專利名稱：一種測試載體上化驗結(jié)果的讀取設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明公開的主題涉及被化驗對象測量值的讀取設(shè)備。特別地，其涉及電子讀數(shù)器，與使用光學(xué)測量方法的化驗試片一起使用。
背景技術(shù)：
目前市場上可以買到多種適于家庭使用對化驗物進(jìn)行測試的分析設(shè)備。Unipath就在CLEARBLUE 商標(biāo)名下出售一種適合測量懷孕荷爾蒙人體絨膜(hCG)的橫流免疫測定設(shè)備，該設(shè)備在EP291194中公開。具體地，EP291194公開了一種免疫測定設(shè)備，包括:一個多孔滲水的測試載體，該載體包含用于一種化驗物的微粒標(biāo)記的特定結(jié)合試劑，在潮濕狀態(tài)下，該試劑可以自由移動；和一種用于同一化驗物的不帶標(biāo)記的特定結(jié)合試劑，該試劑固定在所述不帶標(biāo)記的特定粘合試劑下游的檢測區(qū)或測試區(qū)中。懷疑含有所述化驗物的液態(tài)樣本施加到所述多孔滲水的載體，在其上該化驗物與所述微粒標(biāo)記的特定結(jié)合試劑作用，形成一種化驗物-結(jié)合的復(fù)合體。所述微粒標(biāo)記是有色的，通常是金色或染色聚合體，例如，乳膠或聚亞安脂。所述復(fù)合體隨后移入檢測區(qū)，在檢測區(qū)與所述固定的不帶標(biāo)記的特定結(jié)合試劑構(gòu)成另一中復(fù)合體，使得所述化驗物的存在范圍被檢測或觀察到。將電子讀出器與測試載體，例如分析測試條，結(jié)合起來用以檢測流體樣品中分析物的濃度和/或量是公知技術(shù)，例如中國專利200410045273.4 ；200410045275.3 ；200410063910.0所描述的那樣。一般的,從光源如發(fā)光二極管發(fā)出的光照射測試條,并用光檢測器檢測反射光或透射光。典型地是，該讀出器至少含有一個發(fā)光二極管，并且每一個發(fā)光二極管都設(shè)有相應(yīng)的光檢測器。以上公開的裝置以及具體的產(chǎn)品實施來開，這些設(shè)備中，測試條都和讀取設(shè)備都事先被組裝固定在一起，測試條和讀取設(shè)備之間的位置在生產(chǎn)，運(yùn)輸，銷售和測試，以及測試結(jié)束后都處于一個相對固定的狀態(tài)，他們之間沒有任何的改變。這樣的結(jié)構(gòu)目前主要運(yùn)用到早孕檢測中，使用者只需要把尿液淋在測試裝置的吸水片上，就直接可以等待測試的結(jié)果。隨著消費(fèi)者對這類產(chǎn)品的不斷需求，希望在所有其它的檢測中運(yùn)用到這樣的檢測，這就需要提供一些不同的讀取設(shè)備來滿足日益增長的市場需要。比如:需要一個設(shè)備能夠進(jìn)行多個樣本的檢測，或者，測試結(jié)果更精確等等。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決以上一些問題，本發(fā)明提供一種讀取測試載體上測試結(jié)果的設(shè)備，它包括至少一個發(fā)光元件，發(fā)出光并照射到測試載體上相應(yīng)的一個或多個區(qū)上；至少一個光檢測器，用于檢測從所述測試載體上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光；和至少一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)讓發(fā)光元件發(fā)出的光能夠照射到測試載體上，同時讓測試載體上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光能夠被光檢測器接收。光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)能夠使得測試載體的某個或某些區(qū)域和發(fā)光元件及光檢測器在一個相對封閉的空間里，在這個空間外的光線無法進(jìn)入該空間內(nèi)；并且該空間內(nèi)的光線也只能在該空間內(nèi)傳輸，能夠使該空間內(nèi)的光線更充分的得到有效利用，并且使測試載體的某一或某些區(qū)域能最優(yōu)化(最大量的)的接收到發(fā)光元件的光線，盡量減少光線照射到其他區(qū)域；并且，從測試載體上發(fā)出(反射)的光也能夠充分被光檢測器接收；同時，該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)能夠充分的避免鏡面反射。即該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)能夠使發(fā)光元件發(fā)出的光有一定的光路通道，并使光檢測器接收的光線有一定的范圍；也即能夠使發(fā)光元件發(fā)出的光被阻擋在一定的區(qū)域中，比如，在測試載體的測試區(qū)域上；并且，使得光檢測器能夠只接收到測試載體上發(fā)出的光。一個實施方式中，測試載體以可卸載的形式與該設(shè)備配合?！翱尚遁d”在這里可以是，當(dāng)還沒有進(jìn)行檢測的時候，可以讓測試載體和讀取設(shè)備分開，當(dāng)需要檢測的時候，讓測試載體與讀取設(shè)備結(jié)合，結(jié)合的時間可以是測試載體被施加樣本前或之后，讓讀取設(shè)備讀取測試載體上的測試結(jié)果?；蛘?，“可卸載”的形式還可以是，當(dāng)檢測完成后，還可以從讀取設(shè)備上分離出測試載體，進(jìn)行針對相同樣本或不同樣本的下一個測試載體上測試結(jié)果的讀取。這樣讓讀取設(shè)備可以連續(xù)多次讀取測試載體上的結(jié)果，更加節(jié)約成本和有利于環(huán)境保護(hù)。甚至，可以使用該可卸載的設(shè)備檢測樣本中不同的物質(zhì)。優(yōu)選的實施方式中，至少一個的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)由至少兩部分組成，該至少兩部分之間以可卸載的形式配合。一個具體實施方式
中，至少兩部分中的一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于設(shè)備上，至少兩部分中的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于測試載體上。優(yōu)選的實施例中，另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于測試載體的檢測區(qū)域上。可選的，另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)還位于測試載體的檢測控制區(qū)域或/和參比區(qū)域上。當(dāng)測試載體與該設(shè)備以可卸載的形式結(jié)合時，該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)可以分為至少兩部分，其中一部分位于設(shè)備中，圍合并封閉發(fā)光元件和光檢測器，而另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于測試載體的某個或某些區(qū)域或整個測試載體上，用于圍合測試載體上的全部或部分區(qū)域。