專利名稱：一種用于監(jiān)控gpu插座磨損的電路和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于監(jiān)控GPU (Graphics ProcessingUnit,圖形處理單元)插座(Socket)磨損的電路和方法。
背景技術(shù)：
為了獲得合格的GPU產(chǎn)品，在出廠前需要對其進行一系列的測試，其中包括SLT(Socket Level Test，插座級測試)。具體的，SLT要求將待測的GPU插入GPU插座上來實現(xiàn)相關(guān)測試。但隨著GPU插入次數(shù)的增加，GPU插座的性能會因為磨損而逐漸退化。當GPU插座的磨損情況達到一定程度時，如果用戶不及時加以更換，就會得到錯誤的GPU測試結(jié)果。例如“偽失效(fake failure)”，也就是即使待測的GPU是合格產(chǎn)品，但由于GPU插座磨損的原因，用戶卻會得到該GPU不合格的測試結(jié)果，以致可能將合格產(chǎn)品作為殘次品處理掉。因此，需要提供一種能夠監(jiān)控GPU插座磨損情況的技術(shù)方案以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決該問題，本發(fā)明公開了一種用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路和方法，以實現(xiàn)對GPU插座磨損情況的監(jiān)視，進而加以控制。本發(fā)明提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路，該電路包括:第一輸入端，連接到所述GPU插座的核心電壓導(dǎo)出點以獲得由所述GPU插座導(dǎo)出的第一待測GPU核心電壓；第二輸入端，連接到所述GPU插座的核心電壓直測點以直接從待測GPU管腳處獲得第二待測GPU核心電壓；監(jiān)視芯片，分別與所述第一輸入端和所述第二輸入端連接，用于監(jiān)視所述第一輸入端和所述第二輸入端之間的壓降，并通過其輸出端輸出。優(yōu)選的，所述核心電壓導(dǎo)出點位于安裝所述GPU插座的印刷電路板上。優(yōu)選的，所述電路設(shè)置于安裝所述GPU插座的印刷電路板上。優(yōu)選的，所述監(jiān)視芯片為模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器。優(yōu)選的，所述第一輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的正極，所述第二輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的負極；或者，所述第一輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的負極，所述第二輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的正極。優(yōu)選的，所述電路還包括與所述監(jiān)視芯片的輸出端連接的控制芯片，用于確定所述壓降是否超出設(shè)定值，從而實現(xiàn)對于磨損過度的GPU插座的控制。優(yōu)選的，所述電路還包括與所述控制芯片連接的報警器，所述控制芯片在所述壓降超出設(shè)定值時觸發(fā)所述報警器。優(yōu)選的，所述報警器為軟件報警器或硬件報警器。優(yōu)選的，所述電路還包括與所述控制芯片連接的顯示器，用于實時顯示所述壓降。本發(fā)明提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的方法包括:監(jiān)視所述GPU插座的核心電壓導(dǎo)出點與核心電壓直測點之間的壓降；以及，確定所述壓降是否超出設(shè)定值。
優(yōu)選的，所述核心電壓導(dǎo)出點位于安裝所述GPU插座的印刷電路板上。優(yōu)選的，所述方法通過設(shè)置在安裝所述GPU插座的印刷電路板上的專用電路實現(xiàn)。優(yōu)選的，所述監(jiān)視壓降的步驟還包括對所述壓降進行模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換的步驟。優(yōu)選的，在確定所述壓降超出設(shè)定值之后還包括報警的步驟。優(yōu)選的，可以通過軟件或者硬件的方式實現(xiàn)報警。優(yōu)選的，還包括實時顯示所述壓降的步驟。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，可以實現(xiàn)對于GPU插座性能的監(jiān)視，進而加以控制，從而避免繼續(xù)使用磨損過度的GPU插座。本發(fā)明的附加功能和優(yōu)點將在如下的描述中闡明，還有部分通過描述是顯而易見的，或由本發(fā)明的實踐可以得知。通過在書面的描述、權(quán)利要求書和附圖中特別指出的結(jié)構(gòu)，將實現(xiàn)并獲得本發(fā)明的優(yōu)點?？梢岳斫獾氖牵瑹o論是上述的總體描述還是如下的詳細描述都是示例性和解釋性的，并且旨在提供對所述的本發(fā)明進一步的解釋。


附圖提供對本發(fā)明進一步的理解，并且并入此說明書中并構(gòu)成其中的一部分，這些附圖示出了本發(fā)明的實施例并與描述一起用于解釋本發(fā)明的原理。圖1A為根據(jù)一示范性實施例，本發(fā)明所提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路的應(yīng)用環(huán)境示意圖。圖1B為根據(jù)一示范性實施例，本發(fā)明所提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路的功能框圖。圖1C為根據(jù)一示范性實施例，使用本發(fā)明提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路的示意圖。圖2為根據(jù)一示范性實施例，本發(fā)明提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的方法的流程圖。
