專利名稱：一種紫外可見分光光度計的面積測量方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及紫外可見分光光度計的應用領域。更具體地，本發(fā)明涉及一種紫外可見分光光度計的面積測量方法和裝置。
背景技術：
從與PC的關系來劃分，紫外可見分光光度計一般包括兩種:一種是基于PC的儀器，該儀器內(nèi)置在PC中作為PC的一特殊設備存在，儀器本身的顯示鍵盤等部分借助PC的資源來實現(xiàn)；另一種是嵌入式儀器，儀器本身自有一套系統(tǒng)來實現(xiàn)其所有功能(顯示、鍵盤、電源供電等等)。第二種方式使用PC資源時，需要與PC相連通過傳輸控制命令來實現(xiàn)對儀器的所有操作。圖1為現(xiàn)有技術基于VISA以SCPI為載體的PC儀器應用的示意圖，其實現(xiàn)方式是基于紫外可見分光光度計基本功能以SCPI (Standard Commands for ProgrammableInstruments,可編程儀器標準命令)命令集和 VISA (Virtual Instrument SoftwareArchitecture，虛擬儀器軟件結(jié)構(gòu)，一種用來與各種儀器總線進行通信的高級應用編程接口)驅(qū)動為媒介，借助PC強大的資源進行頻譜分析的應用工具軟件，一般稱這類軟件為“上位機”(對應儀器“下位機”而言)。類似的技術也被稱為虛擬儀器技術(儀器被劃分成數(shù)據(jù)采集卡硬件，數(shù)據(jù)采集卡軟件，PC端數(shù)據(jù)處理軟件三大部分)。由于儀器成本限制，一般儀器都構(gòu)建在嵌入式系統(tǒng)上，但各種應用受限于嵌入式系統(tǒng)資源(存儲空間，運算速度等等)。上述嵌入式儀器使用PC資源的方法緩解了這一問題。峰面積是測量數(shù)據(jù)源的曲線和基線圍成的圖形面積。在使用紫外可見分光光度計進行分析時可以用峰面積來進行簡單的定性定量分析，在進行峰面積計算時需要設置曲線的起始和終止點。一種是將起始點和終止點進行連接，連接線即為基線，該連接線和曲線所圍成的面積即峰面積；另一種是將數(shù)據(jù)源的橫軸作為基線，將曲線與分別垂直于橫軸的并對應起始點的垂線、對應終止點垂線圍成開區(qū)間，再將該開區(qū)間與橫軸圍成閉區(qū)間的面積作為峰面積。在上下文中，所述峰面積被簡稱為面積。圖2為現(xiàn)有技術中紫外可見分光光度計提供的面積計算功能示意圖，該功能需要兩個參數(shù):面積的起始點參數(shù)和終止點參數(shù)，這兩個參數(shù)現(xiàn)有技術中一般采用輸入框方式輸入或者表格方式輸入。例如，圖2中左邊有個面積計算的表格，用戶需要在開始列和結(jié)束列手動輸入數(shù)值，完成參數(shù)設置過程，參數(shù)輸入完畢程序會自動計算得到相應的面積。但是現(xiàn)有技術中僅進行獨立的參數(shù)輸入并計算得出面積的數(shù)值，卻無法體現(xiàn)利用紫外可見分光光度計產(chǎn)生的光譜曲線構(gòu)成的數(shù)據(jù)源的顯示圖像與所計算的面積之間的對應關系，也無法達到用戶針對當前數(shù)據(jù)源進行實時面積測量的直觀體驗。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種紫外可見分光光度計的面積測量方法和裝置，目的在于體現(xiàn)出數(shù)據(jù)源與所計算的面積之間的對應關系，并達到用戶針對當前數(shù)據(jù)源進行實時面積測量的直觀體驗。該方法包括:設置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線，所述輔助線可通過被選中改變位置；確定所述輔助線的橫坐標值，該橫坐標值包括第一橫坐標值和第二橫坐標值；將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)；根據(jù)所述起始點參數(shù)和終止點參數(shù)計算所述輔助線限定的數(shù)據(jù)源區(qū)域的面積。進一步地，所述確定所述輔助線的橫坐標值進一步包括:判斷所述輔助線是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則將該交叉點對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值，如果未形成則將數(shù)據(jù)源上距離該輔助線最近的點所對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值并將所述輔助線移動至該最近的點。