專利名稱：一種連接插針的基材成分分析方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種連接插針的基材成分的分析方法。
背景技術(shù)：
一種連接器件，內(nèi)部的金屬插針，該插針對(duì)導(dǎo)電性及機(jī)械強(qiáng)度都有一定的要求，這種插針表面都有鍍層，且這種插針比較小，長(zhǎng)度一般只有1 2cm，截面尺寸Imm左右，對(duì)這種插針基材的成分分析，由于比較小且有鍍層，化學(xué)的分析方法無法進(jìn)行。因此需要一種新的方法來進(jìn)行插針基材的成分分析。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有化學(xué)方法不能進(jìn)行插針基材成分分析的問題，本發(fā)明提出以下技術(shù)
方案
一種連接插針的基材成分分析方法，該方法包括以下步驟
A、將插針樣品用環(huán)氧樹脂進(jìn)行固封；
B、將固封好的插針樣品進(jìn)行研磨、拋光、清洗；
C、使用掃描電子顯微鏡和能譜儀對(duì)清洗后的插針樣品進(jìn)行分析，得出基材成分含量和比例。本發(fā)明帶來的有益效果是
1、本發(fā)明方法可以測(cè)量金屬插針內(nèi)的微量元素，測(cè)量精度比較高；
2、本發(fā)明方法可以不受金屬插針表面鍍層的影響，對(duì)基材成分進(jìn)行有效地分析。
具體實(shí)施例方式下面對(duì)本發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對(duì)本發(fā)明的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。本實(shí)施例對(duì)某品牌的連接插針的成分進(jìn)行分析，以判斷其可靠性和導(dǎo)電性，具體步驟如下
A、將插針樣品用環(huán)氧樹脂進(jìn)行固封；
B、將固封好的插針樣品進(jìn)行研磨、拋光、清洗；
C、使用掃描電子顯微鏡和能譜儀對(duì)清洗后的插針樣品進(jìn)行分析，得出基材成分含量和比例，如表一所示，
表一插針各金屬元素含量表
權(quán)利要求
1. 一種連接插針的基材成分分析方法，其特征在于該方法包括以下步驟A、將插針樣品用環(huán)氧樹脂進(jìn)行固封；B、將固封好的插針樣品進(jìn)行研磨、拋光、清洗；C、使用掃描電子顯微鏡和能譜儀對(duì)清洗后的插針樣品進(jìn)行分析，得出基材成分含量和比例。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種連接插針的基材成分分析方法，該方法包括以下步驟A、將插針樣品用環(huán)氧樹脂進(jìn)行固封；B、將固封好的插針樣品進(jìn)行研磨、拋光、清洗；C、使用掃描電子顯微鏡和能譜儀對(duì)清洗后的插針樣品進(jìn)行分析，得出基材成分含量和比例。本發(fā)明帶來的有益效果是本發(fā)明方法可以測(cè)量金屬插針內(nèi)的微量元素，測(cè)量精度比較高；本發(fā)明方法可以不受金屬插針表面鍍層的影響，對(duì)基材成分進(jìn)行有效地分析。
文檔編號(hào)G01N23/22GK102411010SQ20111022995
公開日2012年4月11日 申請(qǐng)日期2011年8月11日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月11日
發(fā)明者閆武杰 申請(qǐng)人:上海華碧檢測(cè)技術(shù)有限公司