專利名稱：用于分光光度計的正弦機構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于分光光度計的正弦機構(gòu)，特別是涉及一種帶有防止滑塊晃動的機械裝置的正弦機構(gòu)。
背景技術(shù)：
原子吸收分光光度計作為對環(huán)境、金屬半導體、石油化學高分子材料進行分析檢驗的儀器，被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學、生物學和藥學等領(lǐng)域中。在現(xiàn)有的分光光度計產(chǎn)品中，通常使用正弦機構(gòu)將滑塊的直線運動經(jīng)由與載置光柵的轉(zhuǎn)臺相連接的擺桿轉(zhuǎn)換為光柵的轉(zhuǎn)動。圖1和圖2分別為現(xiàn)有的用于分光光度計的正弦機構(gòu)的主視剖面圖和左視剖面圖。如圖1以及圖2所示現(xiàn)有的用于分光光度計的正弦機構(gòu)的具體結(jié)構(gòu)為，包括電動機10 ;支架2 ;絲桿3，該絲桿3的兩端通過軸承I和7被可旋轉(zhuǎn)地裝配在支架2上，且能夠被電動機10驅(qū)動而旋轉(zhuǎn)；兩端被固定裝配于支架2上、且與絲桿3平行設(shè)置的導桿6 ;以及滑塊4。在該滑塊4的圖1的上下方向的大致中間的位置設(shè)有沿圖1的左右方向的第一通孔，在該第一通孔的內(nèi)周面上設(shè)有內(nèi)螺紋，滑塊4通過該內(nèi)螺紋和絲桿3上的外螺紋的嚙合而裝配在絲桿3上?；瑝K4的下部開有在圖1的左右方向上貫通滑塊4、且連通第一通孔的下部圓周面和滑塊4的下側(cè)端面的狹縫13，在滑塊4的下部沿圖1的垂直于紙面的方向設(shè)有貫通滑塊4的螺紋孔，在該螺紋孔內(nèi)旋合有螺釘5，通過調(diào)節(jié)螺釘5的松緊程度可以改變所述狹縫13的縫寬，進而能夠調(diào)節(jié)第一通孔的內(nèi)螺紋與絲桿3的外螺紋之間的間隙從而確保較高精度的螺紋配合。在滑塊4的上側(cè)端面上設(shè)有貫通滑塊4左右(圖1中的左右方向)的凹槽12，導桿6穿設(shè)于該凹槽12內(nèi)，當電動機10驅(qū)動絲桿3旋轉(zhuǎn)時引導滑塊4沿導桿6左右移動。在所述凹槽12的左右方向(圖1中的左右方向)的大致中央位置，沿圖1的垂直于紙面的方向設(shè)有一圓孔，其一端與凹槽12導通，另一端封閉，在該圓孔內(nèi)裝配有一彈簧8，彈簧8的一端抵接在圓孔的封閉端，其另一端經(jīng)由鋼珠9按壓在導桿6上。通過這樣的結(jié)構(gòu)可以消除滑塊4的凹槽12與導桿6之間的沿圖1的垂直于紙面的方向的間隙，達到限制滑塊4在圖1的垂直于紙面的方向上的運動的目的。另外，未圖示的擺桿的一端通過拉簧始終抵接于滑塊4的左右任意一側(cè)的側(cè)壁上，擺桿的另一端連接于載置有光柵的轉(zhuǎn)臺上(未圖示)，當滑塊4在電動機的驅(qū)動下左右移動時，擺桿隨之擺動進而帶動轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動，從而將滑塊4的直線運動轉(zhuǎn)換為光柵的轉(zhuǎn)動。

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題在用于分光光度計的正弦機構(gòu)中，滑塊和絲桿為螺紋配合，要求有較高的重復精度(即在電動機正向轉(zhuǎn)動一角度再反向轉(zhuǎn)動相同角度后，要求滑塊回復到原先的位置)。然而，為了讓滑塊能夠隨著絲桿的旋轉(zhuǎn)而左右移動，螺紋之間在螺紋傳動軸向需要有一定的間隙，而這樣的間隙會使得滑塊沿導桿的運動不平穩(wěn)。雖然在上述現(xiàn)有的正弦機構(gòu)中通過鋼珠和彈簧的壓迫能夠限制滑塊繞絲桿軸線的轉(zhuǎn)動，但是滑塊仍可能由于滑塊的內(nèi)螺紋與絲桿的外螺紋之間的間隙的存在而左右或者上下?lián)u晃，從而引起誤差，造成重復精度的下降。本發(fā)明是為了解決上述的問題而研發(fā)的，其目的在于提供一種帶有防止滑塊晃動的機械裝置、能夠消除滑塊的左右或者上下晃動的用于分光光度計的正弦機構(gòu)。解決課題的手段為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所涉及的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，包括電動機；支架；設(shè)置在所述支架上，由所述電動機驅(qū)動的絲桿；設(shè)置在所述支架上，并與所述絲桿平行的導桿；滑塊，所述滑塊具有第一通孔以及套接構(gòu)件，在第一通孔的內(nèi)周面上設(shè)有內(nèi)螺紋，所述滑塊以所述內(nèi)螺紋與所述絲桿上的外螺紋相嚙合的狀態(tài)裝配于所述絲桿上，所述套接構(gòu)件四周閉合地套接于所述導桿上且使得所述滑塊僅能夠沿著所述導桿的軸向運動。根據(jù)本發(fā)明的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其中，在所述套接構(gòu)件內(nèi)設(shè)有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的至少三列滾珠，所述至少三列滾珠抵壓在所述導桿上。