專利名稱：一種防震電光分析天平的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及天平技術(shù)，具體涉及一種防震電光分析天平，可廣泛應(yīng)用于銻礦冶煉領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
目前，電光分析天平的防震效果較差，從而影響了精度及準(zhǔn)確度，難以適用于對(duì)稱重精度及準(zhǔn)確度有高要求的銻礦生產(chǎn)，而且，稱重時(shí)，銻礦、銻合金等可能會(huì)腐蝕到載物托盤，降低了電光分析天平的使用壽命。

實(shí)用新型內(nèi)容為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種稱重精度高、準(zhǔn)確度高，使用壽命長(zhǎng)的防震電光分析天平。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案如下一種防震電光分析天平，包括天平本體，所述天平本體包括殼體，所述殼體的底部設(shè)有減震調(diào)整腳。所述減震調(diào)整腳的底部設(shè)有減震墊。所述天平本體還包括載物托盤，所述載物托盤的表面設(shè)有防腐蝕層。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，在殼體底部增加了減震調(diào)整腳以及在減震調(diào)整腳底部安裝有減震墊，實(shí)現(xiàn)雙重減震，提供了稱重精度及準(zhǔn)確度；而且，載物托盤上設(shè)置有防腐蝕層，可有效防止載物托盤的腐蝕，延長(zhǎng)了使用壽命。

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的防震電光分析天平的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示，一種防震電光分析天平，包括天平本體，所述天平本體包括殼體1、橫梁2、加碼架3、阻尼盒4、載物托盤5、支柱6、指示盤7以及液位水平器。所述殼體1的底部設(shè)有減震調(diào)整腳8，所述減震調(diào)整腳8的數(shù)量為三，三個(gè)減震調(diào)整腳8的連線成一三角形，以配合液位水平器，調(diào)整天平本體位于水平位置。為了進(jìn)一步加強(qiáng)減震效果，所述減震調(diào)整腳8的底部設(shè)有減震墊9。為了防止腐蝕，所述載物托盤5的表面設(shè)有防腐蝕層。經(jīng)測(cè)試，本實(shí)施例能有效防止震動(dòng)，提高了稱重精度及準(zhǔn)確度。上述實(shí)施例只是本實(shí)用新型較為優(yōu)選的一種，本領(lǐng)域技術(shù)人員在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)作出的簡(jiǎn)單變化或替換，均落在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種防震電光分析天平，包括天平本體，其特征在于，所述天平本體包括殼體，所述殼體的底部設(shè)有減震調(diào)整腳。
2.如權(quán)利要求1所述的防震電光分析天平，其特征在于，所述減震調(diào)整腳的底部設(shè)有減震墊。
3.如權(quán)利要求1所述的防震電光分析天平，其特征在于，所述天平本體還包括載物托盤，所述載物托盤的表面設(shè)有防腐蝕層。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種防震電光分析天平，包括天平本體，所述天平本體包括殼體，所述殼體的底部設(shè)有減震調(diào)整腳。所述減震調(diào)整腳的底部設(shè)有減震墊。本實(shí)用新型具有精度高、準(zhǔn)確度高，使用壽命長(zhǎng)的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01G21/22GK202119524SQ20112020683
公開日2012年1月18日 申請(qǐng)日期2011年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月17日
發(fā)明者羅宏波 申請(qǐng)人:廣東宇星銻業(yè)有限公司