進一步地，所述將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)包括:比較所述第一橫坐標值和所述第二橫坐標值之間的大小，將二者中較小的橫坐標值作為面積計算區(qū)的起始點參數(shù)，較大的橫坐標值作為面積計算區(qū)的終止點參數(shù)。進一步地，所述至少一條輔助線為第一輔助線和第二輔助線。進一步地，所述第一輔助線對應所述第一橫坐標值；所述第二輔助線對應所述第二橫坐標值。進一步地，所述至少一條輔助線為單一輔助線。進一步地，用戶第一次選定的所述單一輔助線對應所述第一橫坐標值；用戶第二次選定的所述單一輔助線對應所述第二橫坐標值。進一步地，該方法包括:根據(jù)所述輔助線移動的位置將該輔助線所對應的橫坐標值實時顯示在數(shù)據(jù)源中。進一步地，該方法包括:根據(jù)用戶在面積計算區(qū)輸入的起始點參數(shù)和終止點參數(shù)，將所述輔助線分別調(diào)整到橫坐標值對應于起始點參數(shù)或終止點參數(shù)的位置。本發(fā)明還提供一種紫外可見分光光度計的面積測量裝置，包括:設置裝置，用于設置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線，所述輔助線可通過被選中改變位置；確值裝置，用于確定所述輔助線的橫坐標值，該橫坐標值包括第一橫坐標值和第二橫坐標值；賦值裝置，用于將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)；面積計算裝置，用于根據(jù)所述起始點參數(shù)和終止點參數(shù)計算所述輔助線所限定的數(shù)據(jù)源區(qū)域的面積。進一步地，所述確值裝置包括:判斷裝置，用于判斷所述輔助線是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則確值裝置將該交叉點對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值，如果未形成則確值裝置將數(shù)據(jù)源上距離該輔助線最近的點所對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值并將所述輔助線移動至該最近的點。進一步地，所述賦值裝置包括:比較裝置，用于比較所述第一橫坐標值和所述第二橫坐標值之間的大小，將二者中較小的橫坐標值作為面積計算區(qū)的起始點參數(shù)，較大的橫坐標值作為面積計算區(qū)的終止點參數(shù)。進一步地，所述至少一條輔助線為第一輔助線和第二輔助線。進一步地，所述第一輔助線對應所述第一橫坐標值；所述第二輔助線對應所述第二橫坐標值。進一步地，所述至少一條輔助線為單一輔助線。進一步地，用戶第一次選定的所述單一輔助線對應所述第一橫坐標值；用戶第二次選定的所述單一輔助線對應所述第二橫坐標值。進一步地,該裝置包括:顯示裝置，用于根據(jù)所述輔助線移動的位置將該輔助線所對應的橫坐標值實時顯示在數(shù)據(jù)源中。進一步地,該裝置包括:位置調(diào)整裝置，用于根據(jù)用戶在面積計算區(qū)輸入的起始點參數(shù)和終止點參數(shù)，將所述輔助線分別調(diào)整到橫坐標值對應于起始點參數(shù)或終止點參數(shù)的位置。通過本發(fā)明的方法和裝置，增加了數(shù)據(jù)源與所計算的面積之間的對應關系，增加了對數(shù)據(jù)源進行實時的面積測量的直觀體驗。


下面將參照附圖并結(jié)合實施例對本發(fā)明進行具體說明。圖1為現(xiàn)有技術基于VISA以SCPI為載體的PC儀器應用的示意圖；圖2為現(xiàn)有技術中紫外可見分光光度計提供的面積計算功能示意圖；圖3為本發(fā)明的方法流程圖；圖4為本發(fā)明的裝置組成示意圖；圖5為本發(fā)明具體實施方式
中的紫外可見分光光度計進行面積測量前初始狀態(tài)的不意圖；圖6為本發(fā)明實施例一中紫外可見分光光度計進行面積測量時第一種情況的示意圖；圖7為本發(fā)明實施例一中紫外可見分光光度計進行面積測量時第二種情況的示意圖；圖8為本發(fā)明實施例一中紫外可見分光光度計進行面積測量時第三種情況的示意圖。