根據(jù)本發(fā)明的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其中，在所述套接構(gòu)件內(nèi)設(shè)有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的四列滾珠，所述四列滾珠抵壓在所述導桿上。根據(jù)本發(fā)明的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其中，所述套接構(gòu)件為一直線軸承。根據(jù)本發(fā)明的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其中，所述套接構(gòu)件為第二通孔，所述第二通孔與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0.1nm 以下。根據(jù)本發(fā)明的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其中，所述套接構(gòu)件為第二通孔，所述第二通孔與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0. 05nm 以下。根據(jù)本發(fā)明的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其中，在所述第二通孔內(nèi)還設(shè)有一軸套，所述軸套與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0.1nm 以下。根據(jù)本發(fā)明的用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其中，在所述第二通孔內(nèi)還設(shè)有一軸套，所述軸套與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0. 05nm 以下。發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明，由于正弦機構(gòu)帶有防止滑塊晃動的機械裝置，能夠消除滑塊的左右或者上下晃動，從而能夠提高分光光度計在波長掃描時的波長重復度。另外，在使用直線軸承的技術(shù)方案中，由于滾珠以極小的摩擦阻力滾動，使用載荷小，滑塊能夠高精度地平穩(wěn)運動。


圖1是現(xiàn)有的用于分光光度計的正弦機構(gòu)的主視剖面圖。圖2是現(xiàn)有的用于分光光度計的正弦機構(gòu)的左視剖面圖。圖3是本發(fā)明涉及的用于分光光度計的正弦機構(gòu)的一實施例的主視剖面圖。
圖4是本發(fā)明涉及的用于分光光度計的正弦機構(gòu)的一實施例的左視剖面圖。符號說明1，7…軸承、2…支架、3…絲桿、4…滑塊、5…螺釘、6…導桿、8…彈簧、9…鋼珠、10…電動機、11…套接構(gòu)件、12…凹槽、13…狹縫
具體實施例方式以下，通過圖3和圖4對本發(fā)明所涉及的用于分光光度計的正弦機構(gòu)的實施形態(tài)進行說明。在圖3和圖4中使用與圖1和圖2中相同的標號來表示相同或相似的部件。圖3和圖4表示了本發(fā)明的一實施形態(tài)。該實施形態(tài)與上述的現(xiàn)有技術(shù)相比，主要區(qū)別為在滑塊4上用套接構(gòu)件11取代了凹槽12，其他結(jié)構(gòu)與現(xiàn)有技術(shù)大致相同，在此略去詳細說明。如圖3和圖4所示，套接構(gòu)件11四周閉合地套接在導桿6上，從而能夠限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動，使得滑塊4僅能夠沿著導桿6的軸向運動。另外，如圖3和圖4所示，在套接構(gòu)件11內(nèi)設(shè)有沿與導桿6的軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與導桿外周面平行的方向排列的至少三列滾珠，所述至少三列滾珠抵壓在導桿6上。當電動機10驅(qū)動絲桿3旋轉(zhuǎn)使得滑塊4左右移動時，滾珠在導桿6的外周面上以極小的摩擦阻力滾動，對滑塊4進行導向。如此，至少三列滾珠在垂直于導桿6軸向的圓周方向上等分分布，分別與導桿6進行線接觸，并在垂直于導桿6軸向的三個以上的方向上抵壓導桿6，從而能夠限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動，使得滑塊4僅能夠沿著導桿6的軸向運動。在此， 所謂的等分分布是指大致上的等分分布，并不要求相鄰兩列滾珠相對于導桿6軸線的夾角嚴格相等，只要各列滾珠相對均勻地分布在導桿6的圓周方向上，能夠達到限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動的目的即可。另外，在本實施例中各列滾珠呈直列分布，然而本發(fā)明并不限定于此，各列滾珠也可以呈其他的形式均勻分布，例如，各列滾珠可以在套接構(gòu)件11內(nèi)呈相互平行的螺旋線狀分布。