專利名稱:一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭的制作方法
技術領域:
一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭技術領域[0001]本實用新型涉及中厚鋼板在線自動或手動超聲波探傷領域,特別涉及一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭。
背景技術:
[0002]對于中厚鋼板的超聲波探傷,現有多晶片嵌入式一發(fā)多收超聲探頭,該探頭的接收晶片為多個分體的接收晶片并列緊靠設置,該探頭可實現一發(fā)多收,但探頭的耦合工作面較大,影響耦合穩(wěn)定性且接收晶片之間有間隔距離,易形成掃查盲區(qū),造成漏檢,而且各個探頭間靈敏度余量等技術指標不均衡。同時鋼板在線自動探傷系統(tǒng)具有60 120個通道,如采用上述探頭,靈敏度校準工作將非常復雜繁瑣,設備標定校準需耗費大量生產時間,影響中厚板廠的生產作業(yè)率和經濟效益。發(fā)明內容[0003]本實用新型的目的是提供一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,該裝置能夠實現中厚鋼板的超聲波探傷信號的連續(xù)式一發(fā)三收,有效防止漏報,并且靈敏度余量技術指標均衡,提高了校準工作效率,進而節(jié)省了調試時間。[0004]為實現上述目的,本實用新型通過以下技術方案實現[0005]一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,包括發(fā)射晶片、隔聲層、接收晶片、延遲塊、三通道超聲信號插頭,所述的隔聲層兩側對稱設有延遲塊,兩個延遲塊上分別設有發(fā)射晶片和接收晶片,發(fā)射晶片與接收晶片均為規(guī)格相同的長方體形狀,且均為基體外鍍有極化層的結構,所述的發(fā)射晶片表面極化層為均勻連續(xù),所述的接收晶片上表面的極化層為三個均勻的區(qū)域,三通道超聲信號插頭設有一個發(fā)射接頭和三個接收接頭,發(fā)射晶片的上表面的極化層通過探傷信號電纜與發(fā)射接頭連接,接收晶片上表面極化層的三個區(qū)域分別通過探傷信號電纜與三個接收接頭連接。[0006]所述的發(fā)射晶片與接收晶片上表面與水平面的夾角為α,α的范圍為2° 10°。[0007]所述的發(fā)射晶片與接收晶片的頻率范圍均為2. 5 5. 0ΜΗΖ。[0008]所述的發(fā)射晶片與接收晶片的寬度范圍為2 5mm ;長度范圍為40 60mm ;厚度范圍為0. 3 1. 0mm。[0009]所述的發(fā)射晶片、隔聲層、接收晶片、延遲塊均設置在外殼中,且外殼上設有端蓋。[0010]與現有技術相比,本實用新型的有益效果是1)接收晶片基體為一整體,無間隙, 實現超聲掃查區(qū)域全覆蓋,防止漏報發(fā)生;幻各通道間靈敏度余量、信噪比、分辨力均衡一致;3)大幅度節(jié)省在線中厚板超聲探傷機校準和調試時間。
[0011]圖1是本實用新型的結構示意圖。[0012]圖2是本實用新型發(fā)射晶片的截面圖。[0013]圖3是本實用新型接收晶片的截面圖。[0014]圖4是本實用新型發(fā)射晶片表面示意圖。[0015]圖5是本實用新型接收晶片表面示意圖。[0016]圖中1-外殼 2-端蓋 3-發(fā)射晶片 4-隔聲層 5-接收晶片 6_延遲塊 7-探傷信號電纜8-三通道超聲信號插頭9-發(fā)射接頭10-接收接頭3-1-發(fā)射晶片基體3-2-發(fā)射晶片極化層5-1-接收晶片基體5-2-接收晶片極化層具體實施方式
[0017]