光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的兩部分也是以可卸載的形式配合，當(dāng)這兩部分配合在一起時形成可密閉測試載體，發(fā)光元件和光檢測器的空間，該空間能夠阻擋外界的光線進(jìn)入該擋光元件的空間內(nèi)，并且能夠使該空間內(nèi)的發(fā)光元件發(fā)出的光只能夠在該空間內(nèi)傳輸，并且按照一定的光路通道傳輸；即使得發(fā)光元件發(fā)出的光能按照一定的通道到達(dá)測試載體的某部分區(qū)域，并且使該部分區(qū)域的光線按一定的通道到達(dá)光檢測器。另一個優(yōu)選的實施方式中，測試載體位于一個殼體中，至少兩部分中的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于該殼體上。優(yōu)選的，殼體包括與測試載體部分區(qū)域?qū)?yīng)的窗口，所述的至少兩部分中的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于該窗口上。測試載體與設(shè)備為可卸載式配合時，其優(yōu)點(diǎn)是可以利用設(shè)備測試多個測試載體上的樣本，更方便操作。但也要考慮一些問題:首先希望先前的測試條不要對后來的測試條造成任何污染，另外也希望在插入過程中避免設(shè)備上的一些機(jī)械部件造成對測試載體結(jié)構(gòu)的損害；以及對經(jīng)過精密處理預(yù)先處理在載體上的一些的化學(xué)試劑造成損害或喪失功能，因為這些破壞會造成測試結(jié)果的無效或者不準(zhǔn)確。同時，希望載體和讀取設(shè)備的配合位置相對固定，而且相互配合精密，這樣才可能不影響最終所讀取的結(jié)果，這樣讀取的結(jié)果更加準(zhǔn)確，同時采用不同的測試載體對同一樣本進(jìn)行多次測試的時候，獲得的結(jié)果更加一致，而誤差被控制在可接受范圍內(nèi)。在測試載體增加一個殼體，就可以避免上述的這些問題。當(dāng)帶有殼體的測試載體與檢測設(shè)備接插時，原先由測試載體與設(shè)備直接相接觸變更為測試載體上的殼體與設(shè)備直接接觸。殼體直接與檢測設(shè)備接觸，不影響位于殼體內(nèi)部的測試載體，同時,也避免了測試載體的樣本會接觸到檢測設(shè)備,不會影響下一個測試載體的檢測。因此，在測試載體上增加一個殼體，在該可卸載的設(shè)備中是非常必要的，不但使該設(shè)備使用壽命增加，還可以增加檢測的準(zhǔn)確性和精確性。更進(jìn)一步的，原來位于測試載體上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的另一部分變更為位于該殼體上。該殼體上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)與位于設(shè)備上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)為可卸載式配合，當(dāng)帶有殼體的測試載體插入設(shè)備中，兩部分的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)配合將測試載體的某個或某些區(qū)域或整個測試載體圍合在光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)，使其不受到外界光線的照射，并使其內(nèi)部的光線只能在內(nèi)部傳輸，增加光線的利用。—個實施方式中，殼體上窗口暴露出測試載體的測試區(qū)域和控制區(qū)域；優(yōu)選的，殼體上窗口還暴露出測試載體的參比區(qū)域。另一實施方式中，至少一個發(fā)光元件包括三個發(fā)光元件，至少一個光檢測器包括三個光檢測器，至少一個光路通道結(jié)構(gòu)包括三個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)。優(yōu)選的實施方式中，三個發(fā)光元件，三個光檢測器和三個光路導(dǎo)通元件為一一對應(yīng)關(guān)系，即一個發(fā)光元件，一個光檢測器和一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)形成一個光路導(dǎo)通系統(tǒng)。并且，每個光路導(dǎo)通系統(tǒng)對應(yīng)于測試載體的測試區(qū)域，或參比區(qū)域，或控制區(qū)域。更具體的實施方式中，第一發(fā)光元件對應(yīng)測試載體的測試區(qū)域，并與第一光檢測器對應(yīng)，位于第一光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)；以及，第二發(fā)光元件對應(yīng)測試載體的參比區(qū)域，并與第二光檢測器對應(yīng)，位于第二光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)；以及，第三發(fā)光元件對應(yīng)測試載體的控制區(qū)域，并與第三光檢測器對應(yīng)，位于第三光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)。具體的來說，一個發(fā)光元件與一個光檢測器對應(yīng)可提高檢測的靈敏度。一些傳統(tǒng)的利用光學(xué)檢測的裝置通常利用一個光檢測器對應(yīng)測試一個以上需要檢測光線的結(jié)構(gòu)，t匕如，一個光檢測器檢測多個區(qū)域發(fā)出的光線，或者，一個光檢測器檢測由多個發(fā)光元件發(fā)出的光線。這樣，會存在各個區(qū)域之間的數(shù)據(jù)交叉和/或干擾的情況，從而出現(xiàn)檢測反應(yīng)慢或結(jié)果不精確的情況，甚至有檢測結(jié)果不準(zhǔn)確的情況。本發(fā)明中，三者一一對應(yīng)，提供了專門的元件來進(jìn)行對應(yīng)的檢測，會提高檢測的靈敏度和精確度。另一優(yōu)選的實施方式中，三個光檢測器分列于發(fā)光元件的兩側(cè)。光檢測器分列于發(fā)光元件兩側(cè)，可以使每個光檢測器之間保持一定的距離，并且能保證每一個光檢測器與發(fā)光元件距離最近，避免了光檢測器接收到別的發(fā)光元件的光而產(chǎn)生干擾，影響檢測讀數(shù)的準(zhǔn)確性和精確性。具體的來說，第一，第二，第三發(fā)光元件沿一條直線排列，第一與第三檢測器位于發(fā)光元件的一側(cè)，第二檢測器位于發(fā)光元件的另一側(cè)。更具體的實施方式中，一一對應(yīng)的發(fā)光元件與光檢測器之間包括另一擋光部件，該另一擋光部件將一一對應(yīng)的發(fā)光元件與光檢測器分隔。該另一擋光元件能夠阻擋發(fā)光元件的光直接照射到光檢測器，避免對光檢測器讀取測試載體上的數(shù)據(jù)的影響。在一些優(yōu)選的具體實施例中，每個光路導(dǎo)通系統(tǒng)中，位于設(shè)備上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)鄰近光檢測器的面為坡面；位于殼體上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)鄰近光檢測器的面為垂直面。該鄰近光檢測器的殼體上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)由通常的坡面改為垂直面，能夠避免發(fā)光元件發(fā)出的光直接照射到原先的該殼體上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的坡面上后形成的鏡面反射；同時光線照射到現(xiàn)在的垂直面上后，經(jīng)過反射，光線到達(dá)測試載體上的需要照射的區(qū)域，從而增加了該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)的光線反射到測試載體上的光線數(shù)量和強(qiáng)度，能夠進(jìn)一步提高測試載體上測試區(qū)域的結(jié)果顯示效果。