專利名稱：三極管測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種測試電路，尤其涉及ー種三極管測試電路。
背景技術(shù)：
在三極管的應(yīng)用或維修過程中，經(jīng)常需要對三極管的類型進(jìn)行判斷，井根據(jù)該三極管的類型確定其放大倍數(shù)。目前，在該領(lǐng)域主要采用萬用表對該三極管的類型進(jìn)行測試。測試時(shí)，先將萬用表調(diào)至電阻擋，再利用萬用表的紅表筆及黑表筆依次接觸三極管的各個(gè)引腳，井根據(jù)各個(gè)引腳之間的電阻關(guān)系判斷所述三極管的類型。顯然，該測試過程操作較為繁瑣且效率較低
發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述內(nèi)容，有必要提供ー種可快速判別三極管類型的三極管測試電路。一種三極管測試電路，包括第一測試電路，一被測三極管的基極連接至ー電源，該被測三極管的發(fā)射極接地，該第一測試電路包括發(fā)光二極管，該發(fā)光二極管的陽極連接至所述電源，該發(fā)光二極管的陰極通過ー電阻連接至該被測三極管的集電極，通過觀察該發(fā)光二極管的發(fā)光與否以判斷所述被測三極管的類型。所述本發(fā)明的三極管測試電路僅需觀察所述發(fā)光二極管的發(fā)光與否，便可有效判斷該被測三極管的類型，其測試電路較為簡單，可有效提高測試效率，且精確度較高。



圖I為本發(fā)明較佳實(shí)施方式的三極管測試電路的功能框圖。圖2為圖I所示三極管測試電路的電路圖。主要元件符號(hào)說明
三極管測試電路[_100^
電源11
第一測試電路 12第二測試電路 13 _
保護(hù)電路14
光耦合器141
恒流電路15
被測三極管200_
開關(guān)_S1、S2
發(fā)光二極管D1、D2
電阻Rl - R7
三極管Q1、Q2
感光三極管Q3_
電流表_Ml_
電壓表M2
如下具體實(shí)施方式
將結(jié)合上述附圖進(jìn)ー步說明本發(fā)明。
具體實(shí)施例方式請參閱圖I及圖2，本發(fā)明較佳實(shí)施方式提供ー種三極管測試電路100，用于對ー被測三極管200的類型及放大倍數(shù)進(jìn)行測試。該三極管測試電路100包括電源11、第一測試電路12、第二測試電路13及保護(hù)電路14。該被測三極管200的基極連接至所述電源11，該被測三極管200的發(fā)射極接地。該第一測試電路12連接該電源11及被測三極管200的集電極，用于對該被測三極管200的類型進(jìn)行測試。該第二測試電路13連接該電源11及被測三極管200的集電極，用于對該被測三極管200的放大倍數(shù)進(jìn)行測試。
該第一測試電路12包括發(fā)光二極管D1，所述發(fā)光二極管Dl的陽極連接至所述電源11，該發(fā)光二極管Dl的陰極通過ー電阻Rl連接至該被測三極管200的集電極。測試該被測三極管200的類型時(shí)，若所述被測三極管200的類型為NPN型，因?yàn)樵撾娫?1直接連接至該被測三極管200的基板，該被測三極管200導(dǎo)通。此時(shí)，該發(fā)光二極管D1、電阻Rl及被測三極管200形成完整的電流回路，該發(fā)光二極管Dl導(dǎo)通并發(fā)光。反之，若所述被測三極管200的類型為PNP型，該被測三極管200將截止。此時(shí)，該發(fā)光二極管Dl截止不發(fā)光。因此，可通過該發(fā)光二極管Dl的發(fā)光與否來判斷所述被測三極管200的類型。S卩，若該發(fā)光二極管Dl發(fā)光，則判斷該被測三極管200的類型為NPN型。反之，若發(fā)光二極管Dl不發(fā)光，則判斷該被測三極管200的類型為PNP型。該第二測試電路13包括一組電阻R2、R3。該電阻R2的一端連接至該電源11，另一端與該電阻R3串聯(lián)后，連接至該被測三極管200的集電極。當(dāng)測試該被測三極管200的放大倍數(shù)吋，將ー電流表Ml與該電阻R2、R3串聯(lián)，進(jìn)而獲得該被測三極管200的集電極電流I。。將獲得的集電極電流I。與該電源11為該被測三極管200的基極提供的電流Ib代入放大倍數(shù)計(jì)算公式β =IC/Ib,即可獲得該被測三極管200的放大倍數(shù)。該保護(hù)電路14包括光耦合器141及三極管Ql、Q2。該光耦合器141包括發(fā)光二極管D2及感光三極管Q3。