專利名稱：光學(xué)檢測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)檢測系統(tǒng)，更進一步說，本發(fā)明涉及一種用來檢測太陽能電池芯片表面的光學(xué)檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
近年來，能源以及環(huán)保議題受到重視，使得世界各國紛紛發(fā)展新式較無污染的能源，例如，風(fēng)力、潮汐、地?zé)帷⑻柲?、以及生質(zhì)能源等，其中太陽能由于應(yīng)用范圍廣泛且發(fā)展較為成熟而成為各種新式替代能源中最被看好的其中之一。太陽能的利用一般是通過太陽能電池(solar cell)芯片,通過光電轉(zhuǎn)換把太陽光中所包含的能量轉(zhuǎn)化為電能。太陽能電池芯片依工藝不同，可概分為硅晶太陽能電池芯片以及薄膜太陽能電池芯片等，其中硅晶太陽能電池芯片發(fā)展最久同時技術(shù)也最成熟。硅晶太陽能電池芯片的基本構(gòu)造是P型半導(dǎo)體與N型半導(dǎo)體接合而成，當(dāng)太陽光照射太陽能電池芯片時，其光能將硅原子中的電子激發(fā)出來而形成電子與空穴的對流，所產(chǎn)生的電子與空穴受到內(nèi)建電位影響分別被P型半導(dǎo)體與N型半導(dǎo)體吸引而聚集至不同的兩側(cè)，通過電極可引出電子與空穴進而產(chǎn)生電能。由于太陽能電池芯片以其表面接收太陽光而進行發(fā)電，因此，太陽能電池芯片表面是否能有效吸收光源，將成為提升能量轉(zhuǎn)換效率的關(guān)鍵所在。于制作太陽能電池芯片的工藝中，例如，硅晶太陽能電池芯片主要工藝的拉晶、修角、切片、蝕刻、清洗、擴散及蒸鍍等，各種物理及化學(xué)的作用可能使芯片表面產(chǎn)生許多缺陷，這些缺陷都可能降低光吸收效率。此外，太陽能電池芯片表面具有一層抗反射層，可用來降低照射至表面的光線的反射率，換言之，增加光吸收效率?？狗瓷鋵拥暮穸葘绊懣狗瓷涞男剩狗瓷鋵拥暮穸瓤捎商柲茈姵匦酒砻骖伾珌韰^(qū)分，一般而言，抗反射層越厚顏色越淺，反之則越深。顏色的差異主要取決于工藝的管控，根據(jù)顏色的深淺以及均一性也可判斷工藝的能力是否不足而須改善工藝。如上所述，太陽能電池芯片表面上的缺陷以及表面的顏色都是影響其光吸收效率的因素，故判斷缺陷與分類顏色皆可做為改進生產(chǎn)工藝的依據(jù)。舊有判斷缺陷及顏色的方法是以人工方式將芯片放置于輸送帶上方，后方站員通過目視方式檢查芯片上的缺陷，再依芯片顏色相似者整理分群。受限于每個人對顏色定義無法均一，且人眼容易受到疲勞等因素而失準(zhǔn)，因此人眼判定方法會具有相當(dāng)大的誤差。基于人眼判定方法的缺失，現(xiàn)有技術(shù)提出一種利用彩色感光耦合元件(ChargeCoupled DeViCe，(XD)攝像機截取太陽能電池芯片表面的圖像以進行分析的系統(tǒng)。此種系統(tǒng)所提取的圖像，經(jīng)過軟件的分析可獲得較人眼判定更準(zhǔn)確的結(jié)果。然而，現(xiàn)有技術(shù)的檢測系統(tǒng)使用彩色式的感光耦合元件攝影機，其需搭配彩色濾光片來進行取像。彩色濾光片一般而言品質(zhì)較難以掌控，可能導(dǎo)致取得圖像品質(zhì)差距大而造成分色時的誤差。另一方面，進行太陽能電池芯片的顏色檢測時的圖像時，并不需要如同進行太陽能電池芯片的缺陷檢測時所需的高解析度。雖然顏色檢測所用的圖像也可如同缺陷檢測所用的圖像的高解析度，然而高解析度的圖像需要相當(dāng)久的處理時間，對平均小于2秒的總檢測時間而言，全程進行高解析度圖像提取將無法在時間內(nèi)完成檢測。