另一些優(yōu)選的實施例中，每個光路導(dǎo)通系統(tǒng)中，鄰近發(fā)光元件的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的兩部分不在同一垂直面上，位于殼體上的部分比位于設(shè)備上的部分遠(yuǎn)離發(fā)光元件。當(dāng)發(fā)光元件發(fā)出光線后，會有部分光線發(fā)射到該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的各個面上，并進(jìn)行反射。鄰近發(fā)光元件的面也會接收到光線并進(jìn)行反射，并且反射的光線大多數(shù)會直接照射到光檢測器上，而殼體上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)更遠(yuǎn)離發(fā)光元件后，在測試載體和設(shè)備上光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)之間形成一個凹槽，當(dāng)發(fā)光元件發(fā)出的光線到達(dá)凹槽后，會經(jīng)凹槽側(cè)壁反射到測試載體上，這樣，既減少了未照射到測試載體上的光直接反射到光檢測器上，同時又增加光線入射到測試載體上。一個具體實施方式
中，該設(shè)備還包括擋光元件，該擋光元件能夠阻擋外界光源進(jìn)入該設(shè)備中；并形成能夠阻擋外界光源進(jìn)入測試載體上測試區(qū)域和/或參比區(qū)域和/或檢測控制區(qū)域的結(jié)構(gòu)。當(dāng)測試載體位于設(shè)備內(nèi)時，該擋光元件能夠阻止光線照射到測試載體上的某個或某些區(qū)域或整個測試載體，更進(jìn)一步，也能夠阻止光線照射到同樣位于設(shè)備上的光檢測器和發(fā)光元件。為了保證外界光線不照射到測試載體上的某個或某些區(qū)域或整個測試載體，該擋光元件將測試載體的某個或某些區(qū)域或整個測試載體包圍，使得外界的光線無法進(jìn)入到測試載體上的某個或某些區(qū)域或整個測試載體；并且，該擋光元件還包圍發(fā)光元件和光檢測器，使得外界光線也無法照射到這兩種元件。另一方面，該擋光元件將測試載體的某個或某些區(qū)域或整個測試載體和發(fā)光元件以及光檢測器包圍，還能夠使發(fā)光元件發(fā)出的光被阻擋在一定的區(qū)域中，優(yōu)選的，在測試載體的測試區(qū)域上；并且，使得光檢測器能夠只接收到測試載體上發(fā)出的光。更具體的來說，該擋光元件使得測試載體的某個或某些區(qū)域和發(fā)光元件及光檢測器在一個相對封閉的空間里，在這個空間外的光線無法進(jìn)入該空間內(nèi)；并且該空間內(nèi)的光線也只能在該空間內(nèi)傳輸。優(yōu)選的方式中，部分的擋光元件形成光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)。擋光元件將測試載體的某些或某一區(qū)域，如:測試區(qū)域，和/或參比區(qū)域，和/或控制區(qū)域，和發(fā)光元件以及光檢測器圍合在一個封閉的空間里，使其不受外界光線的干擾，同時，也保證了內(nèi)部發(fā)光元件光線的充分利用。其中，擋光元件的部件將該封閉的空間分割為一個或多個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)。有益效果
本發(fā)明的讀取設(shè)備包括使光線能更好的導(dǎo)通的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，能使該設(shè)備檢測的準(zhǔn)確度和精確度進(jìn)一步增加，同時，采取可卸載的形式，使該設(shè)備能進(jìn)行多次的檢測，增加設(shè)備利用率并使操作者更容易操作。


圖1為一個實施方式中讀取設(shè)備光學(xué)結(jié)構(gòu)(光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu))剖面結(jié)構(gòu)示意 圖2為本發(fā)明另一個實施方式中讀取設(shè)備的光學(xué)結(jié)構(gòu)(光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu))剖面結(jié)構(gòu)示意
圖3為本發(fā)明另一個優(yōu)選實施方式中讀取設(shè)備的光學(xué)結(jié)構(gòu)(光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu))剖面結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4為本發(fā)明一個實施方式中讀取設(shè)備的爆炸結(jié)構(gòu)示意圖以及包括有測試載體的殼體的立體結(jié)構(gòu)示意 圖5為本發(fā)明一個實施方式中殼體的俯視結(jié)構(gòu)意 圖6為本發(fā)明一個實施方式的包含擋光元件的讀取設(shè)備的仰視結(jié)構(gòu)示意 圖7為本發(fā)明的一個具體實施方式
中讀取設(shè)備在與殼體組合時的一個立體結(jié)構(gòu)示意圖(不包括測試載體和殼體的下部分)(從上方看)；
圖8為本發(fā)明的一個具體實施方式
中讀取設(shè)備在與殼體組合時的另一立體結(jié)構(gòu)示意圖(不包括測試載體和殼體的下部分)(從下方看)；
圖9為本發(fā)明的一個具體實施方式
中讀取設(shè)備在與殼體組合時的仰視結(jié)構(gòu)示意圖(不包括測試載體和殼體的下部分);
圖10為包括有擋光元件的讀取設(shè)備的部分放大結(jié)構(gòu)俯視示意 圖11為圖7中的A-A'的縱剖面結(jié)構(gòu)示意圖(不包括測試載體和殼體的下部分)；
圖12為圖7中的B-B'的剖面結(jié)構(gòu)示意 圖13為本發(fā)明的一個具體實施方式
中LED燈與H)檢測器與測試載體上測試區(qū)域；參照區(qū)域以及檢測結(jié)果控制區(qū)域之間的空間位置投影關(guān)系示意 圖14為本發(fā)明的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)中一個光線道路示意 圖15為本發(fā)明的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)中另一光線道路示意圖。附圖標(biāo)記說明
