同的與回波數(shù)對應的相位編碼用傾斜磁場的預掃描。例如，第2預掃描是施加與比第I預掃描少的回波數(shù)對應的、與主掃描用脈沖序列相同的相位編碼用傾斜磁場的預掃描。另外，校正量計算部26c根據(jù)通過第I預掃描收集到的多個回波信號中的相位差與通過第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第2相位偏移，并根據(jù)計算出的第I相位偏移與第2相位偏移來計算與多個回波信號相關的相位偏移。并且，序列校正部26d根據(jù)通過校正量計算部26c對每個回波信號計算出的相位偏移，來校正主掃描用脈沖序列。從而，根據(jù)第2實施方式，由于校正通過主掃描收集的各回波信號的相位偏移，因此，能夠進一步高精度地防止圖像劣化。另外，在第2實施方式中，假設以在主掃描中相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱愕幕夭ㄐ盘枮榛鶞?，根?jù)在該回波信號之前的前半部分所收集到的回波信號中的相位偏移，來估計在后半部分所收集的回波信號中的相位偏移。對此，也可以通過再進行一次預掃描，來測量在主掃描中相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱愕幕夭ㄐ盘栔蟮暮蟀氩糠炙占幕夭ㄐ盘栔械南辔黄?。由此，將能夠進一步高精度地防止由于相位編碼方向的相位偏移而生成的 圖像劣化。另外，在上述第I以及第2實施方式中，針對在一次的收集中對k空間的所有的區(qū)域配置回波信號的情況進行了說明。對此，例如，有時將k空間在相位編碼方向分割成多個區(qū)域，并通過多次收集來將多個回波信號分組進行收集。此時，也可以按每組計算相位偏移，按每組校正主掃描用脈沖序列。圖12是用于說明第I以及第2實施方式的變形例的圖。圖12表示沿著相位編碼方向的k空間，表示k空間被分割成3個區(qū)域時的一個例子。另外，圖12所示的箭頭表示k空間的中心。在此，例如，假設回波信號分為2個組Grl以及Gr2進行收集。此時，例如，如圖12所示，對于正中間的區(qū)域，組Grl的回波信號在相位編碼方向依次進行配置。另外，對于兩側的區(qū)域中一側的區(qū)域，依次配置組Gr2的回波信號中在前半部分收集到的回波信號，對于另一側的區(qū)域，依次配置組Gr2的回波信號中在后半部分收集到的回波信號。此時，例如，校正量計算部26c也可以按每組計算校正量。另外，此時，序列校正部26d對每組校正主掃描用脈沖序列。另外，例如，也可以由校正量計算部26c針對任一組計算校正量，由序列校正部26d針對所有的組，根據(jù)相同的校正量校正主掃描用脈沖序列。(第3實施方式)接著，作為第3實施方式，說明k空間的中心是最前的回波時的回波信號的收集以及校正的例子。在第3實施方式中，作為預掃描，預掃描執(zhí)行部26b施加至少一個相位編碼用傾斜磁場。圖13是表示第3實施方式涉及的預掃描用脈沖序列的圖。如圖13所示，例如，預掃描執(zhí)行部26b直到第2個回波信號施加相位編碼用傾斜磁場，并將第3個以后的回波信號用于校正量的計算。圖14是用于說明第3實施方式涉及的回波信號的收集的圖。如圖14所示，通常，當k空間的中心是最前的回波時，將k空間分割成兩個Gr來收集回波信號。此時，作為第I預掃描，預掃描執(zhí)行部26b施加Grl的代表性的相位編碼用傾斜磁場，作為第2預掃描，施加Gr2的代表性的相位編碼用傾斜磁場。并且，校正量計算部26c與第I以及第2實施方式相同，根據(jù)各預掃描的多個回波的相位差來計算校正量。另外，在預掃描中所使用的脈沖序列同樣地施加在主掃描中所使用的預脈沖等傾斜磁場。