為了在時間內(nèi)完成檢測，于現(xiàn)有技術(shù)中，太陽能電池芯片的缺陷檢測以及顏色檢測分開為兩站進行。當(dāng)芯片于第一站完成高解析度的取像后，隨即送到下一站進行較低解析度的取像。上述兩階段的取像需要兩套取像及照光設(shè)備，將會大幅增加檢測所需的成本。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種光學(xué)檢測系統(tǒng)，可用于檢測太陽能電池芯片并解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題。根據(jù)一具體實施例，本發(fā)明的光學(xué)檢測系統(tǒng)用以對太陽能電池芯片進行缺陷檢測及顏色檢測，其包含殼體、取像裝置、發(fā)光裝置以及控制裝置。取像裝置設(shè)置于殼體中，其根據(jù)一脈沖信號可對放置于殼體中的太陽能電池芯片取像。發(fā)光裝置同樣設(shè)置于殼體中，其根據(jù)觸發(fā)信號可提供光源并根據(jù)結(jié)束信號可停止提供光源?？刂蒲b置與發(fā)光裝置及取像裝置電性連接，其可用來控制缺陷檢測與顏色檢測的進行。于本具體實施例中，控制裝置控制進行缺陷檢測時，發(fā)光裝置可提供第一光源，并且取像裝置可以第一像素組合對太陽能電池芯片進行取像。另一方面，控制裝置控制進行顏色檢測時，發(fā)光裝置可提供第二光源，并且取像裝置可以第二像素組合對太陽能電池芯片進行取像。本具體實施例的光學(xué)檢測系統(tǒng)針對不同的檢測程序進行不同解析度的取像，其檢測速度快速并且僅使用一套取像系統(tǒng)而可降低太陽能電池芯片的檢測成本。本發(fā)明的有益效果在于，本發(fā)明的光學(xué)檢測系統(tǒng)針對不同的檢測程序進行不同解析度的取像，其檢測速度快速并且僅使用一套取像系統(tǒng)而可降低太陽能電池芯片的檢測成本。關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點與精神可以通過以下的發(fā)明詳述及附圖得到進一步的了解。


圖1繪示根據(jù)本發(fā)明的一具體實施例的光學(xué)檢測系統(tǒng)的示意圖。圖2為圖1的光學(xué)檢測系統(tǒng)用來進行太陽能電池芯片的缺陷檢測程序的步驟流程圖。圖3為圖1的光學(xué)檢測系統(tǒng)用來進行太陽能電池芯片的顏色檢測程序的步驟流程圖。圖4為圖1的光學(xué)檢測系統(tǒng)用來進行太陽能電池芯片的完整檢測程序的步驟流程圖。其中，附圖標(biāo)記說明如下:1:光學(xué)檢測系統(tǒng) 10:殼體12:發(fā)光裝置 14:取像裝置16:控制載體 100:燈箱容置部102:取像容置部 R:紅光發(fā)光元件G:綠光發(fā)光元件 B:藍(lán)光發(fā)光元件
T:輸送帶C:遮光元件2:太陽能電池芯片S30 S34、S40 S48、S50 S54:流程步驟
具體實施例方式請參閱圖1，圖1繪示根據(jù)本發(fā)明的一具體實施例的光學(xué)檢測系統(tǒng)I的示意圖。如圖1所示，光學(xué)檢測系統(tǒng)I包含有殼體10、設(shè)置于殼體10中的發(fā)光裝置12及取像裝置(image capturing device) 14、以及電連接發(fā)光裝置12與取像裝置14的控制裝置16。于本具體實施例中，殼體10進一步包含有兩個部分:燈箱容置部100及取像容置部102。燈箱容置部100的底部具有一開口，一輸送帶T可設(shè)置于燈箱容置部100的底部開口處，以將太陽能電池芯片2自外界輸送至燈箱容置部100之內(nèi)。