專利名稱：一種相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法。
背景技術：
目前，對于電阻溫度系數(shù)測量是一項比較費時費力的工作，通常較為簡單的測量方法是，先在室溫下測量出電阻的讀數(shù)，再將電阻放到恒溫槽內(nèi)(恒溫槽被預先設定到一個特定溫度)，待電阻穩(wěn)定下來后再測出電阻的讀數(shù)，然后根據(jù)讀數(shù)的變化和溫差計算出電阻的溫度系數(shù)。采用以上方法所進行的測試，主要不便之處在于兩點(1)對于電阻溫度的控制，我們需要測出電阻在不同溫度下的讀數(shù)，這就需要一個較長時間來改變電阻的溫度；為確保測量結(jié)果的準確，要求電阻測試裝置在該期間漂移盡可能的小，這就需要電阻測試裝置有很高的穩(wěn)定性。此外，還有一些測量方式，例如，可分別測量電阻在25°C、50°C、 100°C、150°C下的電阻值，通過直線擬合，獲得R T關系曲線，并求出R與T的函數(shù)關系， 但此方法很多時間都耗費在熱盤溫度的上升、下降和穩(wěn)定過程中，尤其是在目標的自動測量系統(tǒng)中更是如此。因此，綜合以上因素，需要對現(xiàn)有技術進行合理的創(chuàng)新。

發(fā)明內(nèi)容
針對以上缺陷，本發(fā)明提供一種操作簡單、由單片機自控完成、測試穩(wěn)定、較為快捷的相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法，以解決現(xiàn)有技術的諸多不足。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術方案一種相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法，主要包括以下步驟(1)測出待測某電阻在室溫下的阻值，然后給該電阻通過一個較大的脈沖電流使電阻自加熱到某一個溫度；(2) 再測出該電阻加熱后的阻值，這樣便可計算出該電阻在加熱后的變化量，整個測試過程用 MS-51單片機進行控制；(3)再以同樣的方法測出一個同型號的已知溫度系數(shù)的電阻變化量，通過與已知電阻變化量的比較可得出被測電阻的溫度系數(shù)。本發(fā)明所述的相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法的有益效果為該方法核心在于給被測電阻通過脈沖電流自加熱來獲得電阻溫度系數(shù)測量所需的溫差、通過與已知溫度系數(shù)的同型號電阻的比較得出測量結(jié)果、溫度控制和讀數(shù)測量由單片機自動控制完成；本方法對于批量電阻溫度系數(shù)測量或者網(wǎng)絡電阻的溫度系數(shù)配對非常實用，已成功運用于MF2512 電阻測試儀上，整個過程由單片機控制，通常不到10秒鐘便可測得一支電阻的溫度系數(shù)， 操作簡單快捷。
具體實施例方式本發(fā)明實施例所述的相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法，主要步驟包括首先，測出待測某電阻在室溫下的阻值，然后給該電阻通過一個較大的脈沖電流使電阻自加熱到某一個溫度；其次，再測出該電阻加熱后的阻值，這樣便可計算出該電阻在加熱后的變化量，整個測試過程用MS-51單片機進行控制；最后，再以同樣的方法測出一個
3同型號的已知溫度系數(shù)的電阻變化量，通過與已知電阻變化量的比較可得出被測電阻的溫 度系數(shù)。實施例本發(fā)明實施例所述的相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法，主要步驟包括以下(1)選用1W的功率，對一支溫度系數(shù)為+100PPM/°C的電阻加熱3秒鐘，測出該電 阻加熱前后阻值變化了如+500PPM，那么可知該型號電阻在加熱后溫度上升了 5°C ；(2)對于未知溫度系數(shù)同型號的電阻，以同樣的功率加熱相同的時間，則可認為該 電阻加熱后也上升了 5°C，(3)測量得出該未知溫度系數(shù)電阻加熱前后阻值變化了如+300PPM，則可得出該 電阻的溫度系數(shù)是+300PPM+5°C = +60PPM/°C。若將以上實際步驟與計算方式結(jié)合，則可知(設Rr為參考電阻并已知道該電阻的TCR)(設Rx為被測電阻與Rr為同型號電阻)①測出電阻Rx在室溫下的電阻值；②給電阻Rx加一個電流，使該電阻溫度升高。(電流大小和時間，根據(jù)Rx耗散功 率來確定)；③在步驟2之后及時測出電阻的阻值；④計算該電阻前后阻值的變化量Rx A ；
⑤重復1-4步驟測出Rr的變化量Rr A ；⑥根據(jù)Rx A /Rr A的比較得出Rx的TCR。以上實施例是本發(fā)明較優(yōu)選具體實施方式
的一種，本領域技術人員在本技術方案 范圍內(nèi)進行的通常變化和替換應包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
權利要求
1. 一種相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法，其特征在于，主要包括以下步驟(1)測出待測某電阻在室溫下的阻值，然后給該電阻通過一個較大的脈沖電流使電阻自加熱到某一個溫度；(2)再測出該電阻加熱后的阻值，這樣便可計算出該電阻在加熱后的變化量，整個測試過程用MS-51單片機進行控制；(3)再以同樣的方法測出一個同型號的已知溫度系數(shù)的電阻變化量，通過與已知電阻變化量的比較可得出被測電阻的溫度系數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種相對法電阻溫度系數(shù)測量的方法，主要包括測出待測某電阻在室溫下的阻值，然后給該電阻通過一個較大的脈沖電流使電阻自加熱到某一個溫度；再測出該電阻加熱后的阻值，這樣便可計算出該電阻在加熱后的變化量，整個測試過程用MS-51單片機進行控制；再以同樣的方法測出一個同型號的已知溫度系數(shù)的電阻變化量，通過與已知電阻變化量的比較可得出被測電阻的溫度系數(shù)。本發(fā)明有益效果為核心在于給被測電阻通過脈沖電流自加熱來獲得電阻溫度系數(shù)測量的溫差、通過與已知溫度系數(shù)的同型號電阻的比較得出測量結(jié)果、溫度控制和讀數(shù)測量由單片機自動控制完成，整個過程由單片機控制，通常不到10秒鐘便可測得一支電阻的溫度系數(shù)，操作簡單快捷。
文檔編號G01R27/02GK102323483SQ201110226640
公開日2012年1月18日 申請日期2011年8月9日 優(yōu)先權日2011年8月9日
發(fā)明者田業(yè)善 申請人:田業(yè)善