所述發(fā)光二極管D2的陽極連接至該發(fā)光二極管Dl的陽極，該發(fā)光二極管D2的陰極通過電阻R4連接至所述被測三極管200的集電極。所述感光三極管Q3的基極與所述發(fā)光二極管D2正對設(shè)置，用于感測發(fā)光二極管D2發(fā)射的光。所述感光三極管Q3的集電極通過電阻R5連接至所述電源11。所述感光三極管Q3的發(fā)射極連接至所述三極管Ql的基板。該三極管Ql的發(fā)射極接地。該三極管Ql的集電極連接至所述三極管Q2的基極，并通過電阻R6連接至所述電源11。該三極管Q2的發(fā)射極接地。該三極管Q2的集電極連接至所述被測三極管200的集電極，并通過電阻R7連接至所述電源11。該保護(hù)電路14的工作原理為當(dāng)被測三極管200的類型為預(yù)設(shè)的類型，例如NPN型吋，該被測三極管200導(dǎo)通，所述光耦合器141內(nèi)的發(fā)光二極管D2及感光三極管Q3均導(dǎo)通，使得該三極管Ql導(dǎo)通而三極管Q2截止，進(jìn)而使得該被測三極管200的集電極通過該電阻R7連接至所述電源11，使得該被測三極管200的集電極輸出一高電平，該被測三極管200正常工作。反之，當(dāng)被測三極管200的類型不為預(yù)設(shè)的類型或放置位置錯(cuò)誤時(shí)，該被測三極管200、發(fā)光二極管D2及感光三極管Q3均截止，使得該三極管Ql截止而三極管Q2的基極通過電阻R6連接至電源11而導(dǎo)通。此時(shí)，該三極管Q2的集電極的電壓變?yōu)榈碗娖?。因?yàn)樵撊龢O管Q2的集電極連接至被測三極管200的集電極，如此將使得該被測三極管200的集電極的電壓也變成低電平，進(jìn)而有效保護(hù)該被測三極管200，防止當(dāng)被測三極管200的類型與預(yù)設(shè)的類型不同或放置位置錯(cuò)誤時(shí)，該被測三極管200的集電極的接收到高電平，而導(dǎo)致該被測三極管200被擊穿或損壞?？梢岳斫?，該三極管測試電路100還包括恒流電路15，該恒流電路15分別連接該電源11及被測三極管200的基極，用于為該被測三極管200的基極提供一恒定電流，進(jìn)而降低該被測三極管200對環(huán)境溫度的敏感程度，減少測試誤差。該恒流電路15為ー現(xiàn)有的恒流源或具有相同功能的電路，其具體結(jié)構(gòu)及工作原理在此不再贅述。可以理解，該三極管測試電路100還包括一組開關(guān)S1、S2。其中，該開關(guān)SI設(shè)置于該電源11與第一測試電路12之間；該開關(guān)S2設(shè)置于該電源11與第二測試電路13之間。通過分別操作該開關(guān)S1、S2，可選擇對該被測三極管200的類型或放大倍數(shù)進(jìn)行測試。具體地，該開關(guān)SI的一端連接至所述電源11，該開關(guān)SI的另一端連接至所述發(fā)光二極管Dl的陽極。該開關(guān)S2的一端連接至所述電源11，該開關(guān)S2的另一端連接至該串聯(lián)的電阻R2、R3的一端。當(dāng)開啟該開關(guān)SI而關(guān)閉開關(guān)S2時(shí)，可對該被測三極管200的類型進(jìn)行測試。而當(dāng)開啟該開關(guān)S2而關(guān)閉該開關(guān)SI吋，則對該被測三極管200的放大倍數(shù)進(jìn)行測試。可以理解，在測試該被測三極管200的集電極電流I。吋，還可將一電壓表M2并聯(lián) 至該電阻R3的兩端，以獲得該電阻R3兩端的電壓U，并根據(jù)公式I=U/R，來獲得所述被測三極管200的集電極電流I。。顯然，本發(fā)明的三極管測試電路100僅需觀察所述發(fā)光二極管Dl的發(fā)光與否，便可有效判斷該被測三極管200的類型。另外，該三極管測試電路100僅需將該電流表Ml串聯(lián)或?qū)㈦妷罕鞰2并聯(lián)于該第二測試電路13內(nèi)，便可快速獲得該被測三極管200的集電極電流，進(jìn)而計(jì)算出所述被測三極管200的放大倍數(shù)。本發(fā)明的三極管測試電路100操作較為簡單，可有效提高測試效率，且精確度較高。
權(quán)利要求
1.一種三極管測試電路，其特征在于該三極管測試電路包括第一測試電路，一被測三極管的基極連接至一電源，該被測三極管的發(fā)射極接地，該第一測試電路包括發(fā)光二極管，該發(fā)光二極管的陽極連接至所述電源，該發(fā)光二極管的陰極通過一電阻連接至該被測三極管的集電極，通過觀察該發(fā)光二極管的發(fā)光與否以判斷所述被測三極管的類型。
