專利名稱：一種電子元件耐壓試驗儀的制作方法
技術(shù)領域：
本實用新型涉及一種電子元件檢測儀器，尤其涉及到一種電子元件耐壓試驗儀。
背景技術(shù)：
擊穿電壓是電子元件最重要的參數(shù)之一，通常采用耐壓試驗儀進行測定?，F(xiàn)有耐壓測試儀的工作原理是通過給電子元件提供逐漸升高的反向電壓，當流經(jīng)電子元件的電流到達規(guī)定值時，這時被測元件兩端的電壓即為所測元件的擊穿電壓。由于提供的反向電壓不容易微調(diào)控制，一旦反向電壓超出元件的耐壓值時，被測的電子元件將遭到破壞，因此， 這種耐壓試驗儀對于特定個體進行測試時存在一定的風險，不適用于貴重電子器件的檢測。

實用新型內(nèi)容為克服現(xiàn)有技術(shù)不足，本實用新型提供了一種不會對被測電子元件造成損壞的電子元件耐壓試驗儀。為實現(xiàn)上述技術(shù)目的，本實用新型是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的一種電子元件耐壓試驗儀，包括由變壓器、整流橋、電容構(gòu)成的橋式整流濾波電路，橋式整流濾波電路的輸出端通過數(shù)字電壓表、毫安表連接達林頓管的集電極，同時還通過電阻Rl與達林頓管的基極相連接，達林頓管的發(fā)射極通過電阻R2接地，數(shù)字電壓表的兩個正負接線柱上分別引出連接被測元件的觸頭。測試時，當將被測元件反向連接于電壓表的接線柱上，被測器件、達林頓管、電阻 R1、R2構(gòu)成恒流源電路，通過調(diào)節(jié)電阻R2的阻值，使毫安表的讀數(shù)等于被測器件的反向電流規(guī)定值；此時電壓表顯示的電壓值即為被測器件的擊穿電壓。被測器件反向電流規(guī)定值可由相關(guān)標準查出或由生產(chǎn)廠家提供。本實用新型和以往技術(shù)相比，具有以下有益效果采用恒流源設計，被測器件兩端電壓自動調(diào)整為擊穿電壓，不會對器件特性造成損壞，成本低廉、使用安全方便，應用范圍廣泛。

附圖為本實用新型電路圖。圖中，D1D2D3、二極管，R1R2、電阻，A1A2、觸點，Tl、達林頓管，C、電容，T、變壓器。
具體實施方式
參看附圖，變壓器T、整流橋、電容C構(gòu)成的橋式整流濾波電路，橋式整流濾波電路的輸出端通過數(shù)字電壓表、毫安表連接達林頓管Tl的集電極，同時還通過電阻與達林頓管 Tl的基極相連接，達林頓管的發(fā)射極通過電阻R2接地，達林頓管Tl的基極通過串聯(lián)的二極管D1、D2、D3接地，數(shù)字電壓表的兩個正負接線柱上分別引出連接被測元件的觸頭A1、A2。
權(quán)利要求1. 一種電子元件耐壓試驗儀，包括由變壓器、整流橋、電容構(gòu)成的橋式整流濾波電路， 其特征在于橋式整流濾波電路的輸出端通過數(shù)字電壓表、毫安表連接達林頓管的集電極， 同時還通過電阻(Rl)與達林頓管的基極相連接，達林頓管的發(fā)射極通過電阻(似)接地，數(shù)字電壓表的兩個正負接線柱上分別引出連接被測元件的觸頭。
專利摘要本實用新型屬于電子檢測儀器，具體為電子元件耐壓試驗儀，其方案為橋式整流濾波電路的輸出端連接由電阻、達林頓管、若干二極管構(gòu)成的恒流電路，恒流電路上設有數(shù)字電壓變、毫安表。通過調(diào)整恒流電路的恒流值，來測得元件的擊穿電壓。對電子元件進行測試時，不會對器件特性造成損壞，保證被檢測的電子元件的電學特性。
文檔編號G01R31/14GK202083771SQ20112019322
公開日2011年12月21日 申請日期2011年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月29日
發(fā)明者曹廣芹 申請人:曹廣芹