具體實施例方式本文在用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路和方法的上下文環(huán)境中描述了示例性實施例。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能認識到下列描述僅是說明例證性的而并非意圖以任何方式限制。從本發(fā)明受益的技術(shù)人員將容易地想到其它的實施例?，F(xiàn)在將對在附圖中示出的示例性實施例的實施方式詳細地做出說明。貫穿附圖和下面的描述盡可能使用相同的附圖標記指代相同或相似的項目。現(xiàn)在，將根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細描述，其示例圖示于附圖中。本發(fā)明公開了一種用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路110。如圖1A所示，在SLT過程中，待測GPU120插入GPU插座130，GPU插座130安裝在印刷電路板(PCB) 140上；從而GPU插座130能夠測試到該待測GPU120的各項電氣指標并通過該GPU插座130與PCB 140的連接點輸出給測試控制臺(圖中未示)，包括輸出待測GPU120的核心電壓。本發(fā)明提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路110可以設(shè)置在該安裝GPU插座130的PCB 140上。如圖1B所示，該電路110包括有:
第一輸入端1101，連接到所述GPU插座130的核心電壓(NVVDD)導(dǎo)出點以獲得由所述GPU插座導(dǎo)出的第一待測GPU核心電壓，也就是說，從該核心電壓導(dǎo)出點測得待測GPU 120經(jīng)過該GPU插座130導(dǎo)出后的核心電壓。作為一個優(yōu)選實施例，該核心電壓導(dǎo)出點是安裝所述GPU插座130的PCB 140上的銅焊點，其位置在GPU插座130的下面。第二輸入端1102，連接到所述GPU插座130的核心電壓直測點以直接從待測GPU管腳處獲得第二待測GPU核心電壓。具體地，第二輸入端1102連接到GPU插座130中接觸插入的待測GPU核心電壓管腳的位置；即當待測GPU 120插入GPU插座130時，第二輸入端1102能接觸到該待測GPU 120的核心電壓管腳。監(jiān)視芯片1103，分別與所述第一輸入端1101和所述第二輸入端1102連接，用于監(jiān)視所述第一輸入端1101和所述第二輸入端1102之間的壓降，并通過其輸出端輸出。作為一個具體實施例，該監(jiān)視芯片1103可以是模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog to Digital convertor，ADC)，從而能夠數(shù)字化輸出所檢測到的壓降。作為另一個具體實施例，所述第一輸入端1101連接到所述監(jiān)視芯片1103的正極，所述第二輸入端1102連接到所述監(jiān)視芯片1103的負極；或者反之。以采用型號為ADS1112的ADC為例，其正極連接到GPU插座130下面導(dǎo)出GPU 120核心電壓的鍍銅點，其負極連接到GPU 120插入GPU插座130后其核心電壓管腳的接觸位置，從而用戶能夠監(jiān)視PCB 140上和GPU 120管腳之間的電壓變化并且其能被用作磨損指
/Jn ο為了實現(xiàn)控制功能，本發(fā)明提供的電路110還可進一步包括與所述監(jiān)視芯片1103輸出端連接的控制芯片1104，該控制芯片1104中具有控制程序或者測試軟件，用于確定所述壓降是否超出設(shè)定值?？蛇x的，本發(fā)明提供的電路110還可包括與所述控制芯片1104連接的報警器1105，所述控制芯片1104在所述壓降超出設(shè)定值時觸發(fā)所述報警器1105。作為具體實施例，該報警器1105可以為軟件報警器，例如嵌入控制芯片1104中的報警程序，可在壓降超出設(shè)定值時彈出報警提示框。作為另一個具體實施例，該報警器1105可以是硬件報警器，如蜂鳴報警器、LED閃爍報警器等等。仍以采用型號為ADS1112的ADC為例，下面示出了一個示例:控制芯片1104中的測試軟件從ADS1112讀取數(shù)字壓降；如果在給定的核心電流(例如100A)下，電壓變化大于設(shè)定值(例如20mV)，則控制芯片1104將向操作者警告更換新的GPU插座1103。作為另一個實施例，本發(fā)明提供的電路110還可包括與所述控制芯片1104連接的顯示器1106，從而對壓降進行實時顯示。為了便于理解，圖1C示出了一個使用該用于監(jiān)控GPU插座磨損電路110的具體實施例?？梢钥吹?，一個待測GPU 120插入GPU插座130內(nèi)，GPU插座130安裝在PCB 140上，且PCB 140上還安裝有一個ADC裝置110 ;該八0(:裝置110的兩個輸入端，一個連接到GPU插座130在PCB 140上的核心電壓導(dǎo)出點，一個連接到核心電壓直測點，從而實現(xiàn)對兩個輸入端之間壓降的監(jiān)控。圖2示出了本發(fā)明提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的方法的一示范性實施例。該方法可以通過本發(fā)明所提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路實現(xiàn)，優(yōu)選的，該電路可設(shè)置在安裝該GPU插座的印刷電路板上。該方法包括:
202:監(jiān)視所述GPU插座的核心電壓導(dǎo)出點與核心電壓直測點之間的壓降；其中，從該核心電壓導(dǎo)出點可測得待測GPU經(jīng)過該GPU插座導(dǎo)出后的第一待測GPU核心電壓；其中，該核心電壓直測點與插入GPU插座的待測GPU的核心電壓管腳相連，可直接從待測GPU管腳處獲得第二待測GPU核心電壓；其中，所述核心電壓導(dǎo)出點可位于安裝所述GPU插座的印刷電路板上；
204:對所述壓降進行模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換；本步驟為可選操作，目的在于數(shù)字化輸出所監(jiān)視的壓降，便于后續(xù)比較和控制；