具體實施例方式下面參照附圖并借助本發(fā)明的實施例，對本發(fā)明的技術方案做詳細描述。如圖3所示，本發(fā)明提供一種紫外可見分光光度計的面積測量方法，包括:S1、設置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線，所述輔助線可通過被選中改變位置并可通過取消選中確定位置；S2、確定所述輔助線的橫坐標值,該橫坐標值包括第一橫坐標值和第二橫坐標值。當所述輔助線是一條輔助線時，通過兩次確定輔助線的位置可以確定第一橫坐標值和第二橫坐標值。當所述輔助線是兩條輔助線即第一輔助線和第二輔助線時，可以由第一輔助線確定第一橫坐標值并由第二輔助線確定第二橫坐標值；S3、將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)；S4、根據(jù)所述起始點參數(shù)和終止點參數(shù)計算所述輔助線在數(shù)據(jù)源所限定的區(qū)域的面積。如圖4所示，本發(fā)明提供一種紫外可見分光光度計的面積測量裝置，包括:設置裝置1，用于設置至少一條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線，所述輔助線可通過被選中改變位置；確值裝置2,用于確定所述輔助線的橫坐標值,該橫坐標值包括第一橫坐標值和第二橫坐標值；賦值裝置3，用于將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)；面積計算裝置4，用于根據(jù)所述起始點參數(shù)和終止點參數(shù)計算所述輔助線在數(shù)據(jù)源所限定的區(qū)域的面積。對于紫外可見光分光光度計而言，執(zhí)行面積測量的主體為上位機。需要說明的是，該上位機可以是普通的計算機，其可以通過普通或者專用的計算機接口與頻率分析儀連接，對頻譜分析儀進行管理、數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析，其中，普通的接口例如為RS232接口，專用接口例如為VISA接口，但本發(fā)明實施例并不限制于此。在執(zhí)行本發(fā)明中的方法前，上位機從數(shù)據(jù)采集設備中獲取數(shù)據(jù)源，數(shù)據(jù)源經(jīng)過變換后呈現(xiàn)于數(shù)據(jù)處理界面上。具體地，該計算機用于對紫外可見分光光度計采集得到的數(shù)據(jù)變換為數(shù)據(jù)源并顯示在數(shù)據(jù)源的顯示區(qū)域。根據(jù)紫外可見分光光度計采集的數(shù)據(jù)類型和用戶的選擇，數(shù)據(jù)源縱軸可以是吸光度、透過率或能量，橫軸可以是波長或時間。本具體實施方式
將以紫外可見分光光度計的光譜測量為例，按照數(shù)據(jù)源的縱軸為吸光度，橫軸為波長進行說明。在步驟SI中，設置裝置I所設置的輔助線與數(shù)據(jù)源處于同一坐標系下，并垂直于數(shù)據(jù)源橫軸。輔助線在被選中時，可以根據(jù)用戶操作輸入設備如鼠標、鍵盤而移動。具體地，輔助線通過用戶操作鼠標被選中，從初始位置的固定狀態(tài)轉(zhuǎn)換為可移動狀態(tài)，再經(jīng)過拖拽實現(xiàn)其位置的變化，直到用戶將其拖拽到目標位置時撤銷選中確定其位置。在步驟S2中，確值裝置2根據(jù)用戶將所拖拽的輔助線撤銷選中，確定此時該輔助線所在位置對應的橫坐標值。由于紫外可見分光光度計測量面積需要具有光譜數(shù)據(jù)源中曲線的起始點和終止點兩個值，因此，需要用輔助線確定第一橫坐標值和第二橫坐標值，從而滿足面積測量的要求。但是，由于每次數(shù)據(jù)源上的光譜曲線的差異性和用戶的操作隨意性，當被拖拽的輔助線被撤銷選中時，其橫坐標值很可能不是數(shù)據(jù)源上對應的點的橫坐標值。因此，進一步地，確值裝置2中還包括判斷裝置，用于執(zhí)行步驟S2的以下子步驟:判斷所述輔助線是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則將該交叉點對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值，如果未形成則將數(shù)據(jù)源上距離該輔助線最近的點所對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值并將所述輔助線移動至該最近的點。通過上述步驟，本發(fā)明具有了用戶對目標位置設定出錯時能夠自動修正的功能，克服了現(xiàn)有技術中在這種情況下沒有相應處理措施的缺陷。而且，該步驟既可以只修正被拖拽的輔助線的橫坐標值，也可以相應地更新另一輔助線的橫坐標值。具體地，設置裝置I設置兩條輔助線即第一輔助線和第二輔助線，并設置了兩條輔助線初始位置的橫坐標值分別位于例如整個顯示區(qū)坐標系中橫軸坐標的三分之一處和三分之二處。當數(shù)據(jù)源上的點為分散的，那么該三分之一處和三分之二處有可能都不是數(shù)據(jù)源上的點的橫坐標值，在這種情況下，按照判斷裝置的上述子步驟，在拖拽其中一條輔助線并確定其橫坐標值的同時，移動另外一條輔助線的初始位置，即將該另外一條輔助線移動到數(shù)據(jù)源上距離最近的點并將該點對應的橫坐標值作為初始位置的橫坐標值。以橫軸為時間為例，當本次數(shù)據(jù)源的范圍是O至12秒，則初始位置將第一輔助線和第二輔助線分別設置在4秒和8秒處，如果該數(shù)據(jù)源的采樣間隔是3秒，即數(shù)據(jù)源的點的橫坐標分別是0、3、