(第4實施方式)接著，作為第4實施方式，對將第I 第3實施方式與考慮了基于3D收集序列的切片編碼的相位偏移的預掃描并用時的例子進行說明。圖15是表示第4實施方式涉及的第2預掃描用第2脈沖序列的圖。在第4實施方式中，預掃描執(zhí)行部26b執(zhí)行使用了圖4所示的第I脈沖序列的第I預掃描、與使用了圖15所示的第2脈沖序列的第2預掃描。在此，例如，第I脈沖序列是與第I實施方式相同，直到k空間中心的附近的回波之前，施加主掃描的代表性的相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。另外，第2脈沖序列是除了第I預掃描中所施加的相位編碼用傾斜磁場以外，還施加主掃描用的至少一個切片編碼用傾斜磁場的脈沖序列。例如，第2脈沖序列是施加在主掃描用脈沖序列所施加的切片編碼用傾斜磁場中代表性的切片編碼用傾斜磁場的脈沖序列。并且，在第4實施方式中，校正量計算部26c根據(jù)通過第I預掃描收集到的多個回 波信號中的相位差與通過第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差，將通過切片編碼用傾斜磁場在切片編碼方向生成的相位偏移作為校正量進行計算。另外，序列校正部26d根據(jù)通過校正量計算部26c計算出的校正量，來校正主掃描用脈沖序列。從而，根據(jù)第4實施方式，也能夠防止由于切片編碼方向的相位偏移而生成的圖像劣化。例如，當切片編碼數(shù)(切片個數(shù))為64時，切片編碼步驟變?yōu)?32 31，例如，在第2脈沖序列中，施加-32的切片編碼，并設第I預掃描的EcholO與Echoll的相位差(I次或者0次)為Si，第2預掃描的EcholO與Echoll的相位差為s2，則基于第i個切片編碼的相位差通過(s2-sl)*(-i)/32求得。通過校正180度脈沖的相位，能夠校正基于切片編碼的相位偏移。另外，通過在上述中增加預掃描的數(shù)量(例如，施加+31的切片編碼)，能夠提高精度。如以上說明的那樣，根據(jù)第I 第4實施方式，能夠防止由于相位編碼傾斜磁場的0次的相位偏移而生成的圖像劣化。(第5實施方式)接著，針對第5實施方式進行說明。根據(jù)上述第I 第4實施方式，能夠防止由于相位編碼傾斜磁場的0次的相位偏移而生成的圖像劣化，但通過在預掃描中施加相位編碼傾斜磁場，可能依存于用于攝像的RF線圈或攝像區(qū)域而無法正確地求得相位校正量，使畫質惡化。圖16是用于說明第5實施方式涉及的MRI裝置的圖。圖16表不將Z軸方向作為相位編碼方向，對腰椎的矢狀斷面進行攝像時的例子。另外，在圖16所示的例子中，作為RF線圈使用相陣控線圈(Phased Array Coil :PAC), PAC線圈所包含的4個線圈元件(coilelement)在Z軸方向排列。在該例子中，如上述實施方式那樣,如果施加相位編碼傾斜磁場，貝1J在Z方向產(chǎn)生I次相位偏移。但是，在上述實施方式中，由于在相位編碼方向沒有進行采樣(sampling)，因此，不能計算以及校正相位編碼方向的I次相位偏移。在此，如果通過以往的方法，對每個RF線圈求得相位校正量，則如圖16所示，在與4個線圈元件連接的通道(cannel) chi ch4,分別求得0次的相位偏移pl p4。此時，例如，對于作為校正對象的0次的相位偏移量，存在通過pl p4的平均求得，或采用以線圈元件的信號強度加權的平均的方法。但是，例如，當Pl變?yōu)?170度、p3在180度附近變?yōu)?78度時、或變?yōu)?182度時，不能適當?shù)剡M行Unwrap處理。另外，根據(jù)RF線圈的種類，有時不能正確地計算相位，對每個線圈元件求得相位的方法有時未必合適。另一方面，也存在不對每個線圈元件求得相位，而使用檢測到最大信號的線圈元件的數(shù)據(jù)的方法。但是，在該方法中，當chi或者ch4檢測出最大信號時，雖然改善了該線圈元件附近的畫質，但如果遠離該線圈元件，則極端地引起畫質劣化。為了解決這樣的問題，在第5實施方式中，MRI裝置100將所有的線圈元件的數(shù)據(jù)相加來計算一個相位校正量。具體而言，如以下那樣，校正量計算部26c將通過預掃描經(jīng)由多個元件收集到的多個回波信號相加，來計算用于校正在主掃描中所收集的多個回波信號中的相位差的一個相位校正量。例如，作為計算的相位校正量，假設I次(傾斜)相位角(rad)為Q1，第i個切片的0次(偏移(offset))相位角(rad)為0吣。并且，假設讀出的點(point)數(shù)為N，回波數(shù)為M，切片個數(shù)為NS(0彡i < NS)，PAC通道數(shù)為L (0彡I < L)，預掃描數(shù)據(jù)為P (x，i，I)(其中，ID傅立葉變換后的復數(shù)數(shù)據(jù)0 < X < N)，用于求得I次相位的點數(shù)(例如，4點) 為dxx，則S1以及e M通過以下所示的式(I)以及式⑵求得。