206:確定所述壓降是否超出設(shè)定值，是則該GPU插座需要加以更換，并選擇性執(zhí)行步驟208 ;否則可以繼續(xù)使用該GPU插座；
208:報警，以提示操作者更換GPU插座；作為具體實施例，可以通過軟件或者硬件的方式實現(xiàn)報警，其中硬件報警方式又可以包括蜂鳴報警的方式或者LED閃爍報警的方式。此外，在步驟202或步驟204之后，還可選擇性包括實時顯示(模擬顯示或者數(shù)字顯示)監(jiān)視到的壓降的步驟。通過上述示范性實施例可以看出，本發(fā)明提供的用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路和方法可以實現(xiàn)對GPU插座磨損情況的監(jiān)視，進而實現(xiàn)相應(yīng)控制。從而，當GPU插座的磨損情況影響到GPU測試結(jié)果之前能夠得到及時更換，從而有效避免由于GPU插座磨損所導(dǎo)致的GI3U測試失誤。應(yīng)當理解的是，可以在本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)對其做出各種修改、適應(yīng)及其替代實施例。本發(fā)明由隨附的權(quán)利要求書進一步限定。
權(quán)利要求
1.一種用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路，其特征在于，所述電路包括: 第一輸入端，連接到所述GPU插座的核心電壓導(dǎo)出點以獲得由所述GPU插座導(dǎo)出的第一待測GPU核心電壓； 第二輸入端，連接到所述GPU插座的核心電壓直測點以直接從待測GPU管腳處獲得第二待測GPU核心電壓； 監(jiān)視芯片，分別與所述第一輸入端和所述第二輸入端連接，用于監(jiān)視所述第一輸入端和所述第二輸入端之間的壓降，并通過其輸出端輸出。
2.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述核心電壓導(dǎo)出點位于安裝所述GPU插座的印刷電路板上。
3.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述電路設(shè)置于安裝所述GPU插座的印刷電路板上。
4.如權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述監(jiān)視芯片為模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器。
5.如權(quán)利要求1或4所述的電路，其特征在于，所述第一輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的正極，所述第二輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的負極。
6.如權(quán)利要求1或4所述的電路，其特征在于，所述第一輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的負極，所述第二輸入端連接到所述監(jiān)視芯片的正極。
7.如權(quán)利要求1-4任一所述的電路，其特征在于，所述電路還包括與所述監(jiān)視芯片的輸出端連接的控制芯片，用于確定所述壓降是否超出設(shè)定值。
8.如權(quán)利要求7所述的電路，`其特征在于，所述電路還包括與所述控制芯片連接的報警器，所述控制芯片在所述壓降超出設(shè)定值時觸發(fā)所述報警器。
9.如權(quán)利要求8所述的電路，其特征在于，所述報警器為軟件報警器。
10.如權(quán)利要求8所述的電路，其特征在于，所述報警器為硬件報警器。
11.如權(quán)利要求10所述的電路，其特征在于，所述硬件報警器為蜂鳴報警器或LED閃爍報警器。
12.如權(quán)利要求7所述的電路，其特征在于，所述電路還包括與所述控制芯片連接的顯示器，用于實時顯示所述壓降。
13.一種用于監(jiān)控GPU插座磨損的方法，其特征在于，包括以下步驟: 監(jiān)視所述GPU插座的核心電壓導(dǎo)出點與核心電壓直測點之間的壓降；以及 確定所述壓降是否超出設(shè)定值。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述核心電壓導(dǎo)出點位于安裝所述GPU插座的印刷電路板上。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述方法通過設(shè)置在安裝所述GPU插座的印刷電路板上的專用電路實現(xiàn)。
16.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述監(jiān)視壓降的步驟還包括對所述壓降進行模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換的步驟。
17.如權(quán)利要求13-16任一所述的方法，其特征在于，在確定所述壓降超出設(shè)定值之后還包括報警的步驟。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其特征在于，通過軟件的方式實現(xiàn)報警。
19.如權(quán)利要求17所述的方法，其特征在于，通過硬件的方式實現(xiàn)報警。
20.如權(quán)利要求13-16任一所述的方法，其特征在于，還包括實時顯示所述壓降的步驟。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于監(jiān)控GPU插座磨損的電路和方法。監(jiān)視所述GPU插座的核心電壓導(dǎo)出點與核心電壓直測點之間的壓降；以及，確定所述壓降是否超出設(shè)定值。通過本發(fā)明，可以實現(xiàn)對于GPU插座磨損情況的監(jiān)控，避免繼續(xù)使用磨損過度的GPU插座。
文檔編號G01R31/00GK103105543SQ20111035323
公開日2013年5月15日 申請日期2011年11月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月10日
發(fā)明者余濟華 申請人:輝達公司