專(zhuān)利名稱(chēng)：一種基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及輻射成像安全檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
入射電子與樣品接觸時(shí)，其中一部分幾乎不損失能量地在樣品表面被彈性散射回來(lái)，這部分電子被稱(chēng)為背散射電子(Backscattered Electron)。背散射電子的產(chǎn)額隨樣品的原子序數(shù)的增大而增加，因此成像可以反應(yīng)樣品的元素分布，及不同相成分區(qū)域的輪廓。美國(guó)科技工程公司在專(zhuān)利ZL03801115. 8中提供了一種用于檢查物體的檢查系統(tǒng)，例如，被檢人員，也可以為任何類(lèi)型的貨物或車(chē)輛，檢查系統(tǒng)具有封閉的運(yùn)輸工具，例如以封閉車(chē)體為特征的廂式貨車(chē)或其它車(chē)輛，而且，該系統(tǒng)具有整個(gè)容納于運(yùn)輸工具車(chē)體中的貫穿輻射源，用于產(chǎn)生貫穿輻射，還具有空間調(diào)制器，用于使貫穿輻射形成線(xiàn)束，以根據(jù)隨時(shí)間改變的掃描輪廓照射該物體，探測(cè)器模塊也完成地包含于運(yùn)輸工具的主體中，被設(shè)置為用于收集被被測(cè)物體散射回來(lái)的散射信號(hào)，同時(shí)，相對(duì)運(yùn)動(dòng)傳感器根據(jù)運(yùn)輸工具與被檢查物體的相對(duì)位移而產(chǎn)生相對(duì)運(yùn)動(dòng)信號(hào)，最后，該系統(tǒng)具有控制器，用于確保散射輻射的指定特性。另外，可以提供圖像生成器，以用于部分地根據(jù)散射信號(hào)和相對(duì)運(yùn)動(dòng)信號(hào)而將信號(hào)形成物體容納物的圖像。圖1所示為上述移動(dòng)式χ射線(xiàn)反向散射檢查車(chē)的結(jié)構(gòu)示意圖，移動(dòng)檢查車(chē)保持勻速直線(xiàn)行駛，X射線(xiàn)源30發(fā)射的線(xiàn)束經(jīng)過(guò)飛輪34形成筆形束，落在被測(cè)物體上，形成飛點(diǎn)， 位于運(yùn)輸工具內(nèi)的散射探測(cè)器100收集任一時(shí)刻飛點(diǎn)的X射線(xiàn)背散射射線(xiàn)，經(jīng)處理并得到整個(gè)被檢物品的物質(zhì)信息。上述移動(dòng)式χ射線(xiàn)反向散射檢查車(chē)的探測(cè)器模塊設(shè)置于運(yùn)輸工具中，在安裝該模塊或者對(duì)該模塊進(jìn)行維修時(shí)，這種內(nèi)置式的結(jié)構(gòu)設(shè)置給操作帶來(lái)不便。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過(guò)改變探測(cè)器模塊設(shè)置的位置，由內(nèi)置于運(yùn)輸工具改變?yōu)楣探釉谶\(yùn)輸工具外側(cè)，解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)探測(cè)器模塊安裝或維修不便的問(wèn)題。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提出了一種基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，包括運(yùn)輸工具；貫穿輻射源，所述貫穿輻射源設(shè)置于所述運(yùn)輸工具內(nèi)；處理器，用于進(jìn)行成像處理；散射探測(cè)器，所述散射探測(cè)器與所述處理器電連接，所述散射探測(cè)器用于吸收從被測(cè)物體散射的射線(xiàn)信號(hào)，并將所述射線(xiàn)信號(hào)發(fā)送至所述處理器進(jìn)行處理；空間調(diào)制器， 用于控制所述貫穿輻射源的射線(xiàn)輪廓；所述散射探測(cè)器位于所述運(yùn)輸工具的外側(cè)。上述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，所述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)還包括一透射探測(cè)器，所述透射探測(cè)器與所述處理器電連接，所述透射探測(cè)器用于吸收未由被測(cè)物體阻擋的射線(xiàn)，并形成電信號(hào)發(fā)送至所述處理器進(jìn)行處理。