6、9、12秒，則第一輔助線和第二輔助線各自的初始位置4秒和8秒都不是數(shù)據(jù)源上的點的橫坐標值。當用戶拖拽第一輔助線并將其拖到橫坐標值為5秒的位置，判斷裝置判斷出，第一輔助線在橫坐標為5秒的位置沒有與數(shù)據(jù)源形成交叉點，因此對第一輔助線進行修正，將其修正為數(shù)據(jù)源上離它最近的點的橫坐標值，即改成6秒，即第一輔助線會停到6秒處。因為第二輔助線2的初始位置的橫坐標值是8秒，也不是數(shù)據(jù)源上的點的橫坐標值，所以判斷裝置也對其進行修正，將第二輔助線進行移動并將停到數(shù)據(jù)源上離它最近的點，即橫坐標值為9秒的位置。在步驟S3中，賦值裝置3將輔助線的橫坐標值按照起始點參數(shù)和終止點參數(shù)并賦值給面積計算區(qū)。由于面積計算中的起始點參數(shù)應當比終止點參數(shù)小，所以在將輔助線的第一橫坐標值和第二橫坐標值與起始點參數(shù)和終止點參數(shù)匹配時應當比較第一和第二橫坐標值的大小。進一步地，賦值裝置3包括比較裝置，用于執(zhí)行步驟S3的以下子步驟:比較所述第一橫坐標值和所述第二橫坐標值之間的大小，將二者中較小的橫坐標值作為面積計算區(qū)的起始點參數(shù)，較大的橫坐標值作為面積計算區(qū)的終止點參數(shù)。這樣才能在用戶利用輔助線限定測量面積的區(qū)域后，可以合理進行計算。實施例一本發(fā)明中設置裝置I設置的至少一條輔助線為兩條輔助線，分別為第一輔助線100和第二輔助線200，并且，第一輔助線100對應第一橫坐標值；第二輔助線200對應第二橫坐標值。用戶在設定要測量的面積區(qū)域時，對第一輔助線100或第二輔助線200可以不分次序地分別選中后移動至各自的目標位置后撤銷選中，從而確定了截取的曲線段的起止邊界。例如圖5所示，在右邊的數(shù)據(jù)源顯示區(qū)內(nèi)顯示出本次測量的曲線。步驟SI中，根據(jù)本實施例創(chuàng)建第一輔助線100和第二輔助線200，其各自初始位置的第一橫坐標和第二橫坐標值分別為整個顯示區(qū)坐標系中橫軸坐標的三分之一處和三分之二處，初始位置的第一橫坐標值對應的波長值為500納米，初始位置的第二橫坐標值對應的波長值為600納米。用戶通過點擊鼠標選中第一輔助線100，拖拽第一輔助線100到目標位置后通過釋放鼠標來撤銷選中。在用戶釋放鼠標后，判斷裝置判斷第一輔助線100是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則將該交叉點對應的橫坐標值作為第一橫坐標值，如果未形成則將數(shù)據(jù)源上距離第一輔助線100最近的點所對應的橫坐標值作為第一橫坐標值并將第一輔助線100移動至該最近的點。此時，由于第二輔助線200的初始位置可以與數(shù)據(jù)源形成交叉點，所以在拖拽第一輔助線100的過程中第二輔助線200是保持不動的。然后對第二輔助線200進行選中并拖拽到另一目標位置后釋放鼠標，判斷裝置判斷第二輔助線200所對應的橫坐標是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則將該交叉點對應的橫坐標值作為第二橫坐標值，如果未形成則將數(shù)據(jù)源上距離第一輔助線200最近的點所對應的橫坐標值作為第二橫坐標值并將第二輔助線200移動至該最近的點。當然用戶也可以先選中拖拽第二輔助線200并確定第二橫坐標值，再選中拖拽第一輔助線100并確定第一橫坐標值。第一種情況，如圖6，用戶將第一輔助線100移動到對應橫坐標值是550納米的目標位置，將第二輔助線200移動到對應橫坐標值是600納米的目標位置。經(jīng)過判斷裝置對第一輔助線100、第二輔助線200的分別判斷，第一輔助線100和第二輔助線200分別與當時的數(shù)據(jù)源具有交叉點，因此不需要進一步對輔助線和其橫坐標值進行修正，直接確定第一橫坐標值為550納米，第二橫坐標值為600納米。比較裝置將確定后的第一橫坐標值和第二橫坐標值的大小進行比較，由圖6所不,第一橫坐標值550納米小于第二橫坐標值600納米，因此將第一橫坐標值和第二橫坐標值賦值給面積計算區(qū)即圖6左邊的表格時，將第一橫坐標值作為起始點參數(shù)，并在圖6左邊的表格中的光標所在行的開始單元格中顯示，將第二橫坐標值作為終止點參數(shù)，并在對應的結(jié)束單元格中顯示。