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Lcr測試儀的制作方法

文檔序號:5932211閱讀:935來源:國知局
專利名稱:Lcr測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種數(shù)字電橋,尤其是能采用高頻信號源測量待測元件的數(shù)字電橋,具體地說是一種LCR測試儀。
背景技術(shù)
LCR電感(L)、電容(C)和電阻(R)作為基本元器件,在電子產(chǎn)品中被廣泛使用。隨著電子產(chǎn)品的技術(shù)與性能不斷發(fā)展和提高,國內(nèi)相關(guān)行業(yè)對元器件的檢測技術(shù)的要求也在不斷的提高,特別是對元器件在IMHz及以上頻率條件下參數(shù)測量的需求與日俱增。因此,頻率達(dá)到上MHz、信號電平步進(jìn)達(dá)到ImV的LCR測試儀,有助于了解元器件在實際工作條件下的真實性能,提高產(chǎn)品的性能與可靠性。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是針對目前元器件在IMHz及以上頻率條件下參數(shù)測量的需求與日俱增的問題,提出一種LCR測試儀。本實用新型是頻率達(dá)到上MHz、信號電平步進(jìn)達(dá)到ImV的LCR測試儀,有助于了解元器件在實際工作條件下的真實性能,提高產(chǎn)品的性能與可靠性。本實用新型的技術(shù)方案是一種LCR測試儀,它包括基準(zhǔn)時鐘、與基準(zhǔn)時鐘相連的三個DDS信號源、測量信號發(fā)生器、源電阻、連接被測元件的輸入電路、自動平衡電橋、兩濾波器、兩混頻器、兩A/D轉(zhuǎn)換器和ARM處理器,所述的第一 DDS信號源的輸出與測量信號發(fā)生器的輸入端相連,測量信號發(fā)生器的信號輸出端通過源電阻驅(qū)動輸入電路所連接的被測元件,輸入電路的兩測量電壓端分別通過濾波器與對應(yīng)混頻器的一信號輸入端相連,兩混頻器的另一信號輸入端均與第二 DDS信號源的信號輸出端相連,兩混頻器的信號輸出端分別與兩A/D轉(zhuǎn)換器的對應(yīng)信號輸入端相連,兩A/D轉(zhuǎn)換器的信號源端與第三DDS信號源的輸出相連,兩A/D轉(zhuǎn)換器的輸出與ARM處理器的對應(yīng)信號輸入端相連,ARM處理器與IXD顯示器、分選接口的對應(yīng)信號端相連,輸出被測元件的對應(yīng)電參數(shù)。本實用新型的第一 DDS信號源輸出信號的頻率范圍是20Hz 5MHz,分辨率0. OlHz0本實用新型的測量信號發(fā)生器的信號輸出端依次串接濾波器、功率放大器后通過源電阻連接輸入電路,驅(qū)動被測元件。本實用新型的被測元件通過輸入電路與一組四端對結(jié)構(gòu)相連。本實用新型的ARM處理器與存儲器單元、通訊接口、鍵盤的對應(yīng)信號端相連。本實用新型的有益效果本實用新型的LCR測試儀是頻率達(dá)到上MHz、信號電平達(dá)到ImV的LCR測試儀,有助于了解元器件在實際工作條件下的真實性能,提高產(chǎn)品的性能與可靠性。
圖1是本實用新型的原理框圖。圖2是四端對結(jié)構(gòu)的示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進(jìn)一步的說明。如圖1所示,本系統(tǒng)的測量信號發(fā)生器能產(chǎn)生頻率從20Hz 5MHz (分辨率0. OlHz)、幅度從mVrms 5Vrms (ImV步進(jìn))變化的正弦信號,以及-5V +5V的內(nèi)部直流偏置電壓。測試信號經(jīng)過一組濾波器后,送入一個帶自動電平調(diào)整功能(ALC)的功放進(jìn)行放大,再通過源電阻去驅(qū)動被測元件。