發(fā)光裝置12設(shè)置于燈箱容置部100中，其根據(jù)所接收到的觸發(fā)信號對燈箱容置部100的內(nèi)部提供光源以照射太陽能電池芯片2的表面，并且根據(jù)所接收到的結(jié)束信號停止提供光源。取像裝置14則設(shè)置于取像容置部102之中，根據(jù)所接收到的脈沖信號對輸送至燈箱容置部100內(nèi)的太陽能電池芯片2的表面進行取像。燈箱容置部100及取像容置部102連接處形成一小通孔，取像裝置14可通過此通孔進行取像。于實施例中，為了避免外界的環(huán)境光源進入殼體而影響發(fā)光裝置12發(fā)出的光源，燈箱容置部100可盡量靠近輸送帶T，并且可于輸送帶T兩側(cè)設(shè)置遮光元件C阻擋外部光線進入。發(fā)光裝置12包含有不同種類的發(fā)光元件，藉此可分別發(fā)出不同顏色的光源。于本具體實施例中，發(fā)光裝置12具有紅光發(fā)光元件R、藍(lán)光發(fā)光元件B以及綠光發(fā)光元件G，實務(wù)上可分別為紅光LED、綠光LED以及藍(lán)光LED?？刂蒲b置16分別電連接到發(fā)光裝置12以及取像裝置14，其用來控制光學(xué) 檢測系統(tǒng)I進行太陽能電池芯片2的缺陷檢測與顏色檢測，此外，控制裝置16還可控制取像裝置14取像時的像素組合與曝光時間。請注意，于圖1中所繪示的紅光發(fā)光元件R、藍(lán)光發(fā)光元件B以及綠光發(fā)光元件G分別為一個紅光LED、一個綠光LED及一個藍(lán)光LED，然而 ，紅光發(fā)光元件R亦可包含多個紅光LED，藍(lán)光發(fā)光元件B以及綠光發(fā)光元件G同樣可分別包含多個藍(lán)光LED及多個綠光LED，其數(shù)量由使用者或設(shè)計者需求而定，本發(fā)明對此并不加以限制。針對太陽能電池芯片2的缺陷檢測程序，可經(jīng)由控制裝置16控制發(fā)光裝置12與取像裝置14來進行。請參閱圖2，圖2為圖1的光學(xué)檢測系統(tǒng)I用來進行太陽能電池芯片
2的缺陷檢測程序的步驟流程圖。如圖2所示，于缺陷檢測程序的步驟S30，控制裝置16傳送脈沖信號至發(fā)光裝置12，以控制發(fā)光裝置12的紅光發(fā)光元件R發(fā)出紅光照射至太陽能電池芯片2 ;接著，于步驟S32，控制裝置16傳送觸發(fā)信號至取像裝置14，以控制取像裝置14以第一像素組合對太陽能電池芯片2進行取像；以及，于步驟S34，控制裝置16于取像完成后傳送結(jié)束信號至發(fā)光裝置12，以控制發(fā)光裝置12的紅光發(fā)光元件R停止發(fā)出紅光。由于取像裝置14于太陽能電池芯片2被紅光照射下進行取像，因此，取像裝置14于此缺陷檢測程序中可應(yīng)用單色感光陣列，例如，單色式感光耦合元件或互補式金屬氧化物半導(dǎo)體。于實施例中，缺陷檢測程序及顏色檢測程序的整個檢測程序可于背光條件下進行，因此在進行步驟S30前或進行步驟S30時，控制裝置16可控制光學(xué)檢測系統(tǒng)的背光模塊(未繪示于圖中)開始并持續(xù)提供背光光源至整個檢測程序結(jié)束。此外，控制裝置16也可控制發(fā)光裝置12的藍(lán)光或綠光發(fā)光元件發(fā)光以供取像，端看使用者或設(shè)計者的需求而定。請再參閱圖1，發(fā)光裝置12與取像裝置14互相電性連接，而可互相傳送信號。針對太陽能電池芯片2的顏色檢測程序，可經(jīng)由控制裝置16控制發(fā)光裝置12與取像裝置14，以及發(fā)光裝置12與取像裝置14間的互相溝通來進行。請參閱圖3，圖3為圖1的光學(xué)檢測系統(tǒng)I用來進行太陽能電池芯片2的顏色檢測程序的步驟流程圖。