/ ￡-1-1 ^iE-I N-I f_A= arg Z Z如人 0)\式⑴
\ 10 z-0 K-fJJ
^ N~-l f.( (Bfsi = arg 藝 ^ 尸“丄/)^中JJ式(2)
V Z-O JT-O \J J校正量計算部26c使用上述的式(I)以及式(2)，作為相位校正量計算S1以及0 o, i°根據(jù)該方法，能夠不受每個線圈元件的SNR(Signal-to_Noise Ratio)的差，以及相位的差的影響，在攝像對象內求得平均的校正量。另外，該方法對于不施加相位編碼傾斜磁場的以往的預掃描也有效。根據(jù)上述第5實施方式，能夠不管線圈元件而穩(wěn)定地得到相位校正量，并能夠防止畫質劣化。(第6實施方式)接著，針對第6實施方式進行說明。在上述第5實施方式中，相位計算時，使用了讀出方向的所有的數(shù)據(jù)。但是，例如，也可以將相位計算所使用的數(shù)據(jù)縮小為操作者指定的FOV(Field Of View:攝像區(qū)域)內的數(shù)據(jù)。圖17是用于說明第6實施方式涉及的MRI裝置的圖。圖17表示將X軸方向作為讀出方向將手腕的軸向斷面進行攝像時的例子。在圖17中，實線所示的范圍表示操作者所指定的F0V，虛線所示的范圍是增加了 NoWrap的F0V。在此，所謂NoWrap是指，將比攝影計劃(plan)時操作者設定的FOV大的FOV設定為展開F0V，通過展開(unfold)處理生成展開FOV的圖像之后，通過將操作者設定的FOV的圖像從展開FOV的圖像中切出并進行顯示，從而降低返回偽影的功能。如圖17所示，例如，在遠離X軸方向的中心的位置有時發(fā)生非線性的相位偏移(參照圖17下側的圖)。此時，如果使用讀出方向的所有的數(shù)據(jù)，則操作者所指定的FOV外的數(shù)據(jù)也會對相位計算時有影響，不能正確地求得相位校正量。為了解決這樣的問題，在第6實施方式中，MRI裝置100將讀出方向的計算對象區(qū)域限定在操作者所指定的FOV內。具體而言，如以下那樣，校正量計算部26c使用通過預掃描收集到的多個回波信號中，操作者在讀出方向所指定出的FOV內的數(shù)據(jù)，來計算用于校正主掃描中所收集的多個回波信號中的相位差的相位校正量。例如，假設操作者所指定的FOVSFuJfWT NoWrap的FOV為Fn，讀出的計算開始點數(shù)為Nstart,讀出的計算結束點數(shù)為Nend,則Nstart通過以下所示的式(3)以及式(4)求得。Nstart = N* (1-Nu/Nf)/2式(3)Nend = N-Nstart 式(4)校正量計算部26c使用式(3)以及式⑷計算出Nstart以及Nend-I之后，從Nstart到Nend-I進行式⑴以及式⑵中的x的相加。根據(jù)該方法，當在通過操作者所指定的FOV的內側與外側進行相位不同的處理時，能夠除去相位校正量計算中的FOV外的數(shù)據(jù)的影響。另外，該方法對于以往的預掃描也有效。根據(jù)上述第6實施方式，可以不管攝像區(qū)域而穩(wěn)定地得到相位校正量，并能夠防 止畫質劣化。(第7實施方式)接著，針對第7實施方式進行說明。在上述第6實施方式中，相位計算時，將讀出方向的數(shù)據(jù)縮小為操作者所指定的FOV內的數(shù)據(jù)。但是，例如，當讀出方向是Z軸方向時，有時受到靜磁場不均勻的影響。因此，相位計算時，也可以將讀出方向的數(shù)據(jù)縮小為靜磁場不均勻的影響小的范圍內的數(shù)據(jù)。圖18是用于說明第7實施方式涉及的MRI裝置的圖。圖18表示將Z軸方向作為讀出方向對腹部進行攝像時的例子。