被測元件通過輸入電路與一組四端對結(jié)構(gòu)相連,自動平衡電橋使Lp端始終虛地,形成兩路矢量電壓。被測的兩路矢量電壓經(jīng)分別濾波、混頻后一起送入兩A/D轉(zhuǎn)換器。A/D轉(zhuǎn)換電路把矢量電壓經(jīng)數(shù)字處理后,由ARM處理器進(jìn)行實時數(shù)字相敏檢波分成實部和虛部分量,最后計算出Z、L、C、R等不同的電參數(shù)進(jìn)行顯示或分選。具體實施時測試信號源信號源用于測量時模擬實際的電路條件,本系統(tǒng)的信號源能產(chǎn)生寬頻、寬幅及步長可變的信號電平,且有恒壓、恒流功能。本系統(tǒng)由42. 9497MHz的晶振產(chǎn)生一個時鐘基準(zhǔn),同時驅(qū)動三個DDS合成信號源,三個DDS合成信號源由ARM處理器給出相應(yīng)的數(shù)據(jù)分別產(chǎn)生三個不同的信號源。測試信號的產(chǎn)生用戶通過控制面板設(shè)置測試信號的頻率和電平,由ARM處理器給出相應(yīng)的數(shù)據(jù),分別送入DDS合成電路和D/A轉(zhuǎn)換電路的數(shù)據(jù)輸入腳,產(chǎn)生相應(yīng)的正弦信號(Fe)。正弦信號通過低通濾波器后送入功率放大電路,再經(jīng)過輸出電阻輸出到被測元件上?;祛l基準(zhǔn)信號的產(chǎn)生由于本系統(tǒng)的測試頻率最高可以達(dá)到5MHz,因此測試信號的頻率設(shè)定后,ARM處理器會根據(jù)測試信號頻率的不同,控制與混頻器時鐘輸入端相連的DDS合成電路經(jīng)比較器變成方波再分頻后產(chǎn)生混頻基準(zhǔn)信號Fr。這樣,被測的矢量電壓經(jīng)過混頻器后,其頻率最終變成Ft (Ft=Fc-nFr, η是整數(shù)),F(xiàn)t是一個不大于IKHz的正弦信號。采樣信號的產(chǎn)生控制面板設(shè)置了測試信號的頻率后,由ARM處理器根據(jù)測試信號的頻率(Fe)以及每周期(Tc)的采樣點數(shù)(N)計算出采樣信號的基準(zhǔn)頻率(Fsr),并給出相應(yīng)的數(shù)據(jù),送入與兩A/D轉(zhuǎn)換器時鐘引腳相連的DDS合成電路的數(shù)據(jù)輸入腳,DDS合成電路輸出的頻率信號經(jīng)比較器變成方波后送入兩A/D轉(zhuǎn)換器的時鐘腳,再由A/D轉(zhuǎn)換器內(nèi)部的邏輯電路生成最終的采樣信號Fs(Fs=NXFt)。四端對結(jié)構(gòu)四端對結(jié)構(gòu)(4TP)示意圖,如圖2所示,四端對結(jié)構(gòu)解決了互感耦合、雜散電容、引線電感、引線電阻等問題,因為它用同軸電纜把信號電壓通路與電流通路相隔離,返回電流通過同軸電纜的屏蔽層,使外導(dǎo)體(屏蔽層)抵消了內(nèi)導(dǎo)體所產(chǎn)生的磁通。這種配置結(jié)構(gòu)的測量范圍可以達(dá)到1Ω以下100ΜΩ以上,結(jié)合自動平衡電橋方法,可以在20Hz 5MHz內(nèi)對其進(jìn)行精確的阻抗測量。自動平衡電橋自動平衡電橋通過測量k兩端的電壓和流過T^上的電流來計算阻抗等參數(shù)。Hp端和Hc端相互隔離,這樣可精確測量虹上的電壓。電流從Hc端流向Lc端,依靠一個反饋環(huán)路,使得G點維持虛地并使電流流過量程電阻Rs。因此,通過測量量程電阻上的電壓,即可測得流過k上的電流。A/D轉(zhuǎn)換電路矢量電壓Vu和Vs會同時通過雙路濾波器和一個由同一基準(zhǔn)時鐘控制的雙路混頻器,最后又送入兩A/D轉(zhuǎn)換器,以消除由通道而引起的測量誤差。由ARM微處理器從A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)據(jù)端實時讀取Vu和Vs對應(yīng)的轉(zhuǎn)換值,由ARM處理器進(jìn)行實時數(shù)字相敏檢波分成實部和虛部分量。通過電壓Vu和電流Vs的實部分量和虛部分量,ARM微處理器就可以計算出等效串聯(lián)電抗或等效并聯(lián)電抗等一系列的電參數(shù)。本實用新型未涉及部分均與現(xiàn)有技術(shù)相同或可采用現(xiàn)有技術(shù)加以實現(xiàn)。
