專利名稱：一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種監(jiān)測(cè)裝置，尤其涉及一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
當(dāng)前SNAP-IN (端子引出式)鋁電解電容器老化問(wèn)題受到了普遍的重視，傳統(tǒng)的充電插板是將電解電容器正負(fù)極直接接入充電電源，或每組(每只)電容器并聯(lián)一個(gè)保護(hù)電阻接入充電電源，這樣對(duì)老化過(guò)程中出現(xiàn)充電不足或者短路的現(xiàn)象的產(chǎn)品，不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)并了解產(chǎn)品實(shí)際狀況，尤其對(duì)尺寸比較大如直徑35mm以上產(chǎn)品，因老化造成產(chǎn)品損失會(huì)比較大。因此從提高老化合格率、減少傳統(tǒng)老化引起的老化不良等方面都需要對(duì)SANP-IN鋁電解電容器老化工藝提出能自動(dòng)監(jiān)測(cè)老化過(guò)程的新型裝置。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型解決的技術(shù)問(wèn)題是構(gòu)建一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，克服現(xiàn)有技術(shù)不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)電解電容器老化狀況的技術(shù)問(wèn)題。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是構(gòu)建一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，包括色環(huán)電阻 R1、熱敏電阻R2、電流檢測(cè)單元I，所述色環(huán)電阻R1、熱敏電阻R2與預(yù)檢測(cè)電解電容C串聯(lián)， 所述色環(huán)電阻Rl —端接電源的一極，另一端接所述熱敏電阻R2，所述熱敏電阻R2另一端接所述預(yù)檢測(cè)電解電容C，所述預(yù)檢測(cè)電解電容C另一端接電源的另一極，所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流，通過(guò)所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)的結(jié)果來(lái)判斷所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的是否老化。本實(shí)用新型的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述電流檢測(cè)單元I為發(fā)光二極管VD。本實(shí)用新型的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置包括監(jiān)測(cè)兩只鋁電解電容的兩路監(jiān)測(cè)電路，一路監(jiān)測(cè)電路的電解電容C與另一路監(jiān)測(cè)電路的所述色環(huán)電阻Rl 并聯(lián)后接電源的一極，所述兩路監(jiān)測(cè)電路構(gòu)建一組監(jiān)測(cè)電路。本實(shí)用新型的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置包括多組監(jiān)測(cè)電路，所述多路監(jiān)測(cè)電路并聯(lián)。本實(shí)用新型的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述色環(huán)電阻Rl為碳膜電阻。本實(shí)用新型的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述色環(huán)電阻Rl的阻值為1 ΚΩ至3ΚΩ。本實(shí)用新型的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述熱敏電阻R2的阻值為100Ω-1 ΚΩ。本實(shí)用新型的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述熱敏電阻R2的過(guò)流保護(hù)點(diǎn)為200mA。本實(shí)用新型的技術(shù)效果是構(gòu)建一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，所述色環(huán)電阻 R1、熱敏電阻R2與預(yù)檢測(cè)電解電容C串聯(lián)，所述色環(huán)電阻Rl —端接電源的一極，另一端接所述熱敏電阻R2，所述熱敏電阻R2另一端接所述預(yù)檢測(cè)電解電容C，所述預(yù)檢測(cè)電解電容 C另一端接電源的另一極，所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流，通過(guò)所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)的結(jié)果來(lái)判斷所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的老化情況。本實(shí)用新型一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，在電解電容器老化過(guò)程中出現(xiàn)不良時(shí)，能夠通過(guò)此裝置及時(shí)可視化反映產(chǎn)品的實(shí)際狀況，并及時(shí)解決問(wèn)題，同時(shí)也避免了對(duì)其他產(chǎn)品的影響。