讀取設(shè)備的光學(xué)結(jié)構(gòu)(光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu))100 ;本發(fā)明的另一讀取設(shè)備的光學(xué)結(jié)構(gòu)(光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu))200，201 ;本發(fā)明包含擋光元件的讀取設(shè)備400 ;包含測試載體和殼體的讀取設(shè)備300 ;發(fā)光元件105 ;光電檢測器103;LED燈51，52，53 ;PD檢測器41，42，43 ;光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)(擋光元件的一部分)101 ;設(shè)備上光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)(設(shè)備上擋光元件)202;殼體上光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)(殼體上擋光元件)203 ;光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的坡面106 ;設(shè)備上光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)坡面2021 ;殼體上光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)垂直面2031 ;設(shè)備上光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的另一面(近發(fā)光元件)2022 ;殼體上光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的另一面(近發(fā)光元件)2032 ;測試載體10 ;測試載體的薄膜120 ;PCB板102 ；另一擋光部件104，44，45 ;含測試載體的殼體30 ;殼體窗口 90，35，36，37 ;殼體凹槽34 ;殼體上樣本添加處31 ;上殼體部件71 ;下殼體部件72 ;拿捏部位73 ;殼體側(cè)邊凹槽32 ;殼體上對準(zhǔn)窗口 33 ;設(shè)備上擋光元件40 ;殼體上擋光元件38，39，61，62 ;設(shè)備上擋光元件卡條406，407 ;設(shè)備上擋光元件的對準(zhǔn)窗口 47 ;設(shè)備上擋光元件與殼體窗口對應(yīng)的窗口 401，
402,403;設(shè)備上擋光元件與殼體凹槽34對應(yīng)的凸起404 ;設(shè)備上擋光元件凸起(用于安放發(fā)光元件和光檢測器)70 ;間隔發(fā)光元件的凸起701，702，703，704 ;間隔光檢測器的凸起705，706，707，708，709 ;測試載體的測試區(qū)域130，參比區(qū)域140，控制區(qū)域150 ;擋光元件凹口 48 ;殼體上標(biāo)示74 ;光路通道結(jié)構(gòu)80 ;殼體30上的部分擋光元件75，76 ;光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)的凹槽區(qū)85。
具體實施例方式本發(fā)明的一個實施方式中，讀取設(shè)備包含有測試載體10，至少一個發(fā)光元件105，至少一個光檢測器103和擋光元件101。測試載體10可以選用橫向流動的檢測試紙條，如US6156271，US5504013,EP728309或EP782707中公開的形式，它可檢測多種被分析物。當(dāng)然，其他合適的測試載體也可以運(yùn)用在本發(fā)明。該測試載體10上可以包含有多個區(qū)域，比如，用于添加樣本的樣本區(qū)，顯示檢測結(jié)果的測試區(qū)130，控制區(qū)150等等。測試區(qū)130是測試載體中形成光信號的區(qū)域(如顆粒狀有色結(jié)合試劑的標(biāo)記物的堆積區(qū)或儲存區(qū))，表示是否存在待測分析物(順便解釋一下，在沒有待測分析物時，一些分析如取代分析可能會形成信號)?？刂茀^(qū)150是測試載體上形成光信號的區(qū)域，用于顯示測試正確進(jìn)行和/或結(jié)合試劑是有作用的，與是否存在待測分析物無關(guān)。通常情況下，參比區(qū)域140是只形成“背景”信號的區(qū)域，例如該信號可用于校準(zhǔn)分析結(jié)果讀數(shù)裝置和/或為測試信號提供可參考的背景信號。一個實施方式中，測試載體包含樣本區(qū)，測試區(qū)130，控制區(qū)150和吸水區(qū)。另一實施方式中，該測試載體包括樣本區(qū)，測試區(qū)130，參比區(qū)140，控制區(qū)150和吸水區(qū)。優(yōu)選的，測試載體10上的部分區(qū)域上，可以添加薄膜120以防止多余的樣本從測試載體的區(qū)域上滲出。發(fā)光兀件105用于發(fā)出光線，比如各種光源。一個具體實施方式
中，該發(fā)光兀件為LED燈。發(fā)光元件105為一個或多個，比如，為I個，或2個，或3個，4個及以上等等。光檢測器103用來檢測照射到其上的光線，一個具體的實施例中，該光檢測器為光電二極管(ro檢測器)。光檢測器103的數(shù)量也為一個或多個，比如I個，或2個，或3個，4個及以上等等。本發(fā)明中，光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)為至少一個，具體實施例中，該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)為I個，或2個或者3個。本發(fā)明的讀取設(shè)備中，擋光元件101為一個整體元件構(gòu)成，也可以為多個部件組合而成。該擋光元件101能夠使該讀取設(shè)備100中的發(fā)光元件105和光檢測器103以及位于讀取設(shè)備內(nèi)的測試載體10的部分區(qū)域不受外界光線的照射和干擾。在該讀取設(shè)備100上，發(fā)光元件105和光檢測器103可以位于其內(nèi)，測試載體10也可以位于讀取設(shè)備內(nèi)，而擋光元件101則可以位于該設(shè)備100內(nèi)部或外部，只要能滿足阻擋外界光線進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部的功能即可。該讀取設(shè)備300的制作材質(zhì)廣泛，比如PP，PVC或塑料等材質(zhì)，一個具體實施方式
中，該讀數(shù)設(shè)備為不透光的塑料材質(zhì)制成。擋光元件的材質(zhì)需要滿足擋光的功能，其他不限。該材質(zhì)可以與讀取設(shè)備相同或不同，一個優(yōu)選的具體方式中，擋光元件使用的材質(zhì)也未不透光的塑料材質(zhì)，與讀取設(shè)備材質(zhì)相同。一個具體實施例中，當(dāng)樣本被添加到測試載體上后一段時間后(該一段時間是指樣本中被分析物與測試載體上預(yù)先安置的能夠與樣本中被分析物發(fā)生反應(yīng)的檢測物質(zhì)反應(yīng)時間，通常，該一段時間為5-10分鐘)，使發(fā)光元件發(fā)出光線，照射到測試載體上的某一或某些區(qū)域，該接收到光線的區(qū)域?qū)⒐饩€反射，反射光照射到光檢測器上。然后，通過光檢測器讀取的光線來顯示這些區(qū)域的樣本反應(yīng)的結(jié)果。本發(fā)明的一個讀取設(shè)備，如圖1所示，它包括至少一個發(fā)光元件105，發(fā)出光并照射到測試載體10或測試載體的薄膜120上；至少一個光電檢測器103，用于檢測從所述測試載體10上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光，以及擋光元件101，通過該擋光元件101讓測試載體10和發(fā)光兀件105與光檢測器103固定在一起，同時合理的布局，可以順利完成對測試載體10上的測試結(jié)果進(jìn)行讀取。優(yōu)選的，發(fā)光元件105和光電檢測器103位于PCB板102上。