[0009]上述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，所述空間調(diào)制器位于所述貫穿輻射源和所述被測(cè)物體之間，所述空間調(diào)制器包括一準(zhǔn)直器、一位于所述準(zhǔn)直器和所述貫穿輻射源之間的飛輪。上述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，所述貫穿輻射源為χ射線(xiàn)源。上述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，所述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)還包括一顯示器，所述顯示器與所述處理器相連。相對(duì)于現(xiàn)有的移動(dòng)式χ射線(xiàn)反向散射檢查車(chē)，本實(shí)用新型改變了散射探測(cè)器的位置，將散射探測(cè)器由內(nèi)置于運(yùn)輸工具中變?yōu)樵O(shè)置在運(yùn)輸工具的外側(cè)，當(dāng)安裝散射探測(cè)器或者對(duì)散射探測(cè)器進(jìn)行維修時(shí)，便于工人操作。

通過(guò)
以下結(jié)合附圖對(duì)其示例性實(shí)施例進(jìn)行的描述，本實(shí)用新型上述特征和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更加清楚和容易理解。圖1是現(xiàn)有的一種移動(dòng)式χ射線(xiàn)反向散射檢查車(chē)示意圖；圖2是本實(shí)用新型基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)的俯視圖；圖3是本實(shí)用新型一優(yōu)選實(shí)施例的示意圖；圖4是本實(shí)用新型另一優(yōu)選實(shí)施例的示意圖。附圖符號(hào)說(shuō)明1-被測(cè)物體， 2-散射探測(cè)器， 3-準(zhǔn)直器，4-運(yùn)輸工具， 5-飛輪，6-貫穿輻射源，7-透射探測(cè)器。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。請(qǐng)參考圖2，圖2是本實(shí)用新型基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)的俯視圖。 一種基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，包括運(yùn)輸工具4，所述運(yùn)輸工具4可以是全封閉的，也可以是半封閉的；貫穿輻射源6，所述貫穿輻射源6設(shè)置于所述運(yùn)輸工具4內(nèi)，優(yōu)選的，貫穿輻射源為χ射線(xiàn)源；處理器(圖中未視出)，用于進(jìn)行成像處理；散射探測(cè)器2，所述散射探測(cè)器2與所述處理器電連接，所述散射探測(cè)器2用于吸收從被測(cè)物體1散射的射線(xiàn)信號(hào)，并將所述射線(xiàn)信號(hào)發(fā)送至所述處理器進(jìn)行處理；空間調(diào)制器，用于控制所述貫穿輻射源的射線(xiàn)輪廓；所述散射探測(cè)器2位于所述運(yùn)輸工具的外側(cè)。空間調(diào)制器位于所述貫穿輻射源6和所述被測(cè)物體1之間，所述空間調(diào)制器包括一準(zhǔn)直器3、一位于所述準(zhǔn)直器3和所述貫穿輻射源6之間的飛輪5。進(jìn)一步地，基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)還包括一透射探測(cè)器7，所述透射探測(cè)器7與所述處理器電連接，所述透射探測(cè)器7用于吸收未由被測(cè)物體1阻擋的射線(xiàn)， 并形成電信號(hào)發(fā)送至所述處理器進(jìn)行處理。更進(jìn)一步地，基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)還包括一顯示器，所述顯示器與所述處理器相連。下面通過(guò)兩個(gè)實(shí)施例詳細(xì)描述本實(shí)用新型基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)。實(shí)施例一該實(shí)施例中，基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)只根據(jù)散射探測(cè)器的信號(hào)進(jìn)行成像處理。請(qǐng)參考圖3，圖3是本實(shí)用新型一優(yōu)選實(shí)施例的示意圖?