圖1為本實(shí)用新型的電路原理圖。圖2為本實(shí)用新型的兩路監(jiān)測(cè)電路圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案進(jìn)一步說(shuō)明。如圖1所示，本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
是構(gòu)建一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置， 包括色環(huán)電阻R1、熱敏電阻R2、電流檢測(cè)單元I，所述色環(huán)電阻R1、熱敏電阻R2與預(yù)檢測(cè)電解電容C串聯(lián)，所述色環(huán)電阻Rl —端接電源的一極，另一端接所述熱敏電阻R2，所述熱敏電阻R2另一端接所述預(yù)檢測(cè)電解電容C，所述預(yù)檢測(cè)電解電容C另一端接電源的另一極，所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流，通過(guò)所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)的結(jié)果來(lái)判斷所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的老化情況。如圖1所示，本實(shí)用新型的具體實(shí)施過(guò)程是本實(shí)用新型一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，該電路是由一個(gè)熱敏電阻R2和一個(gè)色環(huán)電阻Rl及所述預(yù)檢測(cè)電解電容C串聯(lián)， 所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流大小，通過(guò)所述電流檢測(cè)單元 I檢測(cè)的結(jié)果來(lái)判斷所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的老化情況。由于鋁電解電容器是先恒流老化再恒壓老化。當(dāng)電容器開(kāi)始充電時(shí)，電流經(jīng)過(guò)Rl、R2和所述預(yù)檢測(cè)電解電容C。在老化過(guò)程中，流過(guò)每一組電容的電流基本穩(wěn)定時(shí)，所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流等于電解電容C的老化電流。當(dāng)電容器與插板接觸不良充電不足時(shí)，此時(shí)流過(guò)的電流很小或是沒(méi)有電流流過(guò)。當(dāng)電容器短路時(shí)，電容器瞬間放電，相當(dāng)于瞬間短路，經(jīng)過(guò)熱敏電阻R2的電流瞬間達(dá)到它的保護(hù)電流，熱敏電阻開(kāi)路保護(hù)，本組電路與老化電路斷開(kāi)，避免大電流沖擊對(duì)其它組電容造成破壞。如圖2所示，本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式是所述電流檢測(cè)單元I為發(fā)光二極管 VD。鋁電解電容器是先恒流老化再恒壓老化。當(dāng)電容器開(kāi)始充電時(shí)，電流經(jīng)過(guò)R1、R2和發(fā)光二極管。在老化過(guò)程中，流過(guò)每一組電容的電流基本穩(wěn)定時(shí)，通過(guò)發(fā)光二極管的電流接近它的額定電流時(shí)從而正常發(fā)光。當(dāng)電容器與插板接觸不良充電不足時(shí)，此時(shí)流過(guò)的電流很小或是沒(méi)有電流流過(guò)發(fā)光二極管，此時(shí)發(fā)光二極管不發(fā)光。當(dāng)電容器短路時(shí)，電容器瞬間放電，相當(dāng)于瞬間短路，經(jīng)過(guò)熱敏電阻的電流瞬間達(dá)到它的保護(hù)電流，熱敏電阻開(kāi)路保護(hù)，發(fā)光二級(jí)管因開(kāi)路也不發(fā)光。本實(shí)用新型具體實(shí)施例中，所述色環(huán)電阻Rl為碳膜電阻，所述色環(huán)電阻Rl的阻值為1 ΚΩ至3ΚΩ，所述熱敏電阻R2的阻值為100Ω-1 ΚΩ，所述熱敏電阻R2的過(guò)流保護(hù)點(diǎn)為200mA。如圖2所示，本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式是所述電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置包括監(jiān)測(cè)兩只鋁電解電容的兩路監(jiān)測(cè)電路，一路監(jiān)測(cè)電路的電解電容C與另一路監(jiān)測(cè)電路的所述色環(huán)電阻Rl并聯(lián)后接電源的一極，所述兩路監(jiān)測(cè)電路構(gòu)建一組監(jiān)測(cè)電路。所述鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置包括多組監(jiān)測(cè)電路，所述多路監(jiān)測(cè)電路并聯(lián)。具體實(shí)施過(guò)程中，當(dāng)電容器與插板接觸不良充電不足時(shí)，此時(shí)流過(guò)的電流很小或是沒(méi)有電流流過(guò)發(fā)光二極管，此時(shí)發(fā)光二極管不發(fā)光。當(dāng)電容器短路時(shí)，電容器瞬間放電，相當(dāng)于瞬間短路，經(jīng)過(guò)熱敏電阻的電流瞬間達(dá)到它的保護(hù)電流，熱敏電阻開(kāi)路保護(hù)，使得本組電路與其他老化組斷開(kāi)，從而避免因電容器瞬間大電流放電對(duì)其他電容造成破壞作用，發(fā)光二級(jí)管因開(kāi)路也不發(fā)光。