這種讀取設(shè)備100是測試載體10和設(shè)備100固定在一起，當(dāng)完成測試后，讀取設(shè)備100和測試載體10丟棄，即為一次性使用的設(shè)備。這樣的設(shè)備造成資源的浪費(fèi)而不利于環(huán)境保護(hù)，另外這樣的設(shè)備不能進(jìn)行多次對不同測試載體的讀取。本發(fā)明的另一種實施方式的讀取設(shè)備200，可以使讀取設(shè)備多次使用，節(jié)約成本并減少浪費(fèi)。該優(yōu)化的讀取設(shè)備200與前一實施方式不同的是，測試載體10與讀取設(shè)備200并不是固定在一起的，二者為可卸載式的組合在一起。這里的“可卸載”可以理解為:先分開，然后相互接觸形成一個完成的部件；也可以理解為:完成某一個功能的兩個組建在分開或不正確的位置的情況下，該兩個組件不能實現(xiàn)該兩個組件組合后能成組件的功能，只有當(dāng)兩個組件組合在一起才能實現(xiàn)某種功能。具體的來講，該設(shè)備200包括至少一個發(fā)光元件105，發(fā)出光并照射到測試載體10或測試載體的薄膜120上相應(yīng)的一個或多個區(qū)上；至少一個光檢測器103，用于檢測從所述測試載體10上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光；和擋光元件101，該擋光元件101能阻擋外界的光進(jìn)入設(shè)備內(nèi)，即使外界光線無法照射到設(shè)備內(nèi)的光檢測器103，發(fā)光元件105，測試載體10 ;其中，測試載體10與讀取設(shè)備200為可卸載的形式組合。為了配合測試載體與讀取設(shè)備的可拆卸，擋光元件101可以為至少兩部分組成，其中一部分位于設(shè)備202上，另一部分位于測試載體203上，二者也為可卸載形式配合，如圖2所示，當(dāng)讀取設(shè)備200沒有讀取測試載體10上的測試結(jié)果的時候，擋光元件的一部分202與擋光元件的另一部分203分開而不接觸；當(dāng)需要進(jìn)行讀取測試結(jié)果的時候，讓測試載體10插入到讀取設(shè)備200中，并且擋光元件的一部分202與擋光元件的另一部分203接觸而形成一個完整的擋光元件101，此時讀取設(shè)備200完成測試載體10上測試結(jié)果的讀取。例如，在圖2中，擋光元件的一部分202與擋光元件的另一部分203在分開的時候，由于不存在測試載體或測試載體的位置不正確(相對于發(fā)光元件105，光電檢測器103的位置)，不能正確進(jìn)行測試載體上測試結(jié)果的讀取，反之，可以正確進(jìn)行測試結(jié)果的讀取。當(dāng)然，擋光元件的一部分202可以位于讀取設(shè)備上的PCB板102上，以及和發(fā)光元件105，檢測器103一起作為另一個單獨(dú)部件，編號為C存在；擋光元件的另一部分203可以與測試載體10 —起作為一個部件，編號為D，單獨(dú)存在。當(dāng)需要進(jìn)行測試載體10上測試結(jié)果的時候，讓兩個包括有擋光元件的兩個不同部件C和D配合到合適的位置后，完成整個測試結(jié)果的讀取。當(dāng)然，擋光元件的一部分202和擋光元件的另一部分203還可以位于讀取設(shè)備的其它部件和或結(jié)構(gòu)上，當(dāng)還沒有進(jìn)行測試載體上測試結(jié)果的讀取的時候，這兩個部件分開，當(dāng)需要對測試載體上的測試結(jié)果讀取的時候，讓兩個先前分開的部件進(jìn)行配合，讓測試載體與發(fā)光元件以及測試器處于合適的位置，進(jìn)行測試結(jié)果的讀取。圖4-13是本發(fā)明的一個優(yōu)選的具體實施方式
中的整體的讀取設(shè)備300。如圖4所示，測試載體10位于一個殼體30中，殼體30包括上下兩個殼體部件71，72，他們通過卡扣或鉚釘?shù)男问浇雍?，測試載體10位于上下兩個殼體部件71，72之間并被固定在殼體30內(nèi)。這樣，當(dāng)帶有殼體的測試載體10與讀取設(shè)備進(jìn)行接插時，可以避免樣本接觸到讀取設(shè)備，也可以避免測試載體被損壞。在上殼體部件71上開有暴露出測試載體上部分區(qū)域的窗口 90。被窗口 90暴露的測試載體10上的區(qū)域可以是測試區(qū)域130，參比區(qū)域140和控制區(qū)域150中的一個或幾個。窗口 90的形狀可以根據(jù)測試區(qū)域上需要暴露的形狀進(jìn)行任意設(shè)計，通常為長方形，當(dāng)然也可以為圓形或橢圓形。窗口 90可以是直接暴露出測試載體上的區(qū)，也可以是被透明的片(薄膜)120覆蓋，但是不影響從發(fā)光元件105發(fā)出的光照射到測試載體10上，也不影響來源于載體10上的光穿過該片或薄膜120被光電檢測器103接收。殼體30上還包括對準(zhǔn)窗口 33，該窗口 33用于與設(shè)備上某一對應(yīng)位置對準(zhǔn)，以保證殼體插入設(shè)備中是否到達(dá)指定的正確的位置。。殼體30上還設(shè)計有加樣口 31，該加樣口 31與測試載體10相通，當(dāng)需要檢測時,將樣本從此處加入并到達(dá)測試載體10上。加樣口在滿足加樣的功能的要求下其外形不限，一個具體實施例中，為了使該殼體30與設(shè)備400更好的配合，該加樣口 31設(shè)計為圓形凸起，S卩外部為圓柱形，而內(nèi)部為原錐形的結(jié)構(gòu)。另外，在殼體30上還可以設(shè)計有方便操作者手拿的拿捏部位73，當(dāng)操作者捏住該拿捏部位73時，能準(zhǔn)確的與設(shè)備進(jìn)行插入或拔出。為了使操作者能夠準(zhǔn)確無誤的將該帶有測試載體的殼體插入設(shè)備中進(jìn)行檢測，在殼體30的遠(yuǎn)離取樣口 31的一端設(shè)計有指示操作者插拔方向的箭頭74，比如“ ”，“ ”或“一”等。在一個具體的實施例中，擋光元件的另一部分203位于殼體30上并與暴露測試載體的窗口 90對應(yīng)，例如位于上殼體部件71上的窗口上。擋光元件的一部分203通過在窗口的不同設(shè)計可以把窗口 90劃分出不同的部分，例如通過兩個細(xì)小格條38，39把窗口劃分為三個小窗口 35，36，37，這樣的劃分就把測試載體上被窗口 90暴露的區(qū)域也就劃分為三個區(qū)域，例如為測試區(qū)域130，參比區(qū)域140和測試控制區(qū)域150，如圖4和5和13所示。單位D上的擋光元件203可以位于殼體30上，該殼體30上的擋光元件203將測試載體10上的部分區(qū)域固定并包圍。具體的說，位于窗口上的小隔條38，39和窗口外側(cè)擋板的61和62共同構(gòu)成殼體30上的擋光元件203。當(dāng)帶有測試載體10的殼體30插入設(shè)備400后，該部分的擋光元件203與設(shè)備上的擋光元件202配合，形成一個封閉的空間，使得測試載體10上的部分區(qū)域，發(fā)光元件105和光檢測器103位于該封閉空間內(nèi)。另一具體實施例中，擋光元件202與發(fā)光元件105及光檢測器103構(gòu)成的另一單獨(dú)部件C位于設(shè)備400上，如圖4所示，該位于設(shè)備上的擋光元件的部分40 (202)為一個整體，在該擋光元件部分上有一個凸起70，在凸起70上有多個分隔開的空間，用于安裝發(fā)光元件105和光檢測器103，并且將發(fā)光元件105和光檢測器103分隔開。更具體的實施例中，如圖10和圖11所示，凸起701，702，703和704分隔出安放發(fā)光元件105的空間，用于安放3個發(fā)光元件，即LED燈51，52和53。