2.如權(quán)利要求I所述的三極管測試電路，其特征在于所述三極管測試電路包括第二測試電路，該第二測試電路連接該電源及被測三極管的集電極，用于對該被測三極管的放大倍數(shù)進(jìn)行測試。
3.如權(quán)利要求2所述的三極管測試電路，其特征在于所述第二測試電路包括一組電阻，其中一電阻的一端連接至該電源，該其中一電阻的另一端與另一電阻串聯(lián)后連接至該被測三極管的集電極。
4.如權(quán)利要求3所述的三極管測試電路，其特征在于該三極管測試電路用于通過與該組電阻串聯(lián)的電流表測得該被測三極管的集電極電流數(shù)值，再根據(jù)該集電極電流數(shù)值與該電源為該被測三極管的基極提供的電流數(shù)值計(jì)算該被測三極管的放大倍數(shù)。
5.如權(quán)利要求3所述的三極管測試電路，其特征在于該三極管測試電路用于通過與該組電阻中一電阻并聯(lián)的電壓表測得所述其中一電阻兩端的電壓數(shù)值，進(jìn)而獲得該被測三極管的集電極電流數(shù)值，再根據(jù)該集電極電流數(shù)值與該電源為該被測三極管的基極提供的電流數(shù)值計(jì)算該被測三極管的放大倍數(shù)。
6.如權(quán)利要求3所述的三極管測試電路，其特征在于該三極管測試電路包括一組開關(guān)，其中一開關(guān)設(shè)置于該電源與第一測試電路之間，另一開關(guān)設(shè)置于該電源與第二測試電路之間，通過操作該組開關(guān)，以選擇對該被測三極管的類型或放大倍數(shù)進(jìn)行測試。
7.如權(quán)利要求6所述的三極管測試電路，其特征在于所述其中一開關(guān)的一端連接至所述電源，所述其中一開關(guān)的另一端連接所述發(fā)光二極管的陽極，所述另一開關(guān)的一端連接至該電源，所述另一開關(guān)的另一端與該組電阻依次串聯(lián)，當(dāng)開啟該其中一開關(guān)而關(guān)閉所述另一開關(guān)時(shí)，對該被測三極管的類型進(jìn)行測試；當(dāng)開啟該另一開關(guān)而關(guān)閉該其中一開關(guān)時(shí)，則對該被測三極管的放大倍數(shù)進(jìn)行測試。
8.如權(quán)利要求I所述的三極管測試電路，其特征在于所述三極管測試電路包括保護(hù)電路，用于當(dāng)所述被測三極管的類型與預(yù)設(shè)的類型不同或放置位置錯(cuò)誤時(shí)，防止該被測三極管被擊穿或損壞。
9.如權(quán)利要求8所述的三極管測試電路，其特征在于所述保護(hù)電路包括光耦合器及二個(gè)三極管，該光耦合器包括發(fā)光二極管及感光三極管，所述光耦合器的發(fā)光二極管的陽極連接至該第一測試電路的發(fā)光二極管的陽極，該光耦合器的發(fā)光二極管的陰極通過電阻連接至所述被測三極管的集電極，所述感光三極管的基極與所述光耦合器的發(fā)光二極管正對設(shè)置，所述感光三極管的集電極通過電阻連接至所述電源，所述感光三極管的發(fā)射極連接至其中一三極管的基極，所述其中一三極管的發(fā)射極接地，所述其中一三極管的集電極連接至另一三極管的基極，并通過電阻連接至所述電源，該另一三極管的發(fā)射極接地，該另一三極管的集電極連接至所述被測三極管的集電極，并通過電阻連接至所述電源。
10.如權(quán)利要求I所述的三極管測試電路，其特征在于所述三極管測試電路包括恒流電路，該恒流電路分別連接該電源及被測三極管的基極，用于為該被測三極管的基極提供一恒定電流，進(jìn)而降低該被測三極管對環(huán)境溫度的敏感程度，減少測試誤差。
全文摘要
本發(fā)明提供一種三極管測試電路，包括第一測試電路，一被測三極管的基極連接至一電源，該被測三極管的發(fā)射極接地，該第一測試電路包括發(fā)光二極管，該發(fā)光二極管的陽極連接至所述電源，該發(fā)光二極管的陰極通過一電阻連接至該被測三極管的集電極，通過觀察該發(fā)光二極管的發(fā)光與否以判斷所述被測三極管的類型。
文檔編號(hào)G01R31/26GK102830335SQ201110162369
公開日2012年12月19日 申請日期2011年6月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月16日
發(fā)明者涂一新, 周海清 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司