有時會有在遠離Z軸方向的中心的位置發(fā)生非線性的相位偏移(參照圖18中段的圖)，且由于磁場不均勻性的影響而導致信號強度變強(參照圖18下段的圖)的情況。此時，如果使用讀出方向的所有的數(shù)據(jù)，則遠離Z軸方向的中心的位置的數(shù)據(jù)會對相位計算時產(chǎn)生很強的影響，不能正確地求得校正量。為了解決這樣的問題，在第7實施方式中，MRI裝置100將讀出方向的計算對象區(qū)域限定為至少系統(tǒng)補償?shù)腪軸方向的F0V。具體而言，校正量計算部26c使用通過預掃描而收集到的多個回波信號中，至少補償了靜磁場均勻性的范圍內的數(shù)據(jù)，來計算用于校正主掃描所收集的多個回波信號中的相位差的相位校正量。例如，校正量計算部26c使用系統(tǒng)所補償?shù)腪軸方向的FOV的一半的區(qū)域(圖18的虛線所包圍的區(qū)域)的數(shù)據(jù)，來計算相位校正量。根據(jù)該方法，能夠除去相位校正量計算中的靜磁場不均勻的影響。另外，該方法對于以往的預掃描也有效。根據(jù)上述第7實施方式，盡管靜磁場不均勻也能夠穩(wěn)定地得到相位校正量，并能夠防止畫質劣化。與以上說明的那樣，根據(jù)第I 第7的實施方式，能夠防止由于回波信號的相位偏移而生成的圖像劣化。雖然說明了本發(fā)明的幾個實施方式，但這些實施方式是作為例子而提示的，并不意圖限定本發(fā)明的范圍。這些實施方式能夠以其他的各種形態(tài)進行實施，在不脫離發(fā)明的要旨的范圍內，能夠進行各種的省略、置換、變更。這些實施方式或其變形與包含于發(fā)明的范圍或要旨中一樣，包含于權利要求書記載的發(fā)明及其均等的范圍中。
權利要求
1.一種磁共振成像裝置，其特征在于，具備 執(zhí)行部，執(zhí)行規(guī)定的攝像參數(shù)相互不同的第I以及第2預掃描，該第I以及第2預掃描分別是與主掃描用脈沖序列同樣地施加讀出用傾斜磁場以及切片方向傾斜磁場，并直到用于校正量計算的回波之前，與主掃描用脈沖序列同樣地施加相位編碼用傾斜磁場的預掃描; 計算部，根據(jù)通過上述第I以及第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差，計算相位偏移的量作為校正量；和 校正部，根據(jù)由上述計算部計算出的上述校正量來校正上述主掃描用脈沖序列。
2.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 作為上述第I以及第2預掃描，在取得了用于上述校正量計算的回波之后，上述執(zhí)行部 執(zhí)行不施加相位編碼用傾斜磁場的預掃描。
3.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 作為上述第I以及第2預掃描，上述執(zhí)行部執(zhí)行重聚用重聚脈沖組的相位相互不同的預掃描， 上述計算部使用將通過上述第I預掃描收集到的回波信號與通過上述第2預掃描收集到的回波信號相加或相減而得到的回波分量，來根據(jù)上述多個回波信號中的相位差計算上述校正量。
4.根據(jù)權利要求2所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 作為上述第I以及第2預掃描，上述執(zhí)行部執(zhí)行重聚用重聚脈沖組的相位相互不同的預掃描， 上述計算部使用將通過上述第I預掃描收集到的回波信號與通過上述第2預掃描收集到的回波信號相加或相減而得到的回波分量，來根據(jù)上述多個回波信號中的相位差計算上述校正量。
5.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述第I以及第2預掃描用脈沖序列是直到在與上述主掃描中相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱愕钠陂g相同的期間或該期間的附近收集的回波信號之前，與上述主掃描用脈沖序列同樣地施加相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。