位于LED燈的兩側(cè)的凸起705，706，707，708和709分隔出3個安放光檢測器的空間，其中，一側(cè)有一個ro檢測器42，另一側(cè)安放有兩個ro檢測器41，43。在使用過程中，為了保證殼體30插入讀取設(shè)備400后能更好的被固定，并使LED燈和ro檢測器能夠與殼體30中測試載體的對應(yīng)的區(qū)域精密對準(zhǔn)，在設(shè)備上擋光元件40上設(shè)計有卡條406和407，該卡條406，407分別位于擋光元件40的兩側(cè)，并且具有彈性；同時，在擋光元件40的背面還設(shè)計有長方形的凸起404，如圖6所示；與之相對應(yīng)，如圖5所示，在殼體30上設(shè)計有能夠容納擋光元件上卡條406，407端口的側(cè)邊凹槽32，該凹槽32分別位于殼體30的兩個側(cè)邊；并且，還在殼體的上部位71上設(shè)計有與擋光元件40的背面凸起404配套的長方形凹槽34。當(dāng)殼體30插入設(shè)備400中時，擋光元件40上的卡條406，407沿殼體30的側(cè)邊滑動，最終卡條406，407的端口分別落入殼體側(cè)邊對應(yīng)的凹槽32內(nèi)，固定并鎖定殼體30，同時，殼體上長方形凹槽34沿?fù)豕庠谋巢客蛊?04滑動，當(dāng)殼體30滑動到指定的固定位置后，凹槽34的末端也到達(dá)凸起404的末端，二者緊密配合，從而確保殼體與設(shè)備配套使用時的精準(zhǔn)度。
優(yōu)選的，擋光元件40上還具有圓弧形凹口 48，當(dāng)殼體30插入設(shè)備400中并到達(dá)指定位置后，該凹口 48抵觸到殼體上圓形加樣口 31，從而進(jìn)一步固定位于設(shè)備中的測試載體10和殼體30。也保證了包含擋光元件的設(shè)備400與殼體30的緊密配合。另一優(yōu)選的方式中，為了確保殼體插入讀取設(shè)備中到達(dá)預(yù)定的位置，在擋光元件40上包含有與殼體對準(zhǔn)窗口 33對應(yīng)的對準(zhǔn)窗口 47。在一個具體實施例中，還可以設(shè)定殼體上的對準(zhǔn)窗口 33與設(shè)備上對準(zhǔn)窗口 47對準(zhǔn)后，該讀取設(shè)備檢測開始。圖6為設(shè)備上擋光元件的背面示意圖，在該圖中可以看出，與殼體上的窗口 35，36，37對應(yīng)，在設(shè)備上擋光元件40也有3個與窗口對應(yīng)得窗口 401，402，403。當(dāng)殼體30插入到設(shè)備400中后，兩部分的窗口對應(yīng)重合，形成一個個通道。這些通道能夠使發(fā)光元件發(fā)出的光線照射到測試載體的區(qū)域上，并能夠使該區(qū)域上的光返回到光檢測器上。一個具體實施例中，該設(shè)備還包括光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，該光路通道結(jié)構(gòu)同樣如圖2和圖3所示。光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)200，201的主要作用:一是讓發(fā)光元件105可以最大限度的把光照射到測試載體10上特定的區(qū)域上(例如測試區(qū)域，參比區(qū)域或測試控制區(qū)域中的一個或幾個)，而不照射到其它的非特定區(qū)域上；另外光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)也讓光電檢測器103最大限度的接收來自測試載體10上的特定區(qū)域的光(例如測試區(qū)域，參比區(qū)域或測試控制區(qū)域中的一個或幾個)，而不是來自其他非特定的區(qū)域上的光。例如通過設(shè)計光路導(dǎo)通的結(jié)構(gòu)，只讓一個或幾個發(fā)光元件只照射特定的測試區(qū)域而不照射控制區(qū)域；同時只讓來自測試區(qū)域或測試控制區(qū)域的光被其中一個光電檢測器檢測而不檢測其它測試區(qū)域的光，例如參比區(qū)域。如圖2中所示，設(shè)備上擋光元件202與測試載體上的擋光元件203和測試載體10以及PCB板102圍合形成光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)200。更具體的實施例中，如圖12所示，設(shè)備上的擋光元件40與殼體上的擋光元件38，39，61，62組合形成3個光路通道結(jié)構(gòu)80 ;也即殼體上窗口 35與設(shè)備上擋光元件上的窗口 401結(jié)合，與安放LED燈51與H)檢測器43的隔開空間配合，形成一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)80。圖12所示，包圍測試區(qū)域130的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)80由殼體30上的部分擋光元件75，76和設(shè)備上擋光元件凸起408，409相結(jié)合，結(jié)合測試載體10的測試區(qū)域130和PCB板102形成一個完整的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)能夠使LED燈51發(fā)出的光a只照射到殼體上窗口 35的區(qū)域，即測試載體的測試區(qū)域130，而測試區(qū)域130或其上的薄膜120接收到該光線a后，進(jìn)行反射，反射出的光線b被H)檢測器43所接收，完成對測試區(qū)域130上通過光學(xué)的檢測；同樣的,殼體上窗口 36與設(shè)備上擋光兀件的窗口 402結(jié)合，與安放LED燈52和H)檢測器42的空間配合，形成另一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，在該另一光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)中，LED燈52發(fā)出的光照射到測試載體的參比區(qū)域140，而后參比區(qū)域進(jìn)行反射，反射后的光線由H)檢測器42所檢測，完成對參比區(qū)域140上通過光學(xué)的檢測；殼體上窗口 37與設(shè)備上擋光元件的窗口 403結(jié)合，與安放LED燈53和H)檢測器41的空間配合，形成第三個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，在該結(jié)構(gòu)中，LED燈53發(fā)出的光線只照射到測試載體的控制區(qū)域150上，再由控制區(qū)域?qū)⒃摴饩€反射，反射的光線僅能夠由H)檢測器41所接收，完成對控制區(qū)域150上通過光學(xué)的檢測。優(yōu)選實施例中的讀取設(shè)備中，如圖4所示，至少一個發(fā)光元件105包含三個發(fā)光元件，每個發(fā)光元件分別照射測試載體的特定區(qū)域；至少一個光檢測器103包括三個光檢測器，用于檢測測試載體上特定區(qū)域的光。具體的，第一發(fā)光元件105照射測試區(qū)130 ;第二發(fā)光元件照射參比區(qū)140 ;并且第三發(fā)光元件照射控制區(qū)150。并且，第一檢測器對應(yīng)于第一發(fā)光元件，即第一檢測器檢測第一發(fā)光元件發(fā)出的光到測試區(qū)域后反射的光線；第二檢測器對應(yīng)于第二發(fā)光元件，即第二檢測器檢測第二發(fā)光元件發(fā)出的光到參比區(qū)后反射的光線；第三檢測器檢測第三發(fā)出的光到控制區(qū)后反射的光線。