如圖3所示，于顏色檢測程序的步驟S40，控制裝置16首先傳送觸發(fā)信號，以控制發(fā)光裝置12依一發(fā)光順序令順序中的第一個發(fā)光元件發(fā)出光源至太陽能電池芯片2 ;于步驟S42，發(fā)光裝置12于發(fā)光元件發(fā)光時，傳送脈沖信號至取像裝置14 ;于步驟S44，取像裝置14收到脈沖信號后，以第二像素組合進行取像，并于取像結(jié)束時依序發(fā)送結(jié)束信號及觸發(fā)信號至發(fā)光裝置12 ;于步驟S46，發(fā)光裝置12收到結(jié)束信號時，令正在發(fā)光中的發(fā)光元件停止提供光源，并于收到觸發(fā)信號后令發(fā)光順序中的下一個發(fā)光元件開始發(fā)光。發(fā)光裝置12于步驟S46中收到結(jié)束信號及觸發(fā)信號時，若正在發(fā)光的發(fā)光元件不為發(fā)光順序中的最后一個則返回至步驟S42而重復(fù)再進行步驟S42 S46，若正在發(fā)光的發(fā)光元件為發(fā)光順序中的最后一個則進行下一步驟S48，如同步驟S460所示。最后，于步驟S48，發(fā)光裝置12令發(fā)光順序中的最后一個發(fā)光元件停止發(fā)光。上述顏色檢測程序的步驟，舉例而言，首先，控制裝置16可發(fā)出觸發(fā)信號給發(fā)光裝置，藉以控制發(fā)光裝置12的藍(lán)光發(fā)光元件B開始發(fā)出藍(lán)光，此時，發(fā)光裝置12傳送脈沖信號至取像裝置14使其開始進行第一次取像。當(dāng)取像裝置14的第一次取像結(jié)束后，取像裝置14發(fā)送結(jié)束信號至發(fā)光裝置12，使藍(lán)光發(fā)光元件B停止發(fā)光，接著，取像裝置14發(fā)送觸發(fā)信號至發(fā)光裝置12，使綠光發(fā)光元件G開始發(fā)出綠光。當(dāng)綠光發(fā)光元件G發(fā)光時，發(fā)光裝置12會再傳送脈沖信號至取像裝置14使其開始進行第二次取像。同樣地，當(dāng)取像裝置14的第二次取像結(jié)束后會傳送結(jié)束信號與觸發(fā)信號，使發(fā)光裝置12停止綠光并令紅光發(fā)光元件R開始發(fā)紅光。發(fā)光裝置12于發(fā)紅光時同樣傳送脈沖信號至取像裝置14，使其開始進行第三次取像。最后，當(dāng)取像裝置14結(jié)束第三次取像后發(fā)送結(jié)束信號給發(fā)光裝置12，發(fā)光裝置12則關(guān)閉紅光光源結(jié)束顏色檢測程序。在上述顏色檢測程序中，發(fā)光裝置12的各單色發(fā)光元件依序發(fā)出單色光供取像裝置14進行取像，因此，取像裝置14同樣可應(yīng)用單色感光陣列進行取像。由于太陽能電池芯片2的缺陷檢測程序與顏色檢測程序均可通過單色光取像，故兩種檢測程序可通過光學(xué)檢測系統(tǒng)I 一次檢測完成。如上所述，兩種檢測程序并不需要同樣高的圖像解析度，光學(xué)檢測系統(tǒng)I可通過控制裝置16控制取像裝置14取像的像素組合，亦即，于缺陷檢測程序中以第一像素組合進行取像并于顏色檢測程序中以第二像素組合進行取像，以調(diào)整圖像解析度進而縮短檢測時間。請參閱圖4，圖4為圖1的光學(xué)檢測系統(tǒng)I用來進行太陽能電池芯片2的完整檢測程序的步驟流程圖。如圖4所示，于步驟S50，控制裝置16控制發(fā)光裝置12及控制取像裝置14以進行缺陷檢測程序；接著，于步驟S52，控制裝置16調(diào)整取像裝置14的像素組合；最后，于步驟S54，控制裝置16、發(fā)光裝置12以及取像裝置14互相溝通以進行顏色檢測程序。