；诒成⑸涑上竦耐鈷焓揭苿?dòng)檢查系統(tǒng)包括運(yùn)輸工具4，該運(yùn)輸工具是半全封閉的，本實(shí)施例中的運(yùn)輸工具4并不局限于某種類(lèi)型的車(chē)，可以是卡車(chē)、箱式貨車(chē)或其他類(lèi)型的車(chē)輛，運(yùn)輸工具4用于放置貫穿輻射源6以及其他裝置。貫穿輻射源6，位于所述運(yùn)輸工具4內(nèi)，貫穿輻射源6的用于形成射線(xiàn)，優(yōu)選的，所述貫穿輻射源6為χ射線(xiàn)源，例如，貫穿輻射源6可以為一 X射線(xiàn)管，選用何種類(lèi)型的射線(xiàn)源，取決于實(shí)際應(yīng)用中貫穿輻射源所需的能量。散射探測(cè)器2，位于所述運(yùn)輸工具4的外側(cè)，將散射探測(cè)其2置于運(yùn)輸工具4的外側(cè)便于前期安裝以及后期維護(hù)，散射探測(cè)器2用于吸收從被測(cè)物體散射來(lái)的射線(xiàn)的信號(hào)， 將所收集的信號(hào)傳給處理器，綜合處理?？臻g調(diào)制器，位于所述貫穿輻射源6和所述被測(cè)物體1之間，空間調(diào)制器用于控制貫穿輻射源6所射出的射線(xiàn)，使其形成一種可以隨時(shí)間改變的掃描輪廓。優(yōu)選的，空間調(diào)制器包括一準(zhǔn)直器3和一飛輪5，飛輪5位于所述準(zhǔn)直器3和所述貫穿輻射源6之間。飛輪5 由可以阻擋射線(xiàn)的材料制成，如可由貧化鈾或者鎢等制成。飛輪5上有曲面槽，當(dāng)射線(xiàn)照射到飛輪5上，只有經(jīng)過(guò)曲面槽的射線(xiàn)可以穿越飛輪5，其余射線(xiàn)都被飛輪5所阻擋，準(zhǔn)直器3 也是由可以阻擋射線(xiàn)的材料制成，準(zhǔn)直器上設(shè)有細(xì)縫，當(dāng)射線(xiàn)照射到準(zhǔn)直器3上，只有經(jīng)過(guò)細(xì)縫的射線(xiàn)可以穿越準(zhǔn)直器3，其余射線(xiàn)都被準(zhǔn)直器3所阻擋。處理器(圖中未視出)，和所述散射探測(cè)器2相連，接受散射探測(cè)器2傳遞來(lái)的信號(hào)，分析被檢物內(nèi)部物質(zhì)。顯示器(圖中未示出)，所述顯示器與所述處理器相連，用于成像顯示。實(shí)施例二在該實(shí)施例中，基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)綜合散射探測(cè)器和透射探測(cè)器的信號(hào)進(jìn)行成像處理。請(qǐng)參考圖4，圖4是本實(shí)施例的示意圖。基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)包括運(yùn)輸工具4，該運(yùn)輸工具4是全封閉的，本實(shí)施例中的運(yùn)輸工具4并不局限于某種類(lèi)型的車(chē)，可以是卡車(chē)、箱式貨車(chē)或其他類(lèi)型的車(chē)輛，運(yùn)輸工具4用于放置貫穿輻射源6以及其他裝置。貫穿輻射源6，位于所述運(yùn)輸工具4內(nèi)，貫穿輻射源6的用于形成射線(xiàn)，優(yōu)選的，所述貫穿輻射源6為χ射線(xiàn)源，例如，貫穿輻射源6可以為一 X射線(xiàn)管，選用何種類(lèi)型的射線(xiàn)源，取決于實(shí)際應(yīng)用中貫穿輻射源所需的能量。散射探測(cè)器2，位于所述運(yùn)輸工具4的外側(cè)，將散射探測(cè)其2置于運(yùn)輸工具4的外側(cè)便于前期安裝以及后期維護(hù)，散射探測(cè)器2用于吸收從被測(cè)物體散射來(lái)的射線(xiàn)的信號(hào)， 將所收集的信號(hào)傳給處理器，綜合處理?？臻g調(diào)制器，位于所述貫穿輻射源6和所述被測(cè)物體1之間，空間調(diào)制器用于控制貫穿輻射源6所射出的射線(xiàn)，使其形成一種可以隨時(shí)間改變的掃描輪廓。優(yōu)選的，空間調(diào)制器包括一準(zhǔn)直器3和一飛輪5，飛輪5位于所述準(zhǔn)直器3和所述貫穿輻射源6之間。飛輪5 由可以阻擋射線(xiàn)的材料制成，如可由貧化鈾或者鎢等制成。飛輪5上有曲面槽，當(dāng)射線(xiàn)照射到飛輪5上，只有經(jīng)過(guò)曲面槽的射線(xiàn)可以穿越飛輪5，其余射線(xiàn)都被飛輪5所阻擋，準(zhǔn)直器3 也是由可以阻擋射線(xiàn)的材料制成，準(zhǔn)直器上設(shè)有細(xì)縫，當(dāng)射線(xiàn)照射到準(zhǔn)直器3上，只有經(jīng)過(guò)細(xì)縫的射線(xiàn)可以穿越準(zhǔn)直器3，其余射線(xiàn)都被準(zhǔn)直器3所阻擋。