第二種情況，由圖7所示，用戶將第一輔助線100移動到對應橫坐標值是650納米的目標位置，將第二輔助線200移動到對應橫坐標值是600納米的目標位置。經(jīng)過分別判斷，第一輔助線100和第二輔助線200分別與當時的數(shù)據(jù)源具有交叉點，直接確定第一橫坐標值為650納米，第二橫坐標值為600納米。比較裝置將確定后的第一橫坐標值和第二橫坐標值的大小進行比較，由圖6所示，第一橫坐標值650納米大于第二橫坐標值600納米，因此將第一橫坐標值和第二橫坐標值賦值給面積計算區(qū)即圖7左邊的表格時，將第二橫坐標值作為起始點參數(shù)，并在圖7左邊的表格中的光標所在行的開始單元格中顯示，將第一橫坐標值作為終止點參數(shù)，并在對應的結(jié)束單元格中顯示。面積計算裝置4根據(jù)開始單元格中的起始點參數(shù)和結(jié)束單元格中的終止點參數(shù)計算出由第一輔助線100和第二輔助線200在圖6右側(cè)的光譜數(shù)據(jù)源中所限定的區(qū)域的面積。第三種情況，當?shù)谝惠o助線和第二輔助線的位置重合，S卩比較裝置比較的第一橫坐標值和第二橫坐標值為相等時，如圖8所示，則圖8的面積計算區(qū)中的光標所在行的開始單元格和結(jié)束單元格的數(shù)值相同，面積計算裝置4計算出的面積值為O。在圖5_圖8中，面積計算區(qū)例如為表格形式，第一列區(qū)域表面積編號，是只讀的、不可編輯列；第二列的“開始”表示待測量面積區(qū)域的起始點參數(shù)，是可編輯列；第三列的“結(jié)束”表示待測量面積區(qū)域的終止點參數(shù)，是可編輯列；第四列“除數(shù)”表示計算得到的面積除以的數(shù)值，是可編輯列；第五列“面積”表示由兩條輔助線、數(shù)據(jù)源和基線限定的區(qū)域的面積值，該列是只讀的、不可編輯列；第六列“結(jié)果”表示計算得到的面積值除以第四列的除數(shù)得到的數(shù)值，是只讀的、不可編輯列。實施例二該實施例二中設置裝置I設置單一輔助線。用戶第一次選定的所述單一輔助線對應所述第一橫坐標值；用戶第二次選定的所述單一輔助線對應所述第二橫坐標值。用戶在設定要測量的面積區(qū)域時，利用所述單一輔助線兩次確定輔助線的位置來獲得第一橫坐標值和第二橫坐標值。通過用戶第一次將該單一輔助線選中并移動至目標位置后撤銷選中，此時判斷裝置判斷本次該單一輔助線所對應的橫坐標是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則將該交叉點對應的橫坐標值作為第一橫坐標值，如果未形成則將數(shù)據(jù)源上距離當前該單一輔助線最近的點所對應的橫坐標值作為第一橫坐標值并將該單一輔助線移動至該最近的點，從而確定第一橫坐標值；然后用戶再次將該單一輔助線選中并移動至另一目標位置后撤銷選中，判斷裝置再次判斷，確定第二橫坐標值。其它步驟與實施例一相同。進一步地，本發(fā)明的方法還包括以下步驟:根據(jù)所述輔助線移動的位置將該輔助線所對應的橫坐標值實時顯示在數(shù)據(jù)源中。本發(fā)明的裝置還包括:顯示裝置，用于根據(jù)所述輔助線移動的位置將該輔助線所對應的橫坐標值實時顯示在數(shù)據(jù)源中。在輔助線被拖拽移動的過程中，呈現(xiàn)輔助線與數(shù)據(jù)源的交叉點對應的橫坐標值，例如顯示波長值。這樣有利于用戶在對輔助線進行拖曳操作的過程中，可以實時地、方便地觀察到輔助線當前所對應的波長位置，有利于用戶確認輔助線當前的位置是否恰當。另外，還有利于方便用戶在拖曳過程中觀察數(shù)據(jù)源中波形曲線的變化情況或分析波形曲線的性質(zhì)，例如，用戶通過觀察輔助線與曲線的交叉點的波長值變化，能夠細致地、清楚地反映出波形曲線上波峰、波谷或者其它關鍵特征點對應的波長及其變化情況。進一步地，本發(fā)明的方法還包括以下步驟:根據(jù)用戶在面積計算區(qū)輸入的起始點參數(shù)和終止點參數(shù)，將所述輔助線分別調(diào)整到橫坐標值對應于起始點參數(shù)或終止點參數(shù)的位置。本發(fā)明的裝置還包括:位置調(diào)整裝置，用于根據(jù)用戶在面積計算區(qū)輸入的起始點參數(shù)和終止點參數(shù),將所述輔助線分別調(diào)整到橫坐標值對應于起始點參數(shù)或終止點參數(shù)的位置。當用戶依然通過手動輸入的方式設置起始點參數(shù)和終止點參數(shù)時，輔助線會隨之做出位置的調(diào)整以實現(xiàn)輔助線的橫坐標值與起始點參數(shù)或終止點參數(shù)相對應。