請注意，步驟S50的缺陷檢測程序的詳細(xì)步驟已于圖2中揭示，步驟S54的顏色檢測程序的詳細(xì)步驟已于圖3中揭示，故于此不再贅述。在步驟S54結(jié)束后，輸送帶T將此太陽能電池芯片2送出光學(xué)檢測系統(tǒng)1，并可將下一片太陽能電池芯片2送入光學(xué)檢測系統(tǒng)I再次進行檢測。本具體實施例通過調(diào)整像素組合以根據(jù)不同檢測程序進行不同解析度的取像。舉例而言，控制裝置16可先將取像裝置14設(shè)定為全解析度，換言之，前述步驟S32的第一像素組合包含多個原始像素(Pixel)，而在步驟S50進行缺陷檢測程序期間取得了一張大小為16M的圖像。接著，控制裝置16于步驟S52中令取像裝置14進行2x2的像素并鄰(Binning),換言之,前述步驟S44的第二像素組合包含多個經(jīng)過像素并鄰后的復(fù)合像素，而每個復(fù)合像素內(nèi)均包含有2x2個原始像素。因此，于步驟S54的顏色檢測程序中，取像裝置14將會取得三張大小為4M的圖像。以此設(shè)定像素組合的方法可使顏色檢測程序下所取得的圖像大小降低，使得圖像處理時間降低進而縮短總檢測時間。于圖4的完整檢測程序中，發(fā)光裝置12可分為第一發(fā)光模塊與第二發(fā)光模塊，分別用來提供缺陷檢測程序以及顏色檢測程序的單色光源。于上述具體實施例中，發(fā)光裝置12的第一發(fā)光模塊包含紅光發(fā)光元件R，第二發(fā)光模塊則包含了紅光發(fā)光元件R、藍(lán)光發(fā)光元件B以及綠光發(fā)光元件G。于實務(wù)中，第一發(fā)光模塊中的發(fā)光元件可重復(fù)于第二發(fā)光模塊的發(fā)光元件，并且，第二發(fā)光模塊中與第一發(fā)光模塊重復(fù)的發(fā)光元件可排列于發(fā)光順序中的最后一個，令同一發(fā)光元件開關(guān)時間不會太接近，以避免發(fā)光元件溫度過度上升而影響其光學(xué)性質(zhì)并縮短其壽命。舉例而言，發(fā)光裝置12的第一發(fā)光模塊為紅光發(fā)光元件R，第二發(fā)光模塊的各發(fā)光元件發(fā)光順序則依序為藍(lán)光發(fā)光元件B、綠光發(fā)光元件G以及紅光發(fā)光元件R。因此，于一次完整檢測程序中，兩次紅光發(fā)光元件R發(fā)光間分別有藍(lán)光及綠光發(fā)光元件B、G發(fā)光，藉此提供了紅光發(fā)光元件R冷卻時間。此外，根據(jù)另一具體實施例，第一發(fā)光模塊與第二發(fā)光模塊可分別使用不同的紅光發(fā)光元件，此時第二模塊的各發(fā)光元件的發(fā)光順序則可不受限制?？紤]到太陽能電池芯片2的整個檢測流程時間有限，除了上述調(diào)整取像裝置14的像素組合以減少取像時間之外，通過選取適當(dāng)?shù)娜∠裱b置14應(yīng)用接口也可有效降低檢測流程時間。舉例而言，于實務(wù)中可選擇傳輸速率快的吉比特以太網(wǎng)(Gig-E)接口做為取像裝置14的應(yīng)用接口，Gig-E接口除了傳輸速度快之外，控制裝置16通過此接口設(shè)定取像裝置14的像素組合所需的時間亦相當(dāng)短(小于20毫秒)，故其為較佳的應(yīng)用接口選擇。請再參閱圖1，于本具體實施例中發(fā)光裝置12的各發(fā)光元件可為LED光源，且其發(fā)光面可面對燈箱容置部100的內(nèi)壁面。燈箱容置部100的內(nèi)壁表面經(jīng)過白色霧化處理，而可將LED光源所發(fā)出的光線反射,使照射于太陽能電池芯片2表面的光線不為同一方向射入的光線，換言之，光線以擴散方式照射到太陽能電池芯片2的表面?