透射探測(cè)器7，所述透射探測(cè)器7與所述散射探測(cè)器2分別位于被測(cè)物體1相鄰或相對(duì)的兩側(cè)，透射探測(cè)器7用于吸收未被物品阻擋的射線(xiàn)，形成信號(hào)傳送給處理器，綜合處理。投射探測(cè)器7可以設(shè)置在一橋架上，如圖4所示。處理器(圖中未示出)，和所述散射探測(cè)器2、所述透射探測(cè)器7均相連，接受散射探測(cè)器2和透射探測(cè)器7傳遞來(lái)的信號(hào)，分析被檢物內(nèi)部物質(zhì)。顯示器(圖中未示出)，所述顯示器與所述處理器相連，用于成像顯示。需要注意的是，以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
僅限于此，在本實(shí)用新型的上述指導(dǎo)下，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)行各種改進(jìn)和變形，而這些改進(jìn)或者變形落在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，包括 運(yùn)輸工具；貫穿輻射源，所述貫穿輻射源設(shè)置于所述運(yùn)輸工具內(nèi)； 處理器，用于進(jìn)行成像處理；散射探測(cè)器，所述散射探測(cè)器與所述處理器電連接，所述散射探測(cè)器用于吸收從被測(cè)物體散射的射線(xiàn)信號(hào)，并將所述射線(xiàn)信號(hào)發(fā)送至所述處理器進(jìn)行處理； 空間調(diào)制器，用于控制所述貫穿輻射源的射線(xiàn)輪廓； 其特征在于所述散射探測(cè)器位于所述運(yùn)輸工具的外側(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，其特征在于所述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)還包括一透射探測(cè)器，所述透射探測(cè)器與所述處理器電連接，所述透射探測(cè)器用于吸收未由被測(cè)物體阻擋的射線(xiàn)，并形成電信號(hào)發(fā)送至所述處理器進(jìn)行處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，其特征在于所述空間調(diào)制器位于所述貫穿輻射源和所述被測(cè)物體之間，所述空間調(diào)制器包括一準(zhǔn)直器、一位于所述準(zhǔn)直器和所述貫穿輻射源之間的飛輪。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，其特征在于 所述貫穿輻射源為χ射線(xiàn)源。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，其特征在于所述基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)還包括一顯示器，所述顯示器與所述處理器相連。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種基于背散射成像的外掛式移動(dòng)檢查系統(tǒng)，包括運(yùn)輸工具；貫穿輻射源，所述貫穿輻射源設(shè)置于所述運(yùn)輸工具內(nèi)；處理器，用于進(jìn)行成像處理；散射探測(cè)器，所述散射探測(cè)器與所述處理器電連接，所述散射探測(cè)器用于吸收從被測(cè)物體散射的射線(xiàn)信號(hào)，并將所述射線(xiàn)信號(hào)發(fā)送至所述處理器進(jìn)行處理；空間調(diào)制器，用于控制所述貫穿輻射源的射線(xiàn)輪廓；所述散射探測(cè)器位于所述運(yùn)輸工具的外側(cè)。相對(duì)于現(xiàn)有的移動(dòng)式X射線(xiàn)反向散射檢查車(chē)，本實(shí)用新型改變了散射探測(cè)器的位置，將散射探測(cè)器由內(nèi)置于運(yùn)輸工具中變?yōu)樵O(shè)置在運(yùn)輸工具的外側(cè)，當(dāng)安裝散射探測(cè)器或者對(duì)散射探測(cè)器進(jìn)行維修時(shí)，便于工人操作。
文檔編號(hào)G01N23/04GK202133631SQ20112022422
公開(kāi)日2012年2月1日 申請(qǐng)日期2011年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月29日
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