比如用戶在圖6中的開始單元格手動輸入了起始點參數(shù)為550納米，位置調(diào)整裝置將根據(jù)550納米的起始點參數(shù)值將比如第一輔助線調(diào)整到對應的橫坐標值為550納米的位置。用戶在結(jié)束單元格輸入終止點參數(shù)為600納米時，位置調(diào)整裝置將根據(jù)600納米的終止點參數(shù)值將比如第二輔助線調(diào)整到對應的橫坐標值為600納米的位置。再比如，當輔助線為單一輔助線時，位置調(diào)整裝置將根據(jù)用戶本次確認輸入的單元格中的參數(shù)值，對單一輔助線進行該次對應位置的調(diào)整。這樣，本發(fā)明讓用戶直觀地看到起始點和終止點分別對應測量或計算的是光譜數(shù)據(jù)源曲線上的哪段曲線的面積，進一步提升用戶在測量面積時的直觀體驗。本發(fā)明的方法和裝置還可以應用于其他需要起始點參數(shù)和終止點參數(shù)的測量技術中，如動力學面積測量，橫軸為時間軸，起始點參數(shù)和終止點參數(shù)參數(shù)為時間參數(shù)。應當理解，以上借助優(yōu)選實施例對本發(fā)明的技術方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領域的普通技術人員在閱讀本發(fā)明說明書的基礎上可以對各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術方案的精神和范圍。本發(fā)明的保護范圍僅由隨附權(quán)利要求書限定。
權(quán)利要求
1.一種紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于，包括: 設置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線，所述輔助線可通過被選中改變位置； 確定所述輔助線的橫坐標值，該橫坐標值包括第一橫坐標值和第二橫坐標值； 將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)； 根據(jù)所述起始點參數(shù)和終止點參數(shù)計算所述輔助線限定的數(shù)據(jù)源區(qū)域的面積。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于， 所述確定所述輔助線的橫坐標值進一步包括: 判斷所述輔助線是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則將該交叉點對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值，如果未形成則將數(shù)據(jù)源上距離該輔助線最近的點所對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值并將所述輔助線移動至該最近的點。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于，所述將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)進一步包括: 比較所述第一橫坐標值和所述第二橫坐標值之間的大小，將二者中較小的橫坐標值作為面積計算區(qū)的起始點參數(shù)，較大的橫坐標值作為面積計算區(qū)的終止點參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于， 所述至少一條輔助線為第一輔助線和第二輔助線。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于，所述第一輔助線對應所述第一橫坐標值； 所述第二輔助線對應所述第二橫坐標值。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于，該方法進一步包括: 所述至少一條輔助線為單一輔助線。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于， 用戶第一次選定的所述單一輔助線對應所述第一橫坐標值； 用戶第二次選定的所述單一輔助線對應所述第二橫坐標值。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于，該方法進一步包括: 根據(jù)所述輔助線移動的位置將該輔助線所對應的橫坐標值實時顯示在數(shù)據(jù)源中。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外可見分光光度計的面積測量方法，其特征在于，該方法進一步包括: 根據(jù)用戶在面積計算區(qū) 輸入的起始點參數(shù)和終止點參數(shù)，將所述輔助線分別調(diào)整到橫坐標值對應于起始點參數(shù)或終止點參數(shù)的位置。