；谔柲茈姵匦酒?表面的光學(xué)性質(zhì)，特定入射角度的光線可能無法被反射，而影響取得圖像的準(zhǔn)確度。本具體實施例以燈箱容置部100的內(nèi)壁面散射光線而提供各角度入射光線的設(shè)計，可使取像裝置14所取得的圖像較準(zhǔn)確。為了避免發(fā)光裝置12所提供的光源進入取像容置部102并被取像容置部102的內(nèi)表面散射，進一步影響所獲得圖像的準(zhǔn)確度，取像容置部102的內(nèi)壁表面可經(jīng)過黑色消光處理防止壁面反射光線。此外，由于每次取像的打光時間相當(dāng)短，因此，為了增進光源的利用率，發(fā)光裝置12上除了光源出光口之外均可涂上白漆或做白色霧化處理以反射光線。上述具體實施例的光學(xué)檢測系統(tǒng)I的顏色檢測程序于RGB光源下各進行一次取像，故取得各圖像后需將各圖像轉(zhuǎn)換至CIE LAB色度空間以計算太陽能電池芯片2表面顏色。此轉(zhuǎn)換流程的進行可以一處理裝置或由控制裝置16來進行，舉例而言，控制裝置16可為一電腦，用來控制取像并處理所獲得的圖像。綜上所述，本發(fā)明的用來檢測太陽能電池芯片的光學(xué)檢測系統(tǒng)，通過其中的控制裝置、發(fā)光裝置及取像裝置間的硬件溝通，可利用單色光以及單色感光陣列連續(xù)進行缺陷檢測程序及顏色檢測程序的取像，使整個檢測程序可應(yīng)用同一套取像及照光設(shè)備。另外，通過控制裝置控制取像裝置在不同檢測程序的像素組合，可加速圖像轉(zhuǎn)換及傳輸?shù)乃俾?，并且由選擇適當(dāng)應(yīng)用接口還可進一步縮短設(shè)定像素組合所需的時間。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明具有上述特點的光學(xué)檢測系統(tǒng)可同時達(dá)到較精確的檢測、降低檢測成本與縮短檢測程序時間的優(yōu)點。通過以上較佳具體實施例的詳述，是希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發(fā)明的范疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具等同性的安排于本發(fā)明所欲申請的專利范圍的范疇內(nèi)。因此，本發(fā)明所申請的專利范圍的范疇?wèi)?yīng)該根據(jù)上述的說明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所有可能的改變以及具等同性的安排。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)檢測系統(tǒng)，用以對一太陽能電池芯片進行一缺陷檢測以及一顏色檢測，該光學(xué)檢測系統(tǒng)包含: 一殼體，用以容置該太陽能電池芯片； 一取像裝置，設(shè)置于該殼體中，用以根據(jù)一脈沖信號對該太陽能電池芯片取像； 一發(fā)光裝置，設(shè)置于該殼體中，用以根據(jù)一觸發(fā)信號以開始提供光源以及根據(jù)一結(jié)束信號以停止提供光源；以及 一控制裝置，電連接該發(fā)光裝置及該取像裝置，該控制裝置用以控制進行該缺陷檢測或該顏色檢測； 其中于進行該缺陷檢測時該發(fā)光裝置提供一第一光源且該取像裝置以一第一像素組合對該太陽能電池芯片取像，于進行該顏色檢測時該發(fā)光裝置提供一第二光源且該取像裝置以一第二像素組合對該太陽能電池芯片取像。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該取像裝置為一單色感光陣列。