以下結合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進一步詳細描述。[0018]見圖1 圖5,一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,包括發(fā)射晶片3、隔聲層4、接收晶片5、延遲塊6、三通道超聲信號插頭8,隔聲層4兩側對稱設有延遲塊6,兩個延遲塊6上分別設有發(fā)射晶片3和接收晶片5,發(fā)射晶片3與接收晶片5均為規(guī)格相同的長方體形狀,發(fā)射晶片3為發(fā)射晶片基體3-1外鍍有發(fā)射晶片極化層3-2的結構,接收晶片5為接收晶片基體5-1外鍍有接收晶片極化層5-2的結構,發(fā)射晶片3表面的發(fā)射晶片極化層3-2 是均勻連續(xù)的,接收晶片5上表面的接收晶片極化層5-2分為三個均勻的區(qū)域,三通道超聲信號插頭8設有一個發(fā)射接頭9和三個接收接頭10,發(fā)射晶片3的發(fā)射晶片極化層3-2通過探傷信號電纜7與發(fā)射接頭9連接,接收晶片5的接收晶片極化層5-2上表面的三個區(qū)域分別通過探傷信號電纜7與三個接收接頭10連接,發(fā)射晶片3與接收晶片5上表面與水平面的夾角為α,α的范圍為2° 10°,發(fā)射晶片3與接收晶片5的頻率范圍均為2. 5 5.0ΜΗΖ。發(fā)射晶片3與接收晶片5的寬度范圍為2 5mm ;長度范圍為40 60mm ;厚度范圍為0. 3 1. Omm,所述的發(fā)射晶片3、隔聲層4、接收晶片5、延遲塊6均設置在外殼1中, 且外殼1上設有端蓋2。
權利要求1.一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,其特征在于,包括發(fā)射晶片、隔聲層、接收晶片、延遲塊、三通道超聲信號插頭,所述的隔聲層兩側對稱設有延遲塊,兩個延遲塊上分別設有發(fā)射晶片和接收晶片,發(fā)射晶片與接收晶片均為規(guī)格相同的長方體形狀,且均為基體外鍍有極化層的結構,所述的發(fā)射晶片表面極化層為均勻連續(xù),所述的接收晶片上表面的極化層為三個均勻的區(qū)域,三通道超聲信號插頭設有一個發(fā)射接頭和三個接收接頭, 發(fā)射晶片的上表面的極化層通過探傷信號電纜與發(fā)射接頭連接,接收晶片上表面極化層的三個區(qū)域分別通過探傷信號電纜與三個接收接頭連接。
2.根據權利要求1所述的一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,其特征在于,所述的發(fā)射晶片與接收晶片上表面與水平面的夾角為α,α的范圍為2° 10°。
3.根據權利要求1所述的一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,其特征在于,所述的發(fā)射晶片與接收晶片的頻率范圍均為2. 5 5. 0ΜΗΖ。
4.根據權利要求1所述的一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,其特征在于, 所述的發(fā)射晶片與接收晶片的寬度范圍為2 5mm ;長度范圍為40 60mm ;厚度范圍為 0. 3 1. Omm0
5.根據權利要求1所述的一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,其特征在于,所述的發(fā)射晶片、隔聲層、接收晶片、延遲塊均設置在外殼中,且外殼上設有端蓋。
專利摘要本實用新型涉及一種連續(xù)式一發(fā)三收的中厚鋼板超聲探頭,包括發(fā)射晶片、隔聲層、接收晶片、延遲塊、三通道超聲信號插頭,隔聲層兩側對稱設有延遲塊,兩個延遲塊上分別設有發(fā)射晶片和接收晶片,發(fā)射晶片表面極化層為均勻連續(xù),接收晶片上表面的極化層為三個均勻的區(qū)域,三通道超聲信號插頭設有一個發(fā)射接頭和三個接收接頭,發(fā)射晶片的上表面的極化層通過探傷信號電纜與發(fā)射接頭連接,接收晶片上表面極化層的三個區(qū)域分別通過探傷信號電纜與三個接收接頭連接。與現有技術相比,本實用新型的優(yōu)點是接收晶片基體為一整體,防止漏報發(fā)生,各通道間靈敏度余量、信噪比、分辨力均衡一致,大幅度節(jié)省在線中厚板超聲探傷機校準和調試時間。
文檔編號G01N29/24GK202256269SQ20112038987
公開日2012年5月30日 申請日期2011年10月13日 優(yōu)先權日2011年10月13日
發(fā)明者李宏宇, 馬銘萱 申請人:李宏宇