專利名稱：一種四腳共面測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及ー種用于電子元件制造領(lǐng)域的四腳共面測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
目前普遍使用的電子元件上都有四個(gè)引腳，ー個(gè)合格的電子元件，這四個(gè)引腳應(yīng)該是共面的，即所謂的四腳共面。目前的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，這四個(gè)引腳的平面誤差在0. Imm之內(nèi)，即判定這個(gè)電子元件是四腳共面的，只有這樣這個(gè)電子元件才是合格的。目前采用的四腳共面的測(cè)試方法為采用投影方式，將電子元件引腳使用光學(xué)比較儀等設(shè)備投影至屏幕上放大測(cè)量，對(duì)四腳共面性進(jìn)行判斷。效率低下，而且人為操作失誤造成的誤判率較高，造成四腳共面測(cè)試準(zhǔn)確率下降。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種四腳共面測(cè)試裝置，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，判斷四腳共面效率和準(zhǔn)確率都高實(shí)現(xiàn)上述目的的一種技術(shù)方案是一種四腳共面測(cè)試裝置，包括電源和并聯(lián)電路，所述并聯(lián)電路的一個(gè)并聯(lián)節(jié)點(diǎn)設(shè)置進(jìn)行四腳共面測(cè)試的四眼插座。進(jìn)ー步的，所述并聯(lián)電路的兩個(gè)支路上分別設(shè)置第一電阻和第二電阻。進(jìn)ー步的，所述電源為直流電源。再進(jìn)ー步的，所述并聯(lián)電路的兩個(gè)支路上分別設(shè)置第一整流器和第二整流器。更進(jìn)一歩的，所述第一整流器和所述第二整流器是整流ニ極管。采用了本實(shí)用新型的一種四腳共面測(cè)試裝置的技術(shù)方案，即在所述測(cè)試裝置包括電源和并聯(lián)電路，所述并聯(lián)電路的一個(gè)并聯(lián)節(jié)點(diǎn)設(shè)置進(jìn)行四腳共面測(cè)試的四眼插座的技術(shù)方案，其技術(shù)效果是可以提高電子元器件制造領(lǐng)域四腳共面測(cè)試的效率和準(zhǔn)確率。

圖I為本實(shí)用新型的一種四腳共面測(cè)試裝置的電路示意圖。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖I和圖2，為了能更好地對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行理解，下面通過(guò)具體地實(shí)施例，并結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)地說(shuō)明本實(shí)用新型的一種四腳共面測(cè)試裝置，包括電源I和并聯(lián)電路2，所述并聯(lián)電路2的一個(gè)并聯(lián)節(jié)點(diǎn)設(shè)置進(jìn)行四腳共面測(cè)試的四眼插座3。當(dāng)電子元件的四個(gè)引腳四腳共面時(shí)，電子元件的四個(gè)引腳均勻插接在四眼插座的四個(gè)插孔上，所述并聯(lián)電路導(dǎo)通，當(dāng)電子元件的四個(gè)引腳不是四腳共面時(shí)，電子元件的四個(gè)引腳無(wú)法均勻插接在所述四眼插座的四個(gè)插孔上，所述并聯(lián)電路無(wú)法導(dǎo)通。因此依據(jù)電路的通斷，就可以判斷電子元件的四個(gè)引腳是否是四腳共面的。比起傳統(tǒng)方法來(lái)說(shuō)，四腳共面測(cè)試效率和準(zhǔn)確率更高。為了保護(hù)所測(cè)試的電子元件不會(huì)因?yàn)殡娐范搪范粨舸?，因此所述并?lián)電路2的兩個(gè)支路上分別設(shè)置第一電阻21和第二電阻22。當(dāng)然第一電阻21和第二電阻22也可用燈泡替代，這樣觀察并聯(lián)電路的導(dǎo)通和斷路更為直觀，效率也更高。為了進(jìn)ー步提高所述測(cè)試裝置使用的方便性，所述電源I采用的是直流電源，所述并聯(lián)電路的兩個(gè)支路上分別設(shè)置第一整流器23和第二整流器24，所述第一整流器23和第二整流器24所選用的是整流ニ極管或者IGBT管。本技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，以上的實(shí)施例僅是用來(lái)說(shuō)明本實(shí)用新型，而并非用作為對(duì)本實(shí)用新型的限定，只要在本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)精神范圍內(nèi)，對(duì)以上所述實(shí)施例的變化、變型都將落在本實(shí)用新型的權(quán)利要求書范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種四腳共面測(cè)試裝置，其特征在干所述測(cè)試裝置包括電源(I)和并聯(lián)電路(2)，所述并聯(lián)電路(2)的一個(gè)并聯(lián)節(jié)點(diǎn)設(shè)置進(jìn)行四腳共面測(cè)試的四眼插座(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的四腳共面測(cè)試裝置，其特征在于所述并聯(lián)電路(2)的兩個(gè)支路上分別設(shè)置第一電阻(21)和第二電阻(22)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的測(cè)試裝置，其特征在于所述電源(I)為直流電源。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的四腳共面測(cè)試裝置，其特征在干所述并聯(lián)電路(2)的兩個(gè)支路上分別設(shè)置第一整流器(23)和第二整流器(24)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的四腳共面測(cè)試裝置，其特征在于所述第一整流器(23)和所述第二整流器(24)是整流ニ極管。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種用于電子元器件制造領(lǐng)域的四腳共面測(cè)試裝置，包括電源和并聯(lián)電路，所述并聯(lián)電路的一個(gè)并聯(lián)節(jié)點(diǎn)設(shè)置進(jìn)行四腳共面測(cè)試的四眼插座。當(dāng)電子元件的四個(gè)引腳四腳共面時(shí)，電子元件的四個(gè)引腳均勻插接在所述四眼插座的四個(gè)插孔上，所述并聯(lián)電路導(dǎo)通，當(dāng)電子元件的四個(gè)引腳不是四腳共面時(shí)，電子元件的四個(gè)引腳無(wú)法均勻插接在所述四眼插座的四個(gè)插孔上，所述并聯(lián)電路無(wú)法導(dǎo)通。其技術(shù)效果是可以提高電子元器件制造領(lǐng)域四腳共面測(cè)試的效率和準(zhǔn)確率。
文檔編號(hào)G01B7/34GK202393347SQ20112049062
公開日2012年8月22日 申請(qǐng)日期2011年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月30日
發(fā)明者吳奕峰, 周華, 沈京京, 胡龍生, 許震歡, 魯志豪 申請(qǐng)人:上海市電力公司