6.根據(jù)權利要求2所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述第I以及第2預掃描用脈沖序列是直到在與上述主掃描中相位編碼用傾斜磁場變?yōu)榱愕钠陂g相同的期間或該期間的附近收集的回波信號之前，與上述主掃描用脈沖序列同樣地施加相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。
7.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述第I以及第2預掃描用脈沖序列是在上述主掃描用脈沖序列中所使用的多個相位編碼中，施加平均強度附近的相位編碼用傾斜磁場的脈沖序列。
8.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 作為上述第2預掃描，上述執(zhí)行部執(zhí)行施加與上述第I預掃描中所施加的相位編碼用傾斜磁場不同的相位編碼用傾斜磁場的預掃描， 上述計算部根據(jù)通過上述第I預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第I相 位偏移，根據(jù)通過上述第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第2相位偏移，并根據(jù)計算出的上述第I相位偏移與上述第2相位偏移來計算與多個回波信號相關的校正量， 上述校正部根據(jù)由上述計算部對每個回波信號計算出的校正量，來校正上述主掃描用脈沖序列。
9.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 作為上述第2預掃描，上述執(zhí)行部執(zhí)行施加與上述第I預掃描中所施加的相位編碼用傾斜磁場不同的與回波數(shù)對應的相位編碼用傾斜磁場的預掃描， 上述計算部根據(jù)通過上述第I預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第I相位偏移，根據(jù)通過上述第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第2相位偏移，并根據(jù)計算出的上述第I相位偏移與上述第2相位偏移來計算與多個回波信號相關的校正 量， 上述校正部根據(jù)由上述計算部對每個回波信號計算出的校正量，來校正上述主掃描用脈沖序列。
10.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 當在主掃描中，配置回波信號的k空間在相位編碼方向被分割成多個區(qū)域，并按該多個區(qū)域的每個區(qū)域將多個回波信號分組進行收集時， 上述計算部按每個上述組計算上述校正量， 上述校正部按每個上述組校正上述主掃描用脈沖序列。
11.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 作為上述第2預掃描，上述執(zhí)行部執(zhí)行除了施加在上述第I預掃描中所施加的相位編碼用傾斜磁場之外，還施加主掃描用的至少一個切片編碼用傾斜磁場的預掃描， 上述計算部根據(jù)通過上述第I預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第I相位偏移，根據(jù)通過上述第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來計算第2相位偏移，并根據(jù)計算出的上述第I相位偏移和上述第2相位偏移來計算與多個回波信號相關的校正量， 上述校正部根據(jù)由上述計算部對每個回波信號計算出的校正量，校正上述主掃描用脈沖序列。
12.根據(jù)權利要求3所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述第I預掃描中的重聚用重聚脈沖組的相位為H，31，31，31......,上述第2預掃描中的重聚用重聚脈沖組的相位為31，- 31，JI , - JI.......