權(quán)利要求1.一種LCR測試儀,其特征是它包括基準(zhǔn)時鐘、與基準(zhǔn)時鐘相連的三個DDS信號源、測量信號發(fā)生器、源電阻、連接被測元件的輸入電路、自動平衡電橋、兩濾波器、兩混頻器、兩A/D轉(zhuǎn)換器和ARM處理器,所述的第一 DDS信號源的輸出與測量信號發(fā)生器的輸入端相連,測量信號發(fā)生器的信號輸出端通過源電阻驅(qū)動輸入電路所連接的被測元件,輸入電路的兩測量電壓端分別通過濾波器與對應(yīng)混頻器的一信號輸入端相連,兩混頻器的另一信號輸入端均與第二 DDS信號源的信號輸出端相連,兩混頻器的信號輸出端分別與兩A/D轉(zhuǎn)換器的對應(yīng)信號輸入端相連,兩A/D轉(zhuǎn)換器的信號源端與第三DDS信號源的輸出相連,兩A/D轉(zhuǎn)換器的輸出與ARM處理器的對應(yīng)信號輸入端相連,ARM處理器與IXD顯示器、分選接口的對應(yīng)信號端相連,輸出被測元件的對應(yīng)電參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCR測試儀,其特征是所述的第一DDS信號源輸出信號的頻率范圍是20Hz 5MHz,分辨率0. OlHz0
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCR測試儀,其特征是所述的測量信號發(fā)生器的信號輸出端依次串接濾波器、功率放大器后通過源電阻連接輸入電路,驅(qū)動被測元件。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCR測試儀,其特征是所述的被測元件通過輸入電路與一組四端對結(jié)構(gòu)相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCR測試儀,其特征是所述的ARM處理器與存儲器單元、通訊接口、鍵盤的對應(yīng)信號端相連。
專利摘要一種LCR測試儀,它包括基準(zhǔn)時鐘、與基準(zhǔn)時鐘相連的三個DDS信號源、測量信號發(fā)生器、源電阻、連接被測元件的輸入電路、自動平衡電橋、兩濾波器、兩混頻器、兩A/D轉(zhuǎn)換器和ARM處理器,測試信號通過源電阻去驅(qū)動被測元件,被測元件通過輸入電路與一組四端對結(jié)構(gòu)相連,自動平衡電橋使Lp端始終虛地,形成兩路矢量電壓。被測的兩路矢量電壓經(jīng)分別濾波、混頻后一起送入兩A/D轉(zhuǎn)換器,輸出至ARM,ARM處理器輸出對應(yīng)電參數(shù)進(jìn)行顯示或分選。本實用新型的LCR測試儀是頻率達(dá)到上MHz、信號電平步進(jìn)達(dá)到1mV的LCR測試儀,有助于了解元器件在實際工作條件下的真實性能,提高產(chǎn)品的性能與可靠性。
文檔編號G01R27/08GK202330600SQ20112049430
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月2日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月2日
發(fā)明者丁楊, 沈小鋒 申請人:常州中策儀器有限公司
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