3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該單色感光陣列包含單色式感光耦合元件及互補式金屬氧化物半導(dǎo)體的其中之一。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該發(fā)光裝置包含一紅光發(fā)光元件、一綠光發(fā)光兀件以及一藍(lán)光發(fā)光兀件。
5.如權(quán)利要求4所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該第一光源由該紅光發(fā)光元件所提供，該第二光源為該紅光發(fā)光兀件、該綠光發(fā)光兀件以及該藍(lán)光發(fā)光兀件的其中之一所提供。
6.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該取像裝置由該控制裝置接收該脈沖信號，該發(fā)光裝置由該控制裝置接收該觸發(fā)信號以及該結(jié)束信號。
7.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中于進行該顏色檢測時，該發(fā)光裝置由該取像裝置接收該觸發(fā)信號以及該結(jié)束信號，該取像裝置由該發(fā)光裝置接收該脈沖信號。
8.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該殼體包含一取像容置部以及一燈箱容置部，該取像裝置設(shè)置于該取像容置部中且該發(fā)光裝置設(shè)置于該燈箱容置部中，該取像容置部的內(nèi)部表面經(jīng)過黑色消光處理且該燈箱容置部的內(nèi)部表面經(jīng)過白色霧化處理。
9.如權(quán)利要求8所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該發(fā)光裝置所提供的光源照射至該燈箱容置部的內(nèi)部表面，并且該燈箱容置部的內(nèi)部表面將該光源散射至該太陽能電池芯片上。
10.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該第一像素組合包含多個原始像素，該第二像素組合包含像素并鄰后的原始像素。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光學(xué)檢測系統(tǒng)，用以檢測太陽能電池芯片的表面，此系統(tǒng)包含殼體、控制裝置、及設(shè)置于殼體中的取像裝置與發(fā)光裝置。發(fā)光裝置用以提供單色光源至殼體內(nèi)的太陽能電池芯片上，取像裝置則可對太陽能電池芯片進行取像?？刂蒲b置電連接取像裝置以及發(fā)光裝置，用來控制光學(xué)檢測系統(tǒng)進行太陽能電池芯片表面的缺陷檢測與顏色檢測程序。通過取像裝置、發(fā)光裝置與控制裝置間的互相溝通，可根據(jù)不同的太陽能芯片檢測程序而取得不同解析度的圖像，并能通過單色感光陣列取像以降低誤差。本發(fā)明的光學(xué)檢測系統(tǒng)針對不同的檢測程序進行不同解析度的取像，其檢測速度快速并且僅使用一套取像系統(tǒng)而可降低太陽能電池芯片的檢測成本。
文檔編號G01N21/88GK103185721SQ20111046194
公開日2013年7月3日 申請日期2011年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月31日
發(fā)明者李明翰, 胡哲郕, 翁義龍 申請人:致茂電子股份有限公司