另外，如圖3和圖4所示，在該實施例中，在套接構(gòu)件11的內(nèi)設(shè)有沿與導桿6的軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的四列滾珠，所述四列滾珠抵壓在導桿6上。另外，如圖3和圖4所示，該實施例中的套接構(gòu)件11可以被視為是具有軸承外套的軸承類構(gòu)件。在本發(fā)明的其他實施方式中，套接構(gòu)件11也可以是具有軸承外套和軸承內(nèi)套結(jié)構(gòu)的直線軸承。另外，在本發(fā)明的另一實施方式中，套接構(gòu)件11為第二通孔，所述第二通孔與導桿6之間精密配合，從而能夠限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動，使得滑塊4僅能夠沿著導桿6的軸向運動。另外，在本發(fā)明的又一實施方式中，在所述第二通孔內(nèi)還設(shè)有一軸套，所述軸套與導桿6之間精密配合，從而能夠限制滑塊4在與導桿6的軸向相垂直的各個方向上的運動，使得滑塊4僅能夠沿著導桿6的軸向運動。根據(jù)本發(fā)明，由于正弦機構(gòu)帶有如上所述的防止滑塊晃動的套接構(gòu)件，能夠消除滑塊的左右或者上下的晃動，從而能夠有效地提高分光光度計在波長掃描時的波長重復度。根據(jù)本發(fā)明，能夠使得分光光度計的波長重復度為±0.1nm以下，進一步優(yōu)選情況為+ 0. 05nm 以下。
權(quán)利要求
1.一種用于分光光度計的正弦機構(gòu)，其特征在于，包括 電動機； 支架； 設(shè)置在所述支架上，由所述電動機驅(qū)動的絲桿； 設(shè)置在所述支架上，并與所述絲桿平行的導桿； 滑塊，所述滑塊具有第一通孔以及套接構(gòu)件，在所述第一通孔的內(nèi)周面上設(shè)有內(nèi)螺紋，所述滑塊以所述內(nèi)螺紋與所述絲桿上的外螺紋相嚙合的狀態(tài)裝配于所述絲桿上，所述套接構(gòu)件四周閉合地套接于所述導桿上且使得所述滑塊僅能夠沿著所述導桿的軸向運動。
2.如權(quán)利要求1所述的正弦機構(gòu)，其特征在于，在所述套接構(gòu)件內(nèi)設(shè)有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的至少三列滾珠，所述至少三列滾珠抵壓在所述導桿上。
3.如權(quán)利要求1所述的正弦機構(gòu)，其特征在于，在所述套接構(gòu)件內(nèi)設(shè)有沿與所述導桿軸向垂直的圓周方向等分分布、且沿與所述導桿外周面平行的方向排列的四列滾珠，所述四列滾珠抵壓在所述導桿上。
4.如權(quán)利要求1至3中任意一項所述的正弦機構(gòu)，其特征在于，所述套接構(gòu)件為一直線軸承。
5.如權(quán)利要求1所述的正弦機構(gòu)，其特征在于，所述套接構(gòu)件為第二通孔，所述第二通孔與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0.1nm以下。
6.如權(quán)利要求1所述的正弦機構(gòu)，其特征在于，所述套接構(gòu)件為第二通孔，所述第二通孔與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0. 05nm以下。
7.如權(quán)利要求5所述的正弦機構(gòu)，其特征在于，在所述第二通孔內(nèi)還設(shè)有一軸套，所述軸套與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0.1nm以下。
8.如權(quán)利要求6所述的正弦機構(gòu)，其特征在于，在所述第二通孔內(nèi)還設(shè)有一軸套，所述軸套與所述導桿之間的配合使得所述分光光度計在波長掃描時的波長重復度為±0. 05nm以下。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用于分光光度計的正弦機構(gòu)，包括電動機(10)；支架(2)；設(shè)置在支架(2)上，由電動機(10)驅(qū)動的絲桿(3)；設(shè)置在支架(2)上，并與絲桿(3)平行的導桿(6)；滑塊(4)，滑塊(4)具有第一通孔以及套接構(gòu)件(11)，在第一通孔的內(nèi)周面上設(shè)有內(nèi)螺紋，滑塊(4)以內(nèi)螺紋與絲桿(3)上的外螺紋相嚙合的狀態(tài)裝配于絲桿(3)上，套接構(gòu)件(11)四周閉合地套接于導桿(6)上且使得滑塊(4)僅能夠沿著導桿(6)的軸向運動。通過套接構(gòu)件(11)與導桿(6)之間的精密配合，限制了由絲桿(3)與滑塊(4)之間的微小間隙而引起的滑塊(4)的左右或者上下的晃動，從而能夠提高分光光度計的波長重復度。
文檔編號G01N21/01GK103048279SQ20111030862
公開日2013年4月17日 申請日期2011年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月12日
發(fā)明者査曉 申請人:株式會社島津制作所