10.一種紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于，包括: 設置裝置，用于設置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線，所述輔助線可通過被選中改變位置； 確值裝置，用于確定所述輔助線的橫坐標值，該橫坐標值包括第一橫坐標值和第二橫坐標值； 賦值裝置，用于將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)； 面積計算裝置，用于根據(jù)所述起始點參數(shù)和終止點參數(shù)計算所述輔助線所限定的數(shù)據(jù)源區(qū)域的面積。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于，所述確值裝置進一步包括: 判斷裝置，用于判斷所述輔助線是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點，如果形成則確值裝置將該交叉點對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值，如果未形成則確值裝置將數(shù)據(jù)源上距離該輔助線最近的點所對應的橫坐標值作為所述輔助線的橫坐標值并將所述輔助線移動至該最近的點。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于，所述賦值裝置進一步包括: 比較裝置，用于比較所述第一橫坐標值和所述第二橫坐標值之間的大小，將二者中較小的橫坐標值作為面積計算區(qū)的起始 點參數(shù)，較大的橫坐標值作為面積計算區(qū)的終止點參數(shù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于， 所述至少一條輔助線為第一輔助線和第二輔助線。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于， 所述第一輔助線對應所述第一橫坐標值； 所述第二輔助線對應所述第二橫坐標值。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于，該裝置進一步包括: 所述至少一條輔助線為單一輔助線。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于， 用戶第一次選定的所述單一輔助線對應所述第一橫坐標值； 用戶第二次選定的所述單一輔助線對應所述第二橫坐標值。
17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于，該裝置進一步包括: 顯示裝置，用于根據(jù)所述輔助線移動的位置將該輔助線所對應的橫坐標值實時顯示在數(shù)據(jù)源中。
18.根據(jù)權(quán)利要求10所述的紫外可見分光光度計的面積測量裝置，其特征在于，該裝置進一步包括: 位置調(diào)整裝置，用于根據(jù)用戶在面積計算區(qū)輸入的起始點參數(shù)和終止點參數(shù)，將所述輔助線分別調(diào)整到橫坐標值對應于起始點參數(shù)或終止點參數(shù)的位置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種紫外可見分光光度計的面積測量方法和裝置，該方法包括設置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線，所述輔助線可通過被選中改變位置；確定所述輔助線的橫坐標值，該橫坐標值包括第一橫坐標值和第二橫坐標值；將所述輔助線的橫坐標值賦值給面積計算區(qū)并分別作為起始點參數(shù)和終止點參數(shù)；根據(jù)所述起始點參數(shù)和終止點參數(shù)計算所述輔助線限定的數(shù)據(jù)源區(qū)域的面積。該裝置包括設置裝置、確值裝置、賦值裝置和面積計算裝置。通過本發(fā)明的方法和裝置，增加了數(shù)據(jù)源與所計算的面積之間的對應關系，增加了對數(shù)據(jù)源進行實時的面積測量的直觀體驗。
文檔編號G01N21/33GK103163097SQ20111041739
公開日2013年6月19日 申請日期2011年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月14日
發(fā)明者趙江靜, 趙東陽, 王悅, 王鐵軍, 李維森 申請人:北京普源精電科技有限公司