本實(shí)用新型的技術(shù)效果是構(gòu)建一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，所述色環(huán)電阻 R1、熱敏電阻R2與預(yù)檢測(cè)電解電容C串聯(lián)，所述色環(huán)電阻Rl —端接電源的一極，另一端接所述熱敏電阻R2，所述熱敏電阻R2另一端接所述預(yù)檢測(cè)電解電容C，所述預(yù)檢測(cè)電解電容 C另一端接電源的另一極，所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流，通過(guò)所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)的結(jié)果來(lái)判斷所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的老化情況。本實(shí)用新型一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，在電解電容器老化過(guò)程中出現(xiàn)不良時(shí)，能夠通過(guò)此裝置及時(shí)可視化反映產(chǎn)品的實(shí)際狀況，并及時(shí)解決問(wèn)題，同時(shí)也避免了對(duì)其他產(chǎn)品的影響。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施只局限于這些說(shuō)明。對(duì)于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，包括色環(huán)電阻R1、熱敏電阻R2、電流檢測(cè)單元I，所述色環(huán)電阻Rl、熱敏電阻R2與預(yù)檢測(cè)電解電容C串聯(lián)，所述色環(huán)電阻Rl —端接電源的一極，另一端接所述熱敏電阻R2，所述熱敏電阻R2另一端接所述預(yù)檢測(cè)電解電容 C，所述預(yù)檢測(cè)電解電容C另一端接電源的另一極，所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流，通過(guò)所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)的結(jié)果來(lái)判斷所述預(yù)檢測(cè)電解電容C 的是否老化。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述電流檢測(cè)單元I 為發(fā)光二極管VD。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置包括監(jiān)測(cè)兩只鋁電解電容的兩路監(jiān)測(cè)電路，一路監(jiān)測(cè)電路的電解電容C與另一路監(jiān)測(cè)電路的所述色環(huán)電阻Rl并聯(lián)后接電源的一極，所述兩路監(jiān)測(cè)電路構(gòu)建一組監(jiān)測(cè)電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置包括多組監(jiān)測(cè)電路，所述多路監(jiān)測(cè)電路并聯(lián)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述色環(huán)電阻Rl為碳膜電阻。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述色環(huán)電阻Rl的阻值為1 K Ω至3K Ω。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述熱敏電阻R2的阻值為100 Ω-1 ΚΩ。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述熱敏電阻R2的過(guò)流保護(hù)點(diǎn)為200mA。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，所述色環(huán)電阻R1、熱敏電阻R2與預(yù)檢測(cè)電解電容C串聯(lián)，所述色環(huán)電阻R1一端接電源的一極，另一端接所述熱敏電阻R2，所述熱敏電阻R2另一端接所述預(yù)檢測(cè)電解電容C，所述預(yù)檢測(cè)電解電容C另一端接電源的另一極，所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)流過(guò)所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的電流，通過(guò)所述電流檢測(cè)單元I檢測(cè)的結(jié)果來(lái)判斷所述預(yù)檢測(cè)電解電容C的老化情況。本實(shí)用新型一種鋁電解電容老化監(jiān)測(cè)裝置，在電解電容器老化過(guò)程中出現(xiàn)不良時(shí)，能夠通過(guò)此裝置及時(shí)可視化反映產(chǎn)品的實(shí)際狀況，并及時(shí)解決問(wèn)題，同時(shí)也避免了對(duì)其他產(chǎn)品的影響。
文檔編號(hào)G01R31/00GK202256529SQ20112036003
公開(kāi)日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2011年9月23日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月23日
發(fā)明者馮世敏, 張?jiān)品? 田毅, 郭凱迪, 陳偉 申請(qǐng)人:深圳市尼康繼峰電子有限公司