13.根據(jù)權利要求12所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述計算部通過將由上述第I預掃描收集到的回波信號與由上述第2預掃描收集到的回波信號相加來提取自旋回波分量，并計算上述校正量。
14.根據(jù)權利要求12所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述計算部通過從由上述第I預掃描收集到的回波信號中減去由上述第2預掃描收集到的回波信號來提取激發(fā)回波分量，并計算上述校正量。
15.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 該磁共振成像裝置還具備RF線圈，該RF線圈具有多個元件線圈， 上述計算部將通過上述預掃描經(jīng)由上述多個元件而收集到的多個回波信號相加，來計算上述校正量。
16.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述計算部使用通過預掃描收集到的多個回波信號中由操作者在讀出方向所指定的攝像區(qū)域內的數(shù)據(jù)來計算上述校正量。
17.根據(jù)權利要求I所述的磁共振成像裝置，其特征在于， 上述計算部使用通過預掃描收集到的多個回波信號中至少補償了靜磁場均勻性的范圍內的數(shù)據(jù)來計算上述校正量。
18.—種磁共振成像裝置，其特征在于，具備 RF線圈，具有多個元件線圈； 執(zhí)行部，執(zhí)行與主掃描用脈沖序列同樣地施加讀出用傾斜磁場以及切片方向傾斜磁場的預掃描； 計算部，將通過上述預掃描經(jīng)由上述多個元件收集到的多個回波信號相加，來計算用于校正主掃描中所收集的多個回波信號中的相位差的一個相位校正量；和 校正部，根據(jù)由上述計算部計算出的上述校正量來校正上述主掃描用脈沖序列。
19.一種磁共振成像裝置，其特征在于，具備 執(zhí)行部，執(zhí)行與主掃描用脈沖序列同樣地施加讀出用傾斜磁場以及切片方向傾斜磁場的預掃描； 計算部，使用通過預掃描收集到的多個回波信號中由操作者在讀出方向所指定的攝像區(qū)域內的數(shù)據(jù)，計算用于校正主掃描中所收集的多個回波信號中的相位差的相位校正量；和 校正部，根據(jù)由上述計算部計算出的上述校正量來校正上述主掃描用脈沖序列。
20.一種磁共振成像裝置，其特征在于，具備 執(zhí)行部，執(zhí)行與主掃描用脈沖序列同樣地施加讀出用傾斜磁場以及切片方向傾斜磁場的預掃描； 計算部，使用通過預掃描收集到的多個回波信號中至少補償了靜磁場均勻性的范圍內的數(shù)據(jù)，來計算用于校正主掃描中所收集的多個回波信號中的相位差的相位校正量；和 校正部，根據(jù)由上述計算部計算出的上述校正量來校正上述主掃描用脈沖序列。
全文摘要
實施方式涉及磁共振成像裝置。提供一種能夠防止由于回波信號的相位偏移而生成的圖像劣化的磁共振成像裝置。實施方式涉及的磁共振成像裝置具備執(zhí)行部、計算部、以及校正部。執(zhí)行部執(zhí)行規(guī)定的攝像參數(shù)相互不同的第1以及第2預掃描，該第1以及第2預掃描是與主掃描用脈沖序列相同地分別施加讀出用傾斜磁場、切片方向傾斜磁場，并直到用于校正量計算的回波之前，與主掃描用脈沖序列相同地施加相位編碼用傾斜磁場的預掃描。計算部根據(jù)通過上述第1以及第2預掃描收集到的多個回波信號中的相位差來將相位偏移的量作為校正量進行計算。校正部根據(jù)通過上述計算部計算出的上述校正量來校正上述主掃描用脈沖序列。
文檔編號G01R33/56GK102727203SQ201210091160
公開日2012年10月17日 申請日期2012年3月30日 優(yōu)先權日2011年3月31日
發(fā)明者梅田匡朗 申請人:東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會社, 株式會社東芝