這樣，發(fā)光元件與光檢測器一一對應(yīng)的檢測，能夠更準(zhǔn)確的反應(yīng)各個區(qū)域的光學(xué)信息，保證檢測的準(zhǔn)確性。在具體的實施例中，如圖4所示，LED燈51對應(yīng)光檢測器43，即LED燈51發(fā)出的光線到達(dá)測試載體(測試條)10的測試區(qū)域130，而后，測試區(qū)域130上反射的光線被H)檢測器43檢測，此時，LED燈51發(fā)出的光僅僅照射到測試載體上特定的區(qū)域一測試區(qū)域，而H)檢測器43只檢測測試載體上固定的區(qū)域一測試區(qū)域發(fā)出的光線。更具體的實施方式中，位于擋光元件上的LED燈與測試載體上的某一區(qū)域相對應(yīng)，如圖7和8所示，LED燈53位于窗口 403和殼體窗口 37上，對應(yīng)于測試載體的控制區(qū)域150，該LED燈53發(fā)出的光照射到對應(yīng)的控制區(qū)域上；光源LED燈52位于窗口 402和殼體窗口 36上，對應(yīng)于測試載體的參比區(qū)域140，LED燈52發(fā)出的光直接照射到該參比區(qū)域140上；光源LED燈51位于窗口 401和殼體窗口 35上，對應(yīng)于測試載體的測試區(qū)域130，發(fā)出的光照射到測試區(qū)域上。同樣的，光檢測器與之也是一一對應(yīng)的關(guān)系，具體如圖13所示，H)檢測器41與控制區(qū)域150對應(yīng)，用于檢測從該控制區(qū)域發(fā)出的光線，而ro檢測器42與參比區(qū)域140對應(yīng)，檢測該區(qū)域上發(fā)出的光，PD檢測器43與測試區(qū)域130相對應(yīng)，檢測來自該區(qū)域130的光線。圖3為本發(fā)明在圖2中所表示的的實施方式的一個更優(yōu)選的結(jié)構(gòu)示意圖。在圖2和圖3中都有具體的光路導(dǎo)通設(shè)計結(jié)構(gòu)，為了減少圖2中110部件的坡面106對發(fā)光元件105，或LED燈51發(fā)出的光的反射作用而引起的干擾，把坡面106構(gòu)造成一個位于設(shè)備擋光元件上的坡面2021和一個位于殼體上垂直的面2031，該垂直面2031與測試載體10所在的面垂直，如圖3和圖12所示。這樣的結(jié)構(gòu)中，因垂直面的存在，使得測試區(qū)域上接受到LED燈51發(fā)出的光的面積增加；并且LED燈51發(fā)出的光c到達(dá)垂直面2031后，被反射，反射的光線d可到達(dá)測試區(qū)域130上，如圖14所示，增加了測試區(qū)域130上入射光線的量，使得檢測效果更好。同時，如圖3和圖12所示，為了減少發(fā)光元件105發(fā)出的光照射到擋光元件101的側(cè)壁上后直接反射到光檢測器中，將原來在一個垂直面上的結(jié)構(gòu)改為靠近測試載體部分的區(qū)域往后凹陷，形成一個凹槽區(qū)85，即鄰近發(fā)光元件的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的兩部分不在同一垂直面上，位于殼體上的面2032比位于設(shè)備上的面2022遠(yuǎn)離發(fā)光兀件105。這樣,發(fā)光兀件發(fā)出的光因缺少了側(cè)壁的阻擋，均照射到測試載體上的特定區(qū)域，從而，更有效的利用光源。即當(dāng)發(fā)光元件105或LED燈51發(fā)出光線后，會有部分光線發(fā)射到該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的各個面上，并進(jìn)行反射，鄰近發(fā)光元件105或LED燈51的面也會接收到光線并進(jìn)行反射，并且反射的光線大多數(shù)會直接照射到光檢測器103上，會影響檢測結(jié)果；而殼體上的面2032更遠(yuǎn)離發(fā)光元件105后，在測試載體10和設(shè)備上擋光元件的面2022之間形成一個凹槽85，當(dāng)發(fā)光元件105或LED燈51發(fā)出的光線e到達(dá)凹槽85后，會經(jīng)凹槽85側(cè)壁反射，反射光線f到達(dá)測試載體10的測試區(qū)域130上，如圖15所示，這樣，既減少了未照射到測試載體10上的光直接反射到光檢測器103，或H)檢測器43上，同時又增加光線入射到測試載體10的測試區(qū)域130上。另一優(yōu)選實施方式中，如圖2和圖3所示，在發(fā)光元件和光檢測器之間還存在另一擋光部件104。該另一擋光部件104能夠隔開發(fā)光元件和光檢測器，從而避免發(fā)光元件上的直接照射到光檢測器上，干擾光檢測器的檢測結(jié)果。具體的實施例中，如圖4和圖12所示，另一擋光的部件44和45被分布在LED燈的兩側(cè)，隔開所有的LED燈和H)檢測器。該另一擋光部件44，45為一長方形的不透光的隔片，優(yōu)選的，該隔片與擋光元件材料相同。下面就本發(fā)明圖4-13所示的讀取設(shè)備300的具體使用操作進(jìn)行具體說明。在未進(jìn)行檢測時，帶有測試載體10的殼體30與讀取設(shè)備400為分開式的，在殼體30的加樣口31處添加需要檢測的樣本,將殼體30平放并靜置一端時間后，如5分鐘，手握殼體的拿捏部位73，按照殼體上箭頭74指示方向?qū)んw30插入讀取設(shè)備400中，當(dāng)殼體30完全插入設(shè)備400中后，即殼體的對準(zhǔn)窗口 33和設(shè)備上對準(zhǔn)窗口 47對準(zhǔn)后，該讀取設(shè)備300啟動，首先LED燈51，52，53依次發(fā)光，依次照射到其對應(yīng)的區(qū)域:測試區(qū)域130，參比區(qū)域140，控制區(qū)域150，而后，各個區(qū)域上的反射光線分別進(jìn)入其專門的H)檢測器43，42，41，完成相應(yīng)的檢測。另外，根據(jù)實際，本發(fā)明所公開的讀取設(shè)備還可以包括光學(xué)讀取系統(tǒng)，這種系統(tǒng)在申請?zhí)?00910126658.3或200410063910.0，申請日2004年6月4日的中國專利申請中有詳細(xì)的描述。這些公開的文獻(xiàn)中每一個具體的實施方式都可以和本發(fā)明公開的方案結(jié)合而構(gòu)成本發(fā)明的技術(shù)方式，而成為本發(fā)明的一部分。
權(quán)利要求
1.一種測試載體上化驗結(jié)果的讀取設(shè)備，包括: 測試載體；至少一個發(fā)光元件，發(fā)出光并照射到測試載體上相應(yīng)的一個或多個區(qū)上； 至少一個光檢測器，用于檢測從所述測試載體上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光； 和至少一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)讓發(fā)光元件發(fā)出的光能夠照射到測試載體上，同時讓測試載體上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光能夠被光檢測器接收。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，測試載體以可卸載的形式與該設(shè)備配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的設(shè)備，其特征在于，至少一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)由至少兩部分組成，該至少兩部分之間以可卸載的形式配合。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的設(shè)備，其特征在于，其中，至少兩部分中的一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于設(shè)備上，至少兩部分中的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于測試載體上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其特征在于，其中所述的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于測試載體的檢測區(qū)域上。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其特征在于，其中所述的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)還位于測試載體的檢測控制區(qū)域或/和參比區(qū)域上。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其特征在于，測試載體位于一個殼體中，所述的至少兩部分中的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于該殼體上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其特征在于，所述的殼體包括與測試載體部分區(qū)域?qū)?yīng)的窗口，所述的至少兩部分中的另一部分光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)位于該窗口上。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其特征在于，殼體上窗口暴露出測試載體的測試區(qū)域和控制區(qū)域。`
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的設(shè)備，其特征在于，殼體上窗口還暴露出測試載體的參比區(qū)域。
11.根據(jù)權(quán)利要求1或10所述的設(shè)備，其特征在于，所述至少一個發(fā)光元件包括三個發(fā)光元件，所述至少一個光檢測器包括三個光檢測器，所述的至少一個光路通道結(jié)構(gòu)包括三個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的設(shè)備，其特征在于，所述三個發(fā)光元件，三個光檢測器和三個光路導(dǎo)通元件為一一對應(yīng)關(guān)系，即一個發(fā)光元件，一個光檢測器和一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)形成一個光路導(dǎo)通系統(tǒng)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，第一發(fā)光元件對應(yīng)測試載體的測試區(qū)域，并與第一光檢測器對應(yīng)，位于第一光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，第二發(fā)光元件對應(yīng)測試載體的參比區(qū)域，并與第二光檢測器對應(yīng)，位于第二光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，第三發(fā)光元件對應(yīng)測試載體的控制區(qū)域，并與第三光檢測器對應(yīng)，位于第三光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)內(nèi)。
16.根據(jù)權(quán)利要求12-15之一所述的設(shè)備,其特征在于,所述一個發(fā)光兀件與一個光檢測器對應(yīng)可提高檢測的靈敏度。
17.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，所述三個光檢測器分列于發(fā)光元件的兩側(cè)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的設(shè)備,其特征在于,對應(yīng)的發(fā)光兀件與光檢測器之間包括一擋光元件，該擋光元件將一一對應(yīng)的發(fā)光元件與光檢測器分隔。
19.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，每個光路導(dǎo)通系統(tǒng)中，位于設(shè)備上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)鄰近光檢測器的面為坡面；位于殼體上的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)鄰近光檢測器的面為垂直面。
20.根據(jù)權(quán)利要求12或19所述的設(shè)備，其特征在于，每個光路導(dǎo)通系統(tǒng)中，所述鄰近發(fā)光元件的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)的兩部分不在同一垂直面上，位于殼體上的部分比位于設(shè)備上的部分遠(yuǎn)離發(fā)光元件。
21.根據(jù)權(quán)利要求1-8之一所述的設(shè)備，其特征在于，還包括擋光元件，該擋光元件能夠阻擋外界光源進(jìn)入該設(shè)備中；以及形成能夠阻擋外界光源進(jìn)入測試載體上測試區(qū)域和/或參比區(qū)域和/或檢測控制區(qū)域的結(jié)構(gòu)。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的`設(shè)備，其特征在于，部分的擋光元件形成光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種測試載體上化驗結(jié)果的讀取設(shè)備，包括測試載體；至少一個發(fā)光元件，發(fā)出光并照射到測試載體上相應(yīng)的一個或多個區(qū)上；至少一個光檢測器，用于檢測從所述測試載體上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光和至少一個光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，該光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)讓發(fā)光元件發(fā)出的光能夠照射到測試載體上，同時讓測試載體上的一個或多個區(qū)中發(fā)出的光能夠被光檢測器接收。本發(fā)明的讀取設(shè)備包括使光線能更好的導(dǎo)通的光路導(dǎo)通結(jié)構(gòu)，能使該設(shè)備檢測的準(zhǔn)確度和精確度進(jìn)一步增加，同時，采取可卸載的形式，使該設(shè)備能進(jìn)行多次的檢測，增加設(shè)備利用率并使操作者更容易操作。
文檔編號G01N21/15GK103115898SQ20111036551
公開日2013年5月22日 申請日期2011年11月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月17日
發(fā)明者劉偉, 沈和良, 吳銀飛 